CN111735826A - 一种用于面板检测的仿真系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种用于面板检测的仿真系统及方法，该系统与AOI自动光学检测系统连接，仿真系统包括设备仿真模块和PLC指令仿真模块；其中，设备仿真模块用于创建有面板检测设备的仿真运行场景，用于执行面板检测设备的仿真运行操作；PLC指令仿真模块用于根据接收设备仿真状态触发AOI自动光学检测系统运行，并接收将AOI自动光学检测系统的运行结果反馈至设备仿真模块。本发明提供的用于面板检测的仿真系统及方法，通过在电脑上模拟面板检测设备运行，可以将客户现场产线上运行的设备以及新员工培训的面板检测运行过程通过线上的仿真模拟，免去了从研发基地去客户现场的时间及减少了产线上必须的准备工作，提高了工作效率，降低了开发及维护成本。

Description

一种用于面板检测的仿真系统及方法

技术领域

本发明属于面板检测技术领域，更具体地，涉及一种用于面板检测的仿真系统及方法。

背景技术

用于面板检测的仿真系统是一个在电脑上模拟面板检测设备运行的系统，该系统与AOI自动光学检测系统相连，供AOI自动光学检测系统研发、调试和维护时使用。仿真系统可以模拟硬件设备的运行，例如面板的传输、面板的进站、面板的开关电、面板的切图以及面板的拍照等，可以显示AOI检测的详细结果。

目前AOI自动光学检测系统的测试需要到达客户现场进行，从研发基地到客户现场需要耗费一到两天的时间，每个客户现场检测设备还可能不一样，需要花费很多时间来完成调试工作，并且产线一般都处于无尘环境中，为维持无尘车间的洁净度，进行调试的工作人员也必须穿着包括帽子、工作服、口罩、袜套和橡胶手套在内的无尘服进行工作，无尘服不仅穿戴麻烦，而且透气性差，长时间穿戴会导致身体上的不适。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种用于面板检测的仿真系统及方法，通过在电脑上模拟面板检测设备运行，减少了产线上必须的准备工作，提高了工作效率，降低了开发及维护成本。

为实现上述目的，本发明第一方面提供一种用于面板检测的仿真系统，该系统与AOI自动光学检测系统连接，所述仿真系统包括设备仿真模块和PLC指令仿真模块；其中，

所述设备仿真模块用于创建有面板检测设备的仿真运行场景，用于执行面板检测设备的仿真运行操作；

所述PLC指令仿真模块用于根据接收所述设备仿真状态触发AOI自动光学检测系统运行，并接收将AOI自动光学检测系统的运行结果反馈至所述设备仿真模块。

进一步地，所述设备仿真模块包括第一配置模块、功能控制模块和第一界面显示模块；其中，

所述第一配置模块用于对所述面板检测设备的设备信息进行配置；

所述第一界面显示模块面用于显示所述面板检测设备的仿真运行场景；

所述功能控制模块用于根据接收到的指令对所述面板检测设备执行仿真运行操作。

进一步地，所述第一界面显示模块还包括人机交互界面，所述第一界面显示模块接收用户通过界面操作输入的执行控制信息，并发送至功能控制模块；

所述功能控制模块还用于生成设备状态信息发送至PLC指令仿真模块；同时接收PLC指令仿真模块发送的检测结果信息。

进一步地，所述PLC指令仿真模块包括第二配置模块、扫描模块、发送接收模块和第二界面显示模块；

所述第二配置模块用于对PLC指令参数进行配置；

所述发送接收模块用于设备仿真模块与AOI自动光学检测系统之间的信息交互接收；

所述扫描模块用于监控PLC输入/输出点位的变化以通过所述发送接收模块触发设备仿真模块或AOI自动光学检测系统进行相应的动作；

所述第二界面显示模块用于显示PLC输入/输出点位状态。

进一步地，所述PLC指令参数包括心跳时间、扫描时间、PLC输入/输出点位；设备仿真模块与AOI自动光学检测系统之间的交互信息包括设备状态、变化点位、从AOI发送的功能控制、检测结果。

