CN111563042A - 一种应用于Wi-Fi5芯片的无线性能测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种应用于Wi‑Fi 5芯片的无线性能测试系统及方法，属于无线局域网性能测试领域，解决了现有的测试系统或方法由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个被测芯片的同时测试和升级迭代周期长造成的测试效率低的问题。所述测试系统用于分别与多个待测芯片和多个测试仪器相连，其中的测试仪器用于根据所述无线性能测试系统对待测芯片进行测试；所述无线性能测试系统包括测试用例模块、自定义平台、设备平台和驱动设备。实现了测试项目的高效配置，提高了测试系统的测试效率。

Description

一种应用于Wi-Fi5芯片的无线性能测试系统及方法

技术领域

本发明涉及无线局域网性能测试技术领域，尤其涉及一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统及方法。

背景技术

Wi-Fi 5(IEEE 802.11ac)芯片在我们日常的消费电子产品中也更加常见，如何有效地、快速地对Wi-Fi 5芯片的无线性能进行评估、保障芯片质量、加快Wi-Fi 5产品研发迭代周期有着重要意义。

IEEE 802.11标准依然正在快速演进，这导致测试标准也需要根据协议随时调整。面对测试标准的调整，整个测试系统需要完成升级、构建和部署等一系列工作，最终以完整解决方案的形式交付给测试人员使用。现有测试系统的用户接口大多是为命令行接口，基于命令实现相应的功能，难以展示给用户图形化的界面，造成用户体验度低的问题。其次，难以实现标准测试用例与待测芯片的参数相配置，同时，在发阶段存在由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个被测芯片的同时测试、升级迭代周期长的问题。对于被测芯片的研发测试由被研发人员完成，对被测芯片的生产测试可能会由生产人员完成，将被测芯片的研发测试和生产测试分离开来，从新需求的出现，到完成研发迭代周期，再到最终部署和批量生产使用需要经历很长的过程，造成现有的测试系统测试效率较低的问题。

发明内容

鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统及方法，用以解决现有的测试系统或方法由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个被测芯片的同时测试和升级迭代周期长造成的测试效率低的问题。

一方面，本发明实施例提供了一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统，所述测试系统用于分别与多个待测芯片和多个测试仪器相连，其中的测试仪器用于根据所述无线性能测试系统对待测芯片进行测试；所述无线性能测试系统包括：

测试用例模块，包括对应于所述待测芯片待测性能需求的多个标准测试用例；

自定义平台，用于获取所述标准测试用例并基于待测芯片的测试参数为所述标准测试用例配置相应参数，以及，还用于对接收到的设备平台输出的测试结果进行统计并显示；

设备平台，用于接收所述自定义平台输出的已配置参数的标准测试用例并解析，得到所述待测芯片的控制函数，以及，接收测试仪器输出的测试结果；

驱动设备，用于接收所述待测设备输出的控制函数，并驱动测试仪器对相应的待测芯片进行性能测试。

进一步，所述自定义平台包括：

图形化引擎，用于提供用户操作界面，接收用户输入的测试仪器参数和待测芯片的测试参数；

核心控制模块，用于基于所述测试仪器参数为所述待测芯片选择相应的测试仪器，还用于基于所述待测芯片的测试参数为获取的所述标准测试用例配置相应参数。

进一步，所述核心控制模块包括：

测试仪器管理单元，用于管理测试仪器的基本信息，以及基于测试仪器参数和所述测试仪器的基本信息选择相应的测试仪器；

待测设备管理单元，用于管理待测芯片的基本信息；

循环控制单元，用于将已配置参数的标准测试用例输出至设备平台以及，还用于接收测试仪器输出的测试结果；

测试结果处理单元，用于接收所述循环控制单元输出的测试结果并统计，将统计结果输出至图形化引擎用于显示。

测试用例管理单元，用于根据待测芯片的测试参数配置标准测试用例的相应参数，并将测试用例模块的相应参数进行更新。

进一步，所述核心控制模块还包括集成测试管理单元，用于实现待测芯片的生产测试；所述标准测试用例，包括发送标准测试用例、频偏校正标准测试用例、频偏校正标准测试用例和接收标准测试用例；其中，所述生产测试执行下述流程：

