CN111641463A - 相控阵天线校测方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents

相控阵天线校测方法、装置、计算机设备和存储介质 Download PDF

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CN111641463A CN201910155124.XA CN201910155124A CN111641463A CN 111641463 A CN111641463 A CN 111641463A CN 201910155124 A CN201910155124 A CN 201910155124A CN 111641463 A CN111641463 A CN 111641463A
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Abstract

本申请涉及一种相控阵天线校测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。采用本方法能够实现多通道收发一次性校正,且不会降低校正的准确度。

Description

相控阵天线校测方法、装置、计算机设备和存储介质
技术领域
本申请涉及相控阵校测技术领域,特别是涉及一种相控阵天线校测方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
随着天线技术的发展,出现了相控阵天线技术,相控阵天线指的是通过控制阵列天线中辐射单元的馈电相位来改变方向图形状的天线。相控阵天线的校测直接影响相控阵天线是否能正常工作,因此,对相控阵天线的校测就显得尤为重要。
传统技术中,在对相控阵天线进行校测时,一般是采用功率计对信号的接收通道进行辅助统计,以及对信号接收通道进行辅助校正误差,从而实现对相控阵天线接收通道的校正。
然而,上述技术中引入了外部设备进行辅助统计,其会产生多余的辅助统计误差,从而导致校正准确度降低的问题。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种相控阵天线校测方法、装置、计算机设备和存储介质。
第一方面,本申请提供一种相控阵天线校测方法,所述方法包括:
在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。
在其中一个实施例中,所述对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,包括:
控制待测设备各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第一参考信号,并根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正;
控制待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送第二参考信号,并根据标校喇叭天线接收的第二参考信号,得到待测设备的各个发射通道的信号的相位值,再根据所述待测设备各个发射通道的信号的相位值,对待测设备的各个发射通道进行对称面相位差值归零校正。
在其中一个实施例中,所述根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正,包括:
将待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值分别和参考通道接收得到的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个接收通道的信号的相位差值;所述参考通道为待测设备任意一个接收通道;
根据所述待测设备各个接收通道的信号的相位差值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正。
在其中一个实施例中,所述对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,包括:
控制待测设备各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第三参考信号,并根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正;
控制待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送第四参考信号,并根据标校喇叭天线接收的第四参考信号,得到待测设备的各个发射通道的信号的相位值,再根据所述待测设备各个发射通道的信号的相位值,对待测设备的各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
在其中一个实施例中,所述根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正,包括:
将待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值分别和参考通道接收得到的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个接收通道的信号的相位差值;所述参考通道为待测设备任意一个接收通道;
根据所述待测设备各个接收通道的信号的相位差值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
在其中一个实施例中,所述在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,包括:
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,在待测设备的各个方位角上,分别对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述方位角为β,0°≤β≤360°。
在其中一个实施例中,所述方法还包括:
在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求;
在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。
在其中一个实施例中,所述根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求,包括:
根据各个接收通道接收到的信号,得到已校正的待测设备的测试灵敏度值;
当所述测试灵敏度值满足预设的灵敏度阈值范围时,确定所述已校正的待测设备的灵敏度满足要求。
在其中一个实施例中,所述根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求,包括:
根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,得到已校正的待测设备的测试EIRP值;
当所述测试EIRP值满足预设的EIRP阈值范围时,确定所述已校正的待测设备的EIRP满足要求。
第二方面,本申请提供一种相控阵天线校测装置,所述装置包括:
信号源,用于输出下行参考信号;
标校喇叭天线,用于接收所述信号源输出的下行参考信号,并将所述下行参考信号进行无线发射;
