CN111967682B - 设备上架方案寻优方法、装置及终端设备 - Google Patents

设备上架方案寻优方法、装置及终端设备 Download PDF

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Abstract

本发明适用于机房设备管理技术领域，提供了一种设备上架方案寻优方法、装置及终端装置，所述方法包括：获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据、各个机柜的承载数据以及至少一个待上架设备对应的设备数据；根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；并根据预设规则从备选上架模型中选取最优备选上架模型。通过本发明提供的设备上架方案寻优方法可以准确确定最优的设备上架方案，避免仅由人工决定上架方案时效率低下且设备散热不畅的情况。

Description

设备上架方案寻优方法、装置及终端设备
技术领域
本发明属于设备管理技术领域，尤其涉及一种设备上架方案寻优方法、装置及终端设备。
背景技术
机房中通常密集排布着多个机柜，每个机柜的承重能力和对应的负载能力是有限的，同时IT设备的产热量往往很大，需要合理的设置设备的位置。如果设备上架位置设置不当，会出现机柜超重、过载以及散热不畅的问题。并且机房内温度场不均衡会增加能耗，造成资源浪费。
在目前的机房设备管理过程中，当出现新设备需要上架时，通常由工作人员人工选择待上架设备的上架位置，无法快速准确的确定最优的上架方案。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种设备上架方案寻优方法、装置及终端设备，以解决现有技术中设备上架效率低下且排布效果差的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种设备上架寻优方法，包括：
获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据及各个机柜的承载数据；
获取至少一个待上架设备对应的设备数据；
根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；
基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；
基于预设规则对各个备选上架模型进行评估，获取最优备选上架模型；并将所述最优备选上架模型对应的备选上架方案作为目标上架方案。
本发明实施例的第二方面提供了一种设备上架方案寻优装置，包括：
第一数据获取模块，用于获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据及各个机柜的承载数据；
第二数据获取模块，用于获取至少一个待上架设备对应的设备数据；
备选上架方案生成模块，用于根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；
备选上架模型生成模块，用于基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；
评估模块，用于基于预设规则对各个备选上架模型进行评估，获取最优备选上架模块；并将所述最优备选上架模型对应的备选上架方案作为目标上架方案。
本发明实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述方法的步骤。
本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述方法的步骤。
本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本实施例首先获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据、各个机柜的承载数据以及至少一个待上架设备对应的设备数据；根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；并根据预设规则从备选上架模型中选取最优备选上架模型。本实施例提供的设备上架方案寻优方法可以准确快速的确定最优的设备上架方案，避免机柜出现超重、过载或散热不畅的问题，能够保持机房内温度场的均衡，减小能耗，避免资源浪费。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的设备上架方案寻优方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的设备上架方案寻优方法的另一流程示意图；
图3是本发明实施例提供的设备上架方案寻优装置的结构示意图；
图4是本发明实施例提供的终端设备的示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
参见图1，本发明实施例提供了一种设备上架方案寻优方法，包括：
S101:获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据、各个机柜的承载数据以及至少一个待上架设备对应的设备数据；
在本实施例中，热点分布数据由各个监测点的温度及位置组成，用于体现目标机房中的温度分布情况，其中各个监测点的温度由温度探测器采集得到，位置由预存的温度探测器位置得到。
