CN112014766A - 一种用于led灯性能检测的检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及LED灯技术领域，具体为一种用于LED灯性能检测的检测设备，所述壳体的内部固定连接有固定架，所述固定架的下表面转动连接有传送辊，所述壳体的内表面顶端固定连接有光敏电阻，所述壳体的内表面底端固定连接有铁芯所述壳体的内表面右侧固定连接有第二滑轨。当遇到损坏的LED灯的时候，进入到壳体的内部损坏的LED灯不会亮起，此时光敏电阻的阻值仍非常大，螺线圈上的电流非常微弱，铁芯上产生的磁力不足以拉动第二滑轨内的第二滑块，此时挡板与壳体内部的下落口为分离状态，当损坏的LED灯经过下落口时，损坏的LED灯从下落口掉落，可以方便的区分好坏LED灯，减轻工作人员的劳动强度，提高LED灯的生产效率。
Description
技术领域
本发明涉及LED灯技术领域，具体为一种用于LED灯性能检测的检测设备。
背景技术
LED灯是一块电致发光的半导体材料芯片，用银胶或白胶固化到支架上，然后用银线或金线连接芯片和电路板，四周用环氧树脂密封，起到保护内部芯线的作用，最后安装外壳，所以LED灯的抗震性能好，LED灯的应用在人们的生活中应用非常广泛，也给人们的日常生活带来了许多方便，在生产LED灯的时候，需要对LED灯的性能进行检测，看看LED灯是否能够正常使用。
但是，现有的检测是人工手动检测，检测效率十分的底，并且工作人员的劳动强度非常大，同时还存在一定的危险性，因此，本领域技术人员提供了用于LED灯性能检测的检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供一种用于LED灯性能检测的检测设备，由以下具体技术手段所达成：
一种用于LED灯性能检测的检测设备，包括壳体，所述壳体的内部固定连接有固定架，所述固定架的下表面转动连接有传送辊，所述壳体的内表面顶端固定连接有光敏电阻，所述壳体的内表面底端固定连接有铁芯，所述铁芯的外表面缠绕有螺线圈，所述壳体的内表面右侧固定连接有第二滑轨，所述壳体的内表面右侧且位于第二滑轨的上方固定连接有第一滑轨。
所述壳体的内部滑动连接有推杆，所述推杆的上下表面均固定连接有气囊，所述第一滑轨的内部滑动连接有第一滑块，所述第一滑块的前表面左侧转动连接有第二连杆，所述第一滑块的前表面右侧固定连接有牵引杆，所述第一滑块的右侧固定连接有第一连杆，所述第二滑轨的内部滑动连接有第二滑块，所述第二连杆的左端转动连接有第一连接杆，所述第一连接杆的前表面转动连接有第二连接杆，所述第一连接杆和第二连接杆的另一端均与挡板的右侧转动连接。
作为优化，所述牵引杆的另一端与第二滑块的上表面固定连接，所述第二滑块与铁芯在同一水平线上。
作为优化，所述第一连杆的一端与第一滑块固定连接，所述第一连杆的另一端与推杆的左侧固定连接。
作为优化，所述推杆的左侧通过伸缩杆与壳体的右侧固定连接，所述推杆上开设的通孔与壳体的左侧开设的通孔直径大小相同。
作为优化，所述传送辊外表面的材质为橡胶，所述传送辊均匀位于固定架的下方。
作为优化，所述挡板的尺寸与壳体内部开设的下落口的尺寸相适配，所述挡板与壳体内部的下落口卡合连接。
作为优化，正常状态下LED灯有序通过壳体的内部，LED灯的间距与壳体的宽度相适配。
作为优化，所述壳体的内表面顶端中间位置处固定连接有清洁架，所述清洁架通过气管与气囊连接。
本发明具备以下有益效果：
1、该用于LED灯性能检测的检测设备，当遇到损坏的LED灯的时候，进入到壳体的内部损坏的LED灯不会亮起，此时光敏电阻的阻值仍非常大，螺线圈上的电流非常微弱，铁芯上产生的磁力不足以拉动第二滑轨内的第二滑块，此时挡板与壳体内部的下落口为分离状态，当损坏的LED灯经过下落口时，损坏的LED灯从下落口掉落，可以方便的区分好坏LED灯，减轻工作人员的劳动强度，提高LED灯的生产效率。
2、该用于LED灯性能检测的检测设备，当第一滑块在第一滑轨的内部滑动的时候，通过第一连杆拉动推杆滑动，当推杆滑动的时候，对清洁架内部的气囊产生推力和拉力，当气囊受力压缩的时候将内部的空气向外排出，气体经过气管输送到清洁架上，清洁架上的调节囊充气推动光敏电阻下表面的毛刷，在光敏电阻的下表面滑动，将光敏电阻下表面附着的灰尘清洁掉，避免灰尘长时间附着影响光敏电阻的工作灵敏度，确保光敏电阻正常工作，提高检测的准确性。
附图说明
图1为本发明壳体结构的主视剖面图；
图2为本发明传送辊结构的俯视图；
图3为本发明滑轨结构的局部剖面图；
图4为本发明第二滑轨结构的局部剖面图；
图5为本发明挡板结构的局部剖面图；
