CN111854978A - 一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括以下步骤：分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保设备运行稳定；将黑体源温度值调节至预设温度值T，直至黑体源温度稳定；将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为两米，红外热像仪正对黑体源，确保黑体源位于热成像画面正中间；记录当前时间，每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存对应时间和红外热像图；结合记录数据与热像图，分析黑体源均匀性与一致性，本发明能够分析黑体源辐射面源整体的均匀性和稳定性，可以有效提升检测效率，确保黑体源的均匀性与稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及红外辐射面源技术领域，具体来说，涉及一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法。
背景技术
黑体源具有体积小、精度高、安装方便等优点，因此黑体源的需求量和种类也不断增加。在黑体源的实际生产和使用过程中，多数厂家和使用者是利用红外辐射温度计对辐射面源的中心以及四周的部分区域温度进行单点测量，从而判断整个辐射面源的均匀性和稳定性是否正常。一方面，由于黑体源在使用过程中可以调节不同的温度点，因此，如果每个温度点都用红外辐射温度计进行单点测试，则会降低检测效率。另一方面，随着市场上黑体源的使用场景不断增加，黑体源的辐射面源的面积也逐渐增加，红外辐射温度计的测试方法无法覆盖黑体源辐射面源的所有区域，从而无法保证黑体源辐射面源的温度均匀性和稳定性。因此，如何确保和检测黑体源表面辐射源温度的均匀性尤为重要。因此现有技术中：
(1)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，无法快速判断辐射面源的均匀性和稳定性情况；
(2)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，测试点无法覆盖整个辐射面源，无法确保辐射面源的均匀性和稳定性；
(3)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，无法分析辐射面源温度值的稳定情况。
针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
针对相关技术中的问题，本发明提出一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。
为此，本发明的技术方案是这样实现的：
根据本发明的一个方面，提供了一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法。
具体的：本发明一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：环境搭建、均匀性分析、稳定性分析，其中所述环境搭建，包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪，一台终端设备，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值T；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为N米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
所述均匀性分析，包括如下步骤：
d)获取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；
e)取当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值以计算温度差值，将获得的温度差值与预设差值A比较以断黑体源均匀性是否达到要求；
所述稳定性分析，包括如下步骤：
f)每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；
g)任意选择两个截取的时间，分别计算两个时间对应的温度差值；每一个温度差值均为当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值，并将计算结果与预设差值B比较以判断黑体源稳定性是否达到要求。
作为一种优选，记录并保存当前时间像素对应温度值的方法：确定红外热像图中黑体辐射面源区域的位置，对应每个像素点获取黑体辐射面源区域内的所有温度值Txiyi，其中，xi表示i时间水平像素点的温度值，yi表示i时间垂直像素点的温度值；x的范围是0～639，y的范围是0～479。
作为一种优选，步骤e)中温度差值A为ΔTxiyi，其计算公式为ΔTxiyi＝|Txiyi-T|；当ΔTxiyi的值小于或等于预设值，则均匀性符合要求，否则不符合要求。
作为一种优选，步骤g)中两个温度差值的差的绝对值为ΔTi,j，其计算公式为ΔTi,j＝|ΔTxiyi-ΔTxjyj|；当ΔTi,j的值小于或等于预设值B，则稳定性符合要求，否则不符合；ΔTi,j中的i、j表示选择的i时间和j时间，其中，xj表示j时间水平像素点的温度值，yj表示j时间垂直像素点的温度值。
作为一种优选，所述ΔTxiyi预设值A为0.2。
作为一种优选，所述ΔTi,j预设值B为0.1。
作为一种优选，所述高精度红外热像仪的分辨率为640*480。
作为一种优选，所述N取值范围为2-10。
作为一种优选，预设温度值T范围为35℃-60℃。
作为一种优选，步骤f)中间隔时间为5-20min。
作为一种优选，所述红外热像仪和所述黑体源的供电处均设置有与外界电源连接的充电接口。
作为一种优选，所述红外热像仪和所述黑体源上均设置有与所述充电接口电性连接的串联电池，所述串联电池的额定电压为48V。
作为一种优选，所述黑体源为圆柱体形结构。
作为一种优选，所述黑体源采用重结晶碳化硅块。
