CN111998764A - 一种接近感应检测方法及装置、电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种接近感应检测方法及装置、电子设备，该方法包括：获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量；判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。可见本发明提供的技术方案，在接近物体与电子设备在当前间距时的电容变化量大于或等于接近阈值时，根据电容变化量来确定接近物体的类型数据，以根据接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理，本发明不仅能够确定接近电子设备的物体的类型，而且还能够根据接近物体的类型数据做出相应的精准控制，优化了接近感应检测相关技术。

Description

一种接近感应检测方法及装置、电子设备

技术领域

本发明涉及接近感应检测技术领域，更为具体地说，涉及一种接近感应检测方法及装置、电子设备。

背景技术

手机作为现代社会科技进步的象征，已经成为每个人都几乎必须拥有的工具。但如果人体长时间接近手机，且手机以较大功率发射电磁信号，则会造成对人体的伤害。目前许多国家和地区都规定了当人体接近电子设备时的SAR(比吸收率，Specific AbsorptionRatio)标准，对此需要配合接近感应技术来实现电子设备发射电磁信号的调控。因此，电子设备的接近感应检测技术称为现今重点研发方向之一。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种接近感应检测方法及装置、电子设备，有效解决了现有技术存在的技术问题，优化了接近感应检测相关技术。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：

一种接近感应检测方法，应用于电子设备，该方法包括：

获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量；

判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；

根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

可选的，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据包括：

判断所述电容变化量对应于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中，N为大于或等于2的整数，i为小于N的正整数；

根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据，其中，所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

可选的，在判断所述电容变化量大于或等于接近阈值后，且确定所述接近物体的类型数据前，还包括：

判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间，若所述持续时间大于或等于阈值时间，则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间，则确定为误操作。

相应的，本发明还提供了一种接近感应检测装置，应用于电子设备，所述电子设备包括主机，所述装置包括：

获取单元，所述获取单元用于获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量；

处理单元，所述处理单元用于判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；

以及，上报单元，所述上报单元用于将所述接近物体的类型数据上报至所述主机，所述主机根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

可选的，所述处理单元包括：

判断模块，所述判断模块用于判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，判断所述电容变化量处于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中，N为大于或等于2的整数，i为小于或等于N的正整数

以及，确定模块，所述确定模块用于根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据，其中，所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

可选的，所述处理单元还包括：

计时判断模块，所述计时判断模块用于在所述处理单元判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值后，且确定所述接近物体的类型数据前，判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间，若所述持续时间大于或等于阈值时间，则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间，则确定为误操作。

相应的，本发明还提供了一种电子设备，所述电子设备包括电容传感器及处理器；

所述电容传感器用于接近物体与所述电子设备在当前间距下检测产生的电容变化；

所述处理器用于获取所述电容传感器的电容变化量，且判断所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；以使得电子设备根据所述接近物体的类型数据进行预定控制处理。

可选的，所述处理器和所述电容传感器集成于电容检测芯片中，所述电容检测芯片还包括第一上报单元，用于发送所述接近物体的类型数据；

所述电子设备还包括主机，所述主机用于接收所述第一上报单元发送的所述接近物体的类型数据，根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

可选的，所述电容检测芯片还包括第二上报单元，用于发送所述电容变化量；其中所述处理器还用于在判断所述电容变化量大于或等于接近阈值前，判断所述电容变化量与上报阈值的大小，其中在判断出所述电容变化量小于所述上报阈值时，则进行所述电容变化量与所述接近阈值的判断；而在判断出所述电容变化量大于或等于所述上报阈值时，则通过所述第二上报单元将所述电容变化量发送至所述主机；

所述主机还用于接收所述电容变化量时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据，并根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

可选的，所述处理器为电子设备的主机，所述电子设备的主机用于获取所述电容传感器的电容变化量，且判断所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据，根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

可选的，所述电子设备还包括RF控制器；

其中，在所述接近物体的类型数据为人体的类型数据时，所述电子设备控制所述RF控制器调整RF发射功率。

相较于现有技术，本发明提供的技术方案至少具有以下优点：

本发明提供了一种接近感应检测方法及装置、电子设备，该方法包括：获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量；判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。可见本发明提供的技术方案，在接近物体与电子设备在当前间距时的电容变化量大于或等于接近阈值时，根据电容变化量来确定接近物体的类型数据，以根据接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理，本发明不仅能够确定接近电子设备的物体的类型，而且还能够根据接近物体的类型数据做出相应的精准控制，优化了接近感应检测相关技术。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种接近感应检测方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的另一种接近感应检测方法的流程图；

