CN111665985A - 触控采样控制方法、装置、终端和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种触控采样控制方法、装置、终端和存储介质。所述方法包括：获取触控区域多次被触压时的触控数据；根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。采用本方法能够降低触控采样的功耗。

Description

触控采样控制方法、装置、终端和存储介质

技术领域

本申请涉及终端技术领域，特别是涉及一种触控采样控制方法、装置、终端和存储介质。

背景技术

随着终端技术的发展，各种电子产品在人们工作和生活娱乐中得到了广泛的应用，如智能手机终端、平板电脑、笔记本电脑等。目前，越来越多的电子产品通过设置的触控屏幕实现人机交互，如用户通过触摸屏幕来实现对电子产品的各种操作。触控屏幕通过对终端的屏幕进行采样，以检测出用户对终端的操作。

然而，用户与终端的交互频繁，为了确保能够及时响应用户对终端的操作，终端触控屏幕的采样频率较高，导致屏幕进行触控采样的功耗较高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够降低触控采样功耗的触控采样控制方法、装置、终端和存储介质。

一种触控采样控制方法，所述方法包括：

获取触控区域多次被触压时的触控数据；

根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；

控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

在其中一个实施例中，触控数据包括触控区域在每次被触压时的触压时间以及在触压时间内产生的压力数据；根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数包括：

根据触压时间以及压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻；

根据起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻，确定触控区域的目标触控采样参数。

在其中一个实施例中，压力数据包括在触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；根据触压时间以及压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻包括：

根据压力数据中各压力值之间的数值关系，确定触控区域每次被触压时的压力峰值；

根据压力峰值和预设的触控触发条件，确定触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值；

根据触压时间与压力数据之间的对应关系，分别确定起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻。

在其中一个实施例中，目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期；根据起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻确定触控区域的目标触控采样参数包括：

根据触控区域每次被触压时的起始压力值，确定目标触控压力门限值，起始压力值由触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到；

根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差，确定触控区域每次被触压时的采集持续时间；

根据各采集持续时间确定目标触控采集时间；

根据每相邻两个压力峰值时刻之间的时间差确定触控区域的目标触控采样周期；

根据目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期得到触控区域的目标触控采样参数。

在其中一个实施例中，控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样包括：

根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令；

发送采样参数调整指令至触控区域，采样参数调整指令用于控制触控区域将当前的触控采样参数调整为目标触控采样参数并按照目标触控采样参数进行触控采样。

在其中一个实施例中，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令包括：

确定触控区域当前的触控采样参数；

当当前的触控采样参数与目标触控采样参数不一致时，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令。

一种触控采样控制装置，所述装置包括：

触控数据获取模块，用于获取触控区域多次被触压时获得的触控数据；

触控数据分析模块，用于根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；

触控采样控制模块，用于控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

一种终端，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

获取触控区域多次被触压时的触控数据；

根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；

控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取触控区域多次被触压时的触控数据；

根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；

控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

上述触控采样控制方法、装置、终端和存储介质，根据触控区域多次被触压时的各触控数据确定目标触控采样参数，并控制触控区域按照该目标触控采样参数进行触控采样，通过控制触控区域按照由历史触控数据学习到的触控采样参数进行触控采样，使触控区域的触控采样作业与该触控区域的实际工作环境相对应，能够避免触控区域进行多余的触控采样作业，有效降低了触控采样的功耗。

附图说明

图1为一个实施例中触控采样控制方法的应用环境图；

图2为一个实施例中触控采样控制方法的流程示意图；

图3为一个实施例中压力数据曲线；

图4为一个实施例中确定目标触控采样参数的流程示意图；

图5为另一个实施例中触控采样控制方法的流程示意图；

图6为一个实施例中触控采样控制装置的结构框图；

图7为一个实施例中终端的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请提供的触控采样控制方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，用户可以通过触压终端102的触控区域，具体可以为通过触摸或按压终端102的触控屏或触控按键对终端102进行控制，如解锁屏幕、打开终端102中应用程序，调整终端的音量等。终端102根据触控区域多次被触压时所产生的触控数据确定目标触控采样参数，并控制触控区域按照该目标触控采样参数进行触控采样，以采样用户对终端102的触压操作。其中，终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。触控区域可以是终端102的屏幕，也可以是终端102的侧边框或后盖的至少部分区域。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种触控采样控制方法，以该方法应用于图1中的终端为例进行说明，包括以下步骤：

