CN111445859B - 伽马电压调试方法和伽马电压调试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种伽马电压调试方法和伽马电压调试装置，应用于包括第一显示区和第二显示区的显示装置，第一显示区的分辨率高于第二显示区的分辨率，所述方法包括：对第一显示区各绑点的电压进行调试；确定模拟区，模拟区位于第一显示区内，模拟区中的部分像素作为测试像素，测试像素的排布方式与第二显示区内的像素的排布方式相同；向第一显示区输入第一绑点电压，并调试模拟区的第一绑点电压，得到模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。根据本发明实施例的伽马电压调试方法，可以解决某一分辨率对应的区域过小而导致测试设备不能直接进行亮度调试的问题，从而确保了显示装置的所有显示区域画面显示的一致性。

Description

伽马电压调试方法和伽马电压调试装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种伽马电压调试方法和伽马电压调试装置。

背景技术

为了实现AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体))显示面板的全面屏显示，同时保持前置摄像头的设计，由于现在的高分辨的显示区域的透过率不能满足摄像头对于透过率的需求，因此，目前采用的解决方案是将前置摄像头对应的显示区域降低分辨率，以提升该区域的透过率，即屏下摄像头方案。

在实现屏下摄像头设计后，由于摄像头对应的低分辨率区域的尺寸过小，以至于无法利用调试设备对该区域直接进行亮度等的调试。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种伽马电压调试方法和伽马电压调试装置，能够解决现有技术中由于某一分辨率对应的区域过小而导致测试设备无法直接进行亮度等参数的调试的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

本发明一方面实施例提供一种伽马电压调试方法，应用于显示装置，所述显示装置的显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区的分辨率高于所述第二显示区的分辨率，其特征在于，所述方法包括：

对第一显示区各绑点的电压进行调试，得到第一显示区的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系；

确定模拟区，所述模拟区位于所述第一显示区内，所述模拟区中的部分像素作为测试像素，所述测试像素的排布方式与所述第二显示区内的像素的排布方式相同，使所述模拟区和所述第二显示区的分辨率相同；

向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

可选的，所述向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系，包括：

向所述模拟区内的测试像素以及所述第一显示区除所述模拟区之外的其他区域内的像素输入所述第一绑点电压；

调试所述模拟区的第一绑点电压，使所述模拟区的亮度和所述第一显示区除模拟区之外的其他区域的亮度相同，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

可选的，所述向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系之后，还包括：

根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正；

根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系。

可选的，所述根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正的步骤中，采用以下公式进行修正：

其中，V为在一亮度下修正后的第二绑点电压，V₁为所述模拟区在对应亮度下的第二绑点电压，L₁为所述模拟区的负载，L₂为所述第二显示区的负载，a为常数。

可选的，所述根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正之前，还包括：

获取所述模拟区的第一负载和所述第二显示区的第二负载。

本发明另一方面实施例还提供了一种伽马电压调试装置，应用于显示装置，所述显示装置的显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区的分辨率高于所述第二显示区的分辨率，其特征在于，所述装置包括：

第一调试模块，用于对第一显示区各绑点的电压进行调试，得到第一显示区的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系；

确定模块，用于确定模拟区，所述模拟区位于所述第一显示区内，所述模拟区中的部分像素作为测试像素，所述测试像素的排布方式与所述第二显示区内的像素的排布方式相同，使所述模拟区和所述第二显示区的分辨率相同；

第二调试模块，用于向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

可选的，所述第二调试模块包括：

电压输入单元，用于向所述模拟区内的测试像素以及所述第一显示区除所述模拟区之外的其他区域内的像素输入所述第一绑点电压；

调试单元，用于调试所述模拟区的第一绑点电压，使所述模拟区的亮度和所述第一显示区除模拟区之外的其他区域的亮度相同，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

可选的，还包括：

修正模块，用于根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正；

更新模块，用于根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系。

可选的，所述修正模块采用以下公式进行修正：

其中，V为在一亮度下修正后的第二绑点电压，V₁为所述模拟区在对应亮度下的第二绑点电压，L₁为所述模拟区的负载，L₂为所述第二显示区的负载，a为常数。

可选的，还包括：

获取模块，用于获取所述模拟区的第一负载和所述第二显示区的第二负载。

本发明上述技术方案的有益效果如下：

根据本发明实施例的伽马电压调试方法，可以解决某一分辨率对应的区域过小而导致测试设备不能直接进行亮度调试的问题，从而确保了显示装置的所有显示区域画面显示的一致性。

附图说明

图1为本发明实施例提供的伽马电压调试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的对第一显示区进行调试的示意图；