图3为本发明实施例提供的又一种接近感应检测方法的流程图；

图4为本发明实施例提供的一种接近感应检测装置的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的另一种接近感应检测装置的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图；

图7为本发明实施例提供的另一种电子设备的结构示意图；

图8为本发明实施例提供的又一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

正如背景技术所述，手机作为现代社会科技进步的象征，已经成为每个人都几乎必须拥有的工具。但如果人体长时间接近手机，且手机以较大功率发射电磁信号，则会造成对人体的伤害。目前许多国家和地区都规定了当人体接近电子设备时的SAR标准，对此需要配合接近感应技术来实现电子设备发射电磁信号的调控。因此，电子设备的接近感应检测技术称为现今重点研发方向之一。

基于此，本发明提供实施例了一种接近感应检测方法及装置、电子设备，有效解决了现有技术存在的技术问题，优化了接近感应检测相关技术。

为实现上述目的，本发明实施例提供的技术方案如下，具体结合图1至图8对本发明实施例提供的技术方案进行详细的描述。

参考图1所示，为本发明实施例提供的一种接近感应检测方法的流程图，该接近感应检测方法应用于电子设备，其中该方法包括：

S1、获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量。

S2、判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据。

S3、根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

需要说明的是，本发明实施例提供的电容变化量可以通过电容传感器来进行检测，其中电容传感器可以集成于电子设备中，当接近物体接近电子设备时电容传感器出现电容的变化，该变化即为电容变化量。

以及，本发明实施例提供的接近阈值即为电容值，其为在接近物体与电子设备在当前间距下，是否需要对接近物体进行类型判断的参考值；其中在电容变化量小于接近阈值时，表明接近物体与电子设备之间的间距在预定的检查间距之外，或者表明在当前间距下的接近物体为预定的检测类型之外。其中由于接近物体与电子设备之间间距不同，电容变化量的数值同样不同，故而接近物体与电子设备的不同间距对应不同的接近阈值；对此可以在获取电容变化量之前确定接近物体与电子设备之间的当前间距，而后根据该当前间距确定接近阈值。具体的，可以预先设定一当前间距-接近阈值的映射关系数据库，通过查找该数据库的方式而根据当前间距确定接近阈值。

此外，本发明实施例提供的接近感应检测方法可以由一检测感应器件完成，即检测感应器件独立于电子设备中其他器件，检测感应器件独立完成获取电容变化量、确定接近物体的类型数据和对电子设备的预定控制处理过程。或者，本发明实施例提供的接近感应检测方法可以由电子设备的主机来完成，即电子设备的主机独立完成获取电容变化量、确定接近物体的类型数据和对电子设备的预定控制处理过程。或者，本发明实施例提供的接近感应检测方法可以由检测感应器件和电子设备的主机共同完成，检测感应器件独立于电子设备中其他器件，其中检测感应器件完成获取电容变化量和确定接近物体的类型数据的过程，而后将接近物体的类型数据上报至主机，由主机完成对电子设备的预定控制处理过程。以及在本发明其他实施例中，还可以通过其他方式完成接近感应检测方法的全过程，对此本发明不做具体限制。

可以理解的，本发明提供的技术方案，在接近物体与电子设备在当前间距时的电容变化量大于或等于接近阈值时，根据电容变化量来确定接近物体的类型数据，以根据接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理，本发明不仅能够确定接近电子设备的物体的类型，而且还能够根据接近物体的类型数据做出相应的精准控制，优化了接近感应检测相关技术。

在本发明一实施例中，本发明可以预先设定接近物体的类型数据和电容范围的对应关系，而后根据电容变化量所归属的电容范围来确定接近物体的类型数据。具体如图2所示，为本发明实施例提供的另一种接近感应检测方法的流程图，其中，本发明提供的根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据包括：

S21、在判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，判断所述电容变化量对应于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中，N为大于或等于2的整数，i为小于N的正整数。

S22、根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据，其中，所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

