CN111522019B - 一种水下光子位置的误差修正方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种水下光子位置的误差修正方法及装置,涉及激光探测技术领域。本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,包括:获取水下光子的沿轨距离和高程;根据所述沿轨距离和所述高程构建二维点集;获取所述水下光子的距离校正值;根据所述距离校正值修正所述二维点集的误差。本发明所述的技术方案,通过对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
Description
技术领域
本发明涉及激光探测技术领域,具体而言,涉及一种水下光子位置的误差修正方法及装置。
背景技术
传统获取光子信号真实坐标的方式为:在特定的坐标系统中,通过光子的飞行时间与光速计算进而确定坐标;但当光子计数激光雷达的地面轨道经过水体时,激光光子在水气交界面处产生水体折射现象,具体地,单光子激光雷达进行水下地形和水深测量时,光子经过大气射到水面,并穿透水气界面,水体会对光子产生折射效应,这会造成:1.光子的飞行路径发生变化;2.光子在水体中的速度与在空气中不同。这两种现象则会导致水下光子的真实位置发生误差,从而导致水下地形和水深的测量结果产生一定的偏差,降低每个光子的定位和测量精度,因而传统方法在计算水下光子信号真实位置时存在一定误差。
发明内容
本发明解决的问题是水体折射影响激光定位结果。
为解决上述问题,本发明提供一种水下光子位置的误差修正方法,包括:获取水下光子的沿轨距离和高程;根据所述沿轨距离和所述高程构建二维点集;获取所述水下光子的距离校正值;根据所述距离校正值修正所述二维点集的误差。
本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,通过对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述获取水下光子的沿轨距离和高程包括:获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程。
本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,通过获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程,进而有利于修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程包括:以原始点云数据的沿轨距离和光子高程构建二维点集:,其中表示所述原始点云数据中每一个光子的沿轨距离,表示所述原始点云数据中每一个光子的高程,表示所述原始点云数据包含的光子数量;以为高程方向作为切片间隔,将原始点云数据在高程方向切分为个单元:
本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,通过获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程,进而通过中心高程和平均水面高程确定光子的距离校正值,对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,通过对二维点集中的光子信号进行校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述根据所述中心高程和所述平均水面高程确定所述距离校正值包括:根据所述中心高程和所述平均水面高程确定光子校正前的水下斜距OB和校正后的斜距OA:根据光子的入射角、大气折射率以及水体折射率确定折射角:
本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,通过中心高程和平均水面高程确定光子校正前的水下斜距OB和校正后的斜距OA,对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
以及第四公式:
本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,根据光子校正前的水下斜距OB和校正后的斜距OA确定校正角,对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述根据所述距离校正值修正所述二维点集的误差,包括:根据所述距离校正值对所述二维点集内未校正的光子的位置进行修正,得到校正的光子的位置以修正所述二维点集的误差。
本发明所述的水下光子位置的误差修正方法,通过距离校正值对二维点集内未校正的光子的位置进行修正,得到校正的光子的位置以修正二维点集的误差,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
本发明还提供一种水下光子位置的误差修正装置,包括存储器和处理器:所述存储器,用于存储计算机程序;所述处理器,用于当执行所述计算机程序时,实现如上任一项所述的水下光子位置的误差修正方法。所述水下光子位置的误差修正装置与上述水下光子位置的误差修正方法相对于现有技术所具有的优势相同,在此不再赘述。