图6为本发明图1中A部分的放大图。
图中：1、壳体；2、光敏电阻；3、固定架；4、清洁架；5、气囊；6、推杆；7、第一滑轨；8、第二滑轨；9、螺线圈；10、铁芯；11、挡板；12、传送辊；13、第一滑块；14、第一连杆；15、牵引杆；16、第二连杆；17、第二滑块；18、第一连接杆；19、第二连接杆。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-5，一种用于LED灯性能检测的检测设备，包括壳体1，壳体1的内表面顶端中间位置处固定连接有清洁架4，清洁架4通过气管与气囊5连接，壳体1的内部固定连接有固定架3，固定架3的下表面转动连接有传送辊12，传送辊12外表面的材质为橡胶，传送辊12均匀位于固定架3的下方，壳体1的内表面顶端固定连接有光敏电阻2，壳体1的内表面底端固定连接有铁芯10。
铁芯10的外表面缠绕有螺线圈9，壳体1的内表面右侧固定连接有第二滑轨8，壳体1的内表面右侧且位于第二滑轨8的上方固定连接有第一滑轨7，壳体1的内部滑动连接有推杆6，推杆6的左侧通过伸缩杆与壳体1的右侧固定连接，推杆6上开设的通孔与壳体1的左侧开设的通孔直径大小相同，推杆6的上下表面均固定连接有气囊5。
第一滑轨7的内部滑动连接有第一滑块13，第一滑块13的前表面左侧转动连接有第二连杆16，第一滑块13的前表面右侧固定连接有牵引杆15，牵引杆15的另一端与第二滑块17的上表面固定连接，第二滑块17与铁芯10在同一水平线上，第一滑块13的右侧固定连接有第一连杆14，第一连杆14的一端与第一滑块13固定连接。
第一连杆14的另一端与推杆6的左侧固定连接，第二滑轨8的内部滑动连接有第二滑块17，第二连杆16的左端转动连接有第一连接杆18，第一连接杆18的前表面转动连接有第二连接杆19，第一连接杆18和第二连接杆19的另一端均与挡板11的右侧转动连接，挡板11的尺寸与壳体1内部开设的下落口的尺寸相适配，挡板11与壳体1内部的下落口卡合连接。
当遇到损坏的LED灯的时候，进入到壳体1的内部损坏的LED灯不会亮起，此时光敏电阻2的阻值仍非常大，螺线圈9上的电流非常微弱，铁芯10上产生的磁力不足以拉动第二滑轨8内的第二滑块17，此时挡板11与壳体1内部的下落口为分离状态，当损坏的LED灯经过下落口时，损坏的LED灯从下落口掉落，可以方便的区分好坏LED灯，减轻工作人员的劳动强度，提高LED灯的生产效率。
同时当第一滑块13在第一滑轨7的内部滑动的时候，通过第一连杆14拉动推杆6滑动，当推杆6滑动的时候，对清洁架4内部的气囊5产生推力和拉力，当气囊5受力压缩的时候将内部的空气向外排出，气体经过气管输送到清洁架4上，清洁架上的调节囊充气推动光敏电阻2下表面的毛刷，在光敏电阻2的下表面滑动，将光敏电阻2下表面附着的灰尘清洁掉，避免灰尘长时间附着影响光敏电阻2的工作灵敏度，确保光敏电阻2正常工作，提高检测的准确性。
光敏电阻是用硫化镉或硒化镉等半导体材料制成的特殊电阻器，其工作原理是基于内光电效应，光照愈强，阻值就愈低，随着光照强度的升高，电阻值迅速降低。
在使用时，在对LED灯进行检测的时候，驱动源驱动固定架3上的传送辊12转动，使LED灯在壳体1的内部经过，当LED灯从壳体1的内部经过的时候，LED灯通电亮起，如果LED灯损坏的坏，就不会亮起，当LED灯进入到壳体1的内部亮起的时候，光敏电阻2的阻值降低，与光敏电阻2串联的第二滑轨8上的电流增大，此时铁芯10的磁力增大，同时拉动第二滑轨8内部与铁芯10磁极相吸的第二滑块17向左滑动，第二滑块17通过顶端的牵引杆15拉动第一滑块13在第一滑轨7的内部向左滑动，当第一滑块13在第一滑轨7的内部向左滑动的时候，通过第二连杆16推动第一连接杆18和第二连接杆19使挡板11在壳体1内部的下落口的内部卡合牢固，此时正常亮起的顺利通过壳体1的内部，当遇到损坏的LED灯的时候，进入到壳体1的内部损坏的LED灯不会亮起，此时光敏电阻2的阻值仍非常大，螺线圈9上的电流非常微弱，铁芯10上产生的磁力不足以拉动第二滑轨8内的第二滑块17，此时挡板11与壳体1内部的下落口为分离状态，当损坏的LED灯经过下落口时，损坏的LED灯从下落口掉落，可以方便的区分好坏LED灯，减轻工作人员的劳动强度，提高LED灯的生产效率。
