CN111929720A - 中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备 - Google Patents

中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备 Download PDF

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CN111929720A CN202010667255.9A CN202010667255A CN111929720A CN 111929720 A CN111929720 A CN 111929720A CN 202010667255 A CN202010667255 A CN 202010667255A CN 111929720 A CN111929720 A CN 111929720A
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Abstract

本申请涉及中子探测领域,提供了一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。本申请可提高中子探测器性能检测的准确性。该方法包括:通过获取待测中子探测器采集的多个原始脉冲,获取多个原始脉冲的脉冲特征信息,将脉冲特征信息与包含性能判断特征与中子探测器已知性能信息之间的多组映射关系的性能判断特征集进行匹配,获得匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息,将该已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。

Description

中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备
技术领域
本申请涉及中子探测领域,特别是涉及一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。
背景技术
目前核电站的仪表测试系统通常采用中子探测器进行堆外中子通量测量。随着使用时间增长,中子探测器会出现老化情况,实际使用中,需要对中子探测器进行性能检测分析。
目前中子探测器性能检测技术中,常用的手段是绘制中子探测器甄别阈曲线和高压坪曲线,采用经过放大甄别后的标准脉冲个数与电压和甄别阈的关系曲线来分析探测器性能,标准脉冲的脉冲幅值和面积都是提前设计好的。然而,随着中子探测器的使用,其中填充气体成分会因为气体杂质、漏气、消耗等原因产生变化,进而会影响脉冲的幅值和面积,使得现有技术对中子探测器的性能检测不准确。
发明内容
基于此,有必要针对目前技术中存在的中子探测器性能检测不准确的技术问题,提供一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。
一种中子探测器性能检测方法,所述方法包括:
获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;
获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息;
将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;
获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。
在其中一个实施例中,所述获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息,包括:
获取所述多个原始脉冲中每个原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值;将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息。
在其中一个实施例中,所述将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息,包括:
将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标系中的多个坐标点,生成二维坐标系中的坐标点分布图;根据所述坐标点分布图,获得所述脉冲特征信息。
在其中一个实施例中,所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配,包括:
获取所述脉冲特征信息与所述性能判断特征集中的各个性能判断特征的坐标点分布相似度;根据所述坐标点分布相似度的大小,确定与所述中子探测器匹配的性能判断特征。
在其中一个实施例中,所述获得所述脉冲特征信息匹配到的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的性能特征值作为所述待测中子探测器的性能检测结果,包括:
将所述坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为所述中子探测器匹配到的目标性能判断特征;获取所述目标性能判断特征对应的目标已知性能信息;将所述目标已知性能信息作为所述待测中子探测器的所述性能检测结果。
在其中一个实施例中,所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配之前,所述方法包括:
获取所述多个中子探测器中每个中子探测器对应的已知性能信息和脉冲特征信息;针对各已知性能信息,将所述已知性能信息一致的中子探测器对应的所述脉冲特征信息进行重叠处理,根据重叠程度满足预设阈值的脉冲特征信息,确定所述各已知性能信息对应的性能判断特征;根据所述各已知性能信息对应的所述性能判断特征,构建所述性能判断特征集。
一种中子探测器性能检测系统,所述系统包括:信号隔离器,放大器和数据采集系统;所述放大器连接所述信号隔离器和所述数据采集系统;其中,
所述信号隔离器,用于隔离电源电压对待测中子探测器的原始脉冲产生的干扰;
所述放大器,用于放大所述待测中子探测器的所述原始脉冲;
所述数据采集系统,用于获取所述经所述放大器放大后的所述原始脉冲,并根据上述方法进行中子探测器的性能检测。
一种中子探测器性能检测装置,所述装置包括:
原始脉冲获取模块,用于获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;