本发明还提供一种计算机可读存储介质,所述存储介质上存储有计算机程序,当所述计算机程序被处理器执行时,实现如上任一项所述的水下光子位置的误差修正方法。所述计算机可读存储介质与上述水下光子位置的误差修正方法相对于现有技术所具有的优势相同,在此不再赘述。
附图说明
图1为本发明实施例所述的水下光子位置的误差修正方法的流程图;
图2为本发明实施例所述的原始光子数据及水下光子折射校正坐标轴构建的示意图;
图3为本发明实施例所述的中心高程及平均水面高程确定示意图;
图4为本发明实施例所述的水体折射误差及校正示意图;
图5为本发明实施例所述的水下光子位置校正前后空间结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
当单光子激光雷达进行水下地形和水深测量时,光子经过大气射到水面,并穿透水气界面,水体会对光子产生折射效应,这会造成:1.光子的飞行路径发生变化;2.光子在水体中的速度与在空气中不同。这两种现象则会导致水下光子的真实位置发生误差,从而导致水下地形和水深的测量结果产生一定的偏差,降低每个光子的定位和测量精度,因此对其进行有效的校正,是确保和提升水下地形和水深测量的准确性和精度的重要环节之一。
结合图2所示,以沿轨距离方向为X轴,垂直于水面方向为Z轴,平行于水面方向为Y轴,构建用于折射的右手空间直角坐标系,该坐标系为后续的位置误差修正使用的坐标系。
如图1所示,本发明实施例提供一种水下光子位置的误差修正方法,包括:获取水下光子的沿轨距离和高程;根据所述沿轨距离和所述高程构建二维点集;获取所述水下光子的距离校正值;根据所述距离校正值修正所述二维点集的误差。
具体地,在本实施例中,水下光子位置的误差修正方法,包括:获取水下光子的沿轨距离和高程,基于沿轨距离和高程构建二维点集,后续的校正过程即是对该点集的每个光子信号进行校正的过程,再根据中心高程和平均水面高程获取水下光子的距离校正值,通过距离校正值修正二维点集的误差,对水下光子进行点位和测深误差的校正,有效的对二维和三维结构的光子数据进行处理,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
在本实施例中,通过对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述获取水下光子的沿轨距离和高程包括:获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程。
具体地,在本实施例中,获取水下光子的沿轨距离和高程包括:获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程,由于光束中包括大量光子,需采用统计方法确定中心高程和平均水面高程,中心高程和平均水面高程用于确定水下光子的距离校正值,进而有利于修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
在本实施例中,通过获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程,进而有利于修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程包括:以原始点云数据的沿轨距离和光子高程构建二维点集:,其中表示所述原始点云数据中每一个光子的沿轨距离,表示所述原始点云数据中每一个光子的高程,表示所述原始点云数据包含的光子数量;以为高程方向作为切片间隔,将原始点云数据在高程方向切分为个单元:;确定高程切片的中心高程:;根据所述中心高程确定平均水面高程。
具体地,在本实施例中,获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程包括:以原始点云数据的沿轨距离和光子高程构建二维点集:,其中表示每一个光子的沿轨距离,表示每一个光子的高程,表示原始点云数据包含的光子数量;结合图3所示,以为高程方向作为切片间隔,将原始点云数据在高程方向切分为个单元:,对于分割的切片单元,统计每个切片单元中的光子信号数量;以每个高程切片的中心高程为横轴,切片单元中的光子信号数量为纵轴,形成如图3所示的中心高程及平均水面高程确定示意图,直观展示中心高程的分布情况,即中心高程满足:,当光子信号数量最大时,确定平均水面高程,图3中所示波峰最高时的中心高程即为平均水面高程。
在本实施例中,通过获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程,进而通过中心高程和平均水面高程确定光子的距离校正值,对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