步骤S202，获取触控区域多次被触压时的触控数据。

其中，触控就是不通过物理按键，而是以手指或触控笔接触终端设备来进行操作的技术，触控技术依感应原理可分为电阻式、电容式、音波式及光学式等四种。触控区域可以为终端上设置的可以实现触控的区域，如可以为终端的屏幕、侧边框或后盖上的部分或全部区域。触压即为用户通过手指或触控笔接触终端的触控区域以实现对终端的操作，触控数据为用户触压终端的触控区域时，触控区域的传感器采集到的与该次触压相关的数据，具体可以包括但不限于包括触压时间，即触压作用与触控区域的有效作用时间。

具体地，触控数据通常由触控区域的触摸感应元件产生，为了能够在用户触压触控区域时，及时检测到用户的触压动作，触控区域需要经常对触摸感应元件进行扫描，即采样触摸感应元件所产生的触控数据。终端获取触控区域每次被用户触压时的触控数据，从而根据触控数据判断用户是否对触控区域执行了触压操作。一般地，在与终端交互时，用户会通过触压终端的触控区域以控制终端进行相应操作，如通过触压终端的屏幕中显示的应用程序图标，以打开终端的应用程序。不同的用户在对终端的控制过程中，触控数据会有不同，如不同的触控持续时间、触控力度、触控间隔等，而传统终端一般按照预先固定设置的采样参数进行触控采样，无法有效满足各用户对终端触控响应的灵敏度需求，影响用户的使用体验。

步骤S204，根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数。

其中，触控采样参数为触控区域进行触控采样作业的作业参数，具体可以包括触控采样周期或触控采样频率。其中，触控采样周期用于描述触控区域进行触控采样时相邻两次采样之间的间隔时间。触控采样频率用于描述触控区域在特定时长内进行触控采样的次数。当触控采样周期延长或触控采样频率降低时，能够降低触控采样的功耗。

此外，触控采样参数还可以包括触控采样时间，触控采样时间即为触控区域进行一次触控采样时的持续时间；当触控采样时间缩短时，也能够降低触控采样的功耗。

本实施例中，根据触控区域多次被触压时的各触控数据对用户的触控习惯进行分析，得到目标触控采样参数。目标触控采样参数具体可以包括但不限于包括触控采集时间、触控采样周期和触控采样频率等至少一种参数。一般地，不同的用户有不同的触压操作习惯，根据用户对触控区域进行多次触压获得的触控数据分析得到目标触控采样参数，可以使触控区域根据用户的触压习惯进行触控采样，能够使触控区域的触控采样作业与用户的触压习惯相匹配，而无需始终保持较高的触控采样频率和较长的单次触控采样时间，因此，能够有效降低终端的触控区域触控采样作业的功耗。

步骤S206，控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

得到对应于用户触压操作习惯的触控区域的目标触控采样参数后，控制触控区域按照该目标触控采样参数进行触控采样，从而使触控区域的触控采样作业与用户触压习惯对应，可以在准确对用户触压进行响应的前提下，减少触控区域进行多余触控采样作业的功耗。具体地，可以通过生成与目标触控采样参数对应的指令以调整触控区域的触控采样作业。

上述触控采样控制方法中，根据触控区域多次被触压时的各触控数据确定目标触控采样参数，并控制触控区域按照该目标触控采样参数进行触控采样，通过控制触控区域按照由历史触控数据学习到的触控采样参数进行触控采样，使触控区域的触控采样作业与用户的使用习惯相对应，能够避免触控区域进行多余的触控采样作业，有效降低了触控采样的功耗。