图3为本发明实施例提供的在第一显示区确定模拟区的示意图；

图4为本发明实施例提供的对模拟区进行调试的示意图；

图5为本发明实施例提供的一种伽马电压调试装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了实现AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体))显示面板的全面屏显示，同时保持前置摄像头的设计，由于现在的高分辨的显示区域的透过率不能满足摄像头对于透过率的需求，因此，目前采用的解决方案是将前置摄像头对应的显示区域降低分辨率，以提升该区域的透过率，即屏下摄像头方案。

在实现屏下摄像头设计后，由于摄像头对应的低分辨率区域的尺寸过小，一般屏下摄像头的尺寸要求应小于等于5mm，而调试设备的最小测试直径大于等于2cm，因此无法利用调试设备对该区域直接进行亮度等的调试。如果不对摄像头对应的显示区域进行调试，会造成显示过程中显示面板的摄像头对应的区域与其他区域的显示亮度不一致，影响用户观看。

由此，请参考图1-4所示，本发明一方面实施例提供一种伽马电压调试方法，所述方法应用于显示装置，所述显示装置的显示区域包括第一显示区21和第二显示区22，并且所述第一显示区21的分辨率高于所述第二显示区22的分辨率，其中第一显示区21可以占据所述显示装置的显示区域的大部分面积，所述第二显示区22可以对应于前置摄像头所在的区域。如图1所示，所述方法可以包括以下步骤：

步骤101：对第一显示区21各绑点的电压进行调试，得到第一显示区21的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系。

请参考图2，图2为本发明实施例提供的对第一显示区21进行调试的示意图。如图2所示，在该步骤中，可以采用调试设备23对第一显示区21的各个绑点的电压进行调试，得到调试后的第一绑点电压，也即，对第一显示区21进行伽马校正，使得第一显示区21的亮度与对应的绑点电压满足预设关系，所述预设关系可以是例如伽马2.2曲线等，从而得到第一显示区21的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系，从而，只要确定第一显示区21输入的驱动电压，即可使第一显示区21显示与该驱动电压相对应的亮度。

步骤102：确定模拟区211，所述模拟区211位于所述第一显示区21内，所述模拟区211中的部分像素作为测试像素，所述测试像素的排布方式与所述第二显示区22内的像素的排布方式相同，使所述模拟区211和所述第二显示区22的分辨率相同。

请参考图3，图3为本发明实施例提供的在第一显示区21确定模拟区211的示意图。如图3所示，由于第一显示区21和第二显示区22的分辨率不同，也即第一显示区21和第二显示区22的像素的排布方式不同，因此，为了能够在第一显示区21实现对第二显示区22的模拟调试，需要在第一显示区21确定出模拟区211，在模拟区211中选用部分像素作为测试像素，使得测试像素的排布方式与第二显示区22内的像素的排布方式相同，从而使得模拟区211和第二显示区22的分辨率保持相同。当然，模拟区211的尺寸应当满足调试设备23的测试直径的要求，例如大于等于2cm。

步骤103：向第一显示区21输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区211的第一绑点电压，得到所述模拟区211的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

请参考图4，图4为本发明实施例提供的对模拟区211进行调试的示意图。如图4所示，在第一显示区21确定出模拟区211之后，向第一显示区21调试后得到的第一绑点电压，并调试第一显示区21中的模拟区211的第一绑点电压，记录下模拟区211的亮度满足预设要求时的电压值，即调试后得到的第二绑点电压，从而得到模拟区211的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系，在显示装置进行显示时，便可根据该第二对应关系进行转换显示，使得显示装置的所有显示区域的亮度保持一致。

本发明实施例中，所述向第一显示区21输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区211的第一绑点电压，得到所述模拟区211的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系，包括：

向所述模拟区211内的测试像素以及所述第一显示区21除所述模拟区211之外的其他区域内的像素输入所述第一绑点电压；

调试所述模拟区211的第一绑点电压，使所述模拟区211的亮度和所述第一显示区21除模拟区211之外的其他区域的亮度相同，得到所述模拟区211的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

