CN111999566A - 一种磁芯测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种磁芯测试装置，第一盖体设有n个第一安装部和n个第二安装部，第二盖体设有n个第三安装部和n个第四安装部，第一盖体与第二盖体配合状态下，n个第一安装部和n个第三安装部分别相对，n个第二安装部和n个第四安装部分别相对；第一盖体和第二盖体配合后，第一线束和第二线束抵靠后形成螺旋线圈，磁芯容置在容置空间内，也即位于螺旋线圈内，随后可对磁芯进行测试；由于第一线束和第二线束与磁芯不接触，从而不需要进行绝缘处理，降低了操作复杂性；另外第一线束和第二线束构成多圈绕组，能够均匀包裹整个磁芯，大大减小漏磁通，测试精度更高。

Description

一种磁芯测试装置

技术领域

本发明属于磁芯检测领域，特别涉及一种磁芯测试装置。

背景技术

高频行业大电流立绕电抗器逐渐开始替代传统的磁环电感，从而开始大批量使用块状或C型磁芯，对于这些磁芯，现有的检测方式是将磁芯用胶剂粘好，中柱做绝缘处理后，使用粗铜线在中柱绕线，再测试其空载和负载电感值。但是此方法存在以下缺点，由于磁芯外无绝缘涂层，需要做绝缘处理，确保磁芯与线圈之间是绝缘的，操作复杂；另外测试精度低，现有技术方案是在磁芯中间穿一根铜线，测试单匝的电感值，由于线圈只有一匝，漏磁通会很大，导致漏感大，因为测试的电感值实际为电感+漏感，所以测试电感较高。

发明内容

针对上述问题，本发明提出一种磁芯测试装置，包括第一盖体、第二盖体、(n-1)根第一线束和n根第二线束；

第一盖体设有n个第一安装部和n个第二安装部，n个第一安装部的连线与n个第二安装部的连线间隔预设距离，第i根第一线束两端分别安装在第i个第一安装部和第i个第二安装部上，2≤i≤n；

第二盖体设有n个第三安装部和n个第四安装部，n个第三安装部的连线与n个第四安装部的连线间隔预设距离，第j根第二线束两端分别安装在第j个第三安装部和第(j+1)个第四安装部上，1≤j≤n-1，第n根第二线束两端分别安装在第n个第三安装部和第一个第四安装部上；

第一盖体与第二盖体配合状态下，n个第一安装部和n个第三安装部分别相对，第一安装部上的第一线束端部与第三安装部上的第二线束端部抵靠，n个第二安装部和n个第四安装部分别相对，第二安装部上的第一线束端部与第四安装部上的第二线束端部抵靠；n个第一安装部的连线、n个第二安装部的连线、n个第三安装部的连线和n个第四安装部的连线之间形成容置空间。

优选地，第一安装部为设置在第一盖体上的第一通孔，第二安装部为设置在第一盖体上的第二通孔，第三安装部为设置在第二盖体上的第三通孔，第四安装部为设置在第二盖体上的第四通孔；

