CN111470181A - 一种使用存储架预升温的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种使用存储架预升温的方法，包括：利用非接触式温度传感器测量存储架内的第一温度；根据第一温度的数值，判断第一温度是否小于温度的第一阈值；响应于温度小于所述第一阈值，确定给加热线圈施加所述第一电压的第一时间；达到第一时间后，再次测量存储架内的第二温度；判断第二温度与第二阈值的关系；大于第二阈值，关闭电源；小于所述第二阈值，继续加热升温；实时测量第三温度，大于第一阈值时，关闭感应加热装置。在本发明中，通过该方法能够对存储架进行预升温，提高存储货物的温度，防止货物冻伤，并有效减少热能浪费。
Description
技术领域
本发明涉及存储架技术领域，特别涉及一种使用存储架预升温的方法。
背景技术
存储架作为存储货物的重要工具，其结构和功能具有多样性，不同的货物的存储需要不同的存储架；有的货物需要对其保温存储，防止货物被冻伤，但现有的存储架大多不具备加热升温的功能，现有的加热升温的方式大多存在温度控制不够精确和热能浪费严重的情况。
发明内容
有鉴于现有技术存在的缺陷，本发明所要解决的技术问题是，提供一种使用存储架预升温的方法，旨在对存储架进行预升温，提高存储货物的温度，防止货物冻伤，并有效减少热能浪费。
为实现上述目的，本发明提供一种使用存储架预升温的方法，所述方法包括在存储架上设置多个感应加热装置，每个所述感应装置都具有：加热线圈、电源以及自动开关；所述方法包括如下步骤：
步骤S1、利用非接触式温度传感器测量所述存储架内的第一温度；
步骤S2、根据所述非接触式温度传感器所测量的所述第一温度的数值，判断所述第一温度是否小于温度的第一阈值；若所述第一温度小于所述第一阈值，则发送第一指令给所述感应加热装置，通过所述电源给所述加热线圈施加第一电压；
步骤S3、响应于所述温度小于所述第一阈值，根据所述非接触式温度传感器所测量的所述温度的数值，确定给所述加热线圈施加所述第一电压的时间长度；所述时间长度为第一时间；
步骤S4、当所述电源施加所述第一电压的时间达到所述第一时间后，再次利用所述非接触式温度传感器测量所述存储架内的第二温度；
步骤S5、根据所述非接触式温度传感器所测量的所述第二温度的数值，判断所述第二温度是否大于或者等于温度的第二阈值；若所述第二温度大于或者等于所述第二阈值，则发送第二指令给所述感应加热装置，通过所述自动开关关闭所述电源；
步骤S6、响应于所述第二温度小于所述第二阈值，则发送第三指令给所述感应加热装置，继续对所述存储架进行加热升温；
步骤S7、利用所述非接触式温度传感器实时测量所述存储架内的第三温度，当所述第三温度大于或等于所述第一阈值时，通过控制所述自动开关关闭所述感应加热装置。
在该技术方案中，通过测量所述存储架内的第一温度，能够有效准确的判断所述存储架内的温度是否达到存储货物的条件，是否需要对所述存储架进行加热升温；通过设置所述第一时间，准确控制所述感应加热装置的加热时间，有效防止加热时间过长，所述存储架内温度过高；通过设置所述第二温度，进一步防止了所述存储架内温度过高，精确的控制所述存储架内的温度；通过所述方法，实现对存储架的预升温，提高存储货物的温度，防止货物冻伤，并有效减少热能浪费。
在一具体实施方式中，所述第一阈值和所述第二阈值为预设值，且可通过人为设定；根据所需存储的货物不同，设定不同的数值。
在一具体实施方式中，不同的所述货物所对应的不同的所述第一阈值可从数据库中直接调取。
在一具体实施方式中，所述非接触式温度传感器的数量为五个，且均匀的分布于所述存储架内。
在一具体实施方式中，所述第一温度的数值、所述第二温度的数值以及所述第三温度的数值均为五个所述非接触式温度传感器所测量得到的数值的平均值。
在一具体实施方式中，所述第一时间的确定方法为：
调整所述第一电压和所述第一时间，使得所述第一电压和第一时间满足如下条件：即向所述加热线圈施加所述第一电压的时间长度达到所述第一时间之后，所述存储架内的温度达到所述第一阈值。
本发明的有益效果是：在本发明中，通过测量所述存储架内的第一温度，能够有效准确的判断所述存储架内的温度是否达到存储货物的条件，是否需要对所述存储架进行加热升温；通过设置所述第一时间，准确控制所述感应加热装置的加热时间，有效防止加热时间过长，所述存储架内温度过高；通过设置所述第二温度，进一步防止了所述存储架内温度过高，精确的控制所述存储架内的温度；通过所述方法，实现对存储架的预升温，提高存储货物的温度，防止货物冻伤，并有效减少热能浪费。
附图说明
图1为本发明一具体实施方式中一种使用存储架预升温的方法的流程框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明：
如图1所示，在本发明的具体实施例中，提供一种使用存储架预升温的方法，所述方法包括在存储架上设置多个感应加热装置，每个所述感应装置都具有：加热线圈、电源以及自动开关；所述方法包括如下步骤：
