CN111610430A - 一种图形处理芯片gpu老化试验装置 - Google Patents

一种图形处理芯片gpu老化试验装置 Download PDF

Info

Publication number
CN111610430A
CN111610430A CN202010440350.5A CN202010440350A CN111610430A CN 111610430 A CN111610430 A CN 111610430A CN 202010440350 A CN202010440350 A CN 202010440350A CN 111610430 A CN111610430 A CN 111610430A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sliding
fixedly connected
gpu
processing chip
sides
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010440350.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111610430B (zh
Inventor
马卫东
杜秋平
陈惠玲
胡斌
李亚飞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu Cisco Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Chengdu Cisco Microelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu Cisco Microelectronics Co Ltd filed Critical Chengdu Cisco Microelectronics Co Ltd
Priority to CN202010440350.5A priority Critical patent/CN111610430B/zh
Publication of CN111610430A publication Critical patent/CN111610430A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111610430B publication Critical patent/CN111610430B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

本发明公开了一种图形处理芯片GPU老化试验装置，具体涉及计算机硬件检测技术领域，包括将GPU本体底部插口与PCIE插座插接，CIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接，通过带动固定板移动调整GPU本体的对应高度，能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度，通过对进尘管内撒入粉尘，电热丝网工作风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体，且密封箱内腔两侧与散热机构对应位置开设有通风孔。本发明通过设置测试机构和升降机构，使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化测试，提高数据准确度，确保产品出厂可靠耐用性，与现有技术相比有效避免密封箱内高温环境以及灰尘情况下对PC主机硬件的损耗，有效延长本发明整体使用寿命。