具体来说，步骤103中，需要向第一显示区21中确定出来的模拟区211以及第一显示区21中除所述模拟区211之外的其他区域内的像素输入第一绑点电压，此时，由于模拟区211需要保持与第二显示区22的分辨率保持一致，因此只需向上述步骤中选取的测试像素输入第一绑点电压即可，其他未作为测试像素的像素则无需输入电压；而由于步骤101中已对第一显示区21的绑点的电压进行调试，得到了第一显示区21的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系，因此，根据该第一对应关系，在输入一第一绑点电压后，第一显示区21除模拟区211之外的其他区域的显示亮度应该与所述第一绑点电压相对应；然后，在保持第一显示区21除模拟区211之外的其他区域的显示亮度不变的情况下，调试模拟区211的第一绑点电压，使得模拟区211的亮度和第一显示区21的其他区域的亮度相同，记录下此时第一模拟区211的电压值，即得到模拟区211的第二绑点电压，从而得到模拟区211的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

本发明实施例中，所述向第一显示区21输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区211的第一绑点电压，得到所述模拟区211的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系之后，还包括：

根据所述模拟区211的负载和所述第二显示区22的负载，对所述第二绑点电压进行修正；

根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系。

具体而言，由于模拟区211位于第一显示区21内，在模拟过程中模拟区211的负载和实际显示时第二显示区22的负载存在一定的偏差，因此为了避免所述偏差导致显示装置在最终的显示过程中的亮度依旧不一致，需要根据模拟区211的负载和第二显示区22的负载，对调试后得到的第二绑点电压进行修正，以消除该误差；然后，即可根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系，以便显示装置在正常显示时可以利用更新后的第二对应关系输入相应的修正后的第二绑点电压，以获得对应的显示亮度。本发明实施例中所述的负载一般指像素驱动电路等电路中的电子元件的负载，像素的排布方式不同，该区域对应的负载也不同。

本发明实施例中，所述根据所述模拟区211的负载和所述第二显示区22的负载，对所述第二绑点电压进行修正的步骤中，采用以下公式进行修正：

其中，V为在一亮度下修正后的第二绑点电压，V₁为所述模拟区211在对应亮度下的第二绑点电压，L₁为所述模拟区211的负载，L₂为所述第二显示区22的负载，a为常数。

具体来说，在得到第二对应关系后，第二对应关系中的第二绑点电压需要考量模拟区211和第二显示区22的实际负载的比例系数进行修正，其中的常数a可以为根据显示装置特性设定的固定系数值。

在本发明实施例中，所述根据所述模拟区211的负载和所述第二显示区22的负载，对所述第二绑点电压进行修正之前，还包括：

获取所述模拟区211的第一负载和所述第二显示区22的第二负载。

也就是说，需要预先测试、获取模拟区211的第一负载和第二显示区22的第二负载，而后便可根据模拟区211的第一负载和第二显示区22的第二负载对第二绑点电压进行修正。

本发明实施例中，在得到更新后的第二对应关系之后，最终显示装置进行显示时，即可参考更新后的第二对应关系进行转换，使得显示装置的不同分辨率的区域的亮度均保持一致。在可选的实施方式中，可以将更新后的第二对应关系中的亮度数据、对应的修正后的第二绑点电压数据写入显示装置的芯片的存储空间中，每次信号输入后，通过调取该第二对应关系中的各数据进行对比，最终输出转换后的电压值到显示面板上进行显示。

根据本发明实施例的伽马电压调试方法，可以解决某一分辨率对应的区域过小而导致测试设备不能直接进行亮度调试的问题，从而确保了显示装置的所有显示区域画面显示的一致性。

请参考图5，图5为本发明实施例提供的一种伽马电压调试装置的结构示意图。如图5所示，本发明另一方面实施例还提供了一种伽马电压调试装置，应用于显示装置，所述显示装置的显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区的分辨率高于所述第二显示区的分辨率，所述装置包括：

第一调试模块51，用于对第一显示区各绑点的电压进行调试，得到第一显示区的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系；

确定模块52，用于确定模拟区，所述模拟区位于所述第一显示区内，所述模拟区中的部分像素作为测试像素，所述测试像素的排布方式与所述第二显示区内的像素的排布方式相同，使所述模拟区和所述第二显示区的分辨率相同；