特征信息获取模块,用于获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息;
性能特征匹配模块,用于将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;
检测结果获取模块,获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。
一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:
获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息;将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。
一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息;将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。
上述中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质,通过获取待测中子探测器采集的多个原始脉冲,获取多个原始脉冲的脉冲特征信息,将脉冲特征信息与包含性能判断特征与中子探测器已知性能信息之间的多组映射关系的性能判断特征集进行匹配,获得匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息,将该已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果,以中子探测器的原始脉冲的脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配,并将匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息作为中子探测器的性能检测结果,能够根据原始脉冲的变化观察中子探测器的性能变化情况,提高中子探测器性能检测的准确性。
附图说明
图1为一个实施例中计算机设备的内部结构图;
图2为一个实施例中中子探测器性能检测方法的流程示意图;
图3为一个实施例中脉冲幅值和脉冲面积采集示意图;
图4为一个实施例中中子探测器性能检测方法的流程示意图;
图5为一个实施例中中子探测器性能检测系统的示意图;
图6为一个实施例中中子探测器性能检测装置的结构框图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请提供的中子探测器性能检测方法,可以应用于计算机设备,该计算机设备可以是服务器或者终端,其内部结构图可以如图1所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储原始脉冲数据和性能判断特征集数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种中子探测器性能检测方法。
本领域技术人员可以理解,图1中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,如图2所示,提供了中子探测器性能检测方法,以该方法应用于图1的服务器为例进行说明,包括以下步骤:
步骤S201,获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲。
其中,中子探测器的原始脉冲是没有经过甄别的脉冲,原始脉冲的频谱分布能够体现中子探测器性能变化趋势。中子探测器的原始脉冲会随着探头年龄和使用时长的变化而变化。
具体实现中,服务器可以获取待检测的中子探测器采集到的多个原始脉冲,用以进行该中子探测器的性能分析。例如,服务器可以获取1000个原始脉冲,并以这些原始脉冲作为数据基础,进行性能检测。
步骤S202,获得多个原始脉冲的脉冲特征信息。
其中,脉冲特征信息是能够体现待测中子探测器的原始脉冲特点的信息。在一些实施例中,脉冲特征信息可以是多个原始脉冲的脉冲波形图,也可以是原始脉冲的不同参数组合构成的二维或多维坐标点组合。原始脉冲的参数可以包括脉冲幅值、脉冲面积、脉冲宽度等。
具体实现中,服务器可以根据获得的多个原始脉冲,根据其中的包含的参数信息,获得多个原始脉冲的脉冲特征信息。
步骤S203,将脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配。
其中,性能判断特征集中可以性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,该映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得。
在一些实施例中,性能判断特征可以是脉冲特征信息,其中的脉冲特征信息可以是已知性能信息的单个中子探测器的脉冲特征信息,也可以是已知性能信息一致的多个中子探测器的多个脉冲特征信息中符合一定条件的脉冲特征信息。
在一些实施例中,中子探测器的已知性能信息是中子探测器的实际物理性能信息或经过整理分类的物理性能信息级别划分,可以用老化程度、损坏程度、探头年龄信息等表示,老化程度的级别划分可以分为重度老化、一般老化和正常,损坏程度可以分为完全损坏、轻度损坏和健康,而探头年龄信息可以按照探头已知年龄进行划分。例如,可以将探头使用了5年的中子探测器的脉冲特征信息,作为探头年龄是5年的中子探测器对应的性能判断特征,也可以获取探头年龄是5年的多个中子探测器的脉冲特征信息,将其中符合一定条件的脉冲特征信息,作为探头年龄是5年的中子探测器对应的性能判断特征。
步骤S204,获得与脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。
其中,性能检测结果与性能判定特征对应的已知性能信息相关,可以是老化程度、损坏程度、探头年龄信息等。
具体实现中,服务器可以根据脉冲特征信息与性能判断特征集中对应的性能判断特征进行匹配,确定其中与脉冲特征信息相似度最大或匹配度最大的性能判断特征作为匹配到的性能判断特征,将该性能判断特征对应的已知性能指标,作为待测中子探测器的性能检测结果。
