CN111999762A - 自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法 - Google Patents

自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法，该自动曝光检测功能测试设备的LED光源与控制器连接；LED光源固定在暗盒内部一侧，且LED光源的出光面朝向暗盒内部放置平板探测器的一侧；控制器固定在暗盒外部，与LED光源连接，控制器控制LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测平板探测器的自动曝光检测功能。本发明通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。

Description

自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法
技术领域
本发明涉及自动曝光检测领域，尤其涉及一种自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法。
背景技术
自动曝光技术已经逐渐应用在数字X射线平板摄影技术中，自动曝光检测技术逐步成为平板探测器的标准配置，但是由于该项技术还存在诸多问题，自动曝光检测技术还在不断优化。
传统自动曝光测试方法是通过人工调整X射线曝光剂量，模拟实际使用场景，实现功能性能测试。但是人工测试时，测试的条件有限，人工误差也比较大，测试的涵盖面就有限，导致不能尽可能地发现存在的问题，另外大量的x光曝光实验会对人体造成一定的损害，也会影响x光机发光球管的寿命。
发明内容
为了克服现有技术的不足，本发明提出一种自动曝光检测功能测试设备、系统以及测试方法，将LED光源和平板探测器设置在暗盒中，通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。
为解决上述问题，本发明采用的一个技术方案为：一种自动曝光检测功能测试设备，所述自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒、LED光源以及控制器，所述LED光源与所述控制器连接；所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧，且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧；所述控制器固定在所述暗盒外部，与所述LED光源连接，所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
进一步地，所述自动曝光检测功能测试设备还包括底座，所述底座与所述LED光源相对，通过所述底座承载所述平板探测器。
进一步地，所述底座上设置有出线口，所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。
进一步地，所述控制器还包括串口，所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。
进一步地，所述暗盒包括顶板，所述顶板与所述底座相对，所述LED光源、控制器分别设置在所述顶板两侧。
基于相同的发明构思，本发明还提出一种自动曝光检测功能测试系统，所述自动曝光检测功能测试系统包括：自动曝光检测功能测试设备、计算机，所述自动曝光检测功能测试设备与所述计算机连接；所述自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒、LED光源以及控制器，所述LED光源与所述控制器连接；所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧，且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧；所述控制器固定在所述暗盒外部，与所述LED光源连接，所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
进一步地，所述自动曝光检测功能测试设备还包括底座，所述底座与所述LED光源相对，通过所述底座承载所述平板探测器。
进一步地，所述底座上设置有出线口，所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。
进一步地，所述控制器还包括串口，所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。
