CN111650490B - 一种适用于光电倍增管的加速寿命试验系统 - Google Patents
一种适用于光电倍增管的加速寿命试验系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，用于光电倍增管老炼试验和寿命试验的自动化测试。由光输出装置、制冷装置、光学分束准直装置、光功率监测模块、控制与采集装置、暗箱和上位机组成。本发明解决了光电倍增管老炼试验和寿命试验中手动逐一测试周期长、操作繁琐、一致性差、需人员长期值守的问题，实现了对光电倍增管高效率、自动化、批量测试，提高了试验测试效率和一致性。
Description
技术领域
本发明属于光电倍增管筛选试验中的老炼试验和考核试验中的寿命试验技术领域，尤其涉及一种适用于光电倍增管的加速寿命试验系统。
背景技术
探测器是航天有效载荷中完成光电转换的核心部件，且一旦发射升空，几乎不可能对其进行维护、修理和更换。采用经过筛选的无寿命数据的商业探测器存在风险，其可靠性对探测器的正常使用具有重要影响。因此，对探测器组件的寿命试验研究至关重要。探测器是航天遥感仪器设备中完成光电转换的核心部件，其可靠性对整个系统设备带来重要影响，加速寿命试验被广泛应用于航天器件的可靠性及寿命评估。
光电倍增管(PMT)是一种非常灵敏的光探测器件，能够探测到单个光子，自被发明到现在已有几十年的发展历史。光电倍增管接受外界输入的光信号，通过光电效应将光子转化成光电子，并利用倍增极对电子数进行倍增后输出电信号。评估寿命较长的产品的工作寿命需要的试验时间长、费用高。文献指出加速寿命试验是解决寿命较长的产品的寿命评估的有效途径。现有中光电倍增管老炼试验和寿命试验中手动逐一测试周期长、操作繁琐、一致性差、需人员长期值守的问题。
发明内容
本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，解决了光电倍增管老炼试验和寿命试验中手动逐一测试周期长、操作繁琐、一致性差、需人员长期值守的问题，实现了对光电倍增管高效率、自动化的批量测试，从而提高了试验测试效率和一致性。
本发明目的通过以下技术方案予以实现：一种适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，包括：光输出装置、制冷装置、光学分束准直装置、光功率监测模块、控制与采集装置、暗箱和上位机；其中，所述光学分束准直装置、光功率监测模块、控制与采集装置放置于所述暗箱内；所述制冷装置和所述光输出装置相连接，所述制冷装置使所述光输出装置的工作温度恒定；所述控制与采集装置与待测的n-1个PMT光电倍增管相连接；所述光输出装置发射出固定波长光束，光束经所述光学分束准直装置后分成n束准直光束，其中，每束准直光束的光强相等，一束准直光束耦合到所述光功率监测模块，所述光功率监测模块监测该束准直光束的实时光功率P(λ)，并将该束准直光束的实时光功率P(λ)传输给所述上位机；n-1束准直光束分别耦合到对应的n-1支PMT光电倍增管的光敏面得到光电流信号，并将光电流信号传输给所述控制与采集装置；所述控制与采集装置将光电流信号进行电流电压转换后得到实时电压值V(λ)，并将实时电压值V(λ)上传至上位机；所述上位机根据实时光功率P(λ)、实时电压值V(λ)和电流电压转换增益A得到PMT光电倍增管的实时光电响应度Ri(λ)；根据PMT光电倍增管的实时光电响应度Ri(λ)得到PMT光电倍增管开始工作时的光电响应度Ri0(λ)和PMT光电倍增管工作1000h时的光电响应度Ri1000(λ)；根据PMT光电倍增管开始工作时的光电响应度Ri0(λ)和PMT光电倍增管工作1000h时的光电响应度Ri1000(λ)得到响应度变化量ΔRi(λ)，如果响应度变化量ΔRi(λ)在0～30％的范围之内表示PMT光电倍增管性能稳定。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，所述光输出装置包括LED发光二极管和LED控制器；其中，所述LED发光二极管和所述LED控制器相连接；所述LED发光二极管发射532nm波长的光源；所述LED控制器控制LED发光二极管的脉冲重复频率和脉冲宽度和光功率，其中，脉冲重复频率为直流～100MHz，脉冲宽度为5ns～直流，光功率的平均功率为0～4mW。