S11、基于获取的发送标准测试用例，对所述待测芯片进行发送测试，并判断发送测试是否通过，若是，执行步骤S15，若否，执行步骤S12；

S12、设备平台解析频偏校正标准测试用例，得到频偏校准函数，利用所述频偏校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行频偏校准；

S13、设备平台解析功率校正标准测试用例，得到功率校准函数，所述功率校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行功率校准；

S14、退出校准状态，继续进行发送测试；

S15、基于获取的接收标准测试用例进行接收测试，接收测试完成后则完成生产测试。

进一步，所述集成测试管理单元，还用于实现待测芯片的研发测试；所述研发测试执行下述流程：

S21、设备平台解析所述频偏校正标准测试用例，得到频偏校准函数，所述频偏校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行频偏校准；

S22、设备平台解析所述功率校正标准测试用例，得到功率校准函数，所述功率校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行功率校准；

S22、退出校准状态，完成研发测试。

进一步，所述设备平台和包括：

测试项目解析器，用于解析已配置参数的标准测试用例，得到被测芯片的控制函数；所述解析包括如下步骤：

分离所述标准测试用例，得到单个测试用例；

识别所述单个测试用例的关键字，得到枚举类型命令；

基于所述枚举类型命令，解析所述单个测试用例中的每一个参数，得到被测芯片的控制函数；

测试结果接收模块，用于接收测试仪器输出的测试结果。

进一步，所述被测芯片与驱动设备上的测试驱动接口连接，所述测试仪器与设备平台通过以太网连接；所述被测芯片与测试仪器通过射频线连接。

另一方面，本发明实施例提供了一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试方法，包括如下步骤：

连接测试仪器及待测芯片；

接收用户输入的测试仪器参数和待测芯片的测试参数；

基于测试指令，获取测试用例并为所述测试用例配置与所述待测芯片相应的参数；

解析所述已配置参数的测试用例，得到待测芯片的控制函数；

根据所述待测芯片的控制函数驱动测试仪器对所述待测芯片进行性能测试；

接收测试仪器获得的测试结果并对所述测试结果进行统计，将统计结果显示在用户界面。

进一步，所述测试仪器及待测芯片通过射频线连接。

与现有技术相比，本发明至少可实现如下有益效果之一：

1、一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统，通过自定义平台、测试用例模块和设备平台相配合的方式，解决现有的测试系统或方法由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个被测芯片的同时测试和升级迭代周期长造成的测试效率低的问题，提高了测试系统的效率。

2、通过图形化引擎，将各种执行功能以按钮形式在界面上呈现给用户，解决了现有的测试系统基于命令实现相应的执行功能，难以展示给用户图形化的界面，提高了用户的体验度和满意度。

3、集成测试管理单元通过调用特定的测试用例，对待测芯片进行频偏校准和功率校准，最终实现了待测芯片的生产测试和研发测试，解决了现有的测试系统难以在同一套测试系统实现生产测试和研发测试的问题，提高了测试系统的测试效率。

4、一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试方法，将执行功能显示在操作界面，可提高用户的体验度和满意度。同时，可基于被测芯片的测试参数对测试用例进行相关参数配置，解决了现有的测试系统由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多模被测芯片测试、升级迭代周期长的问题，实现了测试项目的高效配置，提高了测试系统的效率。

