CN111858320A - 测试数据处理方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供一种测试数据处理方法、装置及电子设备，其中，该方法包括：在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息；所述测试脚本中包括所述至少一个设定的测试指令；所述测试信息包括至少一个维度的测试数据；所述至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标；基于采集到的测试信息输出测试信息图；所述测试信息图中的图表数据按照所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示；所述测试信息图中包括至少一个第一图表；所述至少一个第一图表中的每个第一图表对应一个维度的测试数据。
Description
技术领域
本申请涉及测试领域，尤其涉及一种测试数据处理方法、装置及电子设备。
背景技术
通过测试用例对被测产品完成测试之后，需要针对测试失败的测试用例编写相关的缺陷(bug)记录，基于缺陷记录分析产生缺陷的原因，调试被测产品。在此过程中，测试人员需要花费大量时间基于测试日志编写缺陷记录，且可能存在缺陷记录描述不准确的问题，导致分析结果不准确。
发明内容
有鉴于此，本申请实施例期望提供一种测试数据处理方法、装置及电子设备，以解决相关技术中缺陷记录描述不准确的技术问题。
为达到上述目的，本申请的技术方案是这样实现的：
本申请实施例提供一种测试数据处理方法，包括：
在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息；所述测试脚本中包括所述至少一个设定的测试指令；所述测试信息包括至少一个维度的测试数据；所述至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标；
基于采集到的测试信息输出测试信息图；其中，
所述测试信息图中的图表数据按照所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示；所述测试信息图中包括至少一个第一图表；所述至少一个第一图表中的每个第一图表对应一个维度的测试数据。
上述方案中，在所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令执行时，所述测试数据处理方法，还包括：在所述第一电子设备的工作日志中，实时写入第一信息；其中，实时写入的第一信息表征对应的测试指令被执行。
上述方案中，所述测试信息图中还包括第二图表；所述第二图表表征所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令与执行时间之间的对应关系。
上述方案中，所述测试数据处理方法，还包括：
在所述测试信息图中标记测试数据。
上述方案中，所述在所述测试信息图中标记测试数据，包括以下至少一项：
在所述测试信息图中标记不满足设定条件的测试数据；
根据输入的第一指令，在所述测试信息图中标记所述第一指令指示的测试数据。
上述方案中，所述测试数据处理方法，还包括：
在所述至少一个第一图表中的任一第一图表上叠加对应的第三图表；其中，
所述第三图表表征在采用所述测试脚本测试第二电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集的对应维度上的测试数据。
上述方案中，所述第二电子设备包括所述第一电子设备的竞品。
本申请实施例还提供一种测试数据处理装置，包括：
信息采集单元，用于在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息；所述测试脚本中包括所述至少一个设定的测试指令；所述测试信息包括至少一个维度的测试数据；所述至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标；
信息处理单元，用于基于采集到的测试信息输出测试信息图；其中，
所述测试信息图中的图表数据按照所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示；所述测试信息图中包括至少一个第一图表；所述至少一个第一图表中的每个第一图表对应一个维度的测试数据。
本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器，
其中，所述处理器用于运行所述计算机程序时，执行上述任一种测试数据处理方法的步骤。
本申请实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种测试数据处理方法的步骤。
本申请实施例，在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息，基于采集到的测试信息输出测试信息图。由于，测试信息图中可以按至少一个设定的测试指令中的所有设定的测试指令的执行时间，直观展示在执行每个设定的测试指令时采集到的相应的测试指标的测试数据，因此，测试人员不需要编写缺陷记录，分析人员可以基于测试信息图中的图表数据分析产生缺陷的原因，这样可以节省测试人员因编写缺陷记录所花费的时间，也可以避免因缺陷记录描述不准确而导致分析结果不准确的问题，提高分析结果的准确性。