S102:根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；
在本发明的一个实施例中，各个机柜的承载数据包括U位余量数据；所述待上架设备对应的设备数据包括U位占用数据；
在本实施例中，U位为机柜中放置设备的位置，根据设备型号的不同，待上架设备所需U位的数量也不同。U位占用数据表示待上架设备需要占用的U位数量，U位余量数据表示机柜中剩余可用U位的数量及位置。显而易见的，若一个待上架设备的U为占用数据为至少两个，则其占用的U位必须是机柜中连续的至少两个剩余可用U位。
参见图2，S102的具体实现流程包括：
S201：根据第一待上架设备对应的U位占用数据以及各个机柜的U位余量数据确定所述第一待上架设备对应的可用位置；所述第一待上架设备为任一待上架设备；
在一个具体的实施例中，对机柜1上的U位进行编号，如U111-U119代表机柜1第一层的9个U位，U521-U529代表机柜5第二层的9个U位。
假设目标机房内各个机柜的U位余量数据为U111-114，U121-U122，U124-U126，U236-U239；待上架设备A对应的U位占用数据为3，待上架设备B对应的U位占用数据为4。
则待上架设备A对应的可用位置为U111-U113、U112-U114、U124-U126、U236-U238以及U237-U239，待上架设备B对应的可用位置为U111-U114以及U236-U239。
在本实施例中，若第一待上架设备无可用位置，则生成告警信息。
S202：根据各个待上架设备对应的可用位置得到至少一个备选上架方案，且每个备选上架方案中所述第一待上架设备的可用位置与第二待上架设备的可用位置不同；所述第二待上架设备为除所述第一待上架设备外的任一待上架设备。
在本实施例中，根据各个待上架设备对应的可用位置得到至少一个备选上架方案时，需列举出所有可能的备选上架方案。
在本实施例中，若各个待上架设备对应的可用位置存在冲突，无法生成任何一个备选上架方案，则生成告警信息。
在一个具体的实施例中，根据待上架设备A和待上架设备B对应的可用位置，列举出备选上架方案：
方案一：A-U111-U113，B-U236-U239；
方案二：A-U112-U114，B-U236-U239；
方案三：A-U124-U126，B-U111-U114；
方案四：A-U124-U126，B-U236-U239；
方案五：A-U236-U238，B-U111-U114；
方案六：A-U237-U239，B-U111-U114。
在本发明的一个实施例中，各个机柜的承载数据包括承重余量数据和负载可用数据；待上架设备对应的设备数据包括重量数据和负载数据；
在S202之后，设备上架方案寻优方法还包括：
S203：计算第一备选上架方案中第一机柜对应的待上架设备的重量数据之和及负载数据之和；所述第一备选上架方案为任一备选上架方案；所述第一机柜为所述第一备选上架方案中的任一机柜；
在一个具体的实施例中，以方案一为例，机柜1对应的待上架设备的重量数据之和为待上架设备A的重量数据，负载数据之和为待上架设备A的负载数据；机柜2对应的待上架设备的重量数据之和为待上架设备B的重量数据，负载数据之和为待上架设备B的负载数据。以方案三为例，机柜1对应的待上架设备的重量数据之和为待上架设备A与待上架设备B的重量数据之和，负载数据之和为待上架设备A与待上架设备B的负载数据之和；机柜2对应的待上架设备的重量数据之和及负载数据之和均为零。
S204：若所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的重量数据之和大于所述承重余量数据，或若所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的负载数据之和大于所述负载可用数据，则删除所述第一备选上架方案。
在一个具体的实施例中，方案三中机柜1对应的重量数据之和大于机柜1的承重余量数据，因此删除上述方案三。
在本实施例中，若每个备选上架方案中均存在重量数据之和大于承重余量数据，或负载数据之和大于负载可用数据的机柜，即所有备选上架方案均被删除，则生成告警信息。
S103:基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；
在本发明的一个实施例中，各个机柜的承载数据还包括各个机柜上现有设备的重量数据、负载数据、位置数据以及产热数据；所述待上架设备的设备数据还包括产热数据；
在本实施例中，图1中的S103的具体实现流程包括：
S301：根据所述热点分布数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的产热数据和所述机柜分布数据，生成热点分布预测数据；
S302：根据各个机柜上现有设备的负载数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的负载数据和所述机柜分布数据，生成负载分布数据；
S303：根据各个机柜上现有设备的重量数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的重量数据和所述机柜分布数据，生成承重分布数据；
S304：根据所述热点分布预测数据、所述负载分布数据以及所述承重分布数据生成第一备选上架模型，所述第一备选上架模型为所述第一备选上架方案对应的模型。
S104:基于预设规则对各个备选上架模型进行评估，获取最优备选上架模型；并将所述最优备选上架模型对应的备选上架方案作为目标上架方案。
S104的具体实现流程包括：