本发明中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。

附图说明

附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。

图1为无线性能测试系统内部结构图；

图2为测试用例管理单元的工作流程图；

图3为生产测试流程图；

图4为研发测试流程图；

图5为无线性能测试方法流程图；

附图标记：

100-测试用例模块；200-自定义平台；300-设备平台；210-图形化引擎；220-核心控制模块。

具体实施方式

下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。

现有测试系统的用户接口大多是为命令行接口，难以展示给用户图形化的界面，用户的体验度低。在开发阶段，现有的测试系统由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个待测芯片测试和升级迭代周期长造成测试效率较低。其次，被测芯片的研发测试由被研发人员完成，对被测芯片的生产测试可能会由生产人员完成，将被测芯片的研发测试和生产测试分离开来，被测芯片的测试需要经历很长的过程，造成现有的测试系统测试效率较低的问题。为此，本发明提出一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统及方法，通过图形化引擎为用户提供图像化界面以提高用户的体验度，并通过自定义平台、设备平台和测试驱动相互配合，解决现有的测试系统由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个待测芯片测试和升级迭代周期长而造成测试效率较低的问题，同时该测试系统可同时实现研发测试和生产测试，提高了测试系统的测试效率。

本发明的一个具体实施例，公开了一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统，如图1所示。测试系统用于分别与多个待测芯片和多个测试仪器相连，其中的测试仪器用于根据无线性能测试系统对待测芯片进行测试；无线性能测试系统包括：测试用例模块100，包括对应于待测芯片待测性能需求的多个标准测试用例；自定义平台200，用于获取标准测试用例并基于待测芯片的测试参数为标准测试用例配置相应参数，以及，还用于对接收到的设备平台输出的测试结果进行统计并显示；设备平台300，用于接收自定义平台输出的已配置参数的标准测试用例并解析，得到所述待测芯片的控制函数，以及，接收测试仪器输出的测试结果；驱动设备，用于接收待测设备输出的控制函数，并驱动选择的测试仪器对相应的待测芯片进行性能测试。

实施时，被测芯片与驱动设备上的测试驱动接口连接，测试仪器与设备平台通过以太网连接；被测芯片与测试仪器通过射频线连接。同时，驱动设备设置有多个测试驱动接口，可以支持多个待测芯片测试，节省测试时间。

具体的，测试用例模块包括对应于待测芯片待测性能需求的多个标准测试用例，该测试用例是指对测试芯片进行测试任务的描述，体现测试方案、方法、技术和策略，其中，测试用例的内容可以包括测试目标、测试环境、输入数据、测试步骤、预期结果、测试脚本等，最终形成文档。简单地认为，测试用例是为某个被测芯片而编制的一组测试输入、执行条件以及预期结果，可用于核实被测芯片是否满足某个特定需求。

与现有技术相比，本实施例提供的一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统，自定义平台可以获取测试用例模块中的某些标准测试用例，设备平台可以标准测试用例进行解析，最终实现高效配置测试项目，通过自定义平台、测试用例模块和设备平台相配合的方式，解决现有的测试系统或方法由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个被测芯片的同时测试和升级迭代周期长造成的测试效率低的问题，提高了测试系统的效率。

优选地，自定义平台包括：图形化引擎210，用于提供用户操作界面，接收用户输入的测试仪器参数和待测芯片的测试参数；核心控制模块220，用于基于测试仪器参数为待测芯片选择相应的测试仪器，还用于基于待测芯片的测试参数为获取的标准测试用例配置相应参数。

自定义平台由集成化的图形化引擎和核心控制模块构成。其中，图形化引擎中定义了界面的控件，例如初始化按钮、开始测试按钮、写入校准数据按钮等。图形化引擎的功能主要分为两部分，首先，支持图形化用户界面，为用户提供生产阶段和研发阶段的控制/显示接口，这部分工作主要使用QtCreator中的UI可视化编辑器来完成。其次，自上而下，基于设计完成的界面，通过相应的按钮进行控件和功能的绑定工作具体由核心控制模块实现。