附图说明
图1为本申请实施例提供的测试数据处理方法的实现流程示意图；
图2为本申请实施例提供的一种测试信息图的示意图；
图3为本申请实施例提供的另一种测试信息图的示意图；
图4为本申请另一实施例提供的测试数据处理方法的实现流程示意图；
图5为本申请实施例提供的测试信息图中的第一图表在叠加第三图表之后的示意图；
图6为本申请应用实施例提供的测试数据处理方法的实现流程示意图
图7为本申请实施例提供的测试应用场景的示意图；
图8为本申请实施例提供的测试数据处理装置的结构示意图；
图9为本申请实施例电子设备的硬件组成结构示意图。
具体实施方式
在介绍本申请的技术方案之间，先介绍在相关技术中，测试人员向缺陷系统提交缺陷记录的相关流程。
测试人员采用测试用例对被测产品完成自动化测试之后，基于测试日志针对测试失败的测试用例编写相关的缺陷记录，并将缺陷记录提交至缺陷系统，以便分析人员分析产生缺陷的原因，调试被测产品。
其中，测试失败的测试用例包括：被测产品无法执行的测试用例、实际测试结果与设定结果不符的测试用例。
测试日志可以包括测试环境控制日志、测试系统执行日志以及被测产品的工作日志。测试环境控制日志包括测试用例的测试环境，测试环境用于描述被测产品的工作条件或测试用例的执行条件。测试系统执行日志包括执行步骤、用于表征是否与设定结果相符的执行结果等。被测产品的工作日志包括被测产品的执行步骤、执行结果等。
缺陷记录包括：测试用例的相关信息(例如，测试用例的名称、测试环境、测试步骤)、测试用例对应的实际测试结果和设定结果等。
测试人员在编写相关的缺陷记录时，需要花费较多时间理解测试脚本的实现逻辑，并结合测试环境控制日志和测试系统执行日志描述测试用例的相关信息，查看被测产品的工作日志中记载的每个测试用例对应的实际测试结果和设定结果。当测试人员看不懂测试脚本和/或测试日志时，测试人员编写的缺陷记录可能存在描述不准确或缺陷记录中描述的测试步骤与被测产品的工作日志中记载的执行步骤不匹配等问题，导致分析人员基于缺陷记录分析得到的分析结果不准确。
为了解决上述技术问题，本申请提供一种测试数据处理方法，可以在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集相应的测试信息，并根据采集到的测试信息输出测试信息图。设定的测试指令是关键测试步骤对应的测试指令。测试信息图中可以按每个设定的测试指令的执行时间，直观展示在执行每个设定的测试指令时采集到的相应的测试指标的测试数据，因此，测试人员不需要编写缺陷记录，分析人员可以基于测试信息图分析产生缺陷的原因，这样可以节省测试人员因编写缺陷记录所花费的时间，也可以因缺陷记录描述不准确而导致分析结果不准确的问题，提高分析结果的准确性。
以下结合说明书附图及具体实施例对本申请的技术方案做进一步的详细阐述。
图1示出了本申请实施例提供的测试数据处理方法的实现流程示意图。在本申请实施例中，测试数据处理方法的执行主体可以为终端、服务器等电子设备。
参照图1，本申请实施例提供的测试数据处理方法包括：
S101：在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息；所述测试脚本中包括所述至少一个设定的测试指令；所述测试信息包括至少一个维度的测试数据；所述至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标。
电子设备在运行测试脚本对第一电子设备进行测试的过程中，检测当前是否执行到至少一个设定的测试指令中的任一个测试指令；在检测到当前执行任一个测试指令时，采集该测试指令在执行时对应的测试信息。按照这种方式，电子设备可以采集到至少一个设定的测试指令中的每个测试指令在执行时对应的测试信息。这里，第一电子设备可以为手机、平板电脑等终端。手机可以支持至少一个用户身份识别卡(SIM，SubscriberIdentity Module)，还可以支持嵌入式SIM卡(eSIM卡)。其中，SIM卡按尺寸大小来分，可以包括以下几种规格：Standard SIM卡、Mini SIM卡、Micro SIM卡、Nano SIM卡。
测试脚本中包括至少一个设定的测试指令，设定的测试指令为关键测试步骤的测试指令。关键测试步骤是为了便于分析缺陷产生原因而设置的测试步骤。这里，关键测试步骤可以表征缺陷产生原因。每个关键测试步骤对应有相应的测试指标。电子设备采集到的测试信息包括至少一个维度的测试数据；至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标。
其中，测试指标包括以下至少一类：
被测小区的发射功率、第一电子设备的接收功率、第一电子设备驻留的无线接入技术(RAT，radio access technology)信息、第一电子设备驻留的小区标识信息、第一电子设备的无线资源控制(RRC，Radio Resource Control)状态、第一电子设备的PING业务信息、第一电子设备的吞吐量、第一电子设备的CALL业务指标(例如，呼入业务或呼出业务的接通率)、第一电子设备的短消息业务指标。