本发明的有益效果为：利用高精度红外热像仪测试合适范围内部的黑体源温度值，通过热像仪获得红外热像图，从而获取热成像全屏温度图，确定目标对象黑体源辐射面源区域的位置，并按每个像素点获取目标对象区域内的所有温度值，然后针对同一时刻不同像素点的温度差值情况来分析黑体源辐射面源整体的均匀性，同时针对不同时刻每个像素点温度差值情况来分析黑体源辐射面源整体稳定性。这样，可以用同一套系统来同时检测黑体源的均匀性和稳定性，从而有效提升检测效率，确保黑体源的均匀性与稳定性符合要求。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明整体流程框图。
图2是根据本发明实施例的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法的流程图。
具体实施方式
为进一步说明各实施例，本发明提供有附图1、附图2，这些附图为本发明揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本发明的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
为了方便理解本发明的上述技术方案，以下结合附图对本发明的上述方案的流程进行详细说明，具体如下：
实施例一：
提供了一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法。
如图2所示，在实际生产过程中，该黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，包括以下步骤；
步骤S101，分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保设备运行稳定；为方便分析，可将高精度红外热像仪接入智能终端(如笔记本电脑等)，这样可对高精度红外热像仪获取的数据进行分析；当然，也可将红外热像仪的数据上传至服务器进行分析，不再赘述。
步骤S103，将黑体源温度值调节至预设温度值T，直至黑体源温度稳定；此一温度值T一般为黑体源中心温度，其周边区域温度可能与该温度值T存在一定波动，这也就是本发明实施例要检测的均匀性与稳定性情况。
步骤S105，将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为两米，红外热像仪正对黑体源，确保黑体源位于热成像画面正中间；本申请中高精度红外热像仪与黑体源间距离2m为优选值，可以具体的场景条件，选择其他的间距，不应当理解为对本申请的限定；为方便调节高精度红外热像仪与黑体源之间距离，可将两者置于一平台的导轨上，这样便于对目标(高精度红外热像仪或黑体源)进行移动。
步骤S107，记录当前时间，每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存对应时间和红外热像图；其中同一时刻，红外热像图的每一像素对应一温度值，全部像素点相对于预设温度值T差值的统计学数据用来分析均匀性；不同时刻，红外热像图的某一像素点温度会存在波动，分析时段内全部像素点的温度波动值的统计学数据用来分析稳定性。
步骤S109，结合记录数据与热像图，分析黑体源均匀性与一致性。
在一个实施例中，所述高精度红外热像仪的分辨率为640*480，本申请中提供的分辨率只是为优选值，可以具体的场景条件，选择其他的分辨率，不应当理解为对本申请的限定。
在一个实施例中，上述预设温度值T调节为35℃、37℃、40℃中的一种，本申请中提供的温度值只是为优选值，可以具体的场景条件，选择其他的预设温度值T，不应当理解为对本申请的限定。
在一个实施例中，上述间隔时间为5min，本申请中提供的间隔时间只是为优选值，可以具体的场景条件，选择其他的间隔时间，不应当理解为对本申请的限定。
在一个实施例中，所述红外热像仪和所述黑体源的供电处均设置有与外界电源连接的充电接口。
在一个实施例中，所述红外热像仪和所述黑体源上均设置有与所述充电接口电性连接的串联电池，所述串联电池的额定电压为48V。
在一个实施例中，所述黑体源为圆柱体形结构。
在一个实施例中，所述黑体源采用重结晶碳化硅块。
现有技术中：
1)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，无法快速判断辐射面源的均匀性和稳定性情况；
2)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，测试点无法覆盖整个辐射面源，无法确保辐射面源的均匀性和稳定性；
3)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，无法分析辐射面源温度值的稳定情况。
为了方便理解本发明的上述技术方案，以下结合实验数据对本发明的上述方案的进行详细说明，具体如下：
均匀性分析：确定热像图中目标对象区域内(黑体辐射面源区域)的位置，结合每个像素点获取目标对象区域内的所有温度值Txiyi，其中，xi表示i时间水平像素点的温度值，yi表示i时间垂直像素点的温度值，本申请中Txjxj与Txiyi含义一致(未附Txiyi的表格)，X的范围是0-639，y的范围是0-479，具体可见如下表格：
| ℃ | 1 | 2 | 3 | 4 | x | … | 638 | 639 |
| 1 | T1i1i | T2i1i | T3i1i | T4i1i | Txi1i | … | T638i1i | T639i1i |
| 2 | T1i2i | T2i2i | T3i2i | T4i2i | Txi2i | … | T638i2i | T639i2i |
| 3 | T1i3i | T2i3i | T3i3i | T4i3i | Txi3i | … | T638i2i | T639i2i |
| 4 | T1i4i | T2i4i | T3i4i | T4i4i | Txi4i | … | T638i3i | T639i3i |
| y | T1iyi | T2iyi | T3iyi | T4iyi | Txiyi | … | T638iyi | T639iyi |
| … | … | … | … | … | … | … | … | … |