标校弧形轨道,与所述标校喇叭天线连接,用于调整标校喇叭天线的校正位置,所述校正位置包括第一校正位置和第二校正位置;
计算机设备,用于控制待测设备接收所述标校喇叭天线发射的无线发射信号,并在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正,以及在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正;
所述计算机设备,还用于控制待测设备向所述标校喇叭天线发射上行参考信号,并控制待测设备接收所述标校喇叭天线发送的无线发射信号,并在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,以及在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
在其中一个实施例中,所述装置还包括:
综测仪,用于输出下行测试信号;
单源收发天线,用于接收所述综测仪输出的下行测试信号,并将所述下行测试信号进行无线发射;
旋转装置,用于调整已校正的待测设备和单源收发天线之间的方位角和俯仰角;
所述计算机设备,还用于控制已校正的待测设备接收所述单源收发天线发射的无线发射信号,并在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求;
收发接收机,用于输出上行测试信号;
所述计算机设备,还用于控制已校正的待测设备接收所述收发接收机输出的上行测试信号,并将所述上行测试信号发送给所述单源收发天线;
所述单源收发天线,还用于接收所述已校正的待测设备发送的无线发射信号;
所述计算机设备,还用于控制已校正的待测设备接收所述单源收发天线发射的无线发射信号,并在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。
第三方面,本申请提供一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:
在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。
第四方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。
上述相控阵天线校测方法、装置、计算机设备和存储介质,在标校喇叭天线位于第一校正位置时,可以对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,在标校喇叭天线位于第二校正位置时,可以对待测设备各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,其中,第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置,第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。在本实施例中,由于在第一校正位置时,可以校正共性相位误差,进而在第二校正位置时,可以继续校正待测设备各天线振子的几何到达波程误差,可见,本实施例校正的误差比较全面,因此,利用本实施例的方法,校正的准确度较高;同时,由于本实施例的方法可以对待测设备的接收通道和发射通道都可以进行校正,因此,本实施例的方法支持多通道收发一次性校正;进一步,由于本实施例的方法对待测设备的工作频率没有限定和要求,在宽带工作频率内的待测设备都可以使用该方法来进行校正,因此,利用该方法可以减少不同频率相位校正的工作量;另外,在本实施例中,未加入外部设备进行辅助统计,因此也不会产生多余的辅助统计误差,也就不会降低校正的准确度。
附图说明
图1为一个实施例中计算机设备的结构示意图;
图2为一个实施例中相控阵天线校测方法的流程示意图;
图3为另一个实施例中相控阵天线校测方法的流程示意图;
图4为另一个实施例中相控阵天线校测方法的流程示意图;
图5为另一个实施例中相控阵天线校测方法的流程示意图;
图6为另一个实施例中相控阵天线校测方法的流程示意图;
图7为另一个实施例中相控阵天线校测方法的流程示意图;
图8a为一个实施例中相控阵天线校测装置的结构框图;
图8b为一个实施例中相控阵天线校测装置的示例图;
图9a为另一个实施例中相控阵天线校测装置的结构框图;
图9b为另一个实施例中相控阵天线校测装置的示例图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请提供的相控阵天线校测方法,可以应用于计算机设备上,其中,该计算机设备可以是终端,其内部结构图可以如图1所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种相控阵天线校测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图1中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,如图2所示,提供了一种相控阵天线校测方法,以该方法应用于图1中的计算机设备为例进行说明,包括以下步骤:
S202,在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;
其中,标校喇叭天线是一种微波天线,其结构简单、频带宽、功率容量大,在使用时,选择一定的喇叭尺寸,就可以取得对应的辐射特性;该标校喇叭天线的收发面指的是标校喇叭天线的接收面和发射面,通常情况下,标校喇叭天线的接收面和发射面为同一个面,且该收发面为对称图形,其可以是圆形,还可以是正方形等。待测设备指的是需要测量的设备,该待测设备上面设置有天线,该天线可认为是待测天线,该待测天线上包括多个天线振子,每个天线振子都具有一个发射通道和一个接收通道;该待测设备的收发面指的是待测设备的天线的接收面和天线的发射面,通常,把天线的接收面和发射面认为是同一个面。
另外,在第一校正位置时,标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度,即标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面为平行设置,且标校喇叭天线的收发面的中心点与待测设备的收发面的中心点在同一条直线上,可满足标校喇叭天线发射到待测设备的各个天线振子上的信号的距离是相同的;对称面相位差值归零校正指的是在该对称面位置时,将待测设备的各个接收通道的相位值校正成相同的值,以及将待测设备的各个发射通道的相位值校正成相同的值。
该步骤主要校正的是对称面上的共性相位误差,该共性相位误差包括:待测天线和标校喇叭天线之间在无线空间上的相位误差、待测设备各个天线振子之间的方向相位误差、待测设备各个天线振子之间的俯仰相位误差、待测设备各接收通道之间的相位误差、待测设备各发射通道之间的相位误差等。
具体的,在标校喇叭天线位于第一校正位置时,计算机设备可以获取待测设备各个接收通道的信号的相位值和各个发射通道的信号的相位值,并根据获得的这些值,分别对待测设备的各个接收通道的相位值进行校正,以及对待测设备的各个发射通道的相位值进行校正。
S204,在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。