在实际应用中，电子设备还可以记录至少一个设定的测试指令中的每个测试指令及对应的执行时间。电子设备也可以关联存储每个设定的测试指令及相应的执行时间、执行该设定的测试指令时采集到的测试信息。
需要说明的是，为了便于电子设备检测或识别设定的测试指令，测试脚本中可以标记出所有设定的测试指令，或者电子设备也可以在执行测试脚本之前，从测试脚本中确定出所有的设定的测试指令，从而检测当前执行的测试指令是否为确定出的设定的测试指令。
S102：基于采集到的测试信息输出测试信息图；其中，所述测试信息图中的图表数据按照所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示；所述测试信息图中包括至少一个第一图表；所述至少一个第一图表中的每个第一图表对应一个维度的测试数据。
电子设备在采集到至少一个设定的测试指令中的每个测试指令在执行时对应的测试信息的情况下，基于至少一个设定的测试指令中的所有测试指令对应的测试信息，输出测试信息图。其中，电子设备基于至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间、执行每个设定的测试指令时采集到的测试信息，生成相应的第一图表，并输出包括所有已生成的第一图表的测试信息图。
这里，测试信息图中的图表数据按照至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示。也就是说，测试信息图中包括的至少一个第一图表中的每个第一图表的图表数据是按照至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示。在实际应用中，测试信息图中包括的至少一个第一图表中的每个第一图表的横轴是时间轴，时间轴上标记有至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间，纵轴是在每个测试指令对应的执行时间内采集到的测试指标的测试数据。
请一并参照图2，图2示出了本申请实施例提供的一种测试信息图的示意图。如图2所示，第一电子设备为用户终端设备(UE，User Equipment)，测试信息图中包括以下测试指标对应的第一图表：
被测小区的发射功率、UE的接收功率、UE驻留的无线接入技术信息、UE驻留的小区标识信息(小区ID)、UE的RRC状态、UE的PING业务指标。
需要说明的是，在其他实施例中，测试信息图中可以包括更多或更少的测试指标对应的第一图表。
需要说明的是，在其他实施例中，在采用测试脚本同时测试两个UE的情况下，可以在与UE有关的同一类测试指标对应的第一图表中，分别显示每个UE的该类测试指标的变化曲线。图2中与UE有关的类测试指标包括：UE的接收功率、UE的RAT信息、UE驻留的小区ID、UE的RRC状态、UE的PING业务指标。
本实施例提供的方案中，电子设备在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息，基于采集到的测试信息，输出测试信息图。测试信息图中可以按至少一个设定的测试指令中的所有设定的测试指令的执行时间，直观展示在执行每个设定的测试指令时采集到的相应的测试指标的测试数据，因此，测试人员不需要编写缺陷记录，分析人员可以基于测试信息图中的图表数据分析产生缺陷的原因，这样可以节省测试人员因编写缺陷记录所花费的时间，也可以避免因缺陷记录描述不准确而导致分析结果不准确的问题，提高分析结果的准确性。
需要说明的是，上文是第一电子设备工作在单卡模式下输出测试信息图的实现过程。在实际应用中，当第一电子设备工作在双卡模式时，电子设备在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时，采集每个SIM卡和/或eSIM卡对应的测试信息；基于采集到的每个SIM卡和/或eSIM卡对应的测试信息，输出每个SIM卡和/或eSIM卡分别对应的测试信息图。输出测试信息图的具体实现过程请参照上述描述，此处不赘述。也就是说，第一电子设备工作在双卡模式时，可以输出两张卡各自对应的测试信息图。这里，双卡模式对应的运营商相同的情况下，也可以将两张卡分别对应的测试信息图中相应维度的数据进行叠加，从而将两张测试信息图中的数据整合在一张测试信息图中进行显示。
作为本发明另一实施例，在S102中输出的所述测试信息图中还可以包括第二图表；所述第二图表表征所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令与执行时间之间的对应关系。
这里，在第二图表中，至少一个设定的测试指令中所有测试指令是按照至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示的。
请一并参照图3，图3示出了本申请实施例提供的另一种测试信息图的示意图。如图3所示的测试信息图，在图2所示的测试信息图中增加了测试指令记录表，即第二图表。
如3所示的测试信息表中的测试指令1可以为：将被测小区的发射功率值设为-80，测试指令2可以为：通知UE附着(attach)，测试指令3可以为：控制UE执行附着(attached)流程，测试指令4可以为：控制UE执行去附着流程，测试指令5可以为将被测小区的发射功率值设为-100，……，第9秒对应执行的测试指令为：将被测小区的发射功率值设为-140。