在一个实施例中，触控数据包括触控区域在每次被触压时的触压时间以及在触压时间内产生的压力数据；根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数包括：根据触压时间以及压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻；根据起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻，确定触控区域的目标触控采样参数。

本实施例中，触压时间为触控区域被触压的持续时间。触控区域在被触压时，记录该触压时间，具体可以通过监测触控区域多次被触压时，触控压力的持续作用时间，从而得到触控区域在各次被触压时的触压时间。

进一步地，根据各触压时间确定用户每次触压终端的触控区域时的作用时间，触压时间可以为绝对时间，即触压时间可以为实际记录的各个时刻值；也可以为相对时间，即可以为参照某个时间点的间隔时间。

具体地，得到触控区域在每次被触压时的触压时间后，对触控区域在每次被触压时的触压时间进行分析，确定每次被触压时的触压时间特征，具体可以根据各触压时间以及压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻。其中，起始压力时刻为判定触压生效时对应的时刻，即为用户触压触控区域时施加的压力大小有效触发触控区域进行触控采样的时刻；用户在一次触压过程中，一般触控区域检测到的压力会经历由小到大再到小的过程，对应于用户触压时施压从有到无再释放的过程，压力峰值时刻即为用户触压过程中最大施压所对应的时刻；结束压力时刻即为用户释放施压的时刻，具体可以为触控区域根据采集的压力大小判定当次触控结束，用户已释放施压所对应的时刻。

得到触控区域在每次被触压时的触压时间特征，具体包括起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻后，基于起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻确定触控区域的目标触控采样参数。例如，可以根据每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻确定该次被触压的持续作用时间，即为触控区域需要进行触控采样的采集时间，目标触控采样参数可以包括该采集时间。

本实施例中，根据触控区域在多次被触压时的触压时间特征确定触控区域的目标触控采样参数，使触控区域按照适应于用户触压操作习惯的目标触控采样参数进行触控采样作业时，能够避免触控区域进行无用的或多余的触控采样作业，有效降低了触控采样的功耗。

在一个实施例中，压力数据包括在触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；根据触压时间以及压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻包括：获取触压时间对应的压力数据；根据压力数据中各压力值之间的数值关系，确定触控区域每次在被触压时的压力峰值；根据压力峰值和预设的触控触发条件，确定触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值；根据触压时间与压力数据之间的对应关系，分别确定起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻。

本实施例中，压力数据包括在触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；根据各触压时间对应的压力数据的压力值大小关系，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻。具体地，获取触压时间对应的压力数据，压力数据为用户触压触控区域过程中，触控区域的压力传感器检测的各个时刻对应的压力数据。一般地，压力触控工作可以分为三个阶段，分别为启动阶段、采集阶段和低功耗等待阶段；其中，启动阶段指触控区域由非工作开始进行初始化而开始进入工作的阶段；采集阶段指触控区域的压力传感器采集压力数据并作出响应的阶段；低功耗等待阶段为非工作阶段，指一次触控采样完成以后，到下一次触控采样开始之间的阶段。不同的阶段对应不同的触压时间和压力数据。如图3所示，为一个实施例中触控区域的压力传感器检测到的压力数据随时间变化的压力曲线，从中可以发现在两次触压过程中，触控区域采集到的压力数据均经历小到大再回归小的过程。