S401：计算第一备选上架模型对应的评估参数，所述评估参数包括温度场均匀参数、局部热点参数、承重分布参数以及便利参数；
在本实施例中，温度场均匀参数用于通过整个目标机房内的温度分布表征制冷系统的运行状况。
可选的，温度场均匀参数为百分数形式，且越小表明目标机房内的温度分布越均匀，制冷系统的运行状况越好。可选的，温度场均匀参数的优选范围为小于5％。
在本实施例中，局部热点参数用于表征目标机房中温度过高部位，为了目标机房中各个设备保持良好的散热状态，应避免出现温度过高的局部热点。
可选的，机房的温度调节系统送风温度范围为18-27摄氏度，出现超出27摄氏度的部分即为出现了局部热点。根据预存的局部热点数量、温度与局部热点参数的对应关系，由局部热点的数量和温度确定局部热点参数。
在本实施例中，承重分布参数用于表征各个机柜承重的均匀程度。
可选的，获取各个机柜的总承重数据，计算各个机柜总承重数据的方差，将上述方差作为承重分布参数。
在本实施例中，便利参数用于表征各个备选上架模型中各个待上架设备的操作便利程度以及安全性。根据目标机房的实际情况为备选上架模型中的各个位置设置便利系数，则每个待上架设备根据对应的位置对应一个便利系数，对各个待上架设备对应的便利系数求和得到便利系数和，将上述便利系数和作为便利参数。
在一个具体的实施例中，目标机房入口处的机柜便利系数优于机房内部机柜的便利系数，各个机柜的中间层对应的便利系数最优由于上层和下层对应的便利系数。
S402：对第一备选上架模型对应的各个评估参数进行加权求和，得到所述第一备选上架模型的评估指标。
可选的，记温度场均匀参数为X，局部热点参数为Y，承重分布参数为M，便利参数为N。
在本实施例中，为各项评估参数设置对应的权重。例如，设置温度场均匀参数对应的权重为a，局部热点参数对应的权重为b，承重分布参数对应的权重为c，便利参数对应的权重为d,记评估指标为Q，则第一备选上架模型的评估指标为：Q1＝aX1+bY1+cM1+dN1。
根据各个备选上架模型的评估指标，得到最优的备选上架模型，即可得到最优的备选上架方案。
可选的，温度场均匀参数、局部热点参数、承重分布参数以及便利参数均为越小越优，则最小评估指标对应的备选上架模型为最优的备选上架模型。
通过本发明提供的设备上架方案寻优方法可以准确快速的确定最优的设备上架方案，避免出现机柜超重、过载以及散热不畅的问题，从而防止出现机房内温度场不均衡的情况，减小能耗避免造成资源浪费。
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
参见图3，本发明实施例提供了一种设备上架方案寻优装置10，包括：
110数据获取模块，用于获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据、各个机柜的承载数据以及至少一个待上架设备对应的设备数据；
120备选上架方案生成模块，用于根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；
130备选上架模型生成模块，用于基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；
140评估模块，用于基于预设规则对各个备选上架模型进行评估，获取最优备选上架模块；并将所述最优备选上架模型对应的备选上架方案作为目标上架方案。
在本发明的一个实施例中，各个机柜的承载数据包括U位余量数据；所述待上架设备对应的设备数据包括U位占用数据；
所述备选上架方案生成模块120包括：
可用位置确定单元，用于根据第一待上架设备对应的U位占用数据以及各个机柜的U位余量数据确定所述第一待上架设备对应的可用位置；所述第一待上架设备为任一待上架设备；
备选上架方案生成单元，用于根据各个待上架设备对应的可用位置得到至少一个备选上架方案，且每个备选上架方案中第一待上架设备的可用位置与第二待上架设备对应的可用位置不同；所述第二待上架设备为除所述第一待上架设备外的任一待上架设备。
在本发明的一个实施例中，各个机柜的承载数据包括承重余量数据和负载可用数据；待上架设备对应的设备数据包括重量数据和负载数据；
所述备选上架方案生成模块还包括：
求和单元，用于计算第一备选上架方案中第一机柜对应的待上架设备的重量数据之和及负载数据之和；所述第一备选上架方案为任一备选上架方案；所述第一机柜为所述第一备选上架方案中的任一机柜；
删除单元，用于若所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的重量数据之和大于所述承重余量数据，或若所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的负载数据之和大于所述负载可用数据，则删除所述第一备选上架方案。
在本发明的一个实施例中，各个机柜的承载数据还包括各个机柜上现有设备的重量数据、负载数据、位置数据以及产热数据；所述待上架设备的设备数据还包括产热数据；
备选上架模型生成模块130包括：
热点分布预测单元，用于根据所述热点分布数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的产热数据和所述机柜分布数据，生成热点分布预测数据；
负载分布计算单元，用于根据各个机柜上现有设备的负载数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的负载数据和所述机柜分布数据，生成负载分布数据；