可以理解的，本发明实施例提供的第一电容范围至第N电容范围均为不同数值的区间，第一电容范围至第N电容范围可以呈增大趋势，或者第一电容范围至第N电容范围可以呈减小趋势，对此本发明不做具体限制。其中在接近物体和电子设备之间间距不变条件下，不同类型物体对电容变化的影响是不同的，即不同类型的物体被电容传感器检测出的电容变化量相应阈值不同，例如纸质物体阈值＜塑料物体阈值＜玻璃物体阈值＜人体阈值＜水阈值＜金属阈值；因此可以根据上述阈值依次设定不同类型物体相应的电容范围，如纸质物体相应电容范围为[纸质物体阈值，塑料物体阈值)，塑料物体相应电容范围为[塑料物体阈值，玻璃物体阈值)，玻璃物体相应电容范围为[玻璃物体阈值，人体阈值)，人体相应电容范围为[人体物体阈值，水阈值)，水相应电容范围为[水阈值，金属阈值)，金属相应电容范围为[金属阈值，预设阈值)，对此电容范围设定仅为本发明示例，对此需要根据实际物体及实际应用进行具体分析。故而，本发明实施例首先通过电容传感器检测不同类型物体相应的电容范围，而后设定物体的类型数据-电容范围的映射关系表；其中，本发明实施例提供的第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据，在确定电容变化量处于某一电容范围时，根据映射关系表确定接近物体的类型数据。

在本发明一实施例中，为了避免出现误操作的情况，本发明可以对电容变化量的持续时间进行验证。即在判断所述电容变化量大于或等于接近阈值后，且确定所述接近物体的类型数据前，还包括：

判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间，若所述持续时间大于或等于阈值时间，则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间，则确定为误操作。

具体参考图3所示，为本发明实施例提供的又一种接近感应检测方法的流程图，其中方法包括：

S1、获取所述电容传感器的电容变化量。

S2、判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间，若所述持续时间大于或等于阈值时间，则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间，则确定为误操作。

S3、将所述接近物体的类型数据上报至所述主机，所述主机根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

可以理解的，本发明提供的技术方案，在判断电容变化量大于或等于接近阈值时，通过判断该电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间和阈值时间的差异，来确定是否出现接近物体误接近的情况，进而来提高检测的精确性，避免出现误操作的情况。

相应的，本发明还提供了一种接近感应检测装置，参考图4所示，为本发明实施例提供的一种接近感应检测装置的结构示意图，其中，接近感应检测装置应用于电子设备，所述电子设备包括主机，所述装置包括：

获取单元100，所述获取单元100用于获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量。其中电容变化量可以通过电容传感器检测得到。

处理单元200，所述处理单元200用于判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据。

以及，上报单元300，所述上报单元用于将所述接近物体的类型数据上报至所述主机，所述主机根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

在本发明一实施例中，本发明实施例提供的电容变化量可以通过电容传感器来进行检测，其中电容传感器可以集成于电子设备中，当接近物体接近电子设备时电容传感器出现电容的变化，该变化即为电容变化量。以及本发明实施例提供的接近感应检测装置可以集成于电子设备的主机中，还可以制作为能够与主机实现交互的独立器件，对此本发明实施例不做具体限制。

以及，本发明实施例提供的上报单元在将接近物体的类型数据上报至主机时，可以将接近物体的类型数据相应的标志存储于RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)中且置1，而后主机通过读取该RAM时，通过该置1的有效标志，获取相应的接近物体的类型数据。或者，本发明实施例提供的上报单元还可以直接将接近物体的类型数据传输至主机，对此上报过程本发明不做具体限制。

可以理解的，本发明提供的技术方案，在接近物体与电子设备在当前间距时的电容变化量大于或等于接近阈值时，根据电容变化量来确定接近物体的类型数据，以根据接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理，本发明不仅能够确定接近电子设备的物体的类型，而且还能够根据接近物体的类型数据做出相应的精准控制，优化了接近感应检测相关技术。

参考图4所示，本发明提供的所述处理单元200包括：

判断模块210，所述判断模块210用于判断所述电容变化量大于或等于接近阈值时，判断所述电容变化量处于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中，N为大于或等于2的整数，i为小于或等于N的正整数

以及，确定模块220，所述确定模块220用于根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据，其中，所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