其中,在第二校正位置时,标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α,0°≤α≤90°,在本实施例中,可以是不改变待测设备的位置,改变标校喇叭天线的位置,使两者的收发面之间的俯仰角为α;特别的,在该步骤中,当标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面之间的俯仰角为0度时,得到的数据与步骤S202相同。方位俯仰相位差值归零校正指的是当标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面处于不同的方位角、不同的俯仰角时,将待测设备的各个接收通道的相位值校正成相同的值,以及将待测设备各个发射通道的相位值校正成相同的值。
在该步骤中,待测设备各天线振子已经校正了共性相位误差,需要对待测设备各天线振子进行方位俯仰相位误差进行校正,当标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面位于不同的方位角和不同的俯仰角时,标校喇叭天线发射到待测设备的各个天线振子上的信号的距离是不同的,此时就会出现方位俯仰相位误差。在实施过程中,通过改变标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面之间的俯仰角和方位角,测量在不同俯仰角和不同方位角下,待测设备各个接收通道的相位值以及各个发射通道的相位值,就可以消除标校喇叭天线和待测设备之间的方位俯仰相位误差。
可选的,上述在标校喇叭天线位于第二校正位置时,在待测设备的各个方位角上,分别对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,上述方位角为β,0°≤β≤360°。也就是说,在实际测量时,先让标校喇叭天线和待测设备处于一个俯仰角时,然后利用旋转转台来使待测设备旋转,产生不同的方位角,测量在同一俯仰角,不同方位角下,待测设备各个接收通道的相位值和各个发射通道的相位值;在测量完成之后,再换一个俯仰角,再测量不同方位角下待测设备各个接收通道的相位值和各个发射通道的相位值,以实现对不同俯仰角和不同方位角下待测设备各个接收通道的相位值和各个发射通道的相位值的测量和校正。
具体的,在标校喇叭天线位于第二校正位置时,计算机设备可以获取在不同的俯仰角和不同的方位角时,待测设备各个接收通道的信号的相位值以及各个发射通道的信号的相位值,并根据得到的这些值,分别对待测设备在不同的俯仰角和不同的方位角下时,各个接收通道的相位值进行校正,以及对待测设备在不同的俯仰角和不同的方位角下时,各个发射通道的相位值进行校正。
上述相控阵天线校测方法中,在标校喇叭天线位于第一校正位置时,可以对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,在标校喇叭天线位于第二校正位置时,可以对待测设备各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,其中,第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置,第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。在本实施例中,由于在第一校正位置时,可以校正共性相位误差,进而在第二校正位置时,可以继续校正待测设备各天线振子的几何到达波程误差,可见,本实施例校正的误差比较全面,因此,利用本实施例的方法,校正的准确度较高;同时,由于本实施例的方法可以对待测设备的接收通道和发射通道都可以进行校正,因此,本实施例的方法支持多通道收发一次性校正;进一步,由于本实施例的方法对待测设备的工作频率没有限定和要求,在宽带工作频率内的待测设备都可以使用该方法来进行校正,因此,利用该方法可以减少不同频率相位校正的工作量;另外,在本实施例中,未加入外部设备进行辅助统计,因此也不会产生多余的辅助统计误差,也就不会降低校正的准确度。
在另一个实施例中,如图3所示,提供了一种相控阵天线校测方法,在上述实施例的基础上,上述S202中对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,可以包括以下步骤:
S302,控制待测设备各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第一参考信号,并根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正。
其中,第一参考信号可以是正弦信号、余弦信号等,由于待测设备各个天线振子在待测设备上的分布不同,并不是都在同一位置,而标校喇叭天线只有一个,因此,各个天线振子的接收通道在接收标校喇叭天线天线发送的第一参考信号时,各个接收通道接收的信号的相位值会有所不同;上述各个天线振子的接收通道也即是待测设备的各个接收通道。其中,标校喇叭天线发送的第一参考信号可以是由信号源发送的下行点频信号。
具体的,计算机设备可以对待测设备发送一个接收指令,待测设备在接收到该接收指令之后,就可以利用各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第一参考信号,在待测设备各个接收通道接收到信号之后,可以将各个接收通道接收到的信号传输给计算机设备进行处理,计算机设备可以根据接收到的信号计算出各个接收通道接收的信号的相位值,在这里,可以将各个接收通道接收的信号的相位值当做各个接收通道的相位值,之后就可以对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正。
在对各个接收通道进行对称面相位差值归零校正时,可选的,计算机设备可以将待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值分别和参考通道接收得到的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个接收通道的信号的相位差值;上述参考通道为待测设备任意一个接收通道;并根据上述待测设备各个接收通道的信号的相位差值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正。在该步骤中,计算机设备可以将任意一个接收通道设置为参考通道,该参考通道的相位值记为参考相位值,然后将各个接收通道的相位值分别和参考相位值进行相减,得到各个接收通道的相位差值,该各个接收通道中可以包括参考通道,也可以不包括参考通道;可选的,在得到各个接收通道的相位差值之后,可以将各个接收通道的相位值减去各个接收通道对应的相位差值,得到各个接收通道最终的相位值,此时,各个接收通道最终的相位值为相同的相位值,也就是说各个接收通道的差值都为0,这样就完成了对各个接收通道的对称面相位差值归零校正。示例性说明,假设有3个接收通道,分别为一通道、二通道、三通道,对应的相位值分别为2°、3°、5°,将一通道设为参考通道,则2°为参考相位值,分别将2°、3°、5°与2°相减,得到相位差值为0°、1°、3°,再将2°、3°、5°对应减去0°、1°、3°,得到各个接收通道的相位值为2°、2°、2°,这时,各个接收通道的相位值相同,各个接收通道的相位差值均为0°,即各个接收通道之间是没有接收误差的。