本实施例提供的方案中，测试信息图还可以按照至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间，直观展示至少一个设定的测试指令中的每个测试指令。分析人员拿到测试信息图时，可以很直观地看到至少一个设定的测试指令中的每个测试指令的执行时间，以及在每个测试指令被执行的过程中，相应的测试指标对应的测试数据，从而可以根据测试信息图中的至少一个第一图表和第二图表分析第一电子设备行产生缺陷的原因，提高分析人员分析缺陷的效率。
作为本发明另一实施例，图4示出了本申请另一实施例提供的测试数据处理方法的实现流程示意图。本实施例在图1对应的实施例的基础上，增加了S103，具体如下：
S103：在所述第一电子设备的工作日志中，实时写入第一信息；其中，实时写入的第一信息表征对应的测试指令被执行。
电子设备在执行测试脚本对第一电子设备进行测试的过程中，第一电子设备创建相应的工作日志，并在工作日志中实时记录执行指令、在执行各指令的过程中产生的数据等。
电子设备在执行测试脚本中的至少一个设定的测试指令中的任一测试指令时，通过设定的数据接口，在第一电子设备的工作日志中，实时写入第一信息。
这里，第一信息可以是被执行的设定的测试指令，也可以是被执行的设定的测试指令的唯一身份标识信息，例如，唯一身份标识号(ID，Identity document)。
本实施例提供的方案中，电子设备在第一电子设备的工作日志中，实时写入用于表征设定的测试指令被执行的第一信息，可以通过第一信息建立起第一电子设备的工作日志与测试信息图之间的关联关系。相对于相关技术中在执行测试脚本的过程中生成的工作日志而言，本申请中的第一电子设备的工作日志中增加了第一信息。这样一来，分析人员可以基于第一电子设备的工作日志中的第一信息，确定出第一信息对应的设定的测试指令，以及从工作日志中确定出第一信息对应的日志信息；在测试信息图中的第一图表中，查看在执行确定出的测试指令时采集到的的测试数据；基于在执行时确定出的测试指令采集到的测试数据，以及从工作日志中确定出第一信息对应的日志信息，分析第一电子设备产生缺陷的原因。这种方式可以方便分析人员查看设定的测试指令对应的测试数据和日志信息，以便较快地查找出产生缺陷的原因，提高缺陷分析效率。
作为本申请另一实施例，测试数据处理方法还包括：在所述至少一个第一图表中的任一第一图表上叠加对应的第三图表；其中，
所述第三图表表征在采用所述测试脚本测试第二电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集的对应维度上的测试数据。
下面以UE的接收功率对应的第一图表为例说明在第一图表上叠加对应的第三图表的实现过程。
参照图5，图5示出了本申请实施例提供的测试信息图中的第一图表在叠加第三图表之后的示意图。
如图5所示，在图2中UE的接收功率对应的第一图表的基础上，叠加了一个第二电子设备的接收功率对应的图表。图5所示的实线曲线是基于在执行时至少一个设定的测试指令中的每个测试指令采集到的UE1的接收功率值生成。图5所示的虚线曲线是基于在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时，采集到的UE2的接收功率生成。
第二电子设备包括所述第一电子设备的竞品。
需要说明的是，在其他实施例中，可以在图5所示的第一图表中叠加显示更多个第二电子设备的接收功率对应的第三图表。
本实施例提供的方案中，还可以在第一图表中展示，在至少一个设定的测试指令中的每个测试指令被执行时采集到的第二电子设备的测试数据，第一图表中可以直观展示出，同一个测试指令被执行时，第一电子设备的测试数据和第二电子设备的测试数据，以便分析人员查看同一个测试指令被执行时，第一电子设备的测试数据和第二电子设备的测试数据之间的不同点，在第一电子设备的测试数据优于第二电子设备的测试数据时，分析被测电子产品的产品优势，在第一电子设备的测试数据比第二电子设备的测试数据差，进行缺陷分析。
作为本申请另一实施例，测试数据处理方法还包括：在所述测试信息图中标记测试数据。
本实施例提供的方案中，可以在测试信息图中标记测试数据，测试信息图可以直观展示被标记的测试数据，分析人员可以快速确定出异常数据。
作为本申请另一实施例，在所述测试信息图中标记测试数据包括以下至少一项：
在所述测试信息图中标记不满足设定条件的测试数据；
根据输入的第一指令，在所述测试信息图中标记所述第一指令指示的测试数据。
这里，设定条件包括但不限于，实际测试数据与设定的基准数据不同、实际测试数据与设定的基准数据之间的误差值未处于设定的允许误差范围。
设定条件还可以包括：在某个设定的测试指令被执行时，实际测试数据的变化趋势与设定的变化趋势不同。
例如，在设定时刻，用于控制第一电子设备进行小区重选或切换的测试指令被执行时，假设第一电子设备从TDD小区切换到GSM小区，第一电子设备的接收功率对应的设定的变化趋势为：在设定时刻之后持续升高；如果第一电子设备的接收功率的实际变化趋势为：在设定时刻之后的实际接收功率持续下降或保持不变，那么这种情况表征第一电子设备的接收功率在设定时刻之后的实际变化趋势与设定的变化趋势不同，电子设备可以标记设定时刻，以及标记设定时刻之后的实际接收功率值。