| 479 | T1i479i | T2i479i | T3i479i | T4i479i | Txi479i | … | T638i478i | T639i479i |
令：
ΔTxiyi＝|Txiyi-T|
若ΔTxiyi≤0.2，则符合要求，否则不符合。
稳定性分析：
分别取任意2个时间i和j，令：
ΔTi,j＝|ΔTxiyi-ΔTxjyj|
若ΔTi,j≤0.1，则符合要求，否则不符合；
xi表示i时间水平像素点的温度值，yi表示i时间垂直像素点的温度值；xj表示j时间水平像素点的温度值，yj表示j时间垂直像素点的温度值。
实施例二：
如图1所示，一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：
步骤1)：环境搭建，其包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个分辨率为640*480的高精度红外热像仪，一台电脑，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值35℃；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为2米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
步骤2)：均匀性分析，其包括如下步骤：
d)获取目标对象区域内的温度值T1i1i，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；
e)计算温度差值：Δ1i1i＝|T1i1i-35|，当Δ1i1i的值小于或等等于预设值0.2时，则均匀性符合要求，否则不符合要求；
步骤3)：稳定性分析，其包括如下步骤：
f)每隔5min后截取当前时间红外热像图，如获得i时间和j时间，记录并保存i时间和j时间对应的红外热像图和像素对应温度值，选择获取目标对象区域内的温度值T1i1i、T639j479j，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；639j表示j时间水平像素点的温度值，479j表示j时间垂直像素点的温度值；
g)分别计算两个时间对应的温度差值：ΔT1i1i＝|T1i1i-35|以及ΔT639j479j＝|T639j479j-35|；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值：ΔTi,j＝|ΔT1i1i-ΔT639j479j|，当ΔTi,j的值小于或等等于预设值0.1，则稳定性符合要求，否则不符合。
实施例三:
如图1所示，一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：
步骤1)：环境搭建，其包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个分辨率为640*480的高精度红外热像仪，一台电脑，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值37℃；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为2米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
步骤2)：均匀性分析，其包括如下步骤：
d)获取目标对象区域内的温度值T1i1i，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；
e)计算温度差值：Δ1i1i＝|T1i1i-37|，当Δ1i1i的值小于或等等于预设值0.2时，则均匀性符合要求，否则不符合要求；
步骤3)：稳定性分析，其包括如下步骤：
f)每隔5min后截取当前时间红外热像图，如获得i时间和j时间，记录并保存i时间和j时间对应的红外热像图和像素对应温度值，选择获取目标对象区域内的温度值T1i1i、T320j240j，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；320j表示j时间水平像素点的温度值，240j表示j时间垂直像素点的温度值；
g)分别计算两个时间对应的温度差值：ΔT1i1i＝|T1i1i-37|以及ΔT320j240j＝|T320j240j-37|；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值：ΔTi,j＝|ΔT1i1i-ΔT320j240j|，当ΔTi,j的值小于或等等于预设值0.1，则稳定性符合要求，否则不符合。
实施例四:
如图1所示，一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：
步骤1)：环境搭建，其包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个分辨率为640*480的高精度红外热像仪，一台电脑，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值40℃；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为2米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
步骤2)：均匀性分析，其包括如下步骤：
d)获取目标对象区域内的温度值T320i240i，320i表示i时间水平像素点的温度值，240i表示i时间垂直像素点的温度值；
e)计算温度差值：Δ320i240i＝|T320i240i-40|，当Δ320i240i的值小于或等等于预设值0.2时，则均匀性符合要求，否则不符合要求；
步骤3)：稳定性分析，其包括如下步骤：
f)每隔5min后截取当前时间红外热像图，如获得i时间和j时间，记录并保存i时间和j时间对应的红外热像图和像素对应温度值，选择获取目标对象区域内的温度值T320i240i、T639j479j，320i表示i时间水平像素点的温度值，240i表示i时间垂直像素点的温度值；639j表示j时间水平像素点的温度值，479j表示j时间垂直像素点的温度值；