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，所述制冷装置包括TEC半导体制冷器和TEC控制器；其中，TEC半导体制冷器通过导热硅脂与LED发光二极管相连接，用于控制LED发光二极管的工作温度，使其保证工作时温度恒定，输出光功率稳定；TEC控制器为TEC半导体制冷器提供电压控制信号。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，所述控制与采集装置包括PMT测试架、高压产生模块和数据采集模块；其中，n-1个PMT光电倍增管插装在PMT测试架上，PMT测试架焊装在高压产生模块上，数据采集模块与n-1个PMT光电倍增管相连接，高压产生模块在上位机控制下，为n-1个PMT光电倍增管提供所需的高压；所述数据采集模块采集PMT光电倍增管输出的光电流信号，数据采集模块通过n-1个运算放大器跨阻放大将光电流信号转换为电压信号，并通过高速ADC采样通道对转换后电压信号进行模数转换得到电压码值，数据采集模块通过内部FPGA将模数转换后的电压码值与通道标识、当前系统时间的信息打包后发送至上位机进行实时显示和数据存储。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，所述光学分束准直装置包括光纤耦合模块、分束光纤和光纤准直模块；其中，所述光纤耦合模块将光输出装置发射出的固定波长光束耦合进1分n的分束光纤的公共输入端，分束光纤将输入光束按光强平均分成n束光，经光纤传输后，n束光由光纤分束端进入n个光纤准直模块，光纤准直模块将输入的n束发散光束变换为准直光束。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，所述光功率监测模块为光功率计或光电探测器。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，PMT光电倍增管的实时光电响应度Ri(λ)为：
λ为波长，i为下标。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，PMT光电倍增管开始工作时的光电响应度Ri0(λ)为：
其中，V0(λ)为光电倍增管开始工作时的电压值，P0(λ)为光电倍增管开始工作时的光功率，λ为波长，i0为下标。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，PMT光电倍增管工作1000h时的光电响应度Ri1000(λ)为：
其中，V1000(λ)为光电倍增管开始工作时的电压值，P1000(λ)为光电倍增管开始工作时的光功率，λ为波长，i1000为下标。
上述适用于光电倍增管的加速寿命试验系统中，响应度变化量ΔRi(λ)为：
本发明与现有技术相比具有如下有益效果：
(1)本发明与现有技术相比，通过上位机设定制冷装置的制冷温度设定并实时监测显示，对温度变化进行实时闭环控制调节，实现了对LED发光二极管的工作温度精准控温，提高光功率的稳定性；通过上位机实现对工作高压参数的设置、监测、显示，以保证光源工作高压的稳定，通过上位机对LED发光功率进行设置，并通过光功率监测模块测量的光功率进行实时监测；
(2)本发明与现有技术相比，通过控制采集装置和光学分束装置的精密配合安装，将PMT光电倍增管固定在PMT测试架上，光源经过光纤耦合到光纤准直模块上，直接垂直照射到PMT光电倍增管的光敏面，降低了探测器和光路对位的安装难度，实现优于0.05mm的安装精度；
(3)本发明与现有技术相比，系统通过数据采集模块实时测量n-1路PMT探测器的输出光电流信号进行电流电压转换、信号调理与采集，并将采集电压值实时上传，光功率监测模块同步上传测量的输入光功率，上位机自动根据采集电压值和输入光功率数值实时计算当前时刻的光电响应度，并将数据实时显示和存储，自动生成曲线图，实现自动测试和监测的功能，提高测试效率。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