具体地,在本实施例中,结合图4所示,当假设水面为平面的情况下,折射校正可以被认为是对光子未校正的水下斜距OB在Y–Z平面上的一个简单的旋转和缩放过程;根据中心高程和平均水面高程确定光子的距离校正值包括:以所有水下光子的沿轨距离和光子高程构建二维点集:,其中为每一个水下光子的沿轨距离,为中心高程,为水下光子数据集包含的光子数量,后续的折射校正过程即是对该点集的每个光子信号进行校正的过程;根据中心高程和平均水面高程确定每个水下光子校正前的深度:;根据中心高程和平均水面高程确定距离校正值,通过对二维点集中的光子信号进行校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
在本实施例中,通过对二维点集中的光子信号进行校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述根据所述中心高程和所述平均水面高程确定所述距离校正值包括:根据所述中心高程和所述平均水面高程确定光子校正前的水下斜距OB和校正后的斜距OA:根据光子的入射角、大气折射率以及水体折射率确定折射角:
其中,表示大气折射率,表示水体折射率,大气折射率以及水体折射率为常数,由获取数据的环境决定;由于无法分别确定水下光子在大气和水体中的运动时间,但校正前后光子在水体中的传输时间是定值,即传输时间不受水体折射和速度变化而改变,因此可确定光子校正前的水下斜距OB和校正后的斜距OA的第一公式:
以确定光子校正前的水下斜距OB和校正后的斜距OA。
在本实施例中,通过中心高程和平均水面高程确定光子校正前的水下斜距OB和校正后的斜距OA,对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
以及第四公式:
以及第四公式:
其中,表示每个水下光子在Y方向的距离校正值,表示每个水下光子在Z方向的距离校正值,结合图5所示,展示了水下光子位置校正前后空间结构示意图,由图5可知,本方法能够对水下光子进行点位和测深误差的校正,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
优选地,所述根据所述距离校正值修正所述二维点集的误差,包括:根据所述距离校正值对所述二维点集内未校正的光子的位置进行修正,得到校正的光子的位置以修正所述二维点集的误差。
具体地,在本实施例中,根据所述距离校正值修正二维点集的误差,包括:根据距离校正值对二维点集内未校正的光子的位置进行修正,得到校正的光子的位置以修正二维点集的误差。本实施例中,通过距离校正值对二维点集内未校正的光子的位置进行修正,得到校正的光子的位置以修正二维点集的误差,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
在本实施例中,通过距离校正值对二维点集内未校正的光子的位置进行修正,得到校正的光子的位置以修正二维点集的误差,修正水体折射导致的点位和测深误差,从而有效提升了水下地形和水深测量的准确性和精度。
本发明另一实施例提供一种水下光子位置的误差修正装置,包括存储器和处理器:所述存储器,用于存储计算机程序;所述处理器,用于当执行所述计算机程序时,实现如上任一项所述的水下光子位置的误差修正方法。所述水下光子位置的误差修正装置与上述水下光子位置的误差修正方法相对于现有技术所具有的优势相同,在此不再赘述。
本发明另一实施例提供一种计算机可读存储介质,所述存储介质上存储有计算机程序,当所述计算机程序被处理器执行时,实现如上任一项所述的水下光子位置的误差修正方法。所述计算机可读存储介质与上述水下光子位置的误差修正方法相对于现有技术所具有的优势相同,在此不再赘述。
虽然本发明公开披露如上,但本发明公开的保护范围并非仅限于此。本领域技术人员在不脱离本发明公开的精神和范围的前提下,可进行各种变更与修改,这些变更与修改均将落入本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种水下光子位置的误差修正方法,其特征在于,包括:
获取水下光子的沿轨距离和高程;
根据所述沿轨距离和所述高程构建二维点集;
获取所述水下光子的距离校正值;
根据所述距离校正值修正所述二维点集的误差;
其中,所述获取水下光子的沿轨距离和高程包括:获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程;
其中,所述获取高程切片内光子数量的统计特征,确定中心高程和平均水面高程,包括:
以原始点云数据的沿轨距离和光子高程构建二维点集
6.根据权利要求5所述的水下光子位置的误差修正方法,其特征在于,所述根据所述距离校正值修正所述二维点集的误差,包括:根据所述距离校正值对所述二维点集内未校正的光子的位置进行修正,得到校正的光子的位置以修正所述二维点集的误差。
7.一种水下光子位置的误差修正装置,其特征在于,包括存储器和处理器:
所述存储器,用于存储计算机程序;
所述处理器,用于当执行所述计算机程序时,实现如权利要求1至6任一项所述的水下光子位置的误差修正方法。
8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有计算机程序,当所述计算机程序被处理器执行时,实现如权利要求1至6任一项所述的水下光子位置的误差修正方法。
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