g)分别计算两个时间对应的温度差值：Δ320i240i＝|T320i240i-40|以及ΔT639j479j＝|T639j479j-40|；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值：ΔTi,j＝|ΔT320i240i-ΔT639j479j|，当ΔTi,j的值小于或等等于预设值0.1，则稳定性符合要求，否则不符合。
实施例五：
如图1所示，一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：
步骤1)：环境搭建，其包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个分辨率为640*480的高精度红外热像仪，一台电脑，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值35℃；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为2米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
步骤2)：稳定性分析，其包括如下步骤：
f)每隔5min后截取当前时间红外热像图，如获得i时间和j时间，记录并保存i时间和j时间对应的红外热像图和像素对应温度值，选择获取目标对象区域内的温度值T1i1i、T639j479j，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；639j表示j时间水平像素点的温度值，479j表示j时间垂直像素点的温度值；
g)分别计算两个时间对应的温度差值：ΔT1i1i＝|T1i1i-35|以及ΔT639j479j＝|T639j479j-35|；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值：ΔTi,j＝|ΔT1i1i-ΔT639j479j|，当ΔTi,j的值小于或等等于预设值0.1，则稳定性符合要求，否则不符合；
步骤3)：均匀性分析，其包括如下步骤：
d)获取目标对象区域内的温度值T1i1i，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；
e)计算温度差值：Δ1i1i＝|T1i1i-35|，当Δ1i1i的值小于或等等于预设值0.2时，则均匀性符合要求，否则不符合要求。
实施例六:
如图1所示，一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：
步骤1)：环境搭建，其包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个分辨率为640*480的高精度红外热像仪，一台电脑，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值37℃；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为2米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
步骤2)：稳定性分析，其包括如下步骤：
f)每隔5min后截取当前时间红外热像图，如获得i时间和j时间，记录并保存i时间和j时间对应的红外热像图和像素对应温度值，选择获取目标对象区域内的温度值T1i1i、T320j240j，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；320j表示j时间水平像素点的温度值，240j表示j时间垂直像素点的温度值；
g)分别计算两个时间对应的温度差值：ΔT1i1i＝|T1i1i-37|以及ΔT320j240j＝|T320j240j-37|；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值：ΔTi,j＝|ΔT1i1i-ΔT320j240j|，当ΔTi,j的值小于或等等于预设值0.1，则稳定性符合要求，否则不符合；
步骤3)：均匀性分析，其包括如下步骤：
d)获取目标对象区域内的温度值T1i1i，1i表示i时间水平像素点的温度值，1i表示i时间垂直像素点的温度值；
e)计算温度差值：Δ1i1i＝|T1i1i-37|，当Δ1i1i的值小于或等等于预设值0.2时，则均匀性符合要求，否则不符合要求。
实施例七:
如图1所示，一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：
步骤1)：环境搭建，其包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个分辨率为640*480的高精度红外热像仪，一台电脑，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值40℃；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为2米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
步骤2)：稳定性分析，其包括如下步骤：
f)每隔5min后截取当前时间红外热像图，如获得i时间和j时间，记录并保存i时间和j时间对应的红外热像图和像素对应温度值，选择获取目标对象区域内的温度值T320i240i、T639j479j，320i表示i时间水平像素点的温度值，240i表示i时间垂直像素点的温度值；639j表示j时间水平像素点的温度值，479j表示j时间垂直像素点的温度值；
g)分别计算两个时间对应的温度差值：Δ320i240i＝|T320i240i-40|以及ΔT639j479j＝|T639j479j-40|；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值：ΔTi,j＝|ΔT320i240i-ΔT639j479j|，当ΔTi,j的值小于或等等于预设值0.1，则稳定性符合要求，否则不符合；
步骤3)：均匀性分析，其包括如下步骤：
d)获取目标对象区域内的温度值T320i240i，320i表示i时间水平像素点的温度值，240i表示i时间垂直像素点的温度值；