S304,控制待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送第二参考信号,并根据标校喇叭天线接收的第二参考信号,得到待测设备的各个发射通道的信号的相位值,再根据所述待测设备各个发射通道的信号的相位值,对待测设备的各个发射通道进行对称面相位差值归零校正。
其中,第二参考信号也可以是正弦信号、余弦信号等,由于待测设备各个天线振子在待测设备上的分布不同,并不是都在同一位置,因此,各个天线振子的发射通道在向标校喇叭天线天线发送第二参考信号时,各个发射通道发射的信号的相位值会有所不同;上述各个天线振子的发射通道也即是待测设备的各个发射通道。其中,待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送的第二参考信号可以是由待测设备的基带先将第二参考信号发送给各个发射通道,再由各个发射通道发送给标校喇叭天线,其中,第二参考信号可以是上行点频信号。
具体的,计算机设备可以对待测设备发送一个发射指令,待测设备在接收到该发射指令之后,可以利用基带输出第二参考信号给各个发射通道,也即是输出上行点频信号给各个发射通道,之后各个发射通道可以将基带输出的第二参考信号发射给标校喇叭天线,标校喇叭天线可以通过射频线、直通、射频线等将接收的各个发射通道发射的第二参考信号再发送给待测设备,待测设备再通过数据线将数据传输给计算机设备,计算机设备就可以根据各个发射通道发射的信号,得到各个发射通道的信号的相位值,在这里,各个发射通道的信号的相位值也即认为是发射通道的相位值,之后,计算机设备就可以对待测设备各个发射通道进行对称面相位差值归零校正。
在对各个发射通道进行对称面相位差值归零校正时,可选的,可以与上述对各个接收通道进行对称面相位差值归零校正的方法相同,计算机设备可以将待测设备各个发射通道的信号的相位值分别和参考通道的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个发射通道的信号的相位差值;上述参考通道为待测设备任意一个发射通道;并根据上述待测设备各个发射通道的信号的相位差值,对待测设备的各个发射通道进行对称面相位差值归零校正。在该步骤中,具体的校正过程可以参见S302的步骤的阐述,在此不再赘述。
本实施例提供的相控阵天线校测方法,计算机设备可以根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正,以及根据各个发射通道的信号的相位值,对各个发射通道进行对称面相位差值归零校正。在本实施例中,由于对待测设备的各个发射通道和各个接收通道都进行了对称面相位差值归零校正,因此,可以消除各收发通道的共性误差,同时也可以部分消除后续的方位俯仰相位误差,降低后续相位俯仰误差校正的工作量。
在另一个实施例中,如图4所示,提供了一种相控阵天线校测方法,在上述实施例的基础上,上述S204中对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,可以包括以下步骤:
S402,控制待测设备各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第三参考信号,并根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
其中,该步骤是在上述S302和S304完成之后进行的,第三参考信号可以是正弦信号、余弦信号等;在该步骤中,在待测设备和标校喇叭天线处于不同的俯仰角和不同的方位角时,均需要对各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正,在校正过程中,每次改变俯仰角和方位角时,标校喇叭天线发送的第三参考信号可以是相同的,方位角的取值可以是0°到360°。
具体的,每次在改变俯仰角和方位角时,计算机设备可以对待测设备发送一个接收指令,待测设备在接收到该接收指令之后,就可以利用各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第三参考信号,在待测设备各个接收通道接收到信号之后,可以将各个接收通道接收到的信号传输给计算机设备进行处理,计算机设备可以根据接收到的信号计算出各个接收通道接收的信号的相位值,在这里,可以将各个接收通道接收的信号的相位值当做各个接收通道的相位值,之后就可以对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
在对各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正时,可选的,计算机设备可以将待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值分别和参考通道接收得到的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个接收通道的信号的相位差值;所述参考通道为待测设备任意一个接收通道;并根据所述待测设备各个接收通道的信号的相位差值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正。在该步骤中,每次改变俯仰角和改变方位角时,都要进行一次方位俯仰相位差值归零校正,具体的校正过程可以参见S302的步骤的阐述,在此不再赘述。
S404,控制待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送第四参考信号,并根据标校喇叭天线接收的第四参考信号,得到待测设备的各个发射通道的信号的相位值,再根据所述待测设备各个发射通道的信号的相位值,对待测设备的各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
其中,第四参考信号也可以是正弦信号、余弦信号等,在该步骤中,在待测设备和标校喇叭天线处于不同的俯仰角和不同的方位角时,均需要对各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,在校正过程中,每次改变俯仰角和方位角时,各个发射通道向标校喇叭天线发送的第四参考信号可以是相同的,方位角的取值可以是0°到360°;其中,待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送的第四参考信号可以是由待测设备的基带先将第四参考信号发送给各个发射通道,再由各个发射通道发送给标校喇叭天线,其中,第四参考信号可以是上行点频信号。
具体的,计算机设备可以对待测设备发送一个发射指令,待测设备在接收到该发射指令之后,可以利用基带输出第四参考信号给各个发射通道,也即是输出上行点频信号给各个发射通道,之后各个发射通道可以将基带输出的第四参考信号发射给标校喇叭天线,标校喇叭天线可以通过射频线、直通、射频线等将接收的各个发射通道发射的第四参考信号再发送给待测设备,待测设备再通过数据线将数据传输给计算机设备,计算机设备就可以根据各个发射通道发射的信号,得到各个发射通道的信号的相位值,在这里,各个发射通道的信号的相位值也即认为是发射通道的相位值,之后,计算机设备就可以对待测设备各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