步骤S1、利用非接触式温度传感器测量所述存储架内的第一温度；
步骤S2、根据所述非接触式温度传感器所测量的所述第一温度的数值，判断所述第一温度是否小于温度的第一阈值；若所述第一温度小于所述第一阈值，则发送第一指令给所述感应加热装置，通过所述电源给所述加热线圈施加第一电压；
步骤S3、响应于所述温度小于所述第一阈值，根据所述非接触式温度传感器所测量的所述温度的数值，确定给所述加热线圈施加所述第一电压的时间长度；所述时间长度为第一时间；
步骤S4、当所述电源施加所述第一电压的时间达到所述第一时间后，再次利用所述非接触式温度传感器测量所述存储架内的第二温度；
步骤S5、根据所述非接触式温度传感器所测量的所述第二温度的数值，判断所述第二温度是否大于或者等于温度的第二阈值；若所述第二温度大于或者等于所述第二阈值，则发送第二指令给所述感应加热装置，通过所述自动开关关闭所述电源；
步骤S6、响应于所述第二温度小于所述第二阈值，则发送第三指令给所述感应加热装置，继续对所述存储架进行加热升温；
步骤S7、利用所述非接触式温度传感器实时测量所述存储架内的第三温度，当所述第三温度大于或等于所述第一阈值时，通过控制所述自动开关关闭所述感应加热装置。
在本实施例中，所述第一阈值和所述第二阈值为预设值，且可通过人为设定；根据所需存储的货物不同，设定不同的数值。
在本实施例中，不同的所述货物所对应的不同的所述第一阈值可从数据库中直接调取。
在本实施例中，所述非接触式温度传感器的数量为五个，且均匀的分布于所述存储架内。
在本实施例中，所述第一温度的数值、所述第二温度的数值以及所述第三温度的数值均为五个所述非接触式温度传感器所测量得到的数值的平均值。
在本实施例中，所述第一时间的确定方法为：
调整所述第一电压和所述第一时间，使得所述第一电压和第一时间满足如下条件：即向所述加热线圈施加所述第一电压的时间长度达到所述第一时间之后，所述存储架内的温度达到所述第一阈值。
以上详细描述了本发明的具体实施例。应当理解，本发明的具体实施例并不唯一，本领域的普通技术人员可以在权利要求的范围内根据本发明的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本领域中的技术人员根据本发明的具体实施例在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。
Claims (6)
1.一种使用存储架预升温的方法，其特征在于，所述方法包括在存储架上设置多个感应加热装置，每个所述感应装置都具有：加热线圈、电源以及自动开关；所述方法包括如下步骤：
步骤S1、利用非接触式温度传感器测量所述存储架内的第一温度；
步骤S2、根据所述非接触式温度传感器所测量的所述第一温度的数值，判断所述第一温度是否小于温度的第一阈值；若所述第一温度小于所述第一阈值，则发送第一指令给所述感应加热装置，通过所述电源给所述加热线圈施加第一电压；
步骤S3、响应于所述温度小于所述第一阈值，根据所述非接触式温度传感器所测量的所述温度的数值，确定给所述加热线圈施加所述第一电压的时间长度；所述时间长度为第一时间；
步骤S4、当所述电源施加所述第一电压的时间达到所述第一时间后，再次利用所述非接触式温度传感器测量所述存储架内的第二温度；
步骤S5、根据所述非接触式温度传感器所测量的所述第二温度的数值，判断所述第二温度是否大于或者等于温度的第二阈值；若所述第二温度大于或者等于所述第二阈值，则发送第二指令给所述感应加热装置，通过所述自动开关关闭所述电源；
步骤S6、响应于所述第二温度小于所述第二阈值，则发送第三指令给所述感应加热装置，继续对所述存储架进行加热升温；
步骤S7、利用所述非接触式温度传感器实时测量所述存储架内的第三温度，当所述第三温度大于或等于所述第一阈值时，通过控制所述自动开关关闭所述感应加热装置。
2.如权利要求1所述的一种使用存储架预升温的方法，其特征在于：所述第一阈值和所述第二阈值为预设值，且可通过人为设定；根据所需存储的货物不同，设定不同的数值。
3.如权利要求2所述的一种使用存储架预升温的方法，其特征在于：不同的所述货物所对应的不同的所述第一阈值可从数据库中直接调取。
4.如权利要求1所述的一种使用存储架预升温的方法，其特征在于：所述非接触式温度传感器的数量为五个，且均匀的分布于所述存储架内。
5.如权利要求1所述的一种使用存储架预升温的方法，其特征在于：所述第一温度的数值、所述第二温度的数值以及所述第三温度的数值均为五个所述非接触式温度传感器所测量得到的数值的平均值。
6.如权利要求1所述的一种使用存储架预升温的方法，其特征在于，所述第一时间的确定方法为：
调整所述第一电压和所述第一时间，使得所述第一电压和第一时间满足如下条件：即向所述加热线圈施加所述第一电压的时间长度达到所述第一时间之后，所述存储架内的温度达到所述第一阈值。
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