Description

一种图形处理芯片GPU老化试验装置
技术领域
本发明涉及计算机硬件检测技术领域，更具体地说，本发明涉及一种图形处理芯片GPU老化试验装置。
背景技术
图形处理器，缩写：GPU，又称显示核心、视觉处理器、显示芯片，是一种专门在个人电脑、工作站、游戏机和一些移动设备(如平板电脑、智能手机等)上做图像和图形相关运算工作的微处理器，GPU使显卡减少了对CPU的依赖，并进行部分原本CPU的工作，尤其是在3D图形处理时GPU所采用的核心技术有硬件T&L(几何转换和光照处理)、立方环境材质贴图和顶点混合、纹理压缩和凹凸映射贴图、双重纹理四像素256位渲染引擎等，而硬件T&L技术可以说是GPU的标志。
为了保证图像处理芯片工作状态的稳定性，在设计投产后需要对不同型号的GPU进行老化测试以保证耐用性和寿命，现有的GPU老化试验多只能够通过加载电流进行长时间工作测试，耗时较久的同时在模拟高温灰尘场景下会对其他计算机硬件造成不利的影响，整体测试平台使用寿命较低，并且无法完全模拟使用环境，导致老化试验数据有误。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺陷，本发明的实施例提供一种图形处理芯片GPU老化试验装置，本发明所要解决的技术问题是：GPU老化试验多只能够通过加载电流进行长时间工作测试，耗时较久的同时在模拟高温灰尘场景下会对其他计算机硬件造成不利的影响，整体测试平台使用寿命较低的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括底座和密封箱，所述底座顶部与密封箱底部固定连接，所述底座顶部滑动连接有滑动机构，所述滑动机构顶部固定连接有升降机构，所述升降机构一侧固定连接有测试机构，所述密封箱两侧均设有散热机构，且密封箱内腔一侧两端均固定连接有安装座，且两侧安装座内固定安装有电热丝网，且密封箱内腔两侧与散热机构对应位置开设有通风孔；
所述滑动机构包括滑座，所述滑座一侧固定连接有第二把手，所述底座顶部开设有滑槽，所述滑座滑动连接在滑槽内，所述滑座两侧均开设有限位槽，所述滑槽内腔一端固定连接有凸块，所述凸块与限位槽一侧相贴合，所述滑座顶部固定连接有连接板，所述升降机构包括固定座，所述固定座底部与连接板顶部固定连接，所述固定座内腔滑动连接有滑动块，所述滑动块顶部嵌设有螺纹帽，所述螺纹帽内螺纹连接有螺纹柱，所述螺纹柱两端均固定连接有转轴，所述转轴外侧壁套设有轴承，且两个轴承分别嵌设于固定座内腔两侧，且位于顶部的转轴顶端固定连接有第一把手；
所述测试机构包括固定板，所述固定板一侧与滑动块一侧固定连接，所述固定板一侧固定连接有PCIE插座，所述PCIE插座插接有GPU本体，所述PCIE插座顶部连接有PCIE延长线，所述密封箱内腔一侧开设有第一通孔和第二通孔，所述底座顶部放置有PC主机，所述PC主机一侧与密封箱一侧相贴合，所述PCIE延长线另一端穿过第一通孔与PC主机相连接；
所述散热机构包括两个限位板，且两侧限位板分别相对固定连接在密封箱外壁两侧，且对应位置一侧的两个限位板之间卡接有风扇，所述限位板顶部嵌设有滑套，所述滑套内滑动连接有滑杆，所述滑杆顶端固定连接有顶块，所述滑杆底端固定连接有挤压垫，所述挤压垫与风扇相贴合，所述滑杆外侧壁套设有弹簧，所述弹簧两端分别与顶块和滑套对应位置固定连接。
通过拉动第二把手带动滑座在滑槽内滑动并带动限位槽与凸块分离，滑座一侧拉动连接板和固定座以及固定板向密封箱一侧开口处移动，将GPU本体底部插口与PCIE插座插接，推动滑座复位后，PCIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接，在对有外接供电的GPU本体安装时，通过将外接电源线与GPU本体连接后通过第二通孔与PC主机电源相连接，通过拧动第二把手能够带动转轴和螺纹柱转动，螺纹柱转动带动螺纹连接的螺纹帽和滑动块带动固定板上下移动，固定板移动调整GPU本体的对应高度，能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度，提高测试准确度，降低因安装位置导致的电流变化，滑座的拉动抽出有效方便对GPU本体进行装配，同时方便对密封箱和底座进行清理，GPU本体的信号输出线能够穿过排线孔与外部显示屏连接以保证数据输出，并且两侧风扇转动能够在同时对密封箱内空气进行散发，能够模拟在机箱通风正常状态下对GPU本体进行老化测试，在需要进行恶劣环境测试时，通过对进尘管内撒入粉尘，风扇转动保证灰尘分散堆积后，打开电热丝网工作，风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体，使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化测试，通过多种测试环境有效模拟老化试验，提高数据准确度，确保产品出厂可靠耐用性，同时通过PCIE延长线与外部PC主机连接，有效避免密封箱内高温环境以及灰尘情况下对PC主机硬件的损耗，并且只需要定期对PCIE插座以及PCIE延长线更换即可满足对GPU本体单独的老化测试，有效延长本发明整体使用寿命。
在一个优选的实施方式中，所述GPU本体一侧连接有外接电源线，所述外接电源线穿过第二通孔与PC主机相连接，满足不同功率的GPU本体测试需要，能够进行辅助供电。