图1是本发明实施例提供的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统的组成原理框图；
图2为本发明的寿命试验系统流程图；
图3为本发明光学导光模块图；
图4为本发明上位机的测试结果的示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
激光雷达是一种通过探测远距离目标的散射光特性来获取目标相关信息的光学遥感技术。随着超短脉冲激光技术、高灵敏度的信号探测和高速数据采集系统的发展和应用，激光雷达以它的高测量精度、精细的时间和空间分辨率以及大的探测跨度而成为一种重要的主动遥感工具。PMT(Photomultiplier Tube)光电倍增管是一种非常灵敏的光探测器件，能够探测到单个光子，所以光电倍增管主要的用途是弱光和极弱光的探测。自被发明到现在已有几十年的发展历史，凭借其极高的灵敏度和超快的响应时间，被广泛应用于光子计数、光谱测量、时间测量等各领域。
本发明为光电倍增管加速寿命试验系统，该系统将LED发光二极管、LED控制器构成光输出装置；将TEC半导体制冷器、TEC控制器构成制冷装置；将光纤耦合模块、分束光纤、光纤准直模块构成光学分束准直装置；光功率监测模块；将PMT光电倍增管、PMT测试架、高压产生模块、数据采集模块构成控制与采集装置；暗箱和上位机，共同构成PMT光电倍增管加速寿命试验系统，完成对PMT光电倍增管的老炼和寿命试验，并将试验数据自动生产曲线图。其中，光学分束准直装置、光功率监测模块、控制与采集装置都固定放置于暗箱中，保证探测器不受杂光影响；光学分束准直装置将发散光束变换为准直光束，并进行等比例分束，将准直光束垂直照射到PMT光电倍增管的光敏面；数据采集模块将PMT光电倍增管输出的光电流信号进行电流电压转换、信号调理与采集，并将采集电压值上传上位机；上位机完成对系统工作参数的配置，指控指令收发、工作状态检测量显示、数据实时存储和显示。
本发明的技术解决方案之一为：上位机对PMT光电倍增管所需光功率稳定的光源和工作高压进行控制。其特征在于：该控制由上位机、LED控制器、TEC控制器和高压产生模块组成。
上述方案的原理是：通过制冷装置的设计，和上位机对光功率监测模块的实时监测，实现了对LED发光二极管的工作温度精准控温。TEC控制器为TEC半导体制冷器提供电压控制信号，用于将TEC半导体制冷器与LED发光二极管安装面的温度控制在20℃±0.5℃，其中半导体制冷器放置于LED发光二极管下，通过导热硅脂与螺钉固定；
利用上位机对LED控制器、TEC控制器和高压产生模块进行控制。下面结合附图对本发明进行详细的结合和说明。
如图1所示为本发明的系统组成原理框图，如图2为本发明的寿命试验系统流程图；光电倍增管加速寿命试验系统由光输出装置、制冷装置、光学分束准直装置、光功率监测模块8、控制与采集装置、暗箱13和上位机14共同构成；系统工作时，上位机14通过控制光输出装置中的LED控制器2驱动LED发光二极管1发射固定波长、重复频率可调、脉冲宽度可调、光平均功率可调的光束，上位机14通过光功率监测模块8测量其光功率值；上位机14通过控制制冷装置中的TEC控制器驱动TEC半导体制冷器3工作使LED发光二极管的工作温度趋于稳定，从而提供稳定的光功率；上位机14通过对控制与采集装置中的高压产生模块11进行控制，给被测PMT光电倍增管9提供所需的工作高压；LED发光二极管1发出的光经光学分束准直装置中光纤耦合模块5中的耦合镜耦合到光纤分束器，再经分束光纤6将其平均分成n束发散光，最后经过光纤准直模块7中的准直镜将n束发散光变换成准直光束，其中一束准直光束耦合到所述光功率监测模块8，n-1束准直光束分别耦合到对应的n-1支PMT光电倍增管9的光敏面；数据采集模块12将采集到的PMT光电倍增管9输出的光电流信号转换为电压信号，通过信号调理与采集，将采集到的电压值上传至上位机14，通过光功率监测模块8测量并上传至上位机的入射光功率，利用光电响应度的计算公式进行解算，将其数据实时显示和存储，自动生成曲线图，实现自动测试和监测的功能。
上位机14根据光功率监测单元8检测出该束准直光束的入射光功率P(λ)，根据上传至上位机的电信号电压幅度V(λ)，利用光电响应度计算公式1-1，自动生成响应度随时间变化的曲线图，并根据响应度变化量的计算公式1-2得到其实验前后的参数变化量，上位机设置该变化量为0～30％。