承重分布计算单元，用于根据各个机柜上现有设备的重量数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的重量数据和所述机柜分布数据，生成承重分布数据；
备选上架模型生成单元，用于根据所述热点分布预测数据、所述负载分布数据以及所述承重分布数据生成第一备选上架模型，所述第一备选上架模型为所述第一备选上架方案对应的模型。
在本实施例中，评估模块140包括：
评估参数计算单元，用于计算第一备选上架模型对应的评估参数，所述评估参数包括温度场均匀参数、局部热点参数、承重分布参数以及便利参数；
评估指标计算单元，用于对第一备选上架模型对应的各个评估参数进行加权求和，得到所述第一备选上架模型的评估指标。
通过本发明提供的设备上架方案寻优装置可以准确快速的确定最优的设备上架方案，避免出现机柜超重、过载以及散热不畅的问题，从而防止机房内出现温度场不均衡的情况，减小能耗避免造成资源浪费。
图4是本发明一实施例提供的终端设备的示意图。如图4所示，该实施例的终端设备4包括：处理器40、存储器41以及存储在所述存储器41中并可在所述处理器40上运行的计算机程序42。所述处理器40执行所述计算机程序42时实现上述各个设备上架方案寻优方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤101至104。或者，所述处理器40执行所述计算机程序42时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图3所示模块310至340的功能。
示例性的，所述计算机程序42可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器41中，并由所述处理器40执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序42在所述终端设备4中的执行过程。例如，所述计算机程序42可以被分割成数据获取模块110、备选上架方案生成模块120、备选上架模型生成模块130以及评估模块140(虚拟装置中的模块)。
所述终端设备4可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括，但不仅限于，处理器40、存储器41。本领域技术人员可以理解，图4仅仅是终端设备4的示例，并不构成对终端设备4的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器40可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器41可以是所述终端设备4的内部存储单元，例如终端设备4的硬盘或内存。所述存储器41也可以是所述终端设备4的外部存储设备，例如所述终端设备4上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器41还可以既包括所述终端设备4的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器41用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器41还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种设备上架方案寻优方法，其特征在于，包括：
获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据、各个机柜的承载数据以及至少一个待上架设备对应的设备数据；
根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；
基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；
基于预设规则对各个备选上架模型进行评估，获取最优备选上架模型；并将所述最优备选上架模型对应的备选上架方案作为目标上架方案；
所述基于预设规则对各个备选上架模型进行评估，包括：
计算第一备选上架模型对应的评估参数，所述评估参数包括温度场均匀参数、局部热点参数、承重分布参数以及便利参数；所述第一备选上架模型为任一备选上架模型；
对所述第一备选上架模型对应的各个评估参数进行加权求和，得到所述第一备选上架模型的评估指标；
其中，所述评估指标根据表达式：
Q=aX+bY+cM+dN确定；
式中，Q为评估指标，X为温度场均匀参数，Y为局部热点参数，M为承重分布参数，N为便利参数，a为温度场均匀参数对应的权重，b为局部热点参数对应的权重，c为承重分布参数对应的权重，d为便利参数对应的权重；
所述待上架设备对应的设备数据包括重量数据、负载数据和产热数据；所述承载数据包括各个机柜上现有设备的重量数据和负载数据；
所述基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型，包括：
根据所述热点分布数据、第一备选上架方案中各个待上架设备的产热数据和所述机柜分布数据，生成热点分布预测数据；所述第一备选上架方案为任一备选上架方案；
根据各个机柜上现有设备的负载数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的负载数据和所述机柜分布数据，生成负载分布数据；
根据各个机柜上现有设备的重量数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的重量数据和所述机柜分布数据，生成承重分布数据；