上述中子探测器性能检测方法中,通过获取待测中子探测器采集的多个原始脉冲,获取多个原始脉冲的脉冲特征信息,将脉冲特征信息与包含性能判断特征与中子探测器已知性能信息之间的多组映射关系的性能判断特征集进行匹配,获得匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息,将该已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果,以中子探测器的原始脉冲的脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配,并将匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息作为中子探测器的性能检测结果,能够根据原始脉冲的变化观察中子探测器的性能变化情况,提高中子探测器性能检测的准确性。
在一个实施例中,服务器可以根据获得的多个原始脉冲,根据其中的包含的参数信息,将多个原始脉冲的脉冲波形图作为脉冲特征信息。也可以根据脉冲参数组合构成二维或多维坐标点组成的坐标点分布图,作中子探测器的脉冲特征信息。在进行中子探测器性能检测时,服务器可以根据获取到的待测中子探测器的脉冲特征信息,将脉冲特征信息与预设的性能判断特征集中的信息进行匹配,例如可以进行脉冲波形图的匹配,或脉冲坐标点分布的匹配。在一些实施例中,在进行脉冲波形图匹配时,可以根据图像相似度、图像拟合等算法进行对比,在进行脉冲坐标点分布匹配时,可以根据数据集相似度、数据拟合或坐标点分布形成的图像相似度等算法进行对比,提高中子探测器性能检测的准确性。
在一个实施例中,性能判断特征集可以是按照已知性能信息类别进行划分的不同的性能状态下的性能判断特征的集合。性能判断特征集中的已知性能信息可以是多维的,可以包含上述老化程度、损坏程度、探头年龄信息等一个或一个以上维度的已知性能信息,每一个已知性能信息可以再进行级别划分,每个对应的已知性能信息级别有对应的性能判断特征。待测中子探测器的脉冲特征信息可以与多个已知性能信息级别对应的性能判断特征匹配,从而到的对待测中子探测器的性能的多维判断。例如,当待测中子探测器的脉冲特征信息分别匹配到一般老化、轻度损坏和探头年龄5年,则可以构建对该待测中子探测器性能在老化程度、损坏程度和探头年龄信息的多维判断,增加判断的准确性。
在一个实施例中,步骤S202中获得多个原始脉冲的脉冲特征信息,可以包括:
获取多个原始脉冲中每个原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值;将多组脉冲面积和脉冲幅值作为待测中子探测器的脉冲特征信息。
本实施例中,未经过甄别的原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值能够反应原始脉冲的变化趋势。随着中子探测器的探头老化,原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标点在二维坐标系中的分布区域会越来越小,而中子探测器的探头年龄越小,原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标点在二维坐标系中的分布区域会越大。服务器根据原始脉冲中的脉冲面积和脉冲幅值作为参数,作为中子探测器的脉冲特征信息,实现了通过原始脉冲的双参数来判断中子探测器性能。
上述实施例的方案,通过未经甄别的多组原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值作为脉冲特征信息,使得脉冲特征信息通过双参数予以确定,提高了用于进行中子探测器性能检测的数据来源的可靠性。
在一个实施例中,将多组脉冲面积和脉冲幅值作为待测中子探测器的脉冲特征信息确定,可以包括:
将多组脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标系中的多个坐标点,生成二维坐标系中的坐标点分布图;根据坐标点分布图,获得脉冲特征信息。
本实施例中,服务器获得多组脉冲幅值和脉冲面积数据,可以作为二维坐标系中的多个坐标点,生成坐标点分布图。例如,服务器可以将该坐标点分布图作为待测中子探测器的脉冲特征信息,也可以将坐标点分布图进行边缘轮廓提取处理后获得边缘轮廓确定的平面,获得脉冲特征信息。
上述实施例的方案,通过将脉冲面积和脉冲幅值生成坐标点分布图,获得待测中子探测器的脉冲特征信息,提升了脉冲特征信息的可视化程度和获取效率。在一个实施例中,步骤S203中将脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配的步骤,包括:
获取脉冲特征信息与性能判断特征集中的各个性能判断特征的坐标点分布相似度;根据坐标点分布相似度的大小,确定与中子探测器匹配的性能判断特征。
本实施例中,当确定脉冲特征信息的型态后,可以将脉冲特征信息与性能判断特征集中的性能判断特征进行匹配。例如,当待测中子探测器中的脉冲特征信息是坐标点分布图时,将该坐标点分布图与各性能判断特征中的坐标点分布图进行图像相似度或数据集的相似度计算,确定坐标点分布相似度的大小。当待测中子探测器的脉冲特征信息是坐标点分布的边缘轮廓图时,将该坐标点分布的特征值与各性能判断特征中的边缘轮廓确定的平面图进行图像相似度计算。
上述实施例的方案,通过脉冲特征信息与性能判断特征集中的性能判断特征进行相似度的比较,用以确定匹配到的性能判断特征,提高了脉冲特征信息匹配的准确性。
在一个实施例中,步骤S204中获得脉冲特征信息匹配到的性能判断特征,将性能判断特征对应的性能特征值作为待测中子探测器的性能检测结果,可以包括:
将坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为中子探测器匹配到的目标性能判断特征;获取目标性能判断特征对应的目标已知性能信息;将目标已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。
本实施例中,服务器选择与待测中子探测器的坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为匹配到的目标性能判断特征,并以此为基础,进行进一步的性能检测。根据该目标性能判断特征对应的目标已知性能信息,作为待测中子探测器的性能检测结果。例如,当已知性能信息为老化程度,且目标性能判断特征对应的老化程度为一般老化,则待测中子探测器的性能检测结果是一般老化;当已知性能信息为损坏程度,且目标性能判断特征对应的损坏程度为健康,则待测中子探测器的性能检测结果是健康;当已知性能信息为探头年龄信息,且目标性能判断特征对应的探头年龄是5年,则待测中子探测器的性能检测结果是实际年龄为5,根据探头的寿命分布情况,即可知悉该探头的可用年限。