得到触压时间对应的压力数据后，根据压力数据中各压力值之间的数值关系确定触控区域每次在被触压时的压力峰值。其中，压力值反映压力数据的大小属性，反映了用户在相应触压时间对触控区域触压时施加的压力大小；压力峰值为用户在触压触控区域时所施加的最大压力数值，压力峰值可以根据触压时间对应的各压力数据中数值最大的压力值确定。如图3中，纵坐标为压力值，横坐标为时间，在第一次触压过程中最大的压力值，即压力峰值为Tmax。从触压时间对应的各压力数据中确定压力峰值后，获取预设的触控触发条件，并根据压力峰值和触控触发条件确定触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值。其中，触控触发条件可以为判定触控采样作业启动和结束的条件，起始压力值和结束压力值即对应于触发触控区域进行一次触控数据采集的起始点和结束点，起始压力值和结束压力值可以根据触控触发条件与压力峰值确定。如图3中触控触发条件为0.1Tmax，即当触控区域检测到的压力上升达到峰值的0.1倍时，认为这是一次触压操作的开始时间；同时在触控区域检测到的压力下降达到峰值的0.1倍时，认为这是一次触压操作的结束时间。触压操作的开始时间与结束时间之间的时间差T1则为用户进行一次触压操作时的持续触压时长。

确定压力峰值、起始压力值和结束压力值等数值信息后，根据压力峰值、起始压力值和结束压力值对应压力数据与触控时间的对应关系，确定起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻。其中，起始压力时刻为起始压力值所对应的触压时刻，压力峰值时刻为压力峰值对应的触压时刻，结束压力时刻为结束压力值所对应的触压时刻。如图3中，t_1s、t_1m和t_1f分别为用户第一次触压操作时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻。进一步地，t_1s和t_1m之间的T1即为第一次触压操作的有效采集的时长，T2为第一次和第二次触压操作之间的时间间隔，具体根据两次触压操作分别对应的压力峰值时刻之间的时间间隔得到。

作为一种实施方式，可根据用户多次进行触压操作对应的压力数据的平均值或其他统计值，确定用户进行触压操作时惯常的触压持续时长和触压时间间隔，并据此调整目标采样参数中的目标触控采集时间和目标触控采样周期，使其适应于用户的触压操作习惯。

本实施例中，根据各触压时间对应压力数据的压力值的数值关系，结合预设的触控触发条件确定触控区域每次被触压时的压力峰值、起始压力值和结束压力值，进一步根据压力数据与触压时间之间的对应关系得到起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻，可以准确得到触控区域每次被触压时的触压时间特征，以用于调节后续的触控采样参数，使其适应于用户的触压操作习惯，从而避免触控区域进行无用的或多余的触控采样作业，降低触控采样的功耗。

在一个实施例中，目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期；如图4所示，确定目标触控采样参数的处理，即根据起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻确定触控区域的目标触控采样参数包括：

步骤S402，根据触控区域每次被触压时的起始压力值，确定目标触控压力门限值，起始压力值由触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到。

本实施例中，目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间、目标触控采样周期。其中，目标触控压力门限值为对应于用户的触控习惯，触发触控区域进行触控采样的压力门限阈值；目标触控采集时间为对应于用户的触控习惯，触控区域在进行触控采样作业时的采集持续时间；目标触控采样周期为对应于用户的触控习惯，触控区域在不同次进行触控采样作业的间隔时间，目标触控采样周期反映了触控区域进行触控采样的频率。目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期可以根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻得到。

具体地，根据得到的触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻确定目标触控采样参数时，根据触控区域每次被触压时的起始压力值确定目标触控压力门限值，起始压力值由触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到。具体可以根据各次被触压时的起始压力值的均值，作为目标触控压力门限值，均值不限于算术平均值或加权平均值。触控触发条件可以预先设置，具体可以为限定压力峰值与起始压力值之间关系的条件，如可以包括起始压力值为压力峰值的0.1倍。目标触控压力门限值用于控制触控区域进行触控采样的触发，目标触控压力门限值与用于习惯对应，可以避免触控区域在用户未操作时进行无用的进行触控采样，从而避免不必要的功耗。

步骤S404，根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差，确定触控区域每次被触压时的采集持续时间。

其中，采集持续时间反映了触控区域每次被触压时的有效时间，即触控区域每次触压时触控采样作业的作业持续时间，采集持续时间根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差得到。具体可以计算触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差，得到触控区域每次被触压时的采集持续时间。如图3中，T1即为图中第一次触压过程中触控区域的采集持续时间。