这里，TDD小区为长期演进(LTE，long Term Evolution)系统中的小区，GSM小区为全球移动通信系统(GSM，Global System for Mobile Communications)的小区。
在一实施例中，当第一图表中叠加有第三图表时，在所述测试信息图中标记不满足设定条件的测试数据，包括：在所述第一图表中的测试数据与所述第三图表中的基准数据不同时，标记与基准数据不同的测试数据。
这里，电子设备比较测试信息图中的第一图表中的每个设定的测试指令的执行时间对应的测试数据以及基准数据，在确定出第一图表中的测试数据与第三图表中的基准数据不同时，标记与基准数据不同的测试数据。
在一实施例中，根据输入的第一指令，在所述测试信息图中标记所述第一指令指示的测试数据的实现过程如下：
测试人员发现测试信息图中的测试数据不满足设定条件时，触发标记指令，标记指令用于指示电子设备标记出不满足设定条件的测试数据。
在实际应用中，由于测试信息图中的测试数据都是以至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示的，因此，测试人员在确定出某个设定的测试指令被执行时对应的实际测试数据不满足设定条件时，可以在该时刻对应的显示位置触发标记指令，也可以在该时刻的测试数据对应的显示位置触发标记指令。
在本实施例提供的方案中，测试信息图可以直观展示不符合设定要求的测试数据，分析人员可以快速获知不符合设定要求的异常数据，从而针对异常数据进行分析。例如，基于同一时刻对应的优于竞品的测试数据，针对第一电子设备的产品优势进行分析，基于同一时刻对应的劣于竞品的测试数据，针对第一电子设备的产品劣势进行分析。
作为本申请的应用实施例，图6示出了本申请应用实施例提供的测试数据处理方法的实现流程示意图。如图6所示，在S102之后，还可以包括S104：向服务器发送测试信息图。
这里，可以将测试脚本的标识信息与测试信息图关联发送给服务器，以便分析人员可以从服务器中下载或查看相应的测试脚本对应的测试信息图，从而进行缺陷分析。
请一并参照图7，图7示出了本申请实施例提供的测试应用场景的示意图。如图7所示，测试人员11控制电子设备12运行测试脚本对第一电子设备13进行测试，电子设备12执行上述实施例中S101～S102，向服务器13发送输出的测试信息图。分析人员16可以通过电子设备15登陆服务器14，查看测试信息图进行缺陷分析。
在一种应用场景中，电子设备12执行上述实施例中S101～S102之后，可以输出测试信息图供测试人员11查看。测试人员在发现测试信息图中存在不符合设定条件的测试数据时，触发电子设备12标记出不符合设定条件的测试数据，电子设备12保存标记不符合设定条件的测试数据的测试信息图，向服务器14发送标记不符合设定条件的测试数据的测试信息图。
在另一种应用场景中，当电子设备12根据第一电子设备13的竞品对应的测试数据，标记出第一电子设备对应的不符合设定条件的测试数据时，并向服务器14发送已标记不符合设定条件的测试数据的测试信息图。电子设备12还可以保存已标记不符合设定条件的测试数据的测试信息图。
分析人员16可以通过电子设备15登陆服务器14，查看已标记不符合设定条件的测试数据的测试信息图。
在另一种应用场景中，电子设备13还可以将最终的测试数据图和第一电子设备13的工作日志发送给服务器14，服务器14可以将两者关联保存，以便分析人员16基于第一电子设备13对应的测试数据图和工作日志，对分析第一电子设备13产生缺陷的原因。
为实现本申请实施例的方法，本申请实施例还提供了一种测试数据处理装置，设置在终端或服务器等电子设备上，如图8所示，包括：
信息采集单元81，用于在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息；所述测试脚本中包括所述至少一个设定的测试指令；所述测试信息包括至少一个维度的测试数据；所述至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标；
信息处理单元82，用于基于采集到的测试信息输出测试信息图；其中，
所述测试信息图中的图表数据按照所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示；所述测试信息图中包括至少一个第一图表；所述至少一个第一图表中的每个第一图表对应一个维度的测试数据。
在一实施例中，测试数据处理装置还可以包括：
信息写入单元，在所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令执行时，在第一电子设备的工作日志中，实时写入第一信息；其中，
实时写入的第一信息表征对应的测试指令被执行。
在一实施例中，所述测试信息图中还包括第二图表；所述第二图表表征所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令与执行时间之间的对应关系。
在一实施例中，测试数据处理装置还可以包括：
标记单元，用于在所述测试信息图中标记测试数据。
在一实施例中，所述标记单元具体用于执行以下至少一项：
在所述测试信息图中标记不满足设定条件的测试数据；
根据输入的第一指令，在所述测试信息图中标记所述第一指令指示的测试数据。
在一实施例中，测试数据处理装置还可以包括：