在对各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正时,可选的,可以与上述对各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正的方法相同,计算机设备可以将待测设备各个发射通道的信号的相位值分别和参考通道的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个发射通道的信号的相位差值;上述参考通道为待测设备任意一个发射通道;并根据上述待测设备各个发射通道的信号的相位差值,对待测设备的各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。在该步骤中,每次改变俯仰角和改变方位角时,都要进行一次方位俯仰相位差值归零校正,具体的校正过程可以参见S302的步骤的阐述,在此不再赘述。
本实施例提供的相控阵天线校测方法,计算机设备可以根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正,以及根据各个发射通道的信号的相位值,对各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。在本实施例中,由于对待测设备的各个收发通道在不同的方位角以及不同的俯仰角时,均进行了方位俯仰相位差值归零校正,因此,利用该方法可以消除标校喇叭天线与待测设备各个收发通道的几何到达波程差,从而提高了校正准确度。
在另一个实施例中,如图5所示,提供了一种相控阵天线校测方法,在上述实施例的基础上,该方法还可以包括以下步骤:
S502,在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求。
其中,已校正的待测设备指的是经过上述图2至图4校正之后的待测设备,单源收发天线指的是可以发射也可以接收的天线,单源指的是该天线到目标的距离相同;在该步骤中,俯仰角的取值为0°到90°,方位角的取值为0°到360°,在改变方位角和俯仰角时,改变的步进可以是5°,例如,在俯仰角为0°时,方位角在0°到360°之间以5°步进,则各个接收通道可以接收到72组信号,也就可以测得72组灵敏度;俯仰角可以改变18次,也就是可以得到18组数据,每组数据都包括72组接收信号;在该步骤中,可以利用旋转转台来改变已校正的待测设备的俯仰角,利用夹具和支架等来改变已校正的待测设备的方位角。
具体的,计算机设备可以通过控制已校正待测设备和单源收发天线,来改变两者之间的俯仰角和方位角,每次在两者处于不同的方位角和俯仰角时,计算机设备都可以控制单源收发天线向已校正的待测设备发送一个信号,使已校正的待测设备的各个接收通道进行接收,在各个接收通道接收到信号之后,可以再将各个接收通道接收的信号传输给计算机设备,计算机设备通过对各个接收通道接收的信号进行计算,就可以得到各个接收通道的灵敏度,根据各个接收通道的灵敏度就可以得到已校正的待测设备的灵敏度;在确定已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求时,可选的,可以是将已校正的待测设备的灵敏度与预设的灵敏度进行对比,根据对比结果确定已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求。其中,单源收发天线向已校正的待测设备发送的信号可以是由综测仪通过射频线发送给单源收发天线的,计算机设备在这里也可以是收发接收机,收发接收机处理之后还可以再传输给综测仪显示。
S504,在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。
在该步骤中,方位角的取值和步进,以及俯仰角的取值和步进均与上述S502的相同,其中,EIRP,全称为Equivalent Isotropic Radiated Power,指的是有效全向辐射功率、等效全向辐射功率。
具体的,计算机设备可以通过控制已校正待测设备和单源收发天线,来改变两者之间的俯仰角和方位角,每次在两者处于不同的方位角和俯仰角时,已校正的待测设备的各个发射通道都可以向单源收发天线发送一个信号,单源收发天线在接收到信号之后,可以通过射频线将信号传输给综测仪,综测仪根据单源收发天线得到的各个发射通道的信号,计算出各个发射通道的EIRP,即就可以得到已校正的待测设备的EIRP;在确定已校正的待测设备的EIRP是否满足要求时,可选的,可以是将已校正的待测设备的EIRP与预设的EIRP进行对比,根据对比结果确定已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。其中,已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号可以是,由收发接收机通过射频线输出的上行通信信号,上述的综测仪也可以是计算机设备,可以对数据进行处理和显示。
本实施例提供的相控阵天线校测方法,还可以包括:在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求,以及,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。在本实施例中,由于对已校正的待测设备进行了灵敏度和EIRP值的测试,因此,利用该方法可以简单、高效地评估已校正的待测设备的灵敏度和EIRP性能。
在另一个实施例中,如图6所示,提供了一种相控阵天线校测方法,在上述实施例的基础上,上述S502中根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求,可以包括以下步骤:
S602,根据各个接收通道接收到的信号,得到已校正的待测设备的测试灵敏度值。
具体的,计算机设备在得到已校正的待测设备的各个接收通道接收的信号之后,可以通过对该多个信号进行计算,得到已校正的待测设备的各个接收通道的测试灵敏度值;需要说明的是,该步骤计算的也是不同方位角和不同俯仰角下已校正的待测设备的各个接收通道的测试灵敏度。
S604,当所述测试灵敏度值满足预设的灵敏度阈值范围时,确定所述已校正的待测设备的灵敏度满足要求。
具体的,计算机设备将上述得到的已校正的待测设备的各个接收通道的测试灵敏度值,分别和预设的灵敏度阈值范围进行对比,在一种可能的实施方式中,当各个接收通道的灵敏度值均没有超出预设的灵敏度阈值范围时,计算机设备就可以确定已校正的待测设备的灵敏度满足要求;在另一种可能的实施方式中,当各个接收通道的灵敏度值中有一个超出预设的灵敏度阈值范围,则计算机设备可以确定已校正的待测设备的灵敏度不满足要求,进一步,计算机设备可以确定该超出灵敏度阈值范围的接收通道为不满足要求的接收通道,可以返回上述步骤对该接收通道再进行校正。需要说明的是,该步骤中对比的也是不同方位角和不同俯仰角下已校正的待测设备的各个接收通道的测试灵敏度和预设的灵敏度阈值范围。
本实施例提供的相控阵天线校测方法,可以根据各个接收通道接收到的信号,得到已校正的待测设备的测试灵敏度值,并将已校正的待测设备的测试灵敏度值和预设的灵敏度阈值范围进行对比,当对别结果为测试灵敏度值满足预设的灵敏度阈值范围时,可以确定已校正的待测设备的灵敏度满足要求。在本实施中,由于可以较为简单的测试已校正的待测设备的灵敏度,因此,利用该方法可以简单、高效地评估已校正的待测设备的灵敏度性能。
在另一个实施例中,如图7所示,提供了一种相控阵天线校测方法,在上述实施例的基础上,上述S504中根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求,可以包括以下步骤:
S702,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,得到已校正的待测设备的测试EIRP值。
具体的,计算机设备在得到已校正的待测设备的各个发射通道的信号之后,可以通过对该多个信号进行计算,得到已校正的待测设备的各个发射通道的测试EIRP值;需要说明的是,该步骤计算的也是不同方位角和不同俯仰角下已校正的待测设备的各个发射通道的EIRP值。
S704,当所述测试EIRP值满足预设的EIRP阈值范围时,确定所述已校正的待测设备的EIRP满足要求。
具体的,计算机设备将上述得到的已校正的待测设备的各个发射通道的测试EIRP值,分别和预设的EIRP阈值范围进行对比,在一种可能的实施方式中,当各个发射通道的EIRP值均没有超出预设的EIRP阈值范围时,计算机设备就可以确定已校正的待测设备的EIRP满足要求;在另一种可能的实施方式中,当各个发射通道的EIRP值中有一个超出预设的EIRP阈值范围,则计算机设备可以确定已校正的待测设备的EIRP不满足要求,进一步,计算机设备可以确定该超出EIRP阈值范围的发射通道为不满足要求的发射通道,可以返回上述步骤对该发射通道再进行校正。需要说明的是,该步骤中对比的也是不同方位角和不同俯仰角下已校正的待测设备的各个发射通道的测试EIRP和预设的EIRP阈值范围。
本实施例提供的相控阵天线校测方法,可以根据各个发射通道的信号,得到已校正的待测设备的EIRP值,并将已校正的待测设备的测试EIRP度值和预设的EIRP阈值范围进行对比,当对别结果为测试EIRP值满足预设的EIRP阈值范围时,可以确定已校正的待测设备的EIRP满足要求。在本实施中,由于可以较为简单的测试已校正的待测设备的EIRP值,因此,利用该方法可以简单、高效地评估已校正的待测设备的EIRP性能。
应该理解的是,虽然图2-7的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图2-7中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中,如图8a所示,提供了一种相控阵天线校测装置的连接示意图,该装置包括:信号源10、标校喇叭天线11、标校弧形轨道12、计算机设备13。另外,待测设备记为待测设备100。
其中,信号源10,用于输出下行参考信号;
标校喇叭天线11,用于接收上述信号源输出的下行参考信号,并将上述下行参考信号进行无线发射;
标校弧形轨道12,与上述标校喇叭天线连接,用于调整标校喇叭天线的校正位置,上述校正位置包括第一校正位置和第二校正位置;
计算机设备13,用于控制待测设备100接收上述标校喇叭天线发射的无线发射信号,并在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正,以及在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正;
上述计算机设备13,还用于控制待测设备100向上述标校喇叭天线发射上行参考信号,并控制待测设备接收上述标校喇叭天线发送的无线发射信号,并在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,以及在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
可选的,继续参见图8a,上述装置还可以包括:旋转转台14、直通15,旋转转台14用于改变待测设备100的方位角,直通15用于连接标校喇叭天线11和待测设备100。
在利用该装置进行对称面相位差值归零校正时,可以参见图8b所示,标校喇叭天线放置在标校弧形轨道A点处,同正下方待测设备间距可以是3米、5米、10米等,图8b中以3米示例,待测设备天线振子以45°倾斜(还可以是0°、40°等),标记某天线振子中心方位对应标校弧形轨道B点的通道为参考通道,并标识起始方位0°度,此时标校喇叭天线与待测设备天线振子构成结构对称面。在利用该装置进行方位俯仰相位差值归零校正时,参见图8b所示,标校喇叭天线放置在标校弧形轨道A点到B点弧形轨道上某点固定俯仰角,典型可取弧形轨道C点,俯仰角45°;待测设备从起始方位旋转取值0°~360°之间某值,此时标校喇叭天线与待测设备天线振子构成方位俯仰面。
需要说明的是,上述装置可以在暗室中进行操作。
关于相控阵天线校测装置的具体限定可以参见上文中对于相控阵天线校测方法的限定,在此不再赘述。上述相控阵天线校测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在另一个实施例中,如图9a所示,提供了一种相控阵天线校测装置连接示意图,在上述实施例的基础上,该装置还可以包括:综测仪20、单源收发天线21、旋转装置22、收发接收机23。另外,上述已校正的待测设备仍然记为100。
其中,综测仪20,用于输出下行测试信号;
单源收发天线21,用于接收上述综测仪输出的下行测试信号,并将上述下行测试信号进行无线发射;
旋转装置22,用于调整已校正的待测设备和单源收发天线之间的方位角和俯仰角;
上述计算机设备13,还用于控制已校正的待测设备接收上述单源收发天线发射的无线发射信号,并在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定上述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求;
收发接收机23,用于输出上行测试信号;
上述计算机设备13,还用于控制已校正的待测设备接收上述收发接收机输出的上行测试信号,并将上述上行测试信号发送给上述单源收发天线;
上述单源收发天线21,还用于接收上述已校正的待测设备发送的无线发射信号;
上述计算机设备13,还用于控制已校正的待测设备接收上述单源收发天线发射的无线发射信号,并在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定上述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。
可选的,继续参见图9a,上述旋转装置22可以包括俯仰旋转转台、夹具、支架,其中,旋转转台用于调整已校正的待测设备的俯仰角,支架用于支撑旋转转台,夹具用于调整已校正的待测设备的方位角。
在利用该装置进行灵敏度和EIRP测试时,可以参见图9b所示,单源收发天线放置在俯仰旋转转台的A点正上方3米处(也可以是4米、5米等,3米只是一个示例),已校正的待测设备天线振子45°倾斜,标记某天线振子中心方位对应俯仰旋转转台的B点的通道为参考通道,并标识起始方位0°度,俯仰旋转转台的A点到B点圆形轨道上某点固定俯仰角,典型可取俯仰旋转转台的C点,俯仰角45°,已校正的待测设备从起始方位旋转取值0°~360°度之间某值,此时单源天线与已校正的待测设备天线振子构成三维方位俯仰测试面。
需要说明的是,上述装置也可以在暗室中进行操作。其中,图9a、9b所示的装置可以和图8a、8b所示的装置不在同一个暗室。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现以下步骤:
在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (13)