在一个优选的实施方式中，所述密封箱和底座一侧贴合有盖板，且密封箱与盖板对应位置开设有开口，所述盖板一侧设有合页，所述盖板通过合页与密封箱铰接，在高温灰尘环境下避免热量和灰尘散发。
在一个优选的实施方式中，所述盖板一侧开设有观察窗，实时观察GPU本体状态。
在一个优选的实施方式中，所述密封箱内腔靠近GPU本体一侧开设有排线孔，所述GPU本体一侧连接有信号输出线，所述信号输出线穿过排线孔与外部显示屏相连接，保证GPU本体工作下的数据输出。
在一个优选的实施方式中，所述通风孔内固定连接有滤网，避免外部灰尘进入影响到数据精确度。
在一个优选的实施方式中，所述密封箱顶部连通有进尘管，方便快速模拟灰尘堆积分布。
在一个优选的实施方式中，所述限位板的横截面形状为L形，提高对风扇的限位效果。
1、本发明通过设置测试机构和升降机构，将GPU本体底部插口与PCIE插座插接，CIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接，通过带动固定板移动调整GPU本体的对应高度，能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度，通过对进尘管内撒入粉尘，电热丝网工作风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体，使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化测试，提高数据准确度，确保产品出厂可靠耐用性，与现有技术相比有效避免密封箱内高温环境以及灰尘情况下对PC主机硬件的损耗，有效延长本发明整体使用寿命；
2、本发明通过设置弹簧和风扇，风扇卡接在限位板内，弹簧利用自身拉力带动滑杆和挤压垫对风扇进行挤压固定，当风扇需要清理维护时，通过拉动两侧顶块带动滑杆在滑套内移动并带动挤压垫与风扇分离，风扇能够从限位板内抽出，有效方便工作人员对风扇进行拆卸清理。
附图说明
图1为本发明的正视剖面结构示意图。
图2为本发明的图1中A部分放大示意图。
图3为本发明的图1中B部分放大示意图。
图4为本发明的图1中C部分放大示意图。
图5为本发明的正视结构示意图。
图6为本发明的测试机构立体结构示意。
图7为本发明的后视结构示意。
附图标记为：1底座、2密封箱、3进尘管、4安装座、5电热丝网、6滑动机构、601滑座、602滑槽、603限位槽、604凸块、605连接板、606第二把手、7升降机构、701固定座、702轴承、703转轴、704螺纹柱、705螺纹帽、706滑动块、707第一把手、8测试机构、801固定板、802PCIE插座、803 GPU本体、804 PCIE延长线、805第一通孔、806第二通孔、807外接电源线、808PC主机、809信号输出线、9散热机构、901限位板、902滑套、903弹簧、904滑杆、905顶块、906挤压垫、907风扇、10通风孔、11滤网、12排线孔、13盖板、14观察窗、15合页。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供了一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括底座1和密封箱2，所述底座1顶部与密封箱2底部固定连接，所述底座1顶部滑动连接有滑动机构6，所述滑动机构6顶部固定连接有升降机构7，所述升降机构7一侧固定连接有测试机构8，所述密封箱2两侧均设有散热机构9，且密封箱2内腔一侧两端均固定连接有安装座4，且两侧安装座4内固定安装有电热丝网5，且密封箱2内腔两侧与散热机构9对应位置开设有通风孔10；
所述滑动机构6包括滑座601，所述滑座601一侧固定连接有第二把手606，所述底座1顶部开设有滑槽602，所述滑座601滑动连接在滑槽602内，所述滑座601两侧均开设有限位槽603，所述滑槽602内腔一端固定连接有凸块604，所述凸块604与限位槽603一侧相贴合，所述滑座601顶部固定连接有连接板605，所述升降机构7包括固定座701，所述固定座701底部与连接板605顶部固定连接，所述固定座701内腔滑动连接有滑动块706，所述滑动块706顶部嵌设有螺纹帽705，所述螺纹帽705内螺纹连接有螺纹柱704，所述螺纹柱704两端均固定连接有转轴703，所述转轴703外侧壁套设有轴承702，且两个轴承702分别嵌设于固定座701内腔两侧，且位于顶部的转轴703顶端固定连接有第一把手707；
所述测试机构8包括固定板801，所述固定板801一侧与滑动块706一侧固定连接，所述固定板801一侧固定连接有PCIE插座802，所述PCIE插座802插接有GPU本体803，所述PCIE插座802顶部连接有PCIE延长线804，所述密封箱2内腔一侧开设有第一通孔805和第二通孔806，所述底座1顶部放置有PC主机808，所述PC主机808一侧与密封箱2一侧相贴合，所述PCIE延长线804另一端穿过第一通孔805与PC主机808相连接。
所述GPU本体803一侧连接有外接电源线807，所述外接电源线807穿过第二通孔806与PC主机808相连接，所述密封箱2和底座1一侧贴合有盖板13，且密封箱2与盖板13对应位置开设有开口，所述盖板13一侧设有合页15，所述盖板13通过合页15与密封箱2铰接，所述盖板13一侧开设有观察窗14，所述密封箱2内腔靠近GPU本体803一侧开设有排线孔12，所述GPU本体803一侧连接有信号输出线809，所述信号输出线809穿过排线孔12与外部显示屏相连接，所述通风孔10内固定连接有滤网11，所述密封箱2顶部连通有进尘管3。