在一些实施例中,当性能判断特征集包含上述老化程度、损坏程度、探头年龄信息等一个或一个以上维度的已知性能信息时,服务器可以将待测中子探测器的坐标点分布图分别与老化程度、损坏程度、探头年龄信息等多个维度对应的性能判断特征的坐标点分布图进行匹配,分别获得对应的多个目标性能判断特征,并将多个目标性能判断特征分别对应的已知性能信息作为待测中子探测器性能检测结果。
上述实施例的方案,通过坐标点分布相似度最大确定目标性能判断特征,并根据目标性能判断特征对应的目标已知性能,获得性能检测结果,使得性能检测结果有已知的中子探测器案例作为参照对比,提高中子探测器性能检测的准确性。
在一个实施例中,将脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配之前,上述方法还可以包括:
获取多个中子探测器中每个中子探测器对应的已知性能信息和脉冲特征信息;针对各已知性能信息,将已知性能信息一致的中子探测器对应的脉冲特征信息进行重叠处理,根据重叠程度满足预设阈值的脉冲特征信息,确定各已知性能信息对应的性能判断特征;根据各已知性能信息对应的性能判断特征,构建性能判断特征集。
本实施例中,性能判断特征集中包括多个性能判断特征,性能判断特征与中子探测器的已知性能信息相对应。在一些实施例中,性能判断特征可以是脉冲特征信息,其中的脉冲特征信息可以是单个中子探测器的脉冲特征信息,也可以是已知性能信息相同的多个中子探测器的多个脉冲特征信息中符合一定条件的脉冲特征信息。已知性能信息可以根据需要,从不同的维度进行分类和设置,已知性能信息一致可以是落在同一个已知信息分类里,以此为分类标准将服务器获取到的用于构建性能判定特征集的中子探测器进行分类。
为了提高性能判断特征的准确性和客观性,服务器可以收集已知性能信息一致的多个中子探测器各自对应的脉冲特征信息,并提取多个脉冲特征信息之间的共性特征或高频次特征。例如,服务器可以将获得的多个脉冲特征信息的坐标点分布图进行重叠,将其中重叠程度满足一定阈值的坐标点组成新的脉冲特征信息,作为与已知性能信息对应的性能判断特征;也可以将多个脉冲特征信息的坐标点分布图的边缘轮廓确定的平面进行重叠,将重叠面积满足一定阈值的某一个脉冲特征信息,作为与已知性能信息对应的性能判断特征。
上述实施例的方案,通过多个中子探测器构建性能判断特征集,为中子探测器的性能检测提供样本,提高中子探测器性能检测的可靠性和准确性。
在一个实施例中,如图4所示,提供了一种中子探测器性能检测方法,该方法包括:
步骤S401,服务器获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲。
步骤S402,服务器获取多个原始脉冲中每个原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值,将多组脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标系中的多个坐标点,生成二维坐标系中的坐标点分布图,根据坐标点分布图,获得脉冲特征信息。
步骤S403,服务器获取脉冲特征信息与性能判断特征集中的各个性能判断特征的坐标点分布相似度,根据坐标点分布相似度的大小,确定与中子探测器匹配的性能判断特征。
其中,性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得。
步骤S404,服务器将坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为中子探测器匹配到的目标性能判断特征;获取目标性能判断特征对应的目标已知性能信息,将目标已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。
上述实施例,通过获取待测中子探测器的原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值,生成二维坐标系中的坐标点分布图作为脉冲特征信息,确定与该坐标点分布图相似度最大的目标性能判断特征,将该目标性能判断特征对应的目标已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果,通过将待测中子探测器的原始脉冲形成的脉冲特征信息与性能判断特征集中的性能判断特征对比,提高了中子探测器性能检测数据来源的可靠性,以性能判断特征作为参照进行对比,进一步提高了中子探测器性能检测的准确性。
应该理解的是,虽然图2-4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图2-4中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中,如图5所示,提供了一种中子探测器性能检测系统,该系统500包括:信号隔离器,放大器和数据采集系统;放大器连接信号隔离器和数据采集系统,其中,
信号隔离器501,用于隔离电源电压对待测中子探测器的原始脉冲产生的干扰;
放大器502,用于放大待测中子探测器的原始脉冲;
数据采集系统503,用于获取经所述放大器放大后的原始脉冲,并根据上述实施例的中子探测器性能检测方法进行中子探测器的性能检测。
上述中子探测器性能检测系统500,信号隔离器501可以隔离电源高压对待测中子探测器的原始脉冲产生的干扰。放大器502可以将脉冲信号放大至数据采集系统503可以采集的脉冲信号,例如,中子探测器的原始脉冲信号可以为850V高压上存在的幅值约为0.02mV的脉冲信号。数据采集系统503可以采集实时原始脉冲的脉冲幅值和脉冲面积,并对采集到数据进行检测和处理,作为中子探测器性能评估的原始分析数据,进而获得待测中子探测器的性能检测结果,使用未经过甄别的原始脉冲进行性能检测,提高了中子探测器性能检测的准确性。
在一个实施例中,如图6所示,提供了一种中子探测器性能检测装置,该装置600包括:
原始脉冲获取模块601,用于获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;
特征信息获取模块602,用于获得多个原始脉冲的脉冲特征信息;