进一步地，所述第二配置模块中PLC输入/输出点位包括Bit点位、Short点位、String点位、Float点位、Int32点位和数据块点位。

进一步地，所述Bit点位状态包括0和1；其中，

当所述点位状态为0时，界面显示成灰色的提示灯，表示暂无检测任务；

当所述点位状态为1时，界面显示成绿色的提示灯，表示正在执行检测任务。

本发明第二方面提供一种用于面板检测的仿真方法，应用如上所述的面板检测设备仿真系统进行面板检测，包括：

S1：设备仿真模块根据接收到的指令执行面板检测设备的仿真运行操作；

S2：PLC指令仿真模块根据面板检测设备的仿真运行的状态触发AOI自动光学检测系统运行；

S3：AOI自动光学检测系统将控制指令或检测结果通过PLC指令仿真模块反馈给设备仿真模块；

S4：设备仿真模块根据接收到的指示重复步骤S1或者准备进入下一个流片检测程序。

本发明第三方面提供一种面板检测装置，包含AOI自动光学检测系统以及如上所述的用于面板检测的仿真系统。

本发明第四方面提供一种计算机设备，包括存储器、处理器，所述存储器上存储有可在处理器上运行的上述用于面板检测的仿真系统。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：

(1)本发明提供的一种用于面板检测的仿真系统，将客户现场产线上运行的设备到电脑上进行模拟，可以选择不同客户现场的设备进行调试，免去了从研发基地去客户现场的时间及差旅费，降低了成本，提高了工作效率；

(2)本发明提供的一种用于面板检测的仿真系统，通过模拟面板检测设备的运行过程，可以培训新员工，缩短熟悉面板检测设备功能的时间，免去了去客户现场产线中去熟悉设备功能，减少了产线上必须的准备工作，提高了工作效率，改善了员工的学习环境；

(3)本发明提供的一种用于面板检测的仿真系统，可以在研发基地调试AOI自动光学检测系统，在软件进入产线正式生产前完成调试，可以暴露一部分bug，提高软件的稳定性，降低进入产线后因为软件bug导致的停产风险。

附图说明

图1是按照本发明实施例实现一种用于面板检测的仿真系统的结构示意图；

图2是按照本发明实施例实现一种用于面板检测的仿真系统的流程示例图；

图3是按照本发明实施例实现一种用于面板检测的仿真方法的流程示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

需要说明的是，本发明涉及的术语“第一\第二”仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序。应该理解“第一\第二”区分的对象在适当情况下可以互换，以使这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里描述或图示的那些以外的顺序实施。

图1是本发明一种实施例提供的用于面板检测的仿真系统的结构示意图，如图1所示，该面板检测设备仿真系统包括设备仿真模块和PLC指令仿真模块；该系统与AOI自动光学检测系统相连，供AOI自动光学检测系统的研发、调试和维护时使用，该仿真系统各模块的功能包括：

设备仿真模块用于创建有面板检测设备的仿真运行场景，用于执行面板检测设备的仿真运行操作。进一步地，设备仿真模块根据接收到的指令执行面板检测设备的仿真运行操作，并根据仿真运行场景的模拟状态和执行过程生成设备状态信息发送至PLC指令仿真模块；同时接收PLC指令仿真模块反馈的功能控制信息和/或检测结果信息。

PLC指令仿真模块用于根据接收设备仿真状态触发AOI自动光学检测系统运行，并接收将AOI自动光学检测系统的运行结果反馈至所述设备仿真模块。进一步地，PLC指令仿真模块接收设备状态信息，并转化为第一PLC指令传输至AOI自动光学检测系统；同时，接收AOI自动光学检测系统完成检测后反馈发送的第二PLC指令，转化为检测结果信息发送至设备仿真模块。

更进一步地，PLC全称为Programmable Logic Controller，指的可编程逻辑控制器，用于根据运行程序控制和监控机构运动硬件设备，PLC指令仿真模块就是用来模拟PLC设备。本实施方式中，PLC指令仿真模块主要用于将设备仿真模块发送的信号转化为PLC指令发送至AOI自动光学检测系统，再接收AOI自动光学检测系统发送的PLC指令转化为信号发送至PLC指令仿真模块，PLC指令包括基本输入指令和应用指令。