如图1-7所示，实施方式具体为：打开盖板13漏出开口，通过拉动第二把手606带动滑座601在滑槽602内滑动并带动限位槽603与凸块604分离，滑座601一侧拉动连接板605和固定座701以及固定板801向密封箱2一侧开口处移动，将GPU本体803底部插口与PCIE插座802插接，推动滑座601复位后，PCIE插座802通过PCIE延长线804与PC主机808内部主板PCIE连接，在对有外接供电的GPU本体803安装时，通过将外接电源线807与GPU本体803连接后通过第二通孔806与PC主机808电源相连接，通过拧动第二把手606能够带动转轴703和螺纹柱704转动，螺纹柱704转动带动螺纹连接的螺纹帽705和滑动块706带动固定板801上下移动，固定板801移动调整GPU本体803的对应高度，能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度，提高测试准确度，降低因安装位置导致的电流变化，滑座601的拉动抽出有效方便对GPU本体803进行装配，同时方便对密封箱2和底座1进行清理，GPU本体803的信号输出线809能够穿过排线孔12与外部显示屏连接以保证数据输出，并且两侧风扇907转动能够在同时对密封箱2内空气进行散发，能够模拟在机箱通风正常状态下对GPU本体803进行老化测试，在需要进行恶劣环境测试时，通过对进尘管3内撒入粉尘，风扇907转动保证灰尘分散堆积后，打开电热丝网5工作，风扇907吹动鼓风将热量通入GPU本体803，使得GPU本体803能够在高温高尘环境下进行压力老化测试，通过多种测试环境有效模拟老化试验，提高数据准确度，确保产品出厂可靠耐用性，同时通过PCIE延长线804与外部PC主机808连接，并且通过PC主机808以及监测软件对老化测试实验数据进行保存记录，有效避免密封箱2内高温环境以及灰尘情况下对PC主机808硬件的损耗，并且只需要定期对PCIE插座802以及PCIE延长线804更换即可满足对GPU本体803单独的老化测试，有效延长本发明整体使用寿命。
所述散热机构9包括两个限位板901，且两侧限位板901分别相对固定连接在密封箱2外壁两侧，且对应位置一侧的两个限位板901之间卡接有风扇907，所述限位板901顶部嵌设有滑套902，所述滑套902内滑动连接有滑杆904，所述滑杆904顶端固定连接有顶块905，所述滑杆904底端固定连接有挤压垫906，所述挤压垫906与风扇907相贴合，所述滑杆904外侧壁套设有弹簧903，所述弹簧903两端分别与顶块905和滑套902对应位置固定连接，所述限位板901的横截面形状为L形。
如图1-4所示，实施方式具体为：风扇907通过电源线与PC主机808电源相连接，风扇907卡接在限位板901内，弹簧903利用自身拉力带动滑杆904和挤压垫906对风扇907进行挤压固定，当风扇907需要清理维护时，通过拉动两侧顶块905带动滑杆904在滑套902内移动并带动挤压垫906与风扇907分离，风扇907能够从限位板901内抽出，从而有效方便工作人员对风扇907进行拆卸清理。
本发明工作原理：
参照说明书附图1-7，打开盖板13漏出开口，通过拉动第二把手606带动滑座601在滑槽602内滑动并带动限位槽603与凸块604分离，滑座601一侧拉动连接板605和固定座701以及固定板801向密封箱2一侧开口处移动，将GPU本体803底部插口与PCIE插座802插接，推动滑座601复位后，PCIE插座802通过PCIE延长线804与PC主机808内部主板PCIE连接，在对有外接供电的GPU本体803安装时，通过将外接电源线807与GPU本体803连接后通过第二通孔806与PC主机808电源相连接，通过拧动第二把手606能够带动转轴703和螺纹柱704转动，螺纹柱704转动带动螺纹连接的螺纹帽705和滑动块706带动固定板801上下移动，固定板801移动调整GPU本体803的对应高度，GPU本体803的信号输出线809能够穿过排线孔12与外部显示屏连接以保证数据输出，并且两侧风扇907转动能够在同时对密封箱2内空气进行散发，通过对进尘管3内撒入粉尘，风扇907转动保证灰尘分散堆积后，打开电热丝网5工作，风扇907吹动鼓风将热量通入GPU本体803，使得GPU本体803能够在高温高尘环境下进行压力老化测试；
参照说明书附图1-4，风扇907通过电源线与PC主机808电源相连接，风扇907卡接在限位板901内，弹簧903利用自身拉力带动滑杆904和挤压垫906对风扇907进行挤压固定，当风扇907需要清理维护时，通过拉动两侧顶块905带动滑杆904在滑套902内移动并带动挤压垫906与风扇907分离，风扇907能够从限位板901内抽出，方便工作人员对风扇907进行拆卸清理。
最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；
其次：本发明公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本发明同一实施例及不同实施例可以相互组合；