第一线束两端分别位于第一通孔和第二通孔中，第二线束两端分别位于第三通孔和第四通孔中。

优选地，(n-1)根第一线束两端分别可拆卸地安装在第一安装部和第二安装部上。

优选地，n根第二线束两端分别可拆卸地安装在第三安装部和第四安装部上。

优选地，n个第一安装部的连线与n个第二安装部的连线平行。

优选地，第一个第一安装部和第一个第二安装部中插装有接线柱。

优选地，n个第一安装部的连线呈C形、U形、直线段、环形中的任意一种。

优选地，还包括架体，架体包括底座、立杆和抬升组件，立杆安装在底座上，抬升组件安装在立杆上，抬升组件包括活动件，活动件可移动；

第二盖体安装在底座上；

第一盖体安装在活动件上，活动件移动过程中具有第一位置和第二位置，活动件在第一位置下，第一盖体与第二盖体配合，活动件在第二位置下，第一盖体与第二盖体脱离。

优选地，抬升组件还包括基板、第一操作杆和第一连接杆；

基板固定在立杆上；

第一操作杆一端转动安装在基板上；

第一连接杆第一端转动连接在第一操作杆中部，第一连接杆第二端转动连接在活动件上；

活动件滑动安装在基板上。

优选地，还包括夹具，夹具包括第一固定件、第二固定件和推动件；

第一固定件固定在第二盖体远离第二线束的一侧，第一固定件位于n个第三安装部所构成连线和n个第四安装部所构成连线之间；

第一盖体或第二盖体设有缺口，第一盖体和第二盖体配合状态下，所述缺口连通容置空间；

推动件安装在架体上，推动件包括可移动的执行部件，执行部件位于缺口中，第二固定件安装在执行部件上，第二固定件与第一固定件相对设置。

本发明的磁芯测试装置，第一盖体和第二盖体配合后，第一线束和第二线束抵靠后形成螺旋线圈，磁芯容置在容置空间内，也即位于螺旋线圈内，随后可对磁芯进行测试；由于第一线束和第二线束与磁芯不接触，从而不需要进行绝缘处理，降低了操作复杂性；另外第一线束和第二线束构成多圈绕组，能够均匀包裹整个磁芯，大大减小漏磁通，测试精度更高。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本发明实施例中第一盖体的示意图；

图2示出了本发明实施例中第二盖体的示意图；

图3示出了本发明实施例中第一线束和第二线束连接示意图；

图4示出了本发明实施例中U形第一盖体和第二盖体的示意图；

图5示出了本发明实施例中矩形第一盖体和第二盖体的示意图；

图6示出了本发明实施例中架体的轴侧图；

图7示出了本发明实施例中架体的侧视图；

图8示出了本发明实施例中夹具和第二盖体的俯视图；

图9示出了本发明实施例中夹具的侧视图。

图中，1-第一盖体，11-第一通孔，12-第二通孔，13-定位孔，2-第二盖体，21-第三通孔，22-第四通孔，23-容置槽，3-第一线束，4-第二线束，5-接线柱，6-架体，61-底座，62-立杆，63-抬升组件，631-固定件，6311-固定部，6312-第一连接部，6313-第二连接部，6314-第三连接部，632-活动件，6321-第四连接部，633-基板，634-第一操作杆，635-第一连接杆，636-导向件，637-导向杆，641-第一转轴，642-第二转轴，643-第三转轴；第一磁芯-71，第二磁芯-72，第一固定件-81，第二固定件-82，推动件-83，第一支座-831，第二支座-832，第二操作杆-833，第二连接杆-834，执行部件-835。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地说明，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的实施例提出一种磁芯测试装置，包括第一盖体1、第二盖体2、19根第一线束3和20根第二线束4。因为本实施例中测试的磁芯为2pcsC型磁芯，该磁芯呈C形，所以适应性的设计第一盖体1和第二盖体2为圆柱状。

参照图1，为第一盖体1的结构示意图，第一盖体1轴线方向设有两组孔，分别是20个第一通孔11和20个第二通孔12，20个第一通孔11靠近第一盖体1边缘位置并沿着边缘顺序设置，20个第二通孔12靠近第一盖体1中心位置并围绕中心顺序设置，将20个第一通孔11分别命名为A1、A2、A3…A20,20个第二通孔12分别命名为a1、a2、a3…a20。将第一根第一线束3的一端插入A2孔中，第一根第一线束3的另一端插入a2孔中，从而第一根第一线束3被安装在第一盖体1上，第一根第一线束3被弯折成U形；将第二根第一线束3的一端插入A3孔中，第二根第一线束3的另一端插入a3孔中，从而第二根第一线束3被安装在第一盖体1上，第二根第一线束3被弯折成U形；以此类推，19根第一线束3都被安装在第一盖体1上。A1孔和a1孔没有插入第一线束3。需要注意的是，第一线束3的两端需要稍微凸出第一通孔11和第二通孔12。第一线束3两端的绝缘层剥离。

参照图2，为第二盖体2的结构示意图，第二盖体2轴线方向设有两组孔，分别是20个第三通孔21和20个第四通孔22，20个第三通孔21靠近第二盖体2边缘位置并沿边缘顺序设置，20个第四通孔22靠近第二盖体2中心位置并围绕中心顺序布置，将20个第三通孔21分别命名为B1、B2、B3…B20,20个第四通孔22分别命名为b1、b2、b3…b20。20个第三通孔21连线和20个第四通孔22之间形成容置槽23，用于容置磁芯。将第一根第二线束4的一端插入B1孔中，第一根第二线束4的另一端插入b20孔中，从而第一根第二线束4被安装在第二盖体2上，第一根第二线束4被弯折成U形；将第二根第二线束4的一端插入B2孔中，第二根第二线束4的另一端插入b1孔中，从而第二根第二线束4被安装在第二盖体2上，第二根第二线束4被弯折成U形；依次类推；将第二十根第二线束4的一端插入B20孔中，第二十根第二线束4的另一端插入b19孔中，从而第二十根第二线束4被安装在第二盖体2上，第二根第二线束4被弯折成U形。这样20根第二线束4都被安装在第二盖体2上。需要注意的是，第一线束3的两端需要稍微凸出第三通孔21和第四通孔22。第二线束4两端的绝缘层剥离。