基于相同的发明构思，本发明又提出一种自动曝光检测功能测试方法，其特征在于，所述自动曝光检测功能测试方法应用于如上所述的自动曝光检测功能测试系统，所述自动曝光检测功能测试方法包括：S101：控制器接收启动指令，控制LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机；S102：所述计算机根据所述曝光参数以及平板探测器发送的探测信号检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
相比现有技术，本发明的有益效果在于：将LED光源和平板探测器设置在暗盒中，通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。
附图说明
图1为本发明自动曝光检测功能测试设备一实施例的结构图；
图2为本发明自动曝光检测功能测试系统一实施例的结构图；
图3为本发明自动曝光检测功能测试方法一实施例的流程图。
图中：1、LED光源；2、控制器；3、暗盒；4、平板探测器；5、出线口；6、底座。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
请参阅图1，其中，图1为本发明自动曝光检测功能测试设备一实施例的结构图。结合附图1对本发明自动曝光检测功能测试设备作详细说明。
在本实施例中，自动曝光检测功能测试设备包括：自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒3、LED光源1以及控制器2，LED光源1与所述控制器2连接；LED光源1固定在暗盒3内部一侧，且LED光源1的出光面朝向暗盒3内部放置平板探测器4的一侧；控制器2固定在暗盒3外部，与LED光源1连接，控制器2控制LED光源1发出时长和光强随机的光信号，并将光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测平板探测器4的自动曝光检测功能。
在本实施例中，暗盒3为金属暗盒，通过该暗盒3形成无光的暗室环境实现平板探测器4的自动曝光检测功能测试。
在其他实施例中，暗盒3还可以为塑料、陶瓷、木质以及其他不透光的材料执行，也可以为几种材料的混合形成，只需能够在暗盒3的内部形成无光的暗室环境即可。
在本实施例中，控制器2包括随机数产生电路，通过该随机数产生电路产生两组随机数，时间随机数和亮度随机数，并根据该时间随机数和亮度随机数据计算控制LED发光的发光控制信号。其中，该随机数产生电路和计算发光控制信号的电路可以集成在一块控制芯片上，也可以分开设置在不同的控制芯片上。该芯片可以为单片机、SOC、CPU以及其他专用于控制LED光源1发送的控制芯片。
在本实施例中，曝光参数包括LED光源1发出的光信号的时长和光强。
在一个具体的实施例中，光信号的时长为1ms-6.3s，控制LED光源1的电流强度为1-20mA。
在本实施例中，自动曝光检测功能测试设备包括底座6，底座6与LED光源1相对，通过底座6承载平板探测器4。
在本实施例中，底座6可固定在暗盒3的一侧，以承载暗盒3和平板探测器4，通过该底座6放入和移出平板探测器4。
在其他实施例中，也可以通过一体成型或其他不可活动的方式将底座6固定在暗盒3上，通过暗盒3的其他侧面放入和移出平板探测器4。
在本实施例中，平板探测器4为移除闪烁体后的平板探测器4，平板探测器4根据LED光源1发出的可见光信号产生反映可见光信号时长和强度的检测信号，通过该检测信号和曝光参数的差异测试平板探测器4的自动曝光检测功能。
在其他实施例中，平板探测器4也可以不移除闪烁体，只需正常的平板探测器4能够检测到LED光源1发出的可见光信号即可。
在本实施例中，底座6上设置有出线口5，平板探测器4通过出线口5与电源、计算机连接。
其中，出线口5设置在底座6一侧，平板探测器4的信号线和电源线通过该出线口5分别与计算机、电源连接。平板探测器4通过电源获取电能，并将LED光源1的可见光信号产生的检测信号发送给计算机。计算机根据该检测信号和对应的曝光参数检测平板探测器4的自动曝光检测功能。
在本实施例中，控制器2还包括串口，控制器2通过所述串口与计算机连接，并通过该串口向计算机输出曝光参数。
在本实施例中，暗盒3包括顶板，顶板与底座6相对，LED光源1、控制器2分别设置在顶板两侧。在其他实施例中，控制器2与LED光源1也可以不设置在顶板两侧，二者可以设置在暗盒3的不同侧面上，只需能够使控制器2向LED光源1输出控制信号即可。
在本实施例中，控制器2还设置有启动按键，控制器2根据该启动按键的动作产生时间随机数和亮度随机数。
下面通过自动曝光检测功能测试设备的工作流程对本发明的自动曝光检测功能测试设备进行说明。