更进一步地，模拟的面板检测设备包括检测工站、传输设备、相机设备和PG设备；仿真运行场景包括面板的传输、面板的进站、面板的开关电(把面板通电/断电，屏幕显示/黑屏)、面板的切图(使面板显示不同颜色的画面)以及面板的拍照(对面板的显示画面进行拍照采集检测结果)。

进一步地，仿真运行过程包括面板经传输设备进入检测工站，PG设备对面板进行开关电操作，相机设备对面板显示画面进行拍照检测。

本实施例提供的仿真系统可以模拟硬件设备的运行，例如面板的传输、面板的进站、面板的开关电、面板的切图以及面板的拍照，可以显示AOI检测的详细结果。将客户现场产线上运行的设备到电脑上进行模拟，可以选择不同客户现场的设备进行调试，免去了从研发基地去客户现场的时间及差旅费，减少了产线上必须的准备工作，在软件进入产线正式生产前完成调试，可以暴露一部分bug，提高软件的稳定性，提高了工作效率，降低了成本；

图2是本发明实施例提供的用于面板检测仿真系统的流程示例图，如图2所示，设备仿真模块包括第一配置模块、功能控制模块和第一界面显示模块；其中，

第一配置模块用于对面板检测设备的设备信息进行配置；其中，设备信息包括设备类型信息、设备数量信息、设备连接方式信息、面板ID信息和面板数量信息

第一界面显示模块面用于显示面板检测设备的仿真运行场景；

功能控制模块用于根据接收到的指令对面板检测设备执行仿真运行操作。进一步地，功能控制模块生成设备状态信息发送至PLC指令仿真模块；同时接收PLC指令仿真模块发送的检测结果信息。

作为本实施例的一个优选，第一界面显示模块还包括人机交互界面，第一界面显示模块还用于接收用户通过界面操作输入的执行控制信息，发送至功能控制模块；并从功能控制模块获取检测结果信息；其中，仿真运行场景包括设备图像和检测图像；第一界面显示模块接收执行控制信息生成设备图像；设备图像包括设备类型图像、设备运行图像和设备连接图像；第一界面显示模块接收检测结果信息生成检测图像；检测图像包括面板的开关电状态图像和显示状态图像。

进一步地，AOI自动光学检测系统发送的第二指令包括功能控制信息和/或检测结果信息，经PLC指令仿真模块逻辑信号处理再发送至设备仿真模块中的功能控制模块；功能控制模块再将功能控制信息和/或检测结果信息传送至第一界面显示模块，检测结果信息生成检测图像通过模拟的仿真场景界面进行显示，功能控制信息生成设备图像通过模拟的仿真场景界面进行显示。

进一步，用户可以根据检测需求通过人机交互界面的界面操作输入的执行控制信息，第一界面显示模块收到执行控制信息后发送至功能控制模块执行相应的仿真检测操作，同时将执行控制信息生成设备图像，通过模拟的仿真场景界面进行显示。

作为本实施例的一个优选，该设备仿真模块能够模拟多种类型设备的运行过程，例如：旋转型检测设备、线型检测设备、人工操作独立检测设备；多种设备在一台电脑上模拟，可以任意切换设备类型。

作为本实施例的一个优选，第一界面显示模块实时显示设备的运行状态包括上料、压接、开电、切图、取相、转动、关电、下料。方便培训人员了解设备的运行流程，不用进入到客户现场产线进行了解；同时也方便了测试人员调试。

本实施例中，PLC指令仿真模块包括第二配置模块、扫描模块、发送接收模块和第二界面显示模块；其中，

第二配置模块用于对PLC指令参数进行配置；进一步地，第二配置模块根据接收的设备状态信息配置PLC指令参数生成第一PLC指令，PLC指令参数包括心跳时间、扫描时间、PLC输入/输出点位；发送接收模块用于发送第一PLC指令至AOI自动光学检测系统，并接收AOI自动光学检测系统发送的第二PLC指令；扫描模块用于扫描第二PLC指令的PLC输入点位的变化，生成检测结果信息发送至设备仿真模块；第二界面显示模块用于显示PLC输入/输出点位状态。