将第一盖体1远离第一线束3的一侧与第二盖体2远离第二线束4的一侧相互抵靠，第二盖体2上的容置槽23被第一盖体1掩盖，被掩盖后的容置槽23称为容置空间。20个第一通孔11和20个第三通孔21分别相对，20个第二通孔12和20个第四通孔22分别相对，从而第一通孔11中的第一线束3端部与第三通孔21中第二线束4端部相抵靠，第二通孔12中的第一线束3端部与第四通孔22中第二线束4端部相抵靠。参照图3，第一线束3和第二线束4连接，使得19个第一线束3和20个第二线束4构成一个导电通路，将两个接线柱5分别插入A1孔和a1孔中,从头至尾为接线柱5-a1-b1-B2-A2-a2…a20-b20-B1-A1-接线柱5,并且该导电通路外绕在容置空间外周，从而导电通路可以视为螺旋线圈。

测试磁芯时，首先将待测磁芯放置进入容置槽23，再将第一盖体1与第二盖体2配合，导电通路围绕在磁芯外周，将两个接线柱5分别插入A1孔和a1孔中，大电流综合电感测试仪(型号为DPG10)的两个测试夹子将分别将两个接线柱5夹住，进行相关测试。测试结束后，移走第一盖体1，取出磁芯。

上述实施例中，第一盖体1和第二盖体2采用绝缘材料制成，由于第一线束3和第二线束4与磁芯不接触，并且有足够的空间距离，从而不需要进行绝缘处理，降低了操作复杂性；另外第一线束3和第二线束4构成多圈绕组，能够均匀包裹整个磁芯，相对于现有技术只使用单匝线圈进行测试，大大减小漏磁通，测试精度更高。

本实施例中第一通孔11、第二通孔12、第三通孔21和第四通孔22的数量只是为了解释说明本技术方案，在另外的设计方式上，第一通孔11、第二通孔12、第三通孔21和第四通孔22的数量并不限于本实施例所提出的，可以少于本实施例所提出的数量，也可以多于本实施例所提出的数量。相邻第一通孔11的间距、相邻第二通孔12的间距、相邻第三通孔21的间距以及相邻第四通孔22的间距可以根据实际所需进行设计。

本实施例中是在第二盖体2上设置容置槽23，容置槽23用于容置磁芯，在另外的设计方式上，也可以在第一盖体1上设置容置槽23，也可以在第一盖体1和第二盖体2上均设置容置槽23，无论哪种方式均可以达到容置磁芯的目的。但无论容置槽23的哪种设计方式，需要确保放置好的磁芯位于第一线束3和第二线束4构成的螺旋线圈内。

因为第一盖体1和第二盖体2的作用分别是供第一线束3和第二线束4安装在其上，其形状可以任意设计，在本实施例中第一盖体1和第二盖体2外形不限于圆柱状，可以是U形、直线形等。如果是测试其它形状的磁芯，例如U形、直线形等，第一盖体1和第二盖体2的外形可以设计为圆形、U形、矩形等。如图4所示，呈U形结构的第一盖体1,第二盖体2同第一盖体1结构相同,第二盖体2未图示；如图5所示,呈矩形结构的第一盖体1,第二盖体2同第一盖体1结构相同,第二盖体2未图示。图4和图5中的第一通孔11、第二通孔12、第三通孔21和第四通孔22未图示。