步骤S406，根据各采集持续时间确定目标触控采集时间。

得到触控区域各次被触压时的采集持续时间后，根据各采集持续时间得到能够反映用户触控习惯的目标触控采集时间，具体可以将各采集持续时间算术平均值或加权平均值确定为目标触控采集时间。目标触控采集时间用于控制触控区域触发进行触控采样时的持续时间，目标触控采集时间对应于用户习惯，即，根据用户习惯控制单次触控采样时的数据采集时长，可以避免触控区域在进行触控采样时持续时间过长，导致无用功耗增加，或采样持续过短，而影响用户触控的操作体验。

步骤S408，根据每相邻两个压力峰值时刻之间的时间差确定触控区域的目标触控采样周期。

其中，目标触控采样周期反映了触控区域在进行不同次触控采样的频率，根据每相邻两个压力峰值时刻之间的时间差确定，具体可以根据各个时间差的算术平均值或加权平均值得到。如图3中，T2为第一次和第二次触控操作中两个压力峰值时刻之间的时间差。目标触控采样周期用于控制触控区域的进行不同次触控采样的频率，目标触控采样周期与用户习惯对应，可以使触控区域的每一次触控采样均能采样到用户有效的触控数据，从而避免频率过快导致的无用功耗增加或频率过慢导致的灵敏度降低。

步骤S410，根据目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期得到触控区域的目标触控采样参数。

目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期。本实施例中，通过对起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻进行分析，确定目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期，可以有效学习得到用户的触压操作习惯，并基于反映了用户触压操作习惯的目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期可以控制触控区域触控采样作业的参数，以减少触控区域的无用功耗。

在一个实施例中，控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样包括：根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令；发送采样参数调整指令至触控区域，采样参数调整指令用于控制触控区域将当前的触控采样参数调整为目标触控采样参数并按照目标触控采样参数进行触控采样。

本实施例中，通过根据目标触控采样参数生成的采样参数调整指令控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。具体地，控制触控区域的触控采样作业时，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令，例如可以根据目标触控采样参数中的目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期生成调整当前触控压力门限值、当前触控采集时间和当前触控采样周期的调整指令。将采样参数调整指令发送至触控区域，以控制触控区域将当前的触控采样参数调整为目标触控采样参数并按照目标触控采样参数进行触控采样。具体地，触控区域接收到采样参数调整指令后，根据该采样参数调整指令调整相应的触控采样参数，并根据调整后的触控采样参数进行触控采样。具体地，触控采样参数可以包括但不限于包括采样周期、采样频率和采样次数等。通过基于用户的触控操作习惯调整触控区域进行触控采样，可以使触控区域基于反映了用户触压操作习惯的目标触控采样参数进行触控采样，可以在准确对用户触压进行响应的前提下，减少触控区域进行无用触控采样作业的功耗。

在一个实施例中，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令包括：确定触控区域当前的触控采样参数；当当前的触控采样参数与目标触控采样参数不一致时，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令。

本实施例中，在检测到触控区域当前的触控采样参数与目标触控采样参数不一致，即需要进行调整时生成采样参数调整指令，以对触控区域的触控采样参数进行调整。具体地，在得到目标触控采样参数后，确定触控区域当前的触控采样参数，即确定触控区域当前进行触控采样作业时的参数，比较触控区域当前的触控采样参数与目标触控采样参数，若不一致，则表明触控区域当前的触控采样参数与用户触压操作习惯不对应，需要进行调整，则根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令，以在将采样参数调整指令下发至触控区域后调整触控区域的触控采样参数。通过比较触控区域当前的触控采样参数与目标触控采样参数，在不一致时及时生成采样参数调整指令进行调整，可以及时对触控区域的触控采样作业及时进行调整，确保触控区域的触控采样作业与用户的触压操作习惯对应，以减少触控区域的无用功耗消耗。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种触控采样控制方法，包括：