性能特征匹配模块603,用于将脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;
检测结果获取模块604,获得与脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。
在一个实施例中,特征信息获取模块602,进一步用于获取多个原始脉冲中每个原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值;将多组脉冲面积和脉冲幅值作为待测中子探测器的脉冲特征信息。
在一个实施例中,特征信息获取模块602,进一步用于将多组脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标系中的多个坐标点,生成二维坐标系中的坐标点分布图;根据坐标点分布图,获得脉冲特征信息。
在一个实施例中,性能特征匹配模块603,进一步用于获取脉冲特征信息与性能判断特征集中的各个性能判断特征的坐标点分布相似度;根据坐标点分布相似度的大小,确定与中子探测器匹配的性能判断特征。
在一个实施例中,检测结果获取模块604,进一步用于将坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为中子探测器匹配到的目标性能判断特征;获取目标性能判断特征对应的目标已知性能信息;将目标已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。
在一个实施例中,上述装置600还包括:性能判断特征集构建单元,用于获取多个中子探测器中每个中子探测器对应的已知性能信息和脉冲特征信息;针对各已知性能信息,将已知性能信息一致的中子探测器对应的脉冲特征信息进行重叠处理,根据重叠程度满足预设阈值的脉冲特征信息,确定各已知性能信息对应的性能判断特征;根据各已知性能信息对应的性能判断特征,构建性能判断特征集。
关于中子探测器性能检测装置的具体限定可以参见上文中对于中子探测器性能检测方法的限定,在此不再赘述。上述中子探测器性能检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述各方法实施例中的步骤。
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,DRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种中子探测器性能检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;
获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息;
将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;
获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息,包括:
获取所述多个原始脉冲中每个原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值;
将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息,包括:
将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标系中的多个坐标点,生成二维坐标系中的坐标点分布图;
根据所述坐标点分布图,获得所述脉冲特征信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配,包括:
获取所述脉冲特征信息与所述性能判断特征集中的各个性能判断特征的坐标点分布相似度;
根据所述坐标点分布相似度的大小,确定与所述中子探测器匹配的性能判断特征。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获得所述脉冲特征信息匹配到的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的性能特征值作为所述待测中子探测器的性能检测结果,包括:
将所述坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为所述中子探测器匹配到的目标性能判断特征;
获取所述目标性能判断特征对应的目标已知性能信息;
将所述目标已知性能信息作为所述待测中子探测器的所述性能检测结果。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配之前,所述方法包括:
获取所述多个中子探测器中每个中子探测器对应的已知性能信息和脉冲特征信息;
针对各已知性能信息,将所述已知性能信息一致的中子探测器对应的所述脉冲特征信息进行重叠处理,根据重叠程度满足预设阈值的脉冲特征信息,确定所述各已知性能信息对应的性能判断特征;
根据所述各已知性能信息对应的所述性能判断特征,构建所述性能判断特征集。
7.一种中子探测器性能检测系统,其特征在于,所述系统包括:信号隔离器,放大器和数据采集系统;所述放大器连接所述信号隔离器和所述数据采集系统;其中,
所述信号隔离器,用于隔离电源电压对待测中子探测器的原始脉冲产生的干扰;
所述放大器,用于放大所述待测中子探测器的所述原始脉冲;
所述数据采集系统,用于获取所述经所述放大器放大后的所述原始脉冲,并根据上述权利要求1至6任一项所述的方法进行中子探测器的性能检测。
8.一种中子探测器性能检测装置,其特征在于,所述装置包括:
原始脉冲获取模块,用于获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;
特征信息获取模块,用于获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息;
性能特征匹配模块,用于将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;
检测结果获取模块,获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。
9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
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