进一步地，PLC指令仿真模块作用原理主要是将设备仿真模块发送的信号转化为PLC指令，再与AOI自动光学检测系统中的PLC硬件设备进行PLC指令的交互，并将反馈的PLC指令再次转化为反馈信号传输给设备仿真模块进行相应的动作。PLC指令仿真模块与AOI自动光学检测系统中的PLC硬件设备建立连接，PLC指令仿真模块中第二配置模块首先根据设备仿真模块发送的设备状态信息首先配置心跳时间以及PLC输出点位，通过PLC输出点位生成第一PLC指令，并在相应的心跳时间间隔内通过发送接收模块将第一PLC指令发送至AOI自动光学检测系统，第一PLC指令的点位为PLC输出点位，PLC输出点位为只能由PLC指令仿真模块写且也只能由AOI自动光学检测系统读的点位，AOI自动光学检测系统中的PLC硬件设备对第一PLC指令的点位进行扫描转化为信号并进行相应的动作。同时，AOI自动光学检测系统中的PLC硬件设备将反馈的功能控制信息和/或检测结果信息以第二PLC指令的方式发送至PLC指令仿真模块的发送接收模块，第二PLC指令的点位为PLC输入点位，PLC输入点位为只能由AOI自动光学检测系统写且只能由PLC指令仿真模块读的点位，PLC指令仿真模块中的发送接收模块接收第二PLC指令后，并传输至扫描模块，此时第二配置模块再次配置扫描时间，扫描模块在相应的扫描时间内对第二PLC指令的点位进行扫描获取PLC输入点位，再转化为检测结果信息发送给设备仿真模块进行相应的动作。PLC输入/输出点位制定规则遵循读-写协议，可以通过第二配置模块进行配置。

进一步地，心跳时间是发送心跳的间隔时间，即多久发送一次心跳，发送心跳就是通过写心跳点位的值(写0和写1间隔写)；扫描时间是扫描PLC指令的PLC输入点位的变化时间。

进一步地，PLC点位分为输入和输出两种，输入点位是由AOI自动光学检测系统的PLC硬件设备发送的第二PLC指令的点位，且只能PLC指令仿真模块读的点位，主要用于AOI自动光学检测系统给PLC指令仿真模块进行发送的数据；输出点位是由PLC指令仿真模块发送的第一PLC指令的点位，且只能AOI自动光学检测系统读的点位，主要用于PLC指令仿真模块给AOI自动光学检测系统进行发送的数据。

进一步地，发送接收模块发送给AOI自动光学检测系统的数据是设备状态信息换成的第一PLC指令，而从AOI自动光学检测系统接收的数据是检测控制信息和检测结果信息转换后的第二PLC指令。

进一步地，发送接收模块同时将第二PLC指令发送给扫描模块，从而使扫描模块扫描第二PLC指令的点位，即PLC输入点位的变化。而第二配置模块接收执行控制信息对PLC指令参数进行配置生成第一PLC指令，再将第一指令发送至发送接收模块，发送接收模块再将第一指令发送至AOI自动光学检测系统。

本实施例中，PLC指令仿真模块包括第二配置模块、扫描模块、发送接收模块、接收模块和第二界面显示模块；第二配置模块用于心跳时间、扫描时间、PLC输入输出点位；扫描模块用于扫描变化的PLC输入点位的变化，把变化的点位发送给功能控制模块执行相应的操作；发送接收模块用于将设备状态信息转为成为PLC输出点位，把变化点位信息发送给AOI自动光学检测系统，同时，接收从AOI自动光学检测系统发送的功能控制、检测结果等数据；第二界面显示模块用于显示PLC点位状态。

作为本实施例的一个优选，其第二配置模块中PLC输入/输出点位包括Bit点位、Short点位、String点位、Float点位、Int32点位和数据块点位；第二界面显示模块中PLC输入/输出点位状态包括0和1；

进一步地，PLC指令仿真模块与AOI自动光学检测系统之间传输的PLC输入/输出点位数据具有不同类型，包括6种数据类型：Bit点位、Short点位、String点位、Float点位、Int32点位和数据块点位，上述数据为可写入PLC指令仿真模块中的编程字符，可根据PLC指令仿真模块与AOI自动光学检测系统设定的协议规则来指定相应的点位类型。不同类型点位占用的内存长度是不一样的，从而实现完成不同的功能：