具体来说，图形化引擎的界面包括：①工具栏，负责新建测试会话、选择测试配置脚本、配置测试项目指标以及设置测试输出日志的方式；②生产测试、研发测试切换栏，Manufacture框为生产测试流程选择框；Research框为研发测试框；③待测芯片选择下拉框，自定义平台支持对于不同类型的芯片的测试，根据选择的不同待测芯片，可实现不同待测芯片的测试；④测试仪器选择下拉框，通过该框可选择不同的类型的测试仪器；⑤测试仪器IP地址设置栏，测试仪器是通过以太网和主机进行通信的，使用者需要设置测试仪器在局域网中的IP地址；⑥日志文件保存设置栏，自定义平台支持保存测试流程中的日志，并可以指定保存位置；⑦初始化按键，在参数配置完成之后，点击初始化按键，自定义平台执行连接测试仪器、初始化被测芯片以及Host程序环境(例如根据待测设备不同，执行不同的绑定信号槽流程等)；⑧MAC地址输入框，MAC地址需要测试人员显示的输入；⑨开始和写入按键，在初始化正确执行之后，点击开始按键，程序开始执行测试流程；点击按键，向用户提供独立的“写入”操作功能；⑩结果统计区域，左下角的“Statistics”区域统计总共执行的测试项目数目(Total)、通过的项目数目(Pass)以及失败的项目数目(Fail)。除了这些功能外，图形化引擎的界面还包括测试进度与状态显示区域和测试记录实时显示区域，其中，测试进度与状态显示区域该区域由正上方的测试进度栏和右侧最上方的测试状态显示标签组成。

通过图形化引擎，将各种执行功能以按钮形式在界面上呈现给用户，解决了现有的测试系统基于命令实现相应的执行功能，难以展示给用户图形化的界面，提高了用户的体验度和满意度。

优选地，核心控制模块包括：测试仪器管理单元，用于管理测试仪器的基本信息，以及基于测试仪器参数和测试仪器的基本信息选择相应的测试仪器；待测设备管理单元，用于管理待测芯片的基本信息；循环控制单元，用于将已配置参数的标准测试用例输出至设备平台以及，还用于接收测试仪器输出的测试结果；测试结果处理单元，用于接收循环控制单元输出的测试结果并统计，将统计结果输出至图形化引擎用于显示；测试用例管理单元，用于根据待测芯片的测试参数配置标准测试用例的相应参数，并将测试用例模块的相应参数进行更新。

具体来说，测试仪器管理单元中包括测试仪器状态(正常、故障、停止)、测试仪器基本信息(例如版本号、序列号)、测试仪器信号函数及测试仪器公共函数，其中测试仪器信号函数可用于判断测试仪器是否被成功初始化及测试仪器调用初始化函数后，返回的详细的日志信息，当测试仪器成功被初始化后，以上两个信号函数会被发射，其中包含测试仪器的状态信息和测试仪器的详细日志信息，任何需要该信息的流程，只需要将一个槽函数绑定到这些信号上，就可以获取到相关结果。测试仪器公共函数可用于选择测试仪器类型和写入测试仪器的IP地址。循环控制单元，可将已配置参数的标准测试用例输出至设备平台，还能够接收测试仪器输出的测试结果。测试结果处理单元，能够对接收的测试结果进行统计，然后再进行测试结果汇总和格式化打印，并将统计结果呈现至图像化引擎。

测试用例管理单元的工作流程如图2，测试用例管理单元使用了两T条路径实现了对测试用例模块的高效管理。从测试用例模块到自定义平台的路径，是从测试用例脚本文件中读入当前对测试项目的配置信息，然后将这些信息显示在图形化引擎的窗口中，使用者可以直接通过图形化界面自定义配置测试项目。当配置完成后，基于自定义平台到测试用例模块，自定义平台解析界面上更改了的配置，然后将新的配置信息写入脚本文件。这样做的好处是免去了操作测试用例脚本文件的步骤，大大节省时间，降低错误率，提高测试效率。