1.一种相控阵天线校测方法,其特征在于,所述方法包括:
在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,所述第一校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为0度时的位置;
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述第二校正位置为标校喇叭天线的收发面和待测设备的收发面的俯仰角为α时的位置,0°≤α≤90°。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,包括:
控制待测设备各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第一参考信号,并根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正;
控制待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送第二参考信号,并根据标校喇叭天线接收的第二参考信号,得到待测设备的各个发射通道的信号的相位值,再根据所述待测设备各个发射通道的信号的相位值,对待测设备的各个发射通道进行对称面相位差值归零校正。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正,包括:
将待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值分别和参考通道接收得到的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个接收通道的信号的相位差值;所述参考通道为待测设备任意一个接收通道;
根据所述待测设备各个接收通道的信号的相位差值,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,包括:
控制待测设备各个接收通道接收标校喇叭天线发送的第三参考信号,并根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正;
控制待测设备各个发射通道向标校喇叭天线发送第四参考信号,并根据标校喇叭天线接收的第四参考信号,得到待测设备的各个发射通道的信号的相位值,再根据所述待测设备各个发射通道的信号的相位值,对待测设备的各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正,包括:
将待测设备各个接收通道接收得到的信号的相位值分别和参考通道接收得到的信号的相位值进行相减,得到待测设备各个接收通道的信号的相位差值;所述参考通道为待测设备任意一个接收通道;
根据所述待测设备各个接收通道的信号的相位差值,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
6.根据权利要5所述的方法,其特征在于,所述在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,包括:
在标校喇叭天线位于第二校正位置时,在待测设备的各个方位角上,分别对待测设备的各个接收通道和各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正,所述方位角为β,0°≤β≤360°。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求;
在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求,包括:
根据各个接收通道接收到的信号,得到已校正的待测设备的测试灵敏度值;
当所述测试灵敏度值满足预设的灵敏度阈值范围时,确定所述已校正的待测设备的灵敏度满足要求。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求,包括:
根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,得到已校正的待测设备的测试EIRP值;
当所述测试EIRP值满足预设的EIRP阈值范围时,确定所述已校正的待测设备的EIRP满足要求。
10.一种相控阵天线校测装置,其特征在于,所述装置包括:
信号源,用于输出下行参考信号;
标校喇叭天线,用于接收所述信号源输出的下行参考信号,并将所述下行参考信号进行无线发射;
标校弧形轨道,与所述标校喇叭天线连接,用于调整标校喇叭天线的校正位置,所述校正位置包括第一校正位置和第二校正位置;
计算机设备,用于控制待测设备接收所述标校喇叭天线发射的无线发射信号,并在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个接收通道进行对称面相位差值归零校正,以及在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个接收通道进行方位俯仰相位差值归零校正;
所述计算机设备,还用于控制待测设备向所述标校喇叭天线发射上行参考信号,并控制待测设备接收所述标校喇叭天线发送的无线发射信号,并在标校喇叭天线位于第一校正位置时,对待测设备的各个发射通道进行对称面相位差值归零校正,以及在标校喇叭天线位于第二校正位置时,对待测设备的各个发射通道进行方位俯仰相位差值归零校正。
11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
综测仪,用于输出下行测试信号;
单源收发天线,用于接收所述综测仪输出的下行测试信号,并将所述下行测试信号进行无线发射;
旋转装置,用于调整已校正的待测设备和单源收发天线之间的方位角和俯仰角;
所述计算机设备,还用于控制已校正的待测设备接收所述单源收发天线发射的无线发射信号,并在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个接收通道接收到的信号,确定所述已校正的待测设备的灵敏度是否满足要求;
收发接收机,用于输出上行测试信号;
所述计算机设备,还用于控制已校正的待测设备接收所述收发接收机输出的上行测试信号,并将所述上行测试信号发送给所述单源收发天线;
所述单源收发天线,还用于接收所述已校正的待测设备发送的无线发射信号;
所述计算机设备,还用于控制已校正的待测设备接收所述单源收发天线发射的无线发射信号,并在已校正的待测设备和单源收发天线位于不同的方位角以及不同的俯仰角位置时,根据已校正的待测设备的各个发射通道发射的信号,确定所述已校正的待测设备的EIRP是否满足要求。
12.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至9中任一项所述方法的步骤。
13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至9中任一项所述的方法的步骤。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112367126A (zh) * 2020-09-28 2021-02-12 北京遥测技术研究所 一种星载数字多波束通信载荷地面标校方法