Bit点位长度是一个字节中的一位，一个字节有8位，值只有0和1，用法：值为1的时候触发某个功能开启，如通知AOI面板到达；

Short点位长度是2个字节，用法：除了0和1外，还要传输其他的数字时，如-32767～32768这个范围内的，就需要使用到short点位；

String点位长度不固定，根据要传输字符串的长度来决定，用法：面板到达的时候需要传输玻璃ID(ABC001)就需要使用此类型点位；

Float点位长度是4个字节，用法：用来传输浮点型数据，如34.56，带小数点的，用来传输检测结果中浮点型数据；

Int32点位长度是4个字节，用法：用来传输值的范围-2147483648～+2147483647；用来传输检测结果中Int32型数据；

数据块点位长度不固定，根据要传输的数据块的长度来决定，用法：数据块就是一个内存块，把十六进制检测结果存放在内存块进行传输。

更进一步地，当PLC输入/输出点位为Bit点位，则该Bit点位状态包括0和1；其中，其中，当点位状态为0时，界面显示成灰色的提示灯，表示暂无检测任务；

其中，当点位状态为0时，界面显示成绿色的提示灯，表示正在执行检测任务。由此便于查找分析问题，提高软件可靠性。

相比于现有的调试方式，本发明提供的面板检测设备仿真系统，将客户现场产线的调试工作移到了研发基地办公区域，免去了从研发基地去客户现场的时间及差旅费，降低了成本，提高了工作效率，减少了产线上必须的准备工作，改善了调试人员的工作环境。

如图3所示，本发明基于上述实施例提供一种用于面板检测的仿真方法，包括：

S1：设备仿真模块根据接收到的指令执行面板检测设备的仿真运行操作；

S2：PLC指令仿真模块根据面板检测设备的仿真运行的状态触发AOI自动光学检测系统运行；

S3：AOI自动光学检测系统将控制指令或检测结果通过PLC指令仿真模块反馈给设备仿真模块；

S4：设备仿真模块根据接收到的指示重复步骤S1或者准备进入下一个流片检测程序。

作为本实施例的一个优选，提供一种用于面板检测的仿真方法，包括：

S11：设备仿真模块根据检测需求用户输入执行控制信息执行面板检测设备的仿真运行操作；再根据仿真运行场景的模拟状态和执行过程生成设备状态信息；

S12：PLC指令仿真模块根据设备状态信息转化为第一PLC指令，并通过读写点位传输至AOI自动光学检测系统运行；

S13：AOI自动光学检测系统将控制指令和/或检测结果生成的第二PLC指令经PLC指令仿真模块反馈给设备仿真模块；

S14：设备仿真模块根据接收到的指示重复步骤S1或者准备进入下一个流片检测程序。

作为本实施例的一个优选，提供一种用于面板检测的仿真方法，包括：

S21：设备仿真模块根据检测需求输入面板进站的执行控制信息，执行面板进站的仿真运行操作，生成面板进站设备状态信息；

S22：PLC指令仿真模块根据将面板进站设备状态信息转化为第三PLC指令，并通过读写点位传输至AOI自动光学检测系统运行；

S23：AOI自动光学检测系统将控制指令生成第四PLC指令；PLC指令仿真模块将第四PLC指令转化为开电采集检测控制信息和面板开/关检测结果信息，设备仿真模块执行面板开/关电和面板拍照的仿真检测操作，并显示面板开/关电状态的仿真检测结果；

S24：设备仿真模块根据接收到的指示重复步骤S1或者准备进入下一个流片检测程序。

作为本实施例的一个优选，提供一种用于面板检测的仿真方法，包括：

S31：设备仿真模块根据检测需求输入面板切图执行控制信息，执行面板切图的仿真运行操作，生成面板切图设备状态信息；

S32：PLC指令仿真模块根据将面板切图设备状态信息转化为第五PLC指令，并通过读写点位传输至AOI自动光学检测系统运行；

S33：AOI自动光学检测系统将控制指令生成第六PLC指令；PLC指令仿真模块将第六PLC指令转化为切换面板显示颜色检测控制信息和面板切图检测结果信息，设备仿真模块执行切换面板显示颜色和面板拍照的仿真检测操作，并显示面板切图状态的仿真检测结果；