可以理解的，第一电容范围至第N电容范围均为不同数值的区间，第一电容范围至第N电容范围可以呈增大趋势，或者第一电容范围至第N电容范围可以呈减小趋势，对此本发明不做具体限制。其中在接近物体和电子设备之间间距不变条件下，不同类型物体对电容变化的影响是不同的，即不同类型的物体被电容传感器检测出的电容变化量相应阈值不同，例如纸质物体阈值＜塑料物体阈值＜玻璃物体阈值＜人体阈值＜水阈值＜金属阈值；因此可以根据上述阈值依次设定不同类型物体相应的电容范围，如纸质物体相应电容范围为[纸质物体阈值，塑料物体阈值)，塑料物体相应电容范围为[塑料物体阈值，玻璃物体阈值)，玻璃物体相应电容范围为[玻璃物体阈值，人体阈值)，人体相应电容范围为[人体物体阈值，水阈值)，水相应电容范围为[水阈值，金属阈值)，金属相应电容范围为[金属阈值，预设阈值)，对此电容范围设定仅为本发明示例，对此需要根据实际物体及实际应用进行具体分析。故而，本发明实施例首先通过电容传感器检测不同类型物体相应的电容范围，而后设定物体的类型数据-电容范围的映射关系表；其中，本发明实施例提供的第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据，在确定电容变化量处于某一电容范围时，根据映射关系表确定接近物体的类型数据。

在本发明一实施例中，为了避免出现误操作的情况，本发明可以对电容变化量的持续时间进行验证。具体参考图5所示，为本发明实施例提供的另一种接近感应检测装置的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述处理单元200还包括：

计时判断模块230，所述计时判断模块230用于在所述处理单元200判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值后，且确定所述接近物体的类型数据前，判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间，若所述持续时间大于或等于阈值时间，则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间，则确定为误操作。

可以理解的，本发明提供的技术方案，在判断出电容变化量大于或等于接近阈值时，通过判断该电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间和阈值时间的差异，来确定是否出现接近物体误接近的情况，进而来提高检测的精确性，避免出现误操作的情况。

相应的，本发明还提供了一种电子设备，参考图6所示，为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图，其中所述电子设备包括电容传感器10及处理器20；所述电容传感器10用于接近物体与所述电子设备在当前间距下检测产生的电容变化；所述处理器20用于获取所述电容传感器10的电容变化量，且判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；以使得电子设备根据所述接近物体的类型数据进行预定控制处理。

在本发明一实施例中，本发明所提供的电容传感器和处理器可以集成于一与主机相独立的电容检测芯片中，其中电容检测芯片主要完成电容检测及确定接近物体的类型数据的过程，而通过主机来完成根据接近物体的类型数据对电子设备进行预定的控制处理过程。如图7所示，为本发明实施例提供的另一种电子设备的结构示意图，其中，所述处理器20和所述电容传感器10集成于电容检测芯片中，所述电容检测芯片还包括第一上报单元31，用于发送所述接近物体的类型数据。

所述电子设备还包括主机40，所述主机40用于接收所述第一上报单元31发送的所述接近物体的类型数据，根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

本发明实施例提供的上报单元在将接近物体的类型数据上报至主机时，可以将接近物体的类型数据相应的标志存储于RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)中且置1，而后主机通过读取该RAM时，通过该置1的有效标志，获取相应的接近物体的类型数据。或者，本发明实施例提供的上报单元还可以直接将接近物体的类型数据传输至主机，对此上报过程本发明不做具体限制。

进一步如图8所示，为本发明实施例提供的又一种电子设备的结构示意图，其中所述电容检测芯片30还包括第二上报单元32，第二上报单元32用于发送所述电容变化量；其中所述处理器20还用于在判断所述电容变化量大于或等于接近阈值前，判断所述电容变化量与上报阈值的大小，其中在判断出所述电容变化量小于所述上报阈值时，则进行所述电容变化量与所述接近阈值的判断；而在判断出所述电容变化量大于或等于所述上报阈值时，则通过所述第二上报单元32将所述电容变化量发送至所述主机40。

所述主机40还用于接收所述电容变化量时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据，并根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

可以理解的，为了保证在某些特殊场景中能够更迅速及时的对电子设备做出控制处理，本发明实施例还可以设置一上报阈值，且在判断电容变化量与接近阈值的大小之前，判断该电容变化量与上报阈值的大小，且在电容变化量大于上报阈值时直接将电容变化量通过第二上报单元传输至主机，通过主机来完成接近物体的类型数据判断及对电子设备的预定控制处理，通过具有较高运算能力的主机完成上述过程，以在某些特殊场景中提高对电子设备进行处理的效率。举例如将上报阈值为根据水设定的一参考值，当电容传感器检测到电容变化量传输至处理器后，处理器判断出电容变化量大于或等于上报阈值，此时将电容变化量直接上报至主机；主机接收该电容变化量后，根据电容变化量确定接近物体的类型数据，迅速做出对电子设备的预定控制处理，如确定接近物体为水时，直接对电子设备进行关机处理等。