叠加单元，用于在所述至少一个第一图表中的任一第一图表上叠加对应的第三图表；其中，
所述第三图表表征在采用所述测试脚本测试第二电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集的对应维度上的测试数据。
实际应用时，测试数据处理装置包括的各单元，可由测试数据处理装置中的处理器来实现。当然，处理器需要运行存储器中存储的程序来实现上述各程序模块的功能。
需要说明的是：上述实施例提供的测试数据处理装置在处理测试数据时，仅以上述各程序模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述处理分配由不同的程序模块完成，即将测试数据处理装置的内部结构划分成不同的程序模块，以完成以上描述的全部或者部分处理。另外，上述实施例提供的测试数据处理装置与测试数据处理方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
基于上述程序模块的硬件实现，且为了实现本申请实施例的方法，本申请实施例还提供了一种电子设备。图9为本申请实施例电子设备的硬件组成结构示意图，如图9所示，电子设备包括：
通信接口1，能够与其它设备比如服务器和第一电子设备等进行信息交互；
处理器2，与通信接口1连接，以实现与其它设备进行信息交互，用于运行计算机程序时，执行上述一个或多个技术方案提供的测试数据处理方法。而所述计算机程序存储在存储器3上。
当然，实际应用时，电子设备中的各个组件通过总线系统4耦合在一起。可理解，总线系统4用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统4除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图9中将各种总线都标为总线系统4。
本申请实施例中的存储器3用于存储各种类型的数据以支持电子设备的操作。这些数据的示例包括：用于在电子设备上操作的任何计算机程序。
可以理解，存储器3可以是易失性存储器或非易失性存储器，也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(ROM，Read Only Memory)、可编程只读存储器(PROM，Programmable Read-Only Memory)、可擦除可编程只读存储器(EPROM，Erasable Programmable Read-Only Memory)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM，Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)、磁性随机存取存储器(FRAM，ferromagnetic random access memory)、快闪存储器(Flash Memory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(CD-ROM，Compact Disc Read-Only Memory)；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(SRAM，Static Random Access Memory)、同步静态随机存取存储器(SSRAM，Synchronous Static Random Access Memory)、动态随机存取存储器(DRAM，Dynamic Random Access Memory)、同步动态随机存取存储器(SDRAM，SynchronousDynamic Random Access Memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DDRSDRAM，Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)、增强型同步动态随机存取存储器(ESDRAM，Enhanced Synchronous Dynamic Random Access Memory)、同步连接动态随机存取存储器(SLDRAM，Sync Link Dynamic Random Access Memory)、直接内存总线随机存取存储器(DRRAM，Direct Rambus Random Access Memory)。本申请实施例描述的存储器3旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
上述本申请实施例揭示的方法可以应用于处理器2中，或者由处理器2实现。处理器2可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器2中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器2可以是通用处理器、DSP，或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。处理器2可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤，可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于存储介质中，该存储介质位于存储器3，处理器2读取存储器3中的程序，结合其硬件完成前述方法的步骤。