优选地，核心控制模块还包括集成测试管理单元，用于实现待测芯片的生产测试；其中，如图3所示，在执行测试流程前，首先需要检测待测芯片能否正常工作，然后连接测试仪器并初始化待测芯片，接着进行下述生产测试流程，在完成生成测试流程后，将进行频偏校准和功率校准的数据写入待测芯片，并由测试人员对待测芯片写入MAC地址，最后卸载待测芯片并断开测试仪器，完成对待测芯片的生产测试测试。生产测试执行下述流程：

S11、对待测芯片进行发送测试，并判断发送测试是否通过，若是，执行步骤S15，若否，执行步骤S12。具体的，自定义平台调用发送标准测试用例的脚本文件，该文件中包含若干测试用例，每一个测试用例代表一个具体发送测试项目，通过套接字将这些测试用例传递给设备平台，设备平台解析这些测试用例；最终调用待测设备驱动，使芯片处于发送状态；同时调用测试仪器提供的可编程仪器标准命令，使测试仪器处于接收状态。此时，主机与测试仪器之间的套接字接口处于等待数据读取状态，测试仪器一旦完成对待测设备发送质量的评估，立刻将测试结果通过套接字接口反馈回设备平台，设备平台进一步将测试结果上传至自定义平台，自定义平台根据使用者配置的发送测试结果标准，并结合设备平台反馈回来的测试结果，判断发送测试是否通过(例如，在某一频点、某一速率下，要求的EVM值满足小于等于-25dB的标准，该标准由用户在界面设置，并通过通用测试用例系统引擎映射至测试用例脚本文件；如果测试结果中EVM为-26dB，那么证明该项发送测试通过，继续判断其他发送测试指标，如频谱模板、频偏等；如果测试结果中EVM为-24dB，那么可以直接证明发送测试不通过)，若是，执行步骤S15，若否，执行步骤S12。

S12、调用特定的频偏校准标准测试用例，该测试用例经过设备平台的解析，可以调用与待测设备驱动接口相应的频偏校准函数，进行频偏校准。

S13、调用特定的功率校准标准测试用例，该测试用例经过设备平台的解析，可以调用与待测设备驱动接口相应的功率校准函数，进行功率校准。

S14、退出校准状态，继续进行发送测试；再次检验待测芯片是否能够通过发送测试。

S15、调用接收标准测试用例的脚本文件，进行接收测试，接收测试完成后则完成生产测试。接收测试和发送测试的原理相似，也是基于调用相应的函数实现。

与生产测试的流程相似，如图4所示，集成测试管理单元，还用于实现待测芯片的研发测试。在执行测试流程前，首先需要检测待测芯片能否正常工作，然后连接测试仪器并初始化待测芯片，接着进行下述生产测试流程，在完成生成测试流程后，将进行频偏校准和功率校准的数据写入待测芯片，并由测试人员对待测芯片写入MAC地址，最后卸载待测芯片并断开测试仪器，完成对待测芯片的生产测试测试。研发测试执行下述流程：

S21、调用特定的测试用例，该测试用例经过设备平台的解析，可以调用待测设备驱动接口中关于频偏校准的函数进行频偏校准；

S22、用特定的测试用例，该测试用例经过设备平台的解析，可以调用待测设备驱动接口中关于功率校准的函数进行功率校准，并判断校准是否结束，若是，执行步骤S23，若否，继续执行步骤S22；

S22、退出校准状态，完成研发测试。

集成测试管理单元通过调用特定的测试用例，对待测芯片进行频偏校准和功率校准，最终实现了待测芯片的生产测试和研发测试，解决了现有的测试系统难以在同一套测试系统实现生产测试和研发测试的问题，提高了测试系统的测试效率。