把去掉闪烁体的平板探测器4置在底座6上，通过出线口5将平板探测器4和电源和计算机连接，把金属暗盒放置在底座6上，此时，暗盒3中形成完全光线密封的环境，按下启动按键，控制器2立即产生两组随机数，时间随机数和亮度随机数，通过这两组随机数据计算生成单次曝光的曝光参数，控制器2中的MCU根据时间随机数产生1mS～6.3S的LED光源1曝光时间，根据亮度随机数产生1～20mA LED光源1亮度控制电流，LED光源1按照产生的参数发光，控制器2通过控制器2上的串口把曝光参数发送至计算机端，延时5秒钟，MCU内部计数器加一，完成一次测试。
有益效果：本发明的自动曝光检测功能测试设备将LED光源和平板探测器设置在暗盒中，通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。
基于相同的发明构思，本发明还提出一种自动曝光检测功能测试系统，请参阅图2，图2为本发明自动曝光检测功能测试系统一实施例的结构图，结合图2对本发明的自动曝光检测功能测试系统进行说明。
在本实施例中，自动曝光检测功能测试系统包括：自动曝光检测功能测试设备、计算机，自动曝光检测功能测试设备与计算机连接；自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒、LED光源以及控制器，LED光源与控制器连接；LED光源固定在暗盒内部一侧，且LED光源的出光面朝向暗盒内部放置平板探测器的一侧；控制器固定在暗盒外部，与LED光源连接，控制器控制LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测平板探测器的自动曝光检测功能。
在本实施例中，暗盒为金属暗盒，通过该暗盒形成无光的暗室环境实现平板探测器的自动曝光检测功能测试。
在其他实施例中，暗盒还可以为塑料、陶瓷、木质以及其他不透光的材料执行，也可以为几种材料的混合形成，只需能够在暗盒的内部形成无光的暗室环境即可。
在本实施例中，控制器包括随机数产生电路，通过该随机数产生电路产生两组随机数，时间随机数和亮度随机数，并根据该时间随机数和亮度随机数据计算控制LED发光的发光控制信号。其中，该随机数产生电路和计算发光控制信号的电路可以集成在一块控制芯片上，也可以分开设置在不同的控制芯片上。该芯片可以为单片机、SOC、CPU以及其他专用于控制LED光源发送的控制芯片。
在本实施例中，曝光参数包括LED光源发出的光信号的时长和光强。
在一个具体的实施例中，光信号的时长为1ms-6.3s，控制LED光源的电流强度为1-20mA。
在本实施例中，自动曝光检测功能测试设备包括底座，底座与LED光源相对，通过底座承载平板探测器。
在本实施例中，底座可固定在暗盒的一侧，以承载暗盒和平板探测器，通过该底座放入和移出平板探测器。
在其他实施例中，也可以通过一体成型或其他不可活动的方式将底座固定在暗盒上，通过暗盒的其他侧面放入和移出平板探测器。
在本实施例中，平板探测器为移除闪烁体后的平板探测器，平板探测器根据LED光源发出的可见光信号产生反映可见光信号时长和强度的检测信号，通过该检测信号和曝光参数的差异测试平板探测器的自动曝光检测功能。
在其他实施例中，平板探测器也可以不移除闪烁体，只需正常的平板探测器能够检测到LED光源发出的可见光信号即可。
在本实施例中，底座上设置有出线口，平板探测器通过出线口与电源、计算机连接。
其中，出线口设置在底座一侧，平板探测器的信号线和电源线通过该出线口分别与计算机、电源连接。平板探测器通过电源获取电能，并将LED光源的可见光信号产生的检测信号发送给计算机。计算机根据该检测信号和对应的曝光参数检测平板探测器的自动曝光检测功能。
在本实施例中，控制器还包括串口，控制器通过所述串口与计算机连接，并通过该串口向计算机输出曝光参数。
在本实施例中，暗盒包括顶板，顶板与底座相对，LED光源、控制器分别设置在顶板两侧。在其他实施例中，控制器与LED光源也可以不设置在顶板两侧，二者可以设置在暗盒的不同侧面上，只需能够使控制器向LED光源输出控制信号即可。
在本实施例中，控制器还设置有启动按键，控制器根据该启动按键的动作产生时间随机数和亮度随机数。
下面通过自动曝光检测功能测试系统中自动曝光检测功能测试设备的工作流程对本发明的自动曝光检测功能测试系统进行说明。
把去掉闪烁体的平板探测器置在底座上，通过出线口将平板探测器和电源和计算机连接，把金属暗盒放置在底座上，此时，暗盒中形成完全光线密封的环境，按下启动按键，控制器立即产生两组随机数，时间随机数和亮度随机数，通过这两组随机数据计算生成单次曝光的曝光参数，控制器中的MCU根据时间随机数产生1mS～6.3S的LED光源曝光时间，根据亮度随机数产生1～20mA LED光源亮度控制电流，LED光源按照产生的参数发光，控制器通过控制器上的串口把曝光参数发送至计算机端，平板探测器将LED光源曝光产生的检测信号发送给计算机，延时5秒钟，MCU内部计数器加一，完成一次测试。
有益效果：本发明的自动曝光检测功能测试系统将LED光源和平板探测器设置在暗盒中，通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。