处理器2执行所述程序时实现本申请实施例的各个方法中的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。
在示例性实施例中，本申请实施例还提供了一种存储介质，即计算机存储介质，具体为计算机可读存储介质，例如包括存储计算机程序的存储器3，上述计算机程序可由处理器2执行，以完成前述方法所述步骤。计算机可读存储介质可以是FRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、Flash Memory、磁表面存储器、光盘、或CD-ROM等存储器。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。
上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理模块中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是，本申请实施例所记载的技术方案之间，在不冲突的情况下，可以任意组合。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种测试数据处理方法，其特征在于，包括：
在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息；所述测试脚本中包括所述至少一个设定的测试指令；所述测试信息包括至少一个维度的测试数据；所述至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标；
基于采集到的测试信息输出测试信息图；其中，
所述测试信息图中的图表数据按照所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示；所述测试信息图中包括至少一个第一图表；所述至少一个第一图表中的每个第一图表对应一个维度的测试数据。
2.根据权利要求1所述的测试数据处理方法，其特征在于，在所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令执行时，所述方法还包括：
在所述第一电子设备的工作日志中实时写入第一信息；其中，
实时写入的第一信息表征对应的测试指令被执行。
3.根据权利要求1或2所述的测试数据处理方法，其特征在于，所述测试信息图中还包括第二图表；所述第二图表表征所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令与执行时间之间的对应关系。
4.根据权利要求1所述的测试数据处理方法，其特征在于，还包括：
在所述测试信息图中标记测试数据。
5.根据权利要求4所述的测试数据处理方法，其特征在于，所述在所述测试信息图中标记测试数据，包括以下至少一项：
在所述测试信息图中标记不满足设定条件的测试数据；
根据输入的第一指令，在所述测试信息图中标记所述第一指令指示的测试数据。
6.根据权利要求1所述的测试数据处理方法，其特征在于，还包括：
在所述至少一个第一图表中的任一第一图表上叠加对应的第三图表；其中，
所述第三图表表征在采用所述测试脚本测试第二电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集的对应维度上的测试数据。
7.根据权利要求6所述的测试数据处理方法，其特征在于，所述第二电子设备包括所述第一电子设备的竞品。
8.一种测试数据处理装置，其特征在于，包括：
信息采集单元，用于在运行测试脚本测试第一电子设备的过程中，在执行至少一个设定的测试指令中的每个测试指令时采集对应的测试信息；所述测试脚本中包括所述至少一个设定的测试指令；所述测试信息包括至少一个维度的测试数据；所述至少一个维度中的每个维度表征一类设定的测试指标；
信息处理单元，用于基于采集到的测试信息输出测试信息图；其中，
所述测试信息图中的图表数据按照所述至少一个设定的测试指令中的每个测试指令对应的执行时间进行展示；所述测试信息图中包括至少一个第一图表；所述至少一个第一图表中的每个第一图表对应一个维度的测试数据。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器，
其中，所述处理器用于运行所述计算机程序时，执行权利要求1至7任一项所述的测试数据处理方法的步骤。
10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述的测试数据处理方法的步骤。
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| CN109840206A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-06-04 | 深圳壹账通智能科技有限公司 | 数据测试方法、装置、终端及存储介质 |
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