在本发明一实施例中，本发明所提供的所述处理器可以为电子设备的主机，所述电子设备的主机用于获取所述电容传感器的电容变化量，且判断所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据，根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

在本发明一实施例中，本发明提供的所述电子设备还包括RF控制器，RF控制器电连接有天线；其中，在所述接近物体的类型数据为人体的类型数据时，所述电子设备控制所述RF控制器调整RF发射功率，其中可以进行调低RF发射功率的处理，从而达到要求的SAR标准。。

需要说明的是，本发明实施例提供的电子设备可以为移动终端，其还可以为其他类型设备，对此本发明不做具体限制。

本发明实施例提供了一种接近感应检测方法及装置、电子设备，该方法包括：获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量；判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。可见本发明实施例提供的技术方案，在接近物体与电子设备在当前间距时的电容变化量大于或等于接近阈值时，根据电容变化量来确定接近物体的类型数据，以根据接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理，本发明实施例不仅能够确定接近电子设备的物体的类型，而且还能够根据接近物体的类型数据做出相应的精准控制，优化了接近感应检测相关技术。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (11)

1.一种接近感应检测方法，应用于电子设备，其特征在于，该方法包括：

获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量；

判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；

根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

2.根据权利要求1所述的接近感应检测方法，其特征在于，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据包括：

判断所述电容变化量对应于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中，N为大于或等于2的整数，i为小于N的正整数；

根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据，其中，所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

3.根据权利要求1所述的接近感应检测方法，其特征在于，在判断所述电容变化量大于或等于接近阈值后，且确定所述接近物体的类型数据前，还包括：

判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间，若所述持续时间大于或等于阈值时间，则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间，则确定为误操作。

4.一种接近感应检测装置，应用于电子设备，所述电子设备包括主机，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，所述获取单元用于获取接近物体与所述电子设备在当前间距时对应的电容变化量；

处理单元，所述处理单元用于判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；

以及，上报单元，所述上报单元用于将所述接近物体的类型数据上报至所述主机，所述主机根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

5.根据权利要求4所述的接近感应检测装置，其特征在于，所述处理单元包括：

判断模块，所述判断模块用于判断所述电容变化量大于或等于接近阈值时，判断所述电容变化量处于第一电容范围至第N电容范围中第i电容范围中，N为大于或等于2的整数，i为小于或等于N的正整数

以及，确定模块，所述确定模块用于根据所述第i电容范围确定相应的接近物体的类型数据，其中，所述第一电容范围至第N电容范围中每一电容范围分别对应一接近物体的类型数据。

6.根据权利要求4所述的接近感应检测装置，其特征在于，所述处理单元还包括：

计时判断模块，所述计时判断模块用于在所述处理单元判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值后，且确定所述接近物体的类型数据前，判断所述电容变化量大于或等于接近阈值的持续时间，若所述持续时间大于或等于阈值时间，则根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；若所述持续时间预设时间小于所述阈值时间，则确定为误操作。

7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括电容传感器及处理器；

所述电容传感器用于接近物体与所述电子设备在当前间距下检测产生的电容变化；

所述处理器用于获取所述电容传感器的电容变化量，且判断出所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据；以使得电子设备根据所述接近物体的类型数据进行预定控制处理。

8.根据权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述处理器和所述电容传感器集成于电容检测芯片中，所述电容检测芯片还包括第一上报单元，用于发送所述接近物体的类型数据；

所述电子设备还包括主机，所述主机用于接收所述第一上报单元发送的所述接近物体的类型数据，根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

9.根据权利要求8所述的电子设备，其特征在于，所述电容检测芯片还包括第二上报单元，用于发送所述电容变化量；其中所述处理器还用于在判断所述电容变化量大于或等于接近阈值前，判断所述电容变化量与上报阈值的大小，其中在判断出所述电容变化量小于所述上报阈值时，则进行所述电容变化量与所述接近阈值的判断；而在判断出所述电容变化量大于或等于所述上报阈值时，则通过所述第二上报单元将所述电容变化量发送至所述主机；

所述主机还用于接收所述电容变化量时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据，并根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

10.根据权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述处理器为电子设备的主机，所述电子设备的主机用于获取所述电容传感器的电容变化量，且判断所述电容变化量大于或等于接近阈值时，根据所述电容变化量确定接近物体的类型数据，根据所述接近物体的类型数据对所述电子设备进行预定控制处理。

11.根据权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括RF控制器；

其中，在所述接近物体的类型数据为人体的类型数据时，所述电子设备控制所述RF控制器调整RF发射功率。

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