e)计算温度差值：Δ320i240i＝|T320i240i-40|，当Δ320i240i的值小于或等等于预设值0.2时，则均匀性符合要求，否则不符合要求。
为了方便理解本发明的技术方案，以下就本发明在实际过程中的工作原理或者操作方式进行详细说明：
利用高精度红外热像仪测试合适范围内部的黑体源温度值，并通过热像仪获得红外热像图，从而获取热成像全屏温度图，确定目标对象黑体源辐射面源区域的位置，并按每个像素点获取目标对象区域内的所有温度值，然后结合不同像素点的温度差值情况以及稳定性情况，分析黑体源辐射面源整体的均匀性和稳定性。由此，本发明实施例通过获取目标对象区域内热成像温度图的方式，从而按每个像素点获取目标对象区域内的所有温度值，然后结合不同像素点的温度差值情况以及稳定性情况，可以方便地分析黑体源辐射面源整体的均匀性和稳定性，将均匀性和稳定性数据绘制成均匀性-可调温黑体源温度的曲线以及稳定性-可调温黑体源温度的曲线，这样可以有效提升检测效率，确保黑体源的均匀性与稳定性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，该检测方法包括：环境搭建、均匀性分析、稳定性分析，其中所述环境搭建，包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪,将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值T；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为N米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
所述均匀性分析，包括如下步骤：
d)获取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；
e)取当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值以获得温度差值，将获得的温度差值与预设差值A比较以判断黑体源均匀性是否达到要求；
所述稳定性分析，包括如下步骤：
f)每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；
g)任意选择两个截取的时间，分别计算两个时间对应的温度差值；每一个温度差值均为当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值，并将计算结果与预设差值B比较以判断黑体源稳定性是否达到要求。
2.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，记录并保存当前时间像素对应温度值的方法：确定红外热像图中黑体辐射面源区域的位置，对应每个像素点获取黑体辐射面源区域内的所有温度值Txiyi，其中，xi表示i时间水平像素点的温度值，yi表示i时间垂直像素点的温度值；x的范围是0-Xmax，y的范围是0-Ymax。
3.根据权利要求2所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，步骤e)中温度差值为ΔTxiyi，其计算公式为ΔTxiyi＝|Txiyi-T|；当ΔTxiyi的值小于或等于预设值A，则均匀性符合要求，否则不符合要求。
4.根据权利要求2或3所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，步骤g)中两个温度差值的差的绝对值为ΔTi,j，其计算公式为ΔTi,j＝|ΔTxiyi-ΔTxjyj|；当ΔTi,j的值小于或等于预设值B，则稳定性符合要求，否则不符合；其中，xj表示j时间水平像素点的温度值，yj表示j时间垂直像素点的温度值。
5.根据权利要求3所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，所述ΔTxiyi预设值A为0.2。
6.根据权利要求4所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，所述ΔTi,j预设值B为0.1。
7.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，所述高精度红外热像仪的分辨率为640*480。
8.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，所述N取值范围为2-10m。
9.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，预设温度值T范围为35℃-60℃。
10.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，步骤f)中间隔时间为5-20min。
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| CN202010680170.4A CN111854978A (zh) | 2020-07-15 | 2020-07-15 | 一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法 |
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Cited By (1)
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| CN113008386A (zh) * | 2021-01-29 | 2021-06-22 | 北京空间飞行器总体设计部 | 一种高温度均匀性面源黑体控温结构 |
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2020
- 2020-07-15 CN CN202010680170.4A patent/CN111854978A/zh active Pending
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