其中，Ri(λ)表示在某波长λ下的电流响应度，单位为(A/W)，Ri中的R表示响应度，i表示响应度电流信号；
P(λ)表示某波长为λ下的入射光功率；
V(λ)表示某波长为λ下，在入射光功率P(λ)作用下的输出信号电压；
A表示电流电压转换增益。
通过1-1的公式，得出PMT光电倍增管试验开始时的电流响应度Ri0(λ)和工作1000h的电流响应度Ri1000(λ)，即
其中，Ri0(λ)表示在某波长λ下PMT光电倍增管试验开始时的电流响应度，Ri0中的R表示响应度，i0表示试验开始时的响应度电流信号；
P0(λ)表示试验开始时，在某波长为λ下的入射光功率；
V0(λ)表示试验开始时，在某波长为λ下，在入射光功率P0(λ)作用下的输出信号电压；
A表示电流电压转换增益。
其中，Ri1000(λ)表示在某波长λ下PMT光电倍增管工作1000h的电流响应度，Ri1000中的R表示响应度，i1000表示工作1000h时的响应度电流信号；
P1000(λ)表示工作1000h时，在某波长为λ下的入射光功率；
V1000(λ)工作1000h时，在某波长为λ下，在入射光功率P1000(λ)作用下的输出信号电压；
A表示电流电压转换增益。
通过Ri0(λ)和Ri1000(λ)的电流响应度结果，再利用公式1-2得到其实验前后的参数变化量；
其中：Ri0(λ)表示试验开始时，在某波长为λ下，PMT光电倍增管试验开始时的电流响应度；
Ri1000(λ)表示某波长λ下，PMT光电倍增管工作1000h时的电流响应度。
其中ΔRi(λ)变化量在0～30％的范围之内表示PMT光电倍增管性能稳定。
LED发光二极管发射532nm波长的光源，LED控制器控制LED发光二极管发射的光脉冲频率在直流～100MHz之间、脉冲宽度在5ns～直流之间、光源平均功率在0～4mW之间；
TEC控制器为TEC半导体制冷器提供电压控制信号，用于将TEC半导体制冷器与LED发光二极管安装面的温度控制在20℃±0.5℃，其中半导体制冷器放置于LED发光二极管下，通过导热硅脂与螺钉固定；
LED发光二极管发射的光经光纤耦合镜耦合入光纤分束器，经分束光纤将1束光平均分成n束光，分束后的光信号经过光纤准直镜进行准直，n束发散光经过光纤准直模块将n束发散光变换成准直光束，光纤总长≥1m，主支长度≥0.5m，各分支长度≥0.5m，SMA接口，纤芯直径为200μm，数值孔径0.22；其中一束准直光束耦合到所述光功率监测模块，n-1束准直光束分别耦合到对应的n-1支PMT光电倍增管的光敏面；实现对光信号的稳定传输和平均分束；
数据采集模块采集PMT光电倍增管输出的光电流信号，通过n-1个运算放大器跨阻放大将电流信号转换为电压信号，并通过n-1个高速ADC采样通道对转换后电压信号进行模数转换，数据采集模块，通过内部FPGA将模数转换后的电压码值与通道标识、当前系统时间等信息打包后发送至上位机，进行实时显示和数据存储。数据采集模块接收上位机发送的指令，并通过指令解析完成工作参数设定、采集使能、开关机等操作；
暗箱13将光学分束准直装置、光功率监测模块8、控制与采集装置固定安装在内，给PMT光电倍增管提供固定、稳定的试验暗环境。
本发明的技术解决方案之二为：LED发光二极管发射的光经光学分束准直后由发散光束变换为准直光束，垂直照射在PMT光电倍增管的光敏面。其特征在于：光学分束准直装置由光纤耦合模块、分束光纤和光纤准直模块组成。
上述方案的原理是：LED发光二极管发射的光通过分束光纤将1束光平均分成n束光，再将n束光分别耦合到光纤准直模块上，光纤总长≥1m，主支长度≥0.5m，各分支长≥0.5m，SMA接口，纤芯直径为200μm，数值孔径0.22。通过PMT测试架和光纤准直模块的精密配合安装，PMT光电倍增管固定在PMT测试架上，光束经过光纤准直模块垂直照射到PMT光电倍增管的光敏面，从而提高了光学效率，降低了装调难度。下面结合附图对本发明进行详细的结合和说明。