S34：设备仿真模块根据接收到的指示重复步骤S1或者准备进入下一个流片检测程序。

本发明基于上述实施例还提供一种面板检测装置，包含AOI自动光学检测系统以及如上所述的用于面板检测的仿真系统。

本发明基于上述实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器，该存储器上存储有可在处理器上运行的如上所述的用于面板检测的仿真系统。

应当理解，本发明的方法、结构图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。

Claims (10)

1.一种用于面板检测的仿真系统，该系统与AOI自动光学检测系统连接，其特征在于，所述仿真系统包括设备仿真模块和PLC指令仿真模块；其中，

所述设备仿真模块用于创建有面板检测设备的仿真运行场景，用于执行面板检测设备的仿真运行操作；

所述PLC指令仿真模块用于根据接收所述设备仿真状态触发AOI自动光学检测系统运行，并接收将AOI自动光学检测系统的运行结果反馈至所述设备仿真模块。

2.根据权利要求1所述的用于面板检测的仿真系统，其特征在于，所述设备仿真模块包括第一配置模块、功能控制模块和第一界面显示模块；其中，

所述第一配置模块用于对所述面板检测设备的设备信息进行配置；

所述第一界面显示模块用于显示所述面板检测设备的仿真运行场景；

所述功能控制模块用于根据接收到的指令对所述面板检测设备执行仿真运行操作。

3.根据权利要求2所述的用于面板检测的仿真系统，其特征在于，所述第一界面显示模块还包括人机交互界面，所述第一界面显示模块接收用户通过界面操作输入的执行控制信息，并发送至功能控制模块；

所述功能控制模块还用于生成设备状态信息发送至PLC指令仿真模块；同时接收PLC指令仿真模块发送的检测结果信息。

4.根据权利要求1所述的用于面板检测的仿真系统，其特征在于，所述PLC指令仿真模块包括第二配置模块、扫描模块、发送接收模块和第二界面显示模块；

所述第二配置模块用于对PLC指令参数进行配置；

所述发送接收模块用于设备仿真模块与AOI自动光学检测系统之间的信息交互接收；

所述扫描模块用于监控PLC输入/输出点位的变化以通过所述发送接收模块触发设备仿真模块或AOI自动光学检测系统进行相应的动作；

所述第二界面显示模块用于显示PLC输入/输出点位状态。

5.根据权利要求1所述的用于面板检测的仿真系统，其特征在于，

所述PLC指令参数包括心跳时间、扫描时间、PLC输入/输出点位；

设备仿真模块与AOI自动光学检测系统之间的交互信息包括设备状态、变化点位、从AOI发送的功能控制、检测结果。

6.根据权利要求4所述的用于面板检测设备仿真系统，其特征在于，所述第二配置模块中PLC输入/输出点位包括Bit点位、Short点位、String点位、Float点位、Int32点位和数据块点位。

7.根据权利要求6所述的用于面板检测设备仿真系统，其特征在于，所述Bit点位状态包括0和1；其中，

当所述点位状态为0时，界面显示成灰色的提示灯，表示暂无检测任务；

当所述点位状态为1时，界面显示成绿色的提示灯，表示正在执行检测任务。

8.一种用于面板检测的仿真方法，应用如权利要求1-7任一项所述的面板检测设备仿真系统进行面板检测，其特征在于，包括：

S1：设备仿真模块根据接收到的指令执行面板检测设备的仿真运行操作；

S2：PLC指令仿真模块根据面板检测设备的仿真运行的状态触发AOI自动光学检测系统运行；

S3：AOI自动光学检测系统将控制指令或检测结果通过PLC指令仿真模块反馈给设备仿真模块；

S4：设备仿真模块根据接收到的指示重复步骤S1或者准备进入下一个流片检测程序。

9.一种面板检测装置，其特征在于，包含AOI自动光学检测系统以及如权利要求1-7任一项所述的用于面板检测的仿真系统。

10.一种计算机设备，包括存储器、处理器，其特征在于，所述存储器上存储有可在处理器上运行的如权利要求1至7中任一项权利要求所述的用于面板检测的仿真系统。

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