步骤S502，获取触控区域多次被触压时的触控数据；触控数据包括触控区域在每次被触压时的触压时间以及在触压时间内产生的压力数据；

步骤S504，压力数据包括在触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；根据压力数据中各压力值之间的数值关系，确定触控区域每次被触压时的压力峰值；

步骤S506，根据压力峰值和预设的触控触发条件，确定触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值；

步骤S508，根据触压时间与压力数据之间的对应关系，分别确定起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻；

步骤S510，根据触控区域每次被触压时的起始压力值，确定目标触控压力门限值，起始压力值由触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到；

步骤S512，根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差，确定触控区域每次被触压时的采集持续时间；

步骤S514，根据各采集持续时间确定目标触控采集时间；

步骤S516，根据每相邻两个压力峰值时刻之间的时间差确定触控区域的目标触控采样周期；

步骤S518，根据目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期得到触控区域的目标触控采样参数；

步骤S520，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令；

步骤S522，发送采样参数调整指令至触控区域，采样参数调整指令用于控制触控区域将当前的触控采样参数调整为目标触控采样参数并按照目标触控采样参数进行触控采样。

具体地，目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期。根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令包括：确定触控区域当前的触控采样参数；当当前的触控采样参数与目标触控采样参数不一致时，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令。

本实施例中，触控采样控制方法应用于压力触控有关的场景中，包括但不限于包括智能终端触控屏、触控密码屏等，如智能手机的人机交互场景中。具体地，用户启动终端后，终端开始运行，用户通过手指或笔尖触压终端的触控区域如终端的屏幕以对终端进行操作。用户每一次的触压操作中，终端的屏幕进行触控数据采集，当用户释放触压操作后，屏幕没有检测到压力值，则进入低功耗等待状态，等待用户的下一次触压操作。终端获取在用户使用终端，对终端的触控区域进行触压操作过程中的触控数据，用户每次触压触控区域的触控数据可以由压力传感器采集得到并进行存储，压力传感器可以将每次用户使用情况的压力值转换为电信号数据并将连同对应的时间传递给终端以通过数据包的形式进行存储。具体地，终端存储的触控数据包括每次运行中各个时刻的压力值以及压力值所对应触控时间，进一步对存储的触控数据进行分析，以确定用户对终端的触控区域的触压操作习惯，具体可以包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期。在触控区域当前的触控采样参数不同于目标触控采样参数时，生成采样参数调整指令，以在将采样参数调整指令下发至触控区域后调整触控区域的触控采样参数，如可以调整触控区域的压力传感器的作业参数，从而使触控区域基于反映了用户触压操作习惯的目标触控采样参数进行触控采样，可以在准确对用户触压进行响应的前提下，减少触控区域进行无用触控采样作业的功耗。

应该理解的是，虽然图2、4-5的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2、4-5中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种触控采样控制装置600，包括：触控数据获取模块602、触控数据分析模块604和触控采样控制模块606，其中：

触控数据获取模块602，用于获取触控区域多次被触压时获得的触控数据；

触控数据分析模块604，用于根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；

触控采样控制模块606，用于控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

在一个实施例中，触控数据包括触控区域在每次被触压时的触压时间以及在所述触压时间内产生的压力数据；触控数据分析模块604包括时刻分析模块和采样参数确定模块；其中：时刻分析模块，用于根据触压时间以及所述压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻；采样参数确定模块，用于根据起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻，确定触控区域的目标触控采样参数。

在一个实施例中，所述压力数据包括在所述触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；时刻分析模块包括峰值确定模块、触发压力值确定模块和压力时刻确定模块；其中：峰值确定模块，用于根据压力数据中各压力值之间的数值关系，确定触控区域每次被触压时的压力峰值；触发压力值确定模块，用于根据压力峰值和预设的触控触发条件，确定触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值；压力时刻确定模块，用于根据触压时间与压力数据之间的对应关系，分别确定起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻。