如图3所示为本发明的光学导光模块图，LED发光二极管发射的光经光纤耦合镜耦合入光纤分束器，光纤分束器实现对光信号的稳定传输和平均分束，分束后的光信号经过光纤准直镜进行准直，直接垂直照射到PMT光电倍增管的光敏面，实现光信号在探测器光敏面均匀分布，同时避免相邻探测器之间的信号串扰。
本发明的技术解决方案之三为：将n-1路PMT光电倍增管的输出光电流信号转换为电压信号，进行高速采集、处理和上传至上位机，并实时显示和存储。其特征在于：控制与采集装置由PMT光电倍增管、PMT测试架、高压产生模块和数据采集模块组成。
上述方案的原理是：数据采集模块采集PMT光电倍增管输出的光电流信号，通过n-1个运算放大器跨阻放大将电流信号转换为电压信号，并通过n-1个高速ADC采样通道对转换后电压信号进行模数转换，数据采集模块通过内部FPGA将模数转换后的电压码值与通道标识、当前系统时间等信息打包后发送至上位机，进行实时显示和数据存储。数据采集模块接收上位机发送的指令，并通过指令解析完成工作参数设定、采集使能、开关机等操作。
控制与采集装置中的数据采集模块12的输入端与n-1个PMT光电倍增管9连接，PMT光电倍增管9的输出采用SMA接口，数据采集模块12采集PMT光电倍增管9输出的光电流信号，经过内部设计有n-1个运算放大器跨阻放大将电流信号转换为电压信号，再通过设计有n-1个高速ADC采样通道对转换后电压信号进行模数转换，通过内部FPGA将信息打包后发送至上位机，进行实时显示和数据存储，并接收上位机发送的指令，通过指令解析完成工作参数设定、采集使能、开关机等操作。
PMT光电倍增管加速寿命试验系统研制完成后，为了进一步验证系统的工作性能和设计方案，先后进行了老炼试验和考核试验。如图4所示为本发明上位机的测试结果，进行寿命考核试验的4支PMT光电倍增管的试验时间为1000h，在入射光功率P(λ)恒定的情况下，上位机每4小时记录一次V(λ)，并通过计算公式1-1算出被测PMT光电倍增管的响应度，1000h试验结束后通过计算公式1-2算出每支被测PMT光电倍增管响应度的变化量，并将数据自动生成曲线图，可直观的筛查每支PMT光电倍增管的光电性能，和对比同批次试验的PMT光电倍增管的光电性能。
此次被测的PMT光电倍增管为10级倍增结构，光阴极为多碱性材料，金属倍增结构，窗口为硼硅酸盐玻璃，器件封装类型为TO-8金属封装。
通过多次试验，验证了光电倍增管加速寿命试验系统设备稳定，数据采集、存储、上位机可完整的采集存储能量监测数据、高压产生模块的数据、数据采集的数据，其初步数据处理结果显示系统获取的数据稳定有效。该系统能够在无人值守的情况下自动完成多种预设的老化和寿命试验，试验结果表明该系统在提高试验效率的同时还具有良好的稳定性和可扩展性，易于推广应用。
本发明虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本发明技术方案的保护范围。
Claims (10)
1.一种适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于包括：光输出装置、制冷装置、光学分束准直装置、光功率监测模块(8)、控制与采集装置、暗箱(13)和上位机(14)；其中，
所述光学分束准直装置、光功率监测模块(8)、控制与采集装置放置于所述暗箱(13)内；
所述制冷装置和所述光输出装置相连接，所述制冷装置使所述光输出装置的工作温度恒定；
所述控制与采集装置与待测的n-1个PMT光电倍增管(9)相连接；
所述光输出装置发射出固定波长光束，光束经所述光学分束准直装置后分成n束准直光束，其中，每束准直光束的光强相等，一束准直光束耦合到所述光功率监测模块(8)，所述光功率监测模块(8)监测该束准直光束的实时光功率P(λ)，并将该束准直光束的实时光功率P(λ)传输给所述上位机(14)；n-1束准直光束分别耦合到对应的n-1支PMT光电倍增管(9)的光敏面得到光电流信号，并将光电流信号传输给所述控制与采集装置；
所述控制与采集装置将光电流信号进行电流电压转换后得到实时电压值V(λ)，并将实时电压值V(λ)上传至上位机(14)；
所述上位机(14)根据实时光功率P(λ)、实时电压值V(λ)和电流电压转换增益A得到PMT光电倍增管的实时光电响应度Ri(λ)；根据PMT光电倍增管的实时光电响应度Ri(λ)得到PMT光电倍增管开始工作时的光电响应度Ri0(λ)和PMT光电倍增管工作1000h时的光电响应度Ri1000(λ)；