优选的，设备平台包括：测试项目解析器，用于解析已配置参数的标准测试用例，得到被测芯片的控制函数；测试结果接收模块，用于接收测试仪器输出的测试结果。具体的，该测试项目解析器解析命令的过程其实就是对上层自定义平台传入的标准测试用例进行处理。首先将自定义平台输入的字符串分离成单个测试用例，对于每一个代表一项测试用例的字符串，识别它的命令关键字(例如，发送命令，还是接收命令，还是校准命令，还是写入校准数据的命令)，根据识别的结果，将命令转换成内部用于描述测试类型的枚举数据结构的一项。其次，基于枚举命令，逐项解析该测试用例中的每一个参数，将这些参数填入内部用于描述测试用例参数的数据结构，得到测试芯片的解析函数。解析工作完成后，调用该解析函数使得测试仪器对待测芯片进行测试。

通过设备平台，将已配置参数的标准测试用例进行解析，得到了待测芯片的控制函数，最终实现测试仪器对待测芯片的性能测试，得到了测试结果，实现了待测芯片的性能测试，简单易行，易于实施，该测试平台对整个测试系统具有重要的意义。

本发明的一个具体实施例，如图5所示，公开了一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试方法，包括如下步骤：

步骤是S101、连接测试仪器及待测芯片。其中，测试仪器及待测芯片通过射频线连接，可提高信号的传输效率。

步骤S102、接收用户输入的测试仪器参数和待测芯片的测试参数。用户可通过操作界面输入相关的测试仪器参数和待测芯片的测试参数。

步骤S103、基于测试指令，获取测试用例并为测试用例配置与待测芯片相应的参数。其中，测试指令由用户点击测试按钮触发，基于该测试指令，系统可调用测试用例，并根据待测芯片的参数配置测试用例的相关参数。

步骤S104、解析已配置参数的测试用例，得到待测芯片的控制函数。具体的，解析已配置参数的测试用例由测试项目解析器完成，首先将自定义平台输出的已配置参数的标准测试用例分离，得到单个测试用例，并识别每一代表单个测试用例的中的命令关键字(例如，发送命令、接收命令、校准命令、写入校准数据命令)，得到枚举类型命令，其次，根据该枚举类型命令，逐项解析该测试用例中的每一个参数，将这些参数填入系统内部用于描述测试用例参数的数据结构，得到被测芯片的控制函数。

步骤S105、根据待测芯片的控制函数驱动测试仪器对待测芯片进行性能测试。示例性的，待测芯片得到发送指令，可发送信号至测试仪器，测试仪器基于获得的接收指令，接收待测芯片发送的信号，并对信号的相关性能进行测试，得到测试结果。

步骤S106、接收测试仪器获得的测试结果并对测试结果进行统计，将统计结果显示在用户界面。测试仪器得到测试结果后，将测试结果输出至测试系统进行测试结果统计，最终得到总共执行的测试项目数(Total)、测试通过项目数(Pass)以及测试失败的项目数(Fail)。

通过一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试方法，将执行功能显示在操作界面，可提高用户的体验度和满意度。同时，可基于被测芯片的测试参数对测试用例进行相关参数配置，解决现有的测试系统或方法由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个被测芯片的同时测试和升级迭代周期长造成的测试效率低的问题，实现了测试项目的高效配置，提高了测试系统的效率。

本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读存储介质中。其中，所述计算机可读存储介质为磁盘、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试系统，其特征在于，所述测试系统用于分别与多个待测芯片和多个测试仪器相连，测试仪器用于根据所述无线性能测试系统对待测芯片进行测试；所述无线性能测试系统包括：

测试用例模块，包括对应于所述待测芯片待测性能需求的多个标准测试用例；

自定义平台，用于获取所述标准测试用例并基于待测芯片的测试参数为所述标准测试用例配置相应参数，以及，还用于对接收到的设备平台输出的测试结果进行统计并显示；

设备平台，用于接收所述自定义平台输出的已配置参数的标准测试用例并解析，得到所述待测芯片的控制函数，以及，接收测试仪器输出的测试结果；

驱动设备，用于接收所述待测设备输出的控制函数，并驱动选择的测试仪器对相应的待测芯片进行性能测试。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述自定义平台包括：