在一个实施例中，目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期；采样参数确定模块包括起始压力值模块、持续时间模块、采集时间确定模块、采样周期确定模块和采样参数获得模块；其中：起始压力值模块，用于根据触控区域每次被触压时的起始压力值，确定目标触控压力门限值，起始压力值由触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到；持续时间模块，用于根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差，确定触控区域每次被触压时的采集持续时间；采集时间确定模块，用于根据各采集持续时间确定目标触控采集时间；采样周期确定模块，用于根据每相邻两个压力峰值时刻之间的时间差确定触控区域的目标触控采样周期；采样参数获得模块，用于根据目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期得到触控区域的目标触控采样参数。

在一个实施例中，触控采样控制模块606包括调整指令生成模块和调整指令下发模块；其中：调整指令生成模块，用于根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令；调整指令下发模块，用于发送采样参数调整指令至触控区域，采样参数调整指令用于控制触控区域将当前的触控采样参数调整为目标触控采样参数并按照目标触控采样参数进行触控采样。

在一个实施例中，调整指令生成模块包括当前参数确定模块和参数比较模块；其中：当前参数确定模块，用于确定触控区域当前的触控采样参数；参数比较模块，用于当当前的触控采样参数与目标触控采样参数不一致时，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令。

关于触控采样控制装置的具体限定可以参见上文中对于触控采样控制方法的限定，在此不再赘述。上述触控采样控制装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于终端中的处理器中，也可以以软件形式存储于终端中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种终端，其内部结构图可以如图7所示。该终端包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该终端的处理器用于提供计算和控制能力。该终端的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该终端的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种触控采样控制方法。该终端的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该终端的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是终端外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的终端的限定，具体的终端可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种终端，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

获取触控区域多次被触压时的触控数据；

根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；

控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

在一个实施例中，触控数据包括触控区域在每次被触压时的触压时间以及在触压时间内产生的压力数据；处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据触压时间以及压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻；根据起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻，确定触控区域的目标触控采样参数。

在一个实施例中，压力数据包括在触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据压力数据中各压力值之间的数值关系，确定触控区域每次被触压时的压力峰值；根据压力峰值和预设的触控触发条件，确定触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值；根据触压时间与压力数据之间的对应关系，分别确定起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻。

在一个实施例中，目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期；处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据触控区域每次被触压时的起始压力值，确定目标触控压力门限值，起始压力值由触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到；根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差，确定触控区域每次被触压时的采集持续时间；根据各采集持续时间确定目标触控采集时间；根据每相邻两个压力峰值时刻之间的时间差确定触控区域的目标触控采样周期；根据目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期得到触控区域的目标触控采样参数。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令；发送采样参数调整指令至触控区域，采样参数调整指令用于控制触控区域将当前的触控采样参数调整为目标触控采样参数并按照目标触控采样参数进行触控采样。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：确定触控区域当前的触控采样参数；当当前的触控采样参数与目标触控采样参数不一致时，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取触控区域多次被触压时的触控数据；

根据各触控数据，确定触控区域的目标触控采样参数；

控制触控区域按照目标触控采样参数进行触控采样。

在一个实施例中，触控数据包括触控区域在每次被触压时的触压时间以及在触压时间内产生的压力数据；计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据触压时间以及压力数据，确定触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻；根据起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻，确定触控区域的目标触控采样参数。

在一个实施例中，压力数据包括在触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据压力数据中各压力值之间的数值关系，确定触控区域每次被触压时的压力峰值；根据压力峰值和预设的触控触发条件，确定触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值；根据触压时间与压力数据之间的对应关系，分别确定起始压力值对应的起始压力时刻、压力峰值对应的压力峰值时刻和结束压力值对应的结束压力时刻。