为了将第一线束3和第二线束4分别安装在第一盖体1和第二盖体2上，本实施例中采用方案是在第一盖体1和第二盖体2上设置通孔，将线束插装在通孔中。在另外的设计方式上，不限于通过设置通孔的方式来安装线束，这里将第一盖体1与第一线束3两端连接的位置分别称为第一安装部和第二安装部，将第二盖体2与第二线束4两端连接的位置分别称为第三安装部和第四安装部。以第一盖体1为例，可以设计第一盖体1为环形结构，第一安装部位于第一盖体1内周壁，第二安装部位于第一盖体1外周壁，将第一线束3两端分别焊接在第一盖体1内周壁和第一盖体1外周壁上，或者是用胶水粘接，同样可以使第一线束3安装在第一盖体1上，第二盖体2和第二线束4也是这样设置。这种设计方式可以不用在第一盖体1和第二盖体2上设置通孔，第一盖体1和第二盖体2结构更加简单。

本实施例中第一线束3端部是插装在第一通孔11和第二通孔12中的，第二线束4端部是插装在第三通孔21和第四通孔22中的，因此第一线束3和第二线束4可以随时拆卸下来的，进而可以实际需要更换不同直径、不同材质的第一线束3和第二线束4，如果测试电流较大，可以选用直径更粗的第一线束3和第二线束4，如果测试电流较小，可以选用直径更细的第一线束3和第二线束4。在另外的设计方式上，也可以直接将第一线束3端部焊接在第一通孔11和第二通孔12中，将第二线束4端部焊接在第三通孔21和第四通孔22中。

为了节省测试时间，本实施例中可以在A1和a1孔中分别预先固定有接线柱5，并且当第二线束4端部插入B1孔和b1孔中、第一盖体1和第二盖体2配合后，接线柱5与B1孔和b1孔中的第二线束4端部抵靠。这样就避免每次测试时都需要插入接线柱5。

为了提高测试效率，便于第一盖体1和第二盖体2配合、脱离，本实施例中还提出一个架体6，将第一盖体1和第二盖体2安装在架体6上，通过机械的方式是第一盖体1和第二盖体2配合或脱离。架体6的结构如下所述。

如图6和图7所示，架体6包括底座61、立杆62和抬升组件63。底座61呈立方体结构，第二盖体2固定在底座61顶部，可以是通过螺栓将第二盖体2固定在底座61上，第二盖体2位置不会随意改变，第二盖体2的凹槽朝向上方。立杆62底部固定在底座61上，立杆62呈“7”字形。抬升组件63安装在立杆62顶部，抬升组件63包括基板633、固定件631、第一操作杆634、第一连接杆635和活动件632，基板633为一块矩形板，基板633通过螺栓安装在立杆62顶部，基板633所在平面竖直。固定件631安装在基板633上，第一操作杆634一端转动安装在固定件631顶部，第一连接杆635第一端转动连接在第一操作杆634中部，第一连接杆635第二端转动连接在活动件632上。本实施例中的活动件632为一圆柱，固定件631设有滑孔，滑孔轴线竖直设置，活动件632滑动安装在滑孔中，从而活动件632可以上下滑动。第一盖体1中央设有螺纹孔，活动件632底部设有螺纹，第一盖体1通过螺纹孔与活动件632连接，第一盖体1与活动件632连接好后，需要确保20个第一通孔11的轴线和20个第三通孔21的轴线分别共线，20个第二通孔12的轴线和20个第四通孔22的轴线分别共线，这样才能确保第一盖体1与第二盖体2配合后，第一线束3端部均能够与第二线束4端部抵靠。

第一操作杆634由人工操控，当向上转动第一操作杆634时，第一操作杆634带动第一连接杆635向上移动，第一连接杆635又带动活动件632向上滑动，活动件632带动第一盖体1向上移动，从而第一盖体1逐渐远离第二盖体2。当向下转动第一操作杆634时，第一操作杆634带动第一连接杆635向下移动，第一连接杆635又带动活动件632向下滑动，活动件632带动第一盖体1向下移动，从而第一盖体1逐渐靠近第二盖体2，最终与第二盖体2抵靠。

测试时，先向上转动第一操作杆634，使第一盖体1与第二盖体2脱离，将待测试磁芯放置进入容置槽23内，再向下转动第一操作杆634，第一盖体1与第二盖体2配合，第一线束3和第二线束4抵靠构成螺旋线圈，大电流综合电感测试仪型号为DPG10的两个测试夹子将分别将A1孔和a1孔中的两个接线柱5夹住，进行相关测试。测试结束后，向上转动第一操作杆634，第一盖体1与第二盖体2脱离，取出测试完毕的磁芯。

架体6的架构不限于图6和图7所展示的，在另外的设计方式上，架体6可以有其他的形状结构，只要能够将第一盖体1和第二盖体2中其中一个固定，另一个可移动，并且移动过程中第一盖体1和第二盖体2可以相互配合即可。