同时当第一滑块13在第一滑轨7的内部滑动的时候，通过第一连杆14拉动推杆6滑动，当推杆6滑动的时候，对清洁架4内部的气囊5产生推力和拉力，当气囊5受力压缩的时候将内部的空气向外排出，气体经过气管输送到清洁架4上，清洁架上的调节囊充气推动光敏电阻2下表面的毛刷，在光敏电阻2的下表面滑动，将光敏电阻2下表面附着的灰尘清洁掉，避免灰尘长时间附着影响光敏电阻2的工作灵敏度，确保光敏电阻2正常工作，提高检测的准确性。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种用于LED灯性能检测的检测设备，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部固定连接有固定架(3)，所述固定架(3)的下表面转动连接有传送辊(12)，所述壳体(1)的内表面顶端固定连接有光敏电阻(2)，所述壳体(1)的内表面底端固定连接有铁芯(10)，所述铁芯(10)的外表面缠绕有螺线圈(9)，所述壳体(1)的内表面右侧固定连接有第二滑轨(8)，所述壳体(1)的内表面右侧且位于第二滑轨(8)的上方固定连接有第一滑轨(7)；
所述壳体(1)的内部滑动连接有推杆(6)，所述推杆(6)的上下表面均固定连接有气囊(5)，所述第一滑轨(7)的内部滑动连接有第一滑块(13)，所述第一滑块(13)的前表面左侧转动连接有第二连杆(16)，所述第一滑块(13)的前表面右侧固定连接有牵引杆(15)，所述第一滑块(13)的右侧固定连接有第一连杆(14)，所述第二滑轨(8)的内部滑动连接有第二滑块(17)，所述第二连杆(16)的左端转动连接有第一连接杆(18)，所述第一连接杆(18)的前表面转动连接有第二连接杆(19)，所述第一连接杆(18)和第二连接杆(19)的另一端均与挡板(11)的右侧转动连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于LED灯性能检测的检测设备，其特征在于：所述牵引杆(15)的另一端与第二滑块(17)的上表面固定连接，所述第二滑块(17)与铁芯(10)在同一水平线上。
3.根据权利要求1所述的一种用于LED灯性能检测的检测设备，其特征在于：所述第一连杆(14)的一端与第一滑块(13)固定连接，所述第一连杆(14)的另一端与推杆(6)的左侧固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于LED灯性能检测的检测设备，其特征在于：所述推杆(6)的左侧通过伸缩杆与壳体(1)的右侧固定连接，所述推杆(6)上开设的通孔与壳体(1)的左侧开设的通孔直径大小相同。
5.根据权利要求1所述的一种用于LED灯性能检测的检测设备，其特征在于：所述传送辊(12)外表面的材质为橡胶，所述传送辊(12)均匀位于固定架(3)的下方。
6.根据权利要求1所述的一种用于LED灯性能检测的检测设备，其特征在于：所述挡板(11)的尺寸与壳体(1)内部开设的下落口的尺寸相适配，所述挡板(11)与壳体(1)内部的下落口卡合连接。
7.根据权利要求1所述的一种用于LED灯性能检测的检测设备，其特征在于：所述壳体(1)的内表面顶端中间位置处固定连接有清洁架(4)，所述清洁架(4)通过气管与气囊(5)连接。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| TA01 | Transfer of patent application right | ||
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Effective date of registration: 20231106 Address after: 518000 Maintenance Building, Science and Technology Industrial Park, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong Province Applicant after: Xinyuan Technology (Shenzhen) Co.,Ltd. Address before: 314400 No.90, Hanlin Road, tanqiao village, Yuanhua Town, Haining City, Jiaxing City, Zhejiang Province Applicant before: Haining haizhili Lighting Co.,Ltd. |
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| GR01 | Patent grant | ||
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