图形化引擎，用于提供用户操作界面，接收用户输入的测试仪器参数和待测芯片的测试参数；

核心控制模块，用于基于所述测试仪器参数为所述待测芯片选择相应的测试仪器，还用于基于所述待测芯片的测试参数为获取的所述标准测试用例配置相应参数。

3.根据权利要求2所示的测试系统，其特征在于，所述核心控制模块包括：

测试仪器管理单元，用于管理测试仪器的基本信息，以及基于测试仪器参数和所述测试仪器的基本信息选择相应的测试仪器；

待测设备管理单元，用于管理待测芯片的基本信息；

循环控制单元，用于将已配置参数的标准测试用例输出至设备平台以及，还用于接收测试仪器输出的测试结果；

测试结果处理单元，用于接收所述循环控制单元输出的测试结果并统计，将统计结果输出至图形化引擎用于显示；

测试用例管理单元，用于根据待测芯片的测试参数配置标准测试用例的相应参数，并将测试用例模块的相应参数进行更新。

4.根据权利要求3所示的测试系统，其特征在于，所述核心控制模块还包括集成测试管理单元，用于实现待测芯片的生产测试；所述标准测试用例，包括发送标准测试用例、频偏校正标准测试用例、频偏校正标准测试用例和接收标准测试用例；其中，所述生产测试执行下述流程：

S11、基于获取的发送标准测试用例，对所述待测芯片进行发送测试，并判断发送测试是否通过，若是，执行步骤S15，若否，执行步骤S12；

S12、设备平台解析频偏校正标准测试用例，得到频偏校准函数，利用所述频偏校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行频偏校准；

S13、设备平台解析功率校正标准测试用例，得到功率校准函数，所述功率校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行功率校准；

S14、退出校准状态，继续进行发送测试；

S15、基于获取的接收标准测试用例进行接收测试，接收测试完成后则完成生产测试。

5.根据权利要求4所示的测试系统，其特征在于，所述集成测试管理单元，还用于实现待测芯片的研发测试；所述研发测试执行下述流程：

S21、设备平台解析所述频偏校正标准测试用例，得到频偏校准函数，所述频偏校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行频偏校准；

S22、设备平台解析所述功率校正标准测试用例，得到功率校准函数，所述功率校准函数驱动测试仪器对待测芯片进行功率校准；

S22、退出校准状态，完成研发测试。

6.根据权利要求1所示的测试系统，其特征在于，所述设备平台包括：

测试项目解析器，用于解析已配置参数的标准测试用例，得到被测芯片的控制函数；

测试结果接收模块，用于接收测试仪器输出的测试结果。

7.根据权利要求6所示的测试系统，其特征在于，所述测试项目解析器执行下述流程：

分离对应的标准测试用例，得到单个测试用例；

识别所述单个测试用例的关键字，得到枚举类型命令；

基于所述枚举类型命令，解析所述单个测试用例中的每一个参数，得到被测芯片的控制函数。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述被测芯片与驱动设备上的测试驱动接口连接，所述测试仪器与设备平台通过以太网连接；所述被测芯片与测试仪器通过射频线连接。

9.一种应用于Wi-Fi 5芯片的无线性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

连接测试仪器及待测芯片；

接收用户输入的测试仪器参数和待测芯片的测试参数；

基于测试指令，获取测试用例并为所述测试用例配置与所述待测芯片相应的参数；

解析所述已配置参数的测试用例，得到待测芯片的控制函数；

根据所述待测芯片的控制函数驱动测试仪器对所述待测芯片进行性能测试；

接收测试仪器获得的测试结果并对所述测试结果进行统计，将统计结果显示在用户界面。

10.根据权利要求9所示的测试方法，其特征在于，所述测试仪器及待测芯片通过射频线连接。

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