第二调试模块53，用于向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

根据本发明实施例的伽马电压调试装置，可以解决某一分辨率对应的区域过小而导致测试设备不能直接进行亮度调试的问题，从而确保了显示装置的所有显示区域画面显示的一致性。

可选的，所述第二调试模块包括：

电压输入单元，用于向所述模拟区内的测试像素以及所述第一显示区除所述模拟区之外的其他区域内的像素输入所述第一绑点电压；

调试单元，用于调试所述模拟区的第一绑点电压，使所述模拟区的亮度和所述第一显示区除模拟区之外的其他区域的亮度相同，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

可选的，还包括：

修正模块，用于根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正；

更新模块，用于根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系。

可选的，还包括：

获取模块，用于获取所述模拟区的第一负载和所述第二显示区的第二负载。

可选的，所述修正模块采用以下公式进行修正：

其中，V为在一亮度下修正后的第二绑点电压，V₁为所述模拟区在对应亮度下的第二绑点电压，L₁为所述模拟区的负载，L₂为所述第二显示区的负载，a为常数。

可选的，还包括：

获取模块，用于获取所述模拟区的第一负载和所述第二显示区的第二负载。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种伽马电压调试方法，应用于显示装置，所述显示装置的显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区的分辨率高于所述第二显示区的分辨率，其特征在于，所述方法包括：

对第一显示区各绑点的电压进行调试，得到第一显示区的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系；

确定模拟区，所述模拟区位于所述第一显示区内，所述模拟区中的部分像素作为测试像素，所述测试像素的排布方式与所述第二显示区内的像素的排布方式相同，使所述模拟区和所述第二显示区的分辨率相同；

向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系；

所述向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系，包括：

向所述模拟区内的测试像素以及所述第一显示区除所述模拟区之外的其他区域内的像素输入所述第一绑点电压；

调试所述模拟区的第一绑点电压，使所述模拟区的亮度和所述第一显示区除模拟区之外的其他区域的亮度相同，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

2.根据权利要求1所述的伽马电压调试方法，其特征在于，所述向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系之后，还包括：

根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正；

根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系。

3.根据权利要求2所述的伽马电压调试方法，其特征在于，所述根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正的步骤中，采用以下公式进行修正：

其中，V为在一亮度下修正后的第二绑点电压，V₁为所述模拟区在对应亮度下的第二绑点电压，L₁为所述模拟区的负载，L₂为所述第二显示区的负载，a为常数。

4.根据权利要求2所述的伽马电压调试方法，其特征在于，所述根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正之前，还包括：

获取所述模拟区的第一负载和所述第二显示区的第二负载。

5.一种伽马电压调试装置，应用于显示装置，所述显示装置的显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区的分辨率高于所述第二显示区的分辨率，其特征在于，所述装置包括：

第一调试模块，用于对第一显示区各绑点的电压进行调试，得到第一显示区的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系；

确定模块，用于确定模拟区，所述模拟区位于所述第一显示区内，所述模拟区中的部分像素作为测试像素，所述测试像素的排布方式与所述第二显示区内的像素的排布方式相同，使所述模拟区和所述第二显示区的分辨率相同；

第二调试模块，用于向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系；

所述第二调试模块包括：

电压输入单元，用于向所述模拟区内的测试像素以及所述第一显示区除所述模拟区之外的其他区域内的像素输入所述第一绑点电压；

调试单元，用于调试所述模拟区的第一绑点电压，使所述模拟区的亮度和所述第一显示区除模拟区之外的其他区域的亮度相同，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

6.根据权利要求5所述的伽马电压调试装置，其特征在于，还包括：

修正模块，用于根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正；

更新模块，用于根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系。

7.根据权利要求6所述的伽马电压调试装置，其特征在于，所述修正模块采用以下公式进行修正：

其中，V为在一亮度下修正后的第二绑点电压，V₁为所述模拟区在对应亮度下的第二绑点电压，L₁为所述模拟区的负载，L₂为所述第二显示区的负载，a为常数。

8.根据权利要求6所述的伽马电压调试装置，其特征在于，还包括：

获取模块，用于获取所述模拟区的第一负载和所述第二显示区的第二负载。

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