CN113204035A (zh) * 2021-03-17 2021-08-03 网络通信与安全紫金山实验室 测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法和系统
CN113740798A (zh) * 2021-07-23 2021-12-03 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种宽带射频系统俯仰面的精确测向方法
CN113765600A (zh) * 2021-09-18 2021-12-07 上海交通大学 一种分布式阵列天线的收发参数自矫正方法
CN115561531A (zh) * 2022-11-10 2023-01-03 成都华芯天微科技有限公司 一种相控阵天线多波束通道校准系统
CN117572531A (zh) * 2024-01-16 2024-02-20 电子科技大学 一种智能检波器埋置质量测试方法及系统

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110122016A1 (en) * 2007-12-31 2011-05-26 Elta Systems Ltd. Phased array antenna having integral calibration network and method for measuring calibration ratio thereof
US20120146840A1 (en) * 2010-12-09 2012-06-14 Denso Corporation Phased array antenna and its phase calibration method
CN105353229A (zh) * 2015-10-20 2016-02-24 上海无线电设备研究所 一种基于一维旋转的相控阵幅相误差近场校准方法
CN105606906A (zh) * 2015-12-24 2016-05-25 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种毫米波相控阵测试标定方法
US20160345286A1 (en) * 2014-01-30 2016-11-24 Ucl Business Plc Apparatus and method for calibrating a wireless access point comprising an array of multiple antennas
CN109309533A (zh) * 2018-09-04 2019-02-05 华为技术有限公司 一种校准方法及设备

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110122016A1 (en) * 2007-12-31 2011-05-26 Elta Systems Ltd. Phased array antenna having integral calibration network and method for measuring calibration ratio thereof
US20120146840A1 (en) * 2010-12-09 2012-06-14 Denso Corporation Phased array antenna and its phase calibration method
US20160345286A1 (en) * 2014-01-30 2016-11-24 Ucl Business Plc Apparatus and method for calibrating a wireless access point comprising an array of multiple antennas
CN105353229A (zh) * 2015-10-20 2016-02-24 上海无线电设备研究所 一种基于一维旋转的相控阵幅相误差近场校准方法
CN105606906A (zh) * 2015-12-24 2016-05-25 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种毫米波相控阵测试标定方法
CN109309533A (zh) * 2018-09-04 2019-02-05 华为技术有限公司 一种校准方法及设备

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王晓波 等: "数字多波束相控阵天线在测控系统中的应用研究", 《遥测遥控》 *

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112367126A (zh) * 2020-09-28 2021-02-12 北京遥测技术研究所 一种星载数字多波束通信载荷地面标校方法
CN112367126B (zh) * 2020-09-28 2022-10-28 北京遥测技术研究所 一种星载数字多波束通信载荷地面标校方法
CN113204035A (zh) * 2021-03-17 2021-08-03 网络通信与安全紫金山实验室 测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法和系统
WO2022193402A1 (zh) * 2021-03-17 2022-09-22 网络通信与安全紫金山实验室 测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法和系统
CN113204035B (zh) * 2021-03-17 2024-05-28 网络通信与安全紫金山实验室 测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法和系统
CN113740798A (zh) * 2021-07-23 2021-12-03 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种宽带射频系统俯仰面的精确测向方法
CN113740798B (zh) * 2021-07-23 2023-05-12 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种宽带射频系统俯仰面的精确测向方法
CN113765600A (zh) * 2021-09-18 2021-12-07 上海交通大学 一种分布式阵列天线的收发参数自矫正方法
CN115561531A (zh) * 2022-11-10 2023-01-03 成都华芯天微科技有限公司 一种相控阵天线多波束通道校准系统
CN115561531B (zh) * 2022-11-10 2023-03-07 成都华芯天微科技有限公司 一种相控阵天线多波束通道校准系统
CN117572531A (zh) * 2024-01-16 2024-02-20 电子科技大学 一种智能检波器埋置质量测试方法及系统
CN117572531B (zh) * 2024-01-16 2024-03-26 电子科技大学 一种智能检波器埋置质量测试方法及系统

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