最后：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括底座(1)和密封箱(2)，其特征在于：所述底座(1)顶部与密封箱(2)底部固定连接，所述底座(1)顶部滑动连接有滑动机构(6)，所述滑动机构(6)顶部固定连接有升降机构(7)，所述升降机构(7)一侧固定连接有测试机构(8)，所述密封箱(2)两侧均设有散热机构(9)，且密封箱(2)内腔一侧两端均固定连接有安装座(4)，且两侧安装座(4)内固定安装有电热丝网(5)，且密封箱(2)内腔两侧与散热机构(9)对应位置开设有通风孔(10)；
所述滑动机构(6)包括滑座(601)，所述滑座(601)一侧固定连接有第二把手(606)，所述底座(1)顶部开设有滑槽(602)，所述滑座(601)滑动连接在滑槽(602)内，所述滑座(601)两侧均开设有限位槽(603)，所述滑槽(602)内腔一端固定连接有凸块(604)，所述凸块(604)与限位槽(603)一侧相贴合，所述滑座(601)顶部固定连接有连接板(605)，所述升降机构(7)包括固定座(701)，所述固定座(701)底部与连接板(605)顶部固定连接，所述固定座(701)内腔滑动连接有滑动块(706)，所述滑动块(706)顶部嵌设有螺纹帽(705)，所述螺纹帽(705)内螺纹连接有螺纹柱(704)，所述螺纹柱(704)两端均固定连接有转轴(703)，所述转轴(703)外侧壁套设有轴承(702)，且两个轴承(702)分别嵌设于固定座(701)内腔两侧，且位于顶部的转轴(703)顶端固定连接有第一把手(707)；
所述测试机构(8)包括固定板(801)，所述固定板(801)一侧与滑动块(706)一侧固定连接，所述固定板(801)一侧固定连接有PCIE插座(802)，所述PCIE插座(802)插接有GPU本体(803)，所述PCIE插座(802)顶部连接有PCIE延长线(804)，所述密封箱(2)内腔一侧开设有第一通孔(805)和第二通孔(806)，所述底座(1)顶部放置有PC主机(808)，所述PC主机(808)一侧与密封箱(2)一侧相贴合，所述PCIE延长线(804)另一端穿过第一通孔(805)与PC主机(808)相连接；
所述散热机构(9)包括两个限位板(901)，且两侧限位板(901)分别相对固定连接在密封箱(2)外壁两侧，且对应位置一侧的两个限位板(901)之间卡接有风扇(907)，所述限位板(901)顶部嵌设有滑套(902)，所述滑套(902)内滑动连接有滑杆(904)，所述滑杆(904)顶端固定连接有顶块(905)，所述滑杆(904)底端固定连接有挤压垫(906)，所述挤压垫(906)与风扇(907)相贴合，所述滑杆(904)外侧壁套设有弹簧(903)，所述弹簧(903)两端分别与顶块(905)和滑套(902)对应位置固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于：所述GPU本体(803)一侧连接有外接电源线(807)，所述外接电源线(807)穿过第二通孔(806)与PC主机(808)相连接。
3.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于：所述密封箱(2)和底座(1)一侧贴合有盖板(13)，且密封箱(2)与盖板(13)对应位置开设有开口，所述盖板(13)一侧设有合页(15)，所述盖板(13)通过合页(15)与密封箱(2)铰接。
4.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于：所述盖板(13)一侧开设有观察窗(14)。
5.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于：所述密封箱(2)内腔靠近GPU本体(803)一侧开设有排线孔(12)，所述GPU本体(803)一侧连接有信号输出线(809)，所述信号输出线(809)穿过排线孔(12)与外部显示屏相连接。
6.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于：所述通风孔(10)内固定连接有滤网(11)。
7.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于：所述密封箱(2)顶部连通有进尘管(3)。
8.根据权利要求1所述的一种图形处理芯片GPU老化试验装置，其特征在于：所述限位板(901)的横截面形状为L形。
CN202010440350.5A 2020-05-22 2020-05-22 一种图形处理芯片gpu老化试验装置 Active CN111610430B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010440350.5A CN111610430B (zh) 2020-05-22 2020-05-22 一种图形处理芯片gpu老化试验装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010440350.5A CN111610430B (zh) 2020-05-22 2020-05-22 一种图形处理芯片gpu老化试验装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111610430A true CN111610430A (zh) 2020-09-01
CN111610430B CN111610430B (zh) 2021-01-05