根据所述热点分布预测数据、所述负载分布数据以及所述承重分布数据生成第一备选上架模型，所述第一备选上架模型为所述第一备选上架方案对应的三维模型。
2.如权利要求1所述的一种设备上架方案寻优方法，其特征在于，所述承载数据包括U位余量数据；所述待上架设备对应的设备数据包括U位占用数据；
所述根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案，包括：
根据第一待上架设备对应的U位占用数据以及各个机柜的U位余量数据确定所述第一待上架设备对应的可用位置；所述第一待上架设备为任一待上架设备；
根据各个待上架设备对应的可用位置得到至少一个备选上架方案，且每个备选上架方案中所述第一待上架设备的可用位置与第二待上架设备的可用位置不同；所述第二待上架设备为除所述第一待上架设备外的任一待上架设备。
3.如权利要求2所述的一种设备上架方案寻优方法，其特征在于，所述承载数据还包括承重余量数据和负载可用数据；
在所述根据各个待上架设备对应的可用位置得到至少一个备选上架方案之后，所述方法还包括：
计算第一备选上架方案中第一机柜对应的待上架设备的重量数据之和及负载数据之和；所述第一机柜为所述第一备选上架方案中的任一机柜；
若所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的重量数据之和大于所述承重余量数据，或所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的负载数据之和大于所述负载可用数据，则删除所述第一备选上架方案。
4.一种设备上架方案寻优装置，其特征在于，包括：
数据获取模块，用于获取目标机房的机柜分布数据、热点分布数据、各个机柜的承载数据以及至少一个待上架设备对应的设备数据；
备选上架方案生成模块，用于根据各个机柜的承载数据及各个待上架设备对应的设备数据，生成至少一个备选上架方案；
备选上架模型生成模块，用于基于所述热点分布数据和所述目标机房的机柜分布数据，生成各个备选上架方案对应的备选上架模型；
评估模块，用于基于预设规则对各个备选上架模型进行评估，获取最优备选上架模型；并将所述最优备选上架模型对应的备选上架方案作为目标上架方案；
所述评估模块具体用于计算第一备选上架模型对应的评估参数，所述评估参数包括温度场均匀参数、局部热点参数、承重分布参数以及便利参数；所述第一备选上架模型为任一备选上架模型；对所述第一备选上架模型对应的各个评估参数进行加权求和，得到所述第一备选上架模型的评估指标；
其中，所述评估指标根据表达式：
Q=aX+bY+cM+dN确定；
式中，Q为评估指标，X为温度场均匀参数，Y为局部热点参数，M为承重分布参数，N为便利参数，a为温度场均匀参数对应的权重，b为局部热点参数对应的权重，c为承重分布参数对应的权重，d为便利参数对应的权重；
所述待上架设备对应的设备数据包括重量数据、负载数据和产热数据；所述承载数据包括各个机柜上现有设备的重量数据和负载数据；
所述备选上架模型生成模块具体用于根据所述热点分布数据、第一备选上架方案中各个待上架设备的产热数据和所述机柜分布数据，生成热点分布预测数据；所述第一备选上架方案为任一备选上架方案；根据各个机柜上现有设备的负载数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的负载数据和所述机柜分布数据，生成负载分布数据；根据各个机柜上现有设备的重量数据、所述第一备选上架方案中各个待上架设备的重量数据和所述机柜分布数据，生成承重分布数据；根据所述热点分布预测数据、所述负载分布数据以及所述承重分布数据生成第一备选上架模型，所述第一备选上架模型为所述第一备选上架方案对应的三维模型。
5.如权利要求4所述的一种设备上架方案寻优装置，其特征在于，各个机柜的承载数据包括U位余量数据；所述待上架设备对应的设备数据包括U位占用数据；
所述备选上架方案生成模块包括：
可用位置确定单元，用于根据第一待上架设备对应的U位占用数据以及各个机柜的U位余量数据确定所述第一待上架设备对应的可用位置；所述第一待上架设备为任一待上架设备；
备选上架方案生成单元，用于根据各个待上架设备对应的可用位置得到至少一个备选上架方案，且每个备选上架方案中第一待上架设备的可用位置与第二待上架设备对应的可用位置不同；所述第二待上架设备为除所述第一待上架设备外的任一待上架设备。
6.如权利要求4所述的一种设备上架方案寻优装置，其特征在于，各个机柜的承载数据包括承重余量数据和负载可用数据；
所述备选上架方案生成模块还包括：
求和单元，用于计算第一备选上架方案中第一机柜对应的待上架设备的重量数据之和及负载数据之和；所述第一机柜为所述第一备选上架方案中的任一机柜；
删除单元，用于若所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的重量数据之和大于所述承重余量数据，或若所述第一备选上架方案中所述第一机柜对应的负载数据之和大于所述负载可用数据，则删除所述第一备选上架方案。
7.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至3任一项所述方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一项所述方法的步骤。
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