具体地，本实施例中的固定件631包括固定部6311、第一连接部6312、第二连接部6313和两个第三连接部6314，固定部6311与基板633固定连接，第一连接部6312和第二连接部6313分别位于固定部6311的顶部和底部，滑孔设置在第二连接部6313上。两个第三连接部6314位于第一连接部6312和第二连接部6313之间，并且两个第三连接部6314与第一连接部6312和第二连接部6313固定连接，两个第三连接部6314平行设置，两个第三连接部6314的顶部分别设有第一轴孔，一根第一转轴641转动安装在这两个第一轴孔中，第一操作杆634一端与第一转轴641的两端固定连接。

第一操作杆634中部设有第二轴孔，一根第二转轴642转动安装在第二轴孔中，第一连接杆635第一端与第二转轴642固定连接。

活动件632顶部设有第四连接部6321，第四连接部6321设有两个第三轴孔，一根第三转轴643转动安装在这两个第三轴孔中，第一连接杆635第二端与第三转轴643固定连接。

在另外的设计方式上，也可以不设置固定件，直接将操作杆一端转动安装在基板上，活动件滑动安装在基板上，连接杆的两端分别与操作杆中部和活动件转动连接。

本实施例中还包括两个导向件636和两根导向杆637，两个导向件636固定在基板633上，两根导向杆637分别固定在两个导向件636上并竖直设置，第一盖体1上设有两个定位孔13，第二盖体2上设有两个定位孔13，两根导向杆637底部分别位于四个定位孔13中。当第一盖体1上下移动时，导向杆637可以起到导向作用，防止第一盖体1转动，进而导致后续第一盖体与第二盖体配合后第一线束和第二线束接触不良。

参照图8，当测试偶数个C形磁芯时，需要将磁芯两两相对，切口相互抵靠,构成以一个环形磁路，如图8所示的第一磁芯71和第二磁芯72的切口相互抵靠。为了测试时便于将切口抵靠，本实施例中还提出了一种夹具，通过夹具使第一磁芯71切口和第二磁芯72切口快速抵靠。

参照图8和图9，夹具包括第一固定件81、第二固定件82和推动件83。第一固定件81通过螺栓固定在容置槽23内，也即位于20个第三通孔所构成连线和20个第四通孔所构成连线之间。第一固定件81设有一个V形槽，第一磁芯71外圈可以抵靠在V形槽上。

第二盖体2边缘设有缺口，缺口与第一固定件81相对，当第一盖体1和第二盖体2配合后，容置空间与缺口连通，外界物体可以通过缺口进入容置空间内。

本实施例中的推动件83包括第一支座831、第二支座832、第二操作杆833、第二连接杆834和执行部件835。第二支座832上设有滑孔，执行部件835为一圆柱。第一支座831和第二支座832固定在架体上并位于缺口附近，第二支座832位于第一支座831和缺口之间。第二操作杆833一端转动安装在第一支座831上，第二连接杆834第一端与第二操作杆833中部转动连接，第二连接杆834第二端与执行部件835第一端转动连接，执行部件835滑动安装在滑孔中，执行部件835第二端穿过缺口进入容置槽内。执行部件835第二端设有螺丝，第二固定件82设有螺孔，第二固定件82通过螺孔与螺丝连接，从而将第二固定件82安装在执行部件835上，并且第二固定件82与第一固定件81相对。第二固定件82远离执行部件835的一侧设有一个V形槽，第二磁芯72外圈可以抵靠在V形槽上。

当向上转动第二操作杆833时，第二固定件82向远离第一固定件81的方向移动，当向下按压第二操作杆833时，第二固定件82向靠近第一固定件81的方向移动。当把第一磁芯71和第二磁芯72放置进入容置槽后，先使第一磁芯71与第一固定件81上的V形槽抵靠,将第一磁芯71的切口和第二磁芯72的切口对齐,向下转动第二操作杆833，第二固定件82向靠近第一固定件81的方向移动，最终第二固定件82与第二磁芯72接触，继续向下转动第二操作杆833，第二固定件82推动第二磁芯72与第一磁芯71贴紧，从而第二磁芯72切口与第一磁芯71切口贴紧,形成一个完整的磁路，再将第一盖体1向下压，与第二盖体2配合形成测试的螺旋线圈，再进行测试。

尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种磁芯测试装置,其特征在于，包括第一盖体(1)、第二盖体(2)、(n-1)根第一线束(3)和n根第二线束(4)；

第一盖体(1)设有n个第一安装部和n个第二安装部，n个第一安装部的连线与n个第二安装部的连线间隔预设距离，第i根第一线束(3)两端分别安装在第i个第一安装部和第i个第二安装部上，2≤i≤n；

第二盖体(2)设有n个第三安装部和n个第四安装部，n个第三安装部的连线与n个第四安装部的连线间隔预设距离，第j根第二线束(4)两端分别安装在第j个第三安装部和第(j+1)个第四安装部上，1≤j≤n-1，第n根第二线束(4)两端分别安装在第n个第三安装部和第一个第四安装部上；

第一盖体(1)与第二盖体(2)配合状态下，n个第一安装部和n个第三安装部分别相对，第一安装部上的第一线束(3)端部与第三安装部上的第二线束(4)端部抵靠，n个第二安装部和n个第四安装部分别相对，第二安装部上的第一线束(3)端部与第四安装部上的第二线束(4)端部抵靠；n个第一安装部的连线、n个第二安装部的连线、n个第三安装部的连线和n个第四安装部的连线之间形成容置空间。

2.根据权利要求1所述的磁芯测试装置,其特征在于，

第一安装部为设置在第一盖体(1)上的第一通孔(11)，第二安装部为设置在第一盖体(1)上的第二通孔(12)，第三安装部为设置在第二盖体(2)上的第三通孔(21)，第四安装部为设置在第二盖体(2)上的第四通孔(22)；

第一线束(3)两端分别位于第一通孔(11)和第二通孔(12)中，第二线束(4)两端分别位于第三通孔(21)和第四通孔(22)中。

3.根据权利要求1-2中任一项所述的磁芯测试装置,其特征在于，(n-1)根第一线束(3)两端分别可拆卸地安装在第一安装部和第二安装部上。

4.根据权利要求1-2中任一项所述的磁芯测试装置,其特征在于，n根第二线束(4)两端分别可拆卸地安装在第三安装部和第四安装部上。

5.根据权利要求1-2中任一项所述的磁芯测试装置,其特征在于，n个第一安装部的连线与n个第二安装部的连线平行。

6.根据权利要求2所述的磁芯测试装置,其特征在于，第一个第一安装部和第一个第二安装部中插装有接线柱(5)。

7.根据权利要求1-2中任一项所述的磁芯测试装置,其特征在于，n个第一安装部的连线呈C形、U形、直线段、环形中的任意一种。

8.根据权利要求1-2中任一项所述的磁芯测试装置,其特征在于，

还包括架体(6)，架体(6)包括底座(61)、立杆(62)和抬升组件(63)，立杆(62)安装在底座(61)上，抬升组件(63)安装在立杆(62)上，抬升组件(63)包括活动件(632)，活动件(632)可移动；

第二盖体(2)安装在底座(61)上；

第一盖体(1)安装在活动件(632)上，活动件(632)移动过程中具有第一位置和第二位置，活动件(632)在第一位置下，第一盖体(1)与第二盖体(2)配合，活动件(632)在第二位置下，第一盖体(1)与第二盖体(2)脱离。

9.根据权利要求8所述的磁芯测试装置,其特征在于，抬升组件(63)还包括基板(633)、第一操作杆(634)和第一连接杆(635)；

基板(633)固定在立杆(62)上；

第一操作杆(634)一端转动安装在基板(633)上；

第一连接杆(635)第一端转动连接在第一操作杆(634)中部，第一连接杆(635)第二端转动连接在活动件(632)上；

活动件(632)滑动安装在基板(633)上。

10.根据权利要求8所述的磁芯测试装置,其特征在于，还包括夹具，夹具包括第一固定件(81)、第二固定件(82)和推动件(83)；

第一固定件(81)固定在第二盖体远离第二线束的一侧，第一固定件(81)位于n个第三安装部所构成连线和n个第四安装部所构成连线之间；

第一盖体或第二盖体设有缺口，第一盖体和第二盖体配合状态下，所述缺口连通容置空间；

推动件(83)安装在架体上，推动件(83)包括可移动的执行部件(835)，执行部件(835)位于缺口中，第二固定件(82)安装在执行部件(835)上，第二固定件(82)与第一固定件(81)相对设置。

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