根据PMT光电倍增管开始工作时的光电响应度Ri0(λ)和PMT光电倍增管工作1000h时的光电响应度Ri1000(λ)得到响应度变化量ΔRi(λ)，如果响应度变化量ΔRi(λ)在0～30％的范围之内表示PMT光电倍增管性能稳定。
2.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：所述光输出装置包括LED发光二极管(1)和LED控制器(2)；其中，
所述LED发光二极管(1)和所述LED控制器(2)相连接；
所述LED发光二极管(1)发射532nm波长的光源；所述LED控制器(2)控制LED发光二极管(1)的脉冲重复频率和脉冲宽度和光功率，其中，脉冲重复频率为直流～100MHz，脉冲宽度为5ns～直流，光功率的平均功率为0～4mW。
3.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：所述制冷装置包括TEC半导体制冷器(3)和TEC控制器(4)；其中，
TEC半导体制冷器(3)通过导热硅脂与LED发光二极管(1)相连接，用于控制LED发光二极管(1)的工作温度，使其保证工作时温度恒定，输出光功率稳定；
TEC控制器(4)为TEC半导体制冷器(3)提供电压控制信号。
4.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：所述控制与采集装置包括PMT测试架(10)、高压产生模块(11)和数据采集模块(12)；其中，
n-1个PMT光电倍增管(9)插装在PMT测试架(10)上，PMT测试架(10)焊装在高压产生模块(11)上，数据采集模块(12)与n-1个PMT光电倍增管(9)相连接，高压产生模块(11)在上位机(14)控制下，为n-1个PMT光电倍增管(9)提供所需的高压；
所述数据采集模块(12)采集PMT光电倍增管(9)输出的光电流信号，数据采集模块(12)通过n-1个运算放大器跨阻放大将光电流信号转换为电压信号，并通过高速ADC采样通道对转换后电压信号进行模数转换得到电压码值，数据采集模块(12)通过内部FPGA将模数转换后的电压码值与通道标识、当前系统时间的信息打包后发送至上位机(14)进行实时显示和数据存储。
5.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：所述光学分束准直装置包括光纤耦合模块(5)、分束光纤(6)和光纤准直模块(7)；其中，
所述光纤耦合模块(5)将光输出装置发射出的固定波长光束耦合进1分n的分束光纤(6)的公共输入端，分束光纤(6)将输入光束按光强平均分成n束光，经光纤传输后，n束光由光纤分束端进入n个光纤准直模块(7)，光纤准直模块(7)将输入的n束发散光束变换为准直光束。
6.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：所述光功率监测模块(8)为光功率计或光电探测器。
7.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：PMT光电倍增管的实时光电响应度Ri(λ)为：
λ为波长，i为下标。
8.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：PMT光电倍增管开始工作时的光电响应度Ri0(λ)为：
其中，V0(λ)为光电倍增管开始工作时的电压值，P0(λ)为光电倍增管开始工作时的光功率，λ为波长，i0为下标。
9.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：PMT光电倍增管工作1000h时的光电响应度Ri1000(λ)为：
其中，V1000(λ)为光电倍增管开始工作时的电压值，P1000(λ)为光电倍增管开始工作时的光功率，λ为波长，i1000为下标。
10.根据权利要求1所述的适用于光电倍增管的加速寿命试验系统，其特征在于：响应度变化量ΔRi(λ)为：
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