在一个实施例中，目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期；计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据触控区域每次被触压时的起始压力值，确定目标触控压力门限值，起始压力值由触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到；根据触控区域每次被触压时的起始压力时刻和结束压力时刻之间的时间差，确定触控区域每次被触压时的采集持续时间；根据各采集持续时间确定目标触控采集时间；根据每相邻两个压力峰值时刻之间的时间差确定触控区域的目标触控采样周期；根据目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期得到触控区域的目标触控采样参数。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令；发送采样参数调整指令至触控区域，采样参数调整指令用于控制触控区域将当前的触控采样参数调整为目标触控采样参数并按照目标触控采样参数进行触控采样。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：确定触控区域当前的触控采样参数；当当前的触控采样参数与目标触控采样参数不一致时，根据目标触控采样参数生成采样参数调整指令。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种触控采样控制方法，其特征在于，所述方法包括：

获取触控区域多次被触压时的触控数据；

根据各所述触控数据，确定所述触控区域的目标触控采样参数；

控制所述触控区域按照所述目标触控采样参数进行触控采样。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述触控数据包括所述触控区域在每次被触压时的触压时间以及在所述触压时间内产生的压力数据；所述根据各所述触控数据，确定所述触控区域的目标触控采样参数包括：

根据所述触压时间以及所述压力数据，确定所述触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻；

根据所述起始压力时刻、所述压力峰值时刻和所述结束压力时刻，确定所述触控区域的目标触控采样参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述压力数据包括在所述触压时间内的不同时刻产生的多个压力值；所述根据所述触压时间以及所述压力数据，确定所述触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻包括：

根据所述压力数据中各所述压力值之间的数值关系，确定所述触控区域每次被触压时的压力峰值；

根据所述压力峰值和预设的触控触发条件，确定所述触控区域每次被触压时的起始压力值和结束压力值；

根据所述触压时间与所述压力数据之间的对应关系，分别确定所述起始压力值对应的起始压力时刻、所述压力峰值对应的压力峰值时刻和所述结束压力值对应的结束压力时刻。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标触控采样参数包括目标触控压力门限值、目标触控采集时间和目标触控采样周期；所述根据所述起始压力时刻、所述压力峰值时刻和所述结束压力时刻确定所述触控区域的目标触控采样参数包括：

根据所述触控区域每次被触压时的起始压力值，确定所述目标触控压力门限值，所述起始压力值由所述触控区域每次被触压时的压力峰值根据预设的触控触发条件计算得到；

根据所述触控区域每次被触压时的所述起始压力时刻和所述结束压力时刻之间的时间差，确定所述触控区域每次被触压时的采集持续时间；

根据各所述采集持续时间确定所述目标触控采集时间；

根据每相邻两个所述压力峰值时刻之间的时间差确定所述触控区域的目标触控采样周期；

根据所述目标触控压力门限值、所述目标触控采集时间和所述目标触控采样周期得到所述触控区域的目标触控采样参数。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述控制所述触控区域按照所述目标触控采样参数进行触控采样包括：

根据所述目标触控采样参数生成采样参数调整指令；

发送所述采样参数调整指令至所述触控区域，所述采样参数调整指令用于控制所述触控区域将当前的触控采样参数调整为所述目标触控采样参数并按照所述目标触控采样参数进行触控采样。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标触控采样参数生成采样参数调整指令包括：

确定所述触控区域当前的触控采样参数；

当所述当前的触控采样参数与所述目标触控采样参数不一致时，根据所述目标触控采样参数生成采样参数调整指令。

7.一种触控采样控制装置，其特征在于，所述装置包括：

触控数据获取模块，用于获取触控区域多次被触压时获得的触控数据；

触控数据分析模块，用于根据各所述触控数据，确定所述触控区域的目标触控采样参数；

触控采样控制模块，用于控制所述触控区域按照所述目标触控采样参数进行触控采样。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述触控数据包括所述触控区域在每次被触压时的触压时间以及在所述触压时间内产生的压力数据；所述触控数据分析模块包括：

时刻分析模块，用于根据所述触压时间以及所述压力数据，确定所述触控区域每次被触压时的起始压力时刻、压力峰值时刻和结束压力时刻；

采样参数确定模块，用于根据所述起始压力时刻、所述压力峰值时刻和所述结束压力时刻，确定所述触控区域的目标触控采样参数。

9.一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

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