基于相同的发明构思，本发明又提出一种自动曝光检测功能测试方法，请参阅图3，图为本发明自动曝光检测功能测试方法一实施例的流程图，结合图3对本发明的自动曝光检测功能测试方法进行说明。
在本实施例中，自动曝光检测功能测试方法包括：
S101：控制器接收启动指令，控制LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将光信号对应的曝光参数发送给计算机。
S102：计算机根据曝光参数以及平板探测器发送的探测信号检测平板探测器的自动曝光检测功能。
其中，控制器通过启动按键接收启动指令，自动曝光检测功能测试设备中的控制器、LED光源，平板探测器以及计算机的结构、功能以及执行的具体操作已经在上述实施例进行描述，在此不做赘述。
有益效果：本发明的自动曝光检测功能测试方法将LED光源和平板探测器设置在暗盒中，通过LED光源向平板探测器发出时长和光强随机的光信号，根据该光信号检测平板探测器的自动曝光检测功能，实现了自动化测试，降低了人工误差，且通过对光信号的随机设置，能够最大程度模拟现实曝光条件，测试的涵盖面光，不需要X射线，对人体无辐射，降低了X光器件损耗。
上述实施方式仅为本发明的优选实施方式，不能以此来限定本发明保护的范围，本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。

Claims (10)

1.一种自动曝光检测功能测试设备，其特征在于，所述自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒、LED光源以及控制器，所述LED光源与所述控制器连接；
所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧，且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧；
所述控制器固定在所述暗盒外部，与所述LED光源连接，所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
2.如权利要求1所述的自动曝光检测功能测试设备，其特征在于，所述自动曝光检测功能测试设备还包括底座，所述底座与所述LED光源相对，通过所述底座承载所述平板探测器。
3.如权利要求2所述的自动曝光检测功能测试设备，其特征在于，所述底座上设置有出线口，所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。
4.如权利要求3所述的自动曝光检测功能测试设备，其特征在于，所述控制器还包括串口，所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。
5.如权利要求2所述的自动曝光检测功能测试设备，其特征在于，所述暗盒包括顶板，所述顶板与所述底座相对，所述LED光源、控制器分别设置在所述顶板两侧。
6.一种自动曝光检测功能测试系统，其特征在于，所述自动曝光检测功能测试系统包括：自动曝光检测功能测试设备、计算机，所述自动曝光检测功能测试设备与所述计算机连接；
所述自动曝光检测功能测试设备包括：暗盒、LED光源以及控制器，所述LED光源与所述控制器连接；
所述LED光源固定在所述暗盒内部一侧，且所述LED光源的出光面朝向所述暗盒内部放置平板探测器的一侧；
所述控制器固定在所述暗盒外部，与所述LED光源连接，所述控制器控制所述LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机以检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
7.如权利要求6所述的自动曝光检测功能测试系统，其特征在于，所述暗盒包括底座，所述底座与所述LED光源相对，通过所述底座承载所述平板探测器。
8.如权利要求7所述的自动曝光检测功能测试系统，其特征在于，所述底座上设置有出线口，所述平板探测器通过所述出线口与电源、计算机连接。
9.如权利要求8所述的自动曝光检测功能测试系统，其特征在于，所述控制器还包括串口，所述控制器通过所述串口与所述计算机连接。
10.一种自动曝光检测功能测试方法，其特征在于，所述自动曝光检测功能测试方法应用于权利要求5-9任一项所述的自动曝光检测功能测试系统，所述自动曝光检测功能测试方法包括：
S101：控制器接收启动指令，控制LED光源发出时长和光强随机的光信号，并将所述光信号对应的曝光参数发送给计算机；
S102：所述计算机根据所述曝光参数以及平板探测器发送的探测信号检测所述平板探测器的自动曝光检测功能。
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