Family

ID=72205184

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010440350.5A Active CN111610430B (zh) 2020-05-22 2020-05-22 一种图形处理芯片gpu老化试验装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111610430B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115754686A (zh) * 2023-01-09 2023-03-07 法特迪精密科技（苏州）有限公司 一种温度循环老化测试插座及测试方法
CN116990671A (zh) * 2023-09-21 2023-11-03 叩持(西安)电子信息技术有限公司 一种图形处理芯片gpu老化试验装置
CN118169438A (zh) * 2024-05-15 2024-06-11 吉林电子信息职业技术学院 一种电子元件老化测试装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110215825A1 (en) * 2010-03-03 2011-09-08 Nvidia Corporation System and method for temperature cycling
CN205176212U (zh) * 2015-11-02 2016-04-20 苏州和冠电子科技有限公司 一种电路板测试装置
US9366721B2 (en) * 2014-09-25 2016-06-14 Pentamaster Instrumentation Sdn Bhd Apparatus for burn-in test
CN207133396U (zh) * 2017-08-10 2018-03-23 杭州敏坤电子科技有限公司 一种摄像电路板紫外线抗老化测试装置
CN108519548A (zh) * 2018-03-21 2018-09-11 杭州可靠性仪器厂 集成电路老化试验装置
CN108828432A (zh) * 2018-06-08 2018-11-16 湖州慧能机电科技有限公司 一种大功率芯片老化测试装置
CN109270433A (zh) * 2018-09-28 2019-01-25 郑州辛西亚信息科技有限公司 一种计算机主板高温检测装置
CN210181164U (zh) * 2019-03-14 2020-03-24 深圳市佰盾智能技术有限公司 一种显卡测试治具及显卡夹具

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110215825A1 (en) * 2010-03-03 2011-09-08 Nvidia Corporation System and method for temperature cycling
US9366721B2 (en) * 2014-09-25 2016-06-14 Pentamaster Instrumentation Sdn Bhd Apparatus for burn-in test
CN205176212U (zh) * 2015-11-02 2016-04-20 苏州和冠电子科技有限公司 一种电路板测试装置
CN207133396U (zh) * 2017-08-10 2018-03-23 杭州敏坤电子科技有限公司 一种摄像电路板紫外线抗老化测试装置
CN108519548A (zh) * 2018-03-21 2018-09-11 杭州可靠性仪器厂 集成电路老化试验装置
CN108828432A (zh) * 2018-06-08 2018-11-16 湖州慧能机电科技有限公司 一种大功率芯片老化测试装置
CN109270433A (zh) * 2018-09-28 2019-01-25 郑州辛西亚信息科技有限公司 一种计算机主板高温检测装置
CN210181164U (zh) * 2019-03-14 2020-03-24 深圳市佰盾智能技术有限公司 一种显卡测试治具及显卡夹具

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115754686A (zh) * 2023-01-09 2023-03-07 法特迪精密科技（苏州）有限公司 一种温度循环老化测试插座及测试方法
CN115754686B (zh) * 2023-01-09 2023-04-14 法特迪精密科技（苏州）有限公司 一种温度循环老化测试插座及测试方法
CN116990671A (zh) * 2023-09-21 2023-11-03 叩持(西安)电子信息技术有限公司 一种图形处理芯片gpu老化试验装置
CN116990671B (zh) * 2023-09-21 2023-12-12 叩持(西安)电子信息技术有限公司 一种图形处理芯片gpu老化试验装置
CN118169438A (zh) * 2024-05-15 2024-06-11 吉林电子信息职业技术学院 一种电子元件老化测试装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN111610430B (zh) 2021-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111610430B (zh) 一种图形处理芯片gpu老化试验装置
CN207233317U (zh) 一种新型节能led显示装置
CN102402477A (zh) 具有计算机系统环境信息监控模块的芯片与计算机系统
CN105791808B (zh) 多功能带有立体视频动漫机的无线导游系统
CN207992906U (zh) 一种拼接式的计算机机箱
CN211787839U (zh) 一种多媒体城市规划模型展示装置
CN205585723U (zh) 一种设计用展示装置
CN201251710Y (zh) 一种插件式监控装置信号发生器
CN207518988U (zh) Led显示屏的后盖及led显示屏
CN203592805U (zh) 顶部带提手的3d打印机
CN206819208U (zh) 一种计算机与外部设备的简便连接装置
CN212779984U (zh) 熵检测试工装
CN207638793U (zh) 可拆卸监视器
CN206541191U (zh) 一种可编程控制器
CN111693927A (zh) 一种电能计量设备检测装置及其控制方法
CN208589232U (zh) 一种体感式双屏展示装置
CN213457204U (zh) 一种增强现实的变电站主设备用高压试验预演装置
CN206557342U (zh) 一种用于检测雷波泵站故障的装置
CN215868459U (zh) 雷达体感可视化展示屏
NVidia SDK
CN112114261B (zh) 一种测试电池内阻的集成芯片
CN214540572U (zh) 一种信息技术用计算机显示器
CN203327134U (zh) 一种带雨刷的球型激光夜视仪
CN219457078U (zh) 一种3d模型展示设备
CN218547405U (zh) 教育会议一体机主板

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant