CN111402770B - 显示装置的测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种显示装置的测试装置，该测试装置包括多组测试输出端、测试信号生成模块、电阻检测模块以及微控制模块。每组测试输出端分别与显示装置上的一组输入端相连接，测试信号生成模块用于在第一模式下分别向每组测试输出端中的第一测试端和第二测试端提供第一测试电压和第二测试电压，电阻检测模块该第一测试端和第二测试端之间的电压差，微控制模块根据所述电压差提供指示信号，从而可以在点灯测试前检测显示装置中的终端电阻是否正常连接于源极驱动芯片的输入端之间，有利于降低测试成本，提高测试效率。

Description

显示装置的测试装置

技术领域

本发明涉及显示装置技术领域，更具体地涉及一种显示装置的测试装置。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有轻薄、节能、无辐射等诸多优点，因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示器被广泛应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。

目前，为了满足人们在各种消费类电子设备上不断追求更高清晰度、更逼真的显示效果的需求，新一代液晶显示装置向具有超高分辨率和超高像素密度的方向发展。通常，这些液晶显示装置的接口大都采用LVDS(Low Voltage Differential Signaling，低压差分信号)接口。

图1示出根据现有技术的一种显示装置的结构示意图。如图1所示，显示装置100包括显示面板110、主电路板120、驱动板130、多个柔性电路板131以及多个源极驱动芯片141(图1中仅仅示出三个)。其中，驱动板130上设置有多对差分线，每对差分线包括正极线P与负极线N。主电路板120与驱动板130上的差分线通过接口电路150实现连接，每对差分线通过柔性电路板131分别与相应的源极驱动芯片141的第一输入端和第二输入端相连。其中，虚线表示驱动板130背面的走线。差分信号例如LVDS信号在传输时，由于高频信号在传输线的终端会形成较强的反射波，该反射波的传输方向与原信号的方向相反，因此会在传输线的终端出现原信号与该反射信号的叠加信号。为了避免该叠加信号对原信号传输质量的影响，现有的显示装置100会在源极驱动芯片141的一组输入端之间设置一个终端电阻R，以通过终端电阻R匹配电路板线路的特征阻抗，使反射信号最小化，从而使得原信号传输质量最佳。

在实际生产过程中，可能存在由于终端电阻的虚焊、漏焊以及在测试过程中的掉件等造成的不良产品。由于现有的点灯测试装置在测试端会匹配电路线板的特征阻抗，所以这些不良产品在出厂前的点灯测试中仍然可以正常点亮，这样就会导致在点灯测试时无法及时发现这些不良产品，最终造成显示装置的画面显示异常，致使用户的体验效果不佳。

因此，有必要提供一种操作简单、效率高、成本低的测试装置，以克服现有技术存在的以上技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种用于显示装置的测试装置，可在点灯测试前检测显示装置中的终端电阻是否正常连接于相应的源极驱动芯片的一组输入端之间，提高测试准确度。

根据本发明实施例提供一种显示装置的测试装置，所述显示装置包括驱动电路、显示面板和多个终端电阻，所述驱动电路适于向所述显示面板提供驱动信号以使所述显示面板显示相应的画面，所述驱动电路包括多组输入端，每个所述终端电阻连接于每组输入端中的第一输入端和第二输入端之间，其中，所述测试装置包括：多组测试输出端，每组测试输出端包括第一测试端和第二测试端，所述驱动电路的每组所述输入端分别与相应的一组所述测试输出端相连接；测试信号生成模块，在第一模式下，向每个所述第一测试端提供第一测试电压，并向每个所述第二测试端提供第二测试电压；电阻检测模块，与所述多组测试输出端连接，在所述第一模式下检测每组所述测试输出端中所述第一测试端和所述第二测试端之间的电压差；以及微控制模块，根据所述电压差提供指示信号，所述指示信号指示所述终端电阻是否正常连接在相应的所述第一输入端和第二输入端之间。

优选地，所述测试信号生成模块包括信号处理模块，所述信号处理模块在所述第一模式下生成多个第一测试电压和第二测试电压，其中，所述信号处理模块还在第二模式下生成多个点灯信号，所述驱动电路根据所述点灯信号向所述显示面板提供驱动信号以显示相应的画面。

优选地，所述电阻检测模块包括多个检测子模块，每个所述检测子模块与相应的所述测试输出端中的所述第一测试端和第二测试端连接，每个所述检测子模块都包括适于接收相应的使能信号的使能端，所述多个检测子模块受控于所述使能信号以分时开启。

优选地，每个所述检测子模块包括：第一三态门，包括与相应的所述测试输出端中的第一测试端连接的输入端、接收相应的使能信号的使能端以及输出端；第二三态门，包括与相应的所述测试输出端中的第二测试端连接的输入端、接收相应的使能信号的使能端以及输出端；第一电阻，包括与所述第一三态门的输出端连接的第一端以及第二端；第二电阻，包括与所述第二三态门的输出端连接的第一端以及第二端；比较器，包括与所述第一电阻的第二端连接的反相输入端、与所述第二电阻的第二端连接的正相输入端以及输出所述电压差的输出端；第三电阻，包括与所述比较器的反相输入端连接的第一端以及与所述比较器的输出端连接的第二端；以及第四电阻，包括与所述比较器的正相输入端连接的第一端以及与地连接的第二端。

优选地，所述信号处理模块还适于向所述电阻检测模块提供多个使能信号，以使能控制所述多个检测子模块。

优选地，所述测试信号生成模块还包括：缓冲模块，连接于所述信号处理模块和所述多个测试输出端之间。

优选地，所述测试装置还包括：显示及报警模块，与所述微控制模块连接，根据所述指示信号进行信息显示。

优选地，所述第一测试电压为直流高电平，所述第二测试电压为直流低电平。

优选地，所述点灯信号为低压差分信号。

优选地，所述微控制模块包括ARM微处理器，所述信号处理模块为可编程逻辑阵列。

本发明实施例提供的用于显示装置的测试装置包括多组测试输出端、测试信号生成模块、电阻检测模块以及微控制模块。每组测试输出端分别与显示装置上的一组输入端相连接，测试信号生成模块用于在第一模式下分别向每组测试输出端中的第一测试端和第二测试端提供第一测试电压和第二测试电压，电阻检测模块该第一测试端和第二测试端之间的电压差，微控制模块根据电压差提供指示信号，指示信号指示终端电阻是否正常连接在相应的第一输入端和第二输入端之间。本发明的测试装置不仅可以在点灯测试前检测显示装置中的终端电阻是否正常连接于源极驱动芯片的输入端之间，提高测试准确度，而且可降低人力成本，有利于降低测试成本，提高测试效率。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。

图1示出根据现有技术的一种显示装置的结构示意图。

图2示出根据本发明第一实施例的显示装置的测试原理示意图。

图3示出根据本发明第一实施例的测试装置的结构示意图。

图4示出根据本发明第一实施例的电阻检测模块的结构示意图。

图5示出根据本发明第二实施例的一种显示装置的测试方法的流程示意图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。

在下文中描述了本发明的许多特定的细节，例如部件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本发明。

图2示出根据本发明第一实施例的显示装置的测试原理示意图。如图2所示，显示装置100包括显示面板110和驱动电路，驱动电路适于向显示面板110提供驱动信号以使显示面板110显示相应的画面。

进一步的，驱动电路包括驱动板130和多个源极驱动芯片141(图2中仅仅示出三个)，驱动板130和多个源极驱动芯片141之间通过多个柔性电路板131电连接。驱动板130上设置有多对差分线，每对差分线包括正极线P和负极线N。每对差分线中的正极线P和负极线N的一端与测试装置200电连接，另一端通过柔性电路板131与相应的源极驱动芯片141的第一输入端和第二输入端相连接。

驱动板130用于将测试装置200输出的点灯信号提供给多个源极驱动芯片141，源极驱动芯片141根据该点灯信号向显示面板110提供驱动信号，以使得显示面板110显示测试图像完成测试。

其中，点灯信号例如为LVDS信号。

进一步的，测试装置200与驱动板130上的差分线通过接口电路150实现连接。其中，接口电路例如采用LVDS接口。

此外，由于LVDS信号在传输时会在传输线的终端形成较强的反射波，该反射波的传输方向与原信号的方向相反，因此会在传输线的终端出现原信号与该反射信号的叠加信号。为了避免该叠加信号对原信号传输质量的影响，现有的显示装置100会在每个源极驱动芯片141相应的一组输入端之间设置一个终端电阻R，以通过终端电阻R匹配电路板线路的特征阻抗，使反射信号最小化，从而使得原信号传输质量最佳。

在实际生产过程中，可能存在由于终端电阻R的虚焊、漏焊以及在测试过程中的掉件等造成的不良产品。如果在测试时无法及时发现这些不良产品，最终造成显示装置的画面显示异常，致使用户的体验效果不佳。

为了解决上述的技术问题，本发明实施例的测试装置200还用于在点灯测试前检测显示装置100中的终端电阻是否正常连接在相应的第一输入端和第二输入端之间，提高测试准确度。

图3示出根据本发明第一实施例的测试装置的结构示意图。如图3所示，测试装置200包括多组测试输出端、测试信号生成模块210、电阻检测模块220以及微控制模块230。

其中，每组测试输出端包括第一测试端和第二测试端(例如，测试端IO1A和IO1B、测试端IO2A和IO2B、……、测试端IO5A和IO5B等)，每组测试输出端分别经一对差分线和柔性电路板与相应的一个源极驱动芯片141的一组输入端相连接。

测试信号生成模块210用于在第一模式下向每个第一测试端提供第一测试电压，并向每个第二测试端提供第二测试电压。进一步的，第一测试电压例如为直流高电平，第二测试电压例如为直流低电平。

电阻检测模块220与多组测试输出端连接，用于在第一模式下检测每组测试输出端中第一测试端和第二测试端之间的电压差。

微控制模块230根据该电压差提供指示信号，指示信号指示终端电阻R是否正常连接在相应的第一输入端和第二输入端之间。

进一步的，微控制模块230例如为单片机(Microcontroller Unit，MCU)，其还用于在第二模式下根据测试图像提供参数信息，并将该参数信息通过SPI(Serial PeripheralInterface，串行外设接口)通信发送至测试信号生成模块210。参数信息包括显示装置的分辨率、像素时钟信号的频率、刷新率等。

测试信号生成模块210根据微控制模块230提供的参数信息产生相应的逻辑数据，并根据该逻辑数据向每组测试输出端提供点灯信号。显示装置100中的驱动电路根据点灯信号向显示面板110提供驱动信号，以显示相应的测试图像。其中，逻辑数据包括图像数据和时序信号。

进一步的，测试信号生成模块210包括信号处理模块211和缓冲模块212。

信号处理模块211例如为现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGate Array，FPGA)，适于在第一模式下生成多个第一测试电压和第二测试电压，或者在第二模式下根据参数信息生成逻辑数据，并根据逻辑数据生成多个点灯信号。

缓冲模块212用于在第一模式下将多个第一测试电压和第二测试电压提供至多组测试输出端，或者在第二模式下将多个点灯信号提供至多组测试输出端。进一步的，缓冲模块212还用于在第一模式下工作在高阻状态，以及在第二模式下工作在放大状态，提高多个点灯信号的驱动能力。更进一步的，缓冲模块212还包括模式切换引脚PD，模式切换引脚PD与信号处理模块211连接。缓冲模块212根据模式切换引脚PD的电平状态切换工作状态。示例的，缓冲模块212在模式切换引脚PD为低电平时工作在高阻状态，并在模式切换引脚PD为高电平时工作在放大状态。

进一步的，测试装置200还包括显示及报警模块240，显示及报警模块240与微控制模块230连接，用于在指示信号指示终端电阻R未正常连接在相应的第一输入端和第二输入端之间时提醒工作人员，并显示相应的一组测试输出端的编号(例如测试端IO1A和IO1B)。

图4示出本发明第一实施例的电阻检测模块的结构示意图。如图4所示，电阻检测模块220包括多个检测子模块221-22n(图4中仅示出检测子模块221、222和223)，每个检测子模块与相应的一组测试输出端中的第一测试端和第二测试端连接，用于检测第一测试端和第二测试端之间的电压差，并将该电压差提供至微控制模块230。进一步的，每个检测子模块还包括适于接收相应的使能信号的使能端，多个检测子模块受控于使能信号以分时开启。

以检测子模块221为例，检测子模块221的输入端分别与测试端IO1A和测试端IO1B连接，使能端接收使能信号EN1，检测子模块221用于在使能信号EN1有效时(使能信号EN1为高电平有效，低电平无效)开启，检测测试端IO1A和测试端IO1B之间的电压差MADC1，并将该电压差MADC1提供至微控制模块230。

进一步的，多个检测子模块221-22n采用相同的结构形成。其中，每个检测子模块都包括：第一三态门S1、第二三态门S2、第一至第四电阻R1-R4、以及比较器OP。

下面以检测子模块221为例对多个检测子模块中各部件的连接关系和工作原理进行详细说明。

如图4所示，第一三态门S1的输入端与相应的测试输出端中的第一测试端(例如测试端IO1A)连接，输出端经第一电阻R1与比较器OP的反相输入端连接。第二三态门S2的输入端与相应的测试输出端中的第二测试端(例如测试端IO1B)连接，输出端经第二电阻R2与比较器OP的正相输入端连接。第一三态门和第二三态门的使能端用于接收相应的使能信号(例如使能信号EN1)。第三电阻R3连接于比较器OP的反相输入端和输出端之间，第四电阻R4连接于比较器OP的正相输入端和地之间，比较器OP的输出端用于提供相应的第一测试端和第二测试端之间的电压差(例如电压差MADC1)。

当检测子模块221输出的电压差MADC1接近0，则说明测试端IO1A和测试端IO1B相应的第一输入端和第二输入端之间的终端电阻R连接正常；当检测子模块221输出的电压差MADC1接近直流高电平电压(例如3.3V)，则说明测试端IO1A和测试端IO1B相应的第一输入端和第二输入端之间的终端电阻R存在虚焊或者漏焊。

图5示出根据本发明第二实施例的一种显示装置的测试方法的流程示意图。显示装置包括驱动电路、显示面板和多个终端电阻，驱动电路适于向显示面板提供驱动信号以使显示面板显示相应的画面，驱动电路包括多组输入端，每个终端电阻连接于每组输入端中的第一输入端和第二输入端之间。进一步的，本实施例的测试方法可以通过上述实施例的测试装置200实现。

如图5所示，本实施例的测试方法包括以下步骤：

在步骤S01中，向多组测试输出端的第一测试端和第二测试端分别提供第一测试电压和第二测试电压。具体地，当测试装置200工作于第一模式时，由信号处理模块211向缓冲模块212的模式切换引脚PD提供低电平，并生成多个第一测试电压和第二测试电压，缓冲模块212将第一测试电压和第二测试电压分别提供至每组测试输出端的第一测试端和第二测试端(例如测试端IO1A和IO1B)。进一步的，第一测试电压例如为直流高电平，第二测试电压例如为直流低电平。

在步骤S02中，依次获取多组测试输出端的第一测试端和第二测试端之间的电压差。具体地，使能信号EN1-EN5依次有效(使能信号EN1-EN5为高电平有效，低电平无效)，电阻检测模块220中的多个检测子模块受控于相应的使能信号以分时开启，依次检测相应的第一测试端和第二测试端之间的电压差。

在步骤S03中，采集多个电压差，并根电压差提供指示信号，指示信号指示终端电阻是否正常连接于相应的第一输入端和第二输入端之间。当检测子模块输出的电压差接近0，则说明该检测子模块相连的一组测试输出端相应的第一输入端和第二输入端之间的终端电阻R连接正常；当检测子模块输出的电压差接近直流高电平电压(例如3.3V)时，则说明该检测子模块相连的一组测试输出端相应的第一输入端和第二输入端之间的终端电阻R存在虚焊或者漏焊。

进一步的，测试方法还包括在指示信号指示终端电阻R未正常连接在相应的第一输入端和第二输入端之间时提醒工作人员，并显示相应的一组测试输出端的编号(例如测试端IO1A和IO1B)。

进一步的，测试方法还包括在指示信号指示终端电阻R正常连接在相应的第一输入端和第二输入端之后，信号处理模块211将多个使能信号EN1-EN5拉低为低电平，测试装置200工作于第二模式，微控制模块230根据测试图像提供参数信息，并将该参数信息通过SPI通信发送至信号处理模块211。参数信息包括显示装置的分辨率、像素时钟信号的频率、刷新率等。

信号处理模块211根据微控制模块230提供的参数信息产生相应的逻辑数据，并根据该逻辑数据向每组测试输出端提供点灯信号。显示装置100中的驱动电路根据点灯信号向显示面板110提供驱动信号，以显示相应的测试图像。其中，逻辑数据包括图像数据和时序信号。

综上所述，本发明实施例提供的用于显示装置的测试装置以及测试方法，该测试装置包括多组测试输出端、测试信号生成模块、电阻检测模块以及微控制模块。每组测试输出端分别与显示装置上的一组输入端相连接，测试信号生成模块用于在第一模式下分别向每组测试输出端中的第一测试端和第二测试端提供第一测试电压和第二测试电压，电阻检测模块该第一测试端和第二测试端之间的电压差，微控制模块根据电压差提供指示信号，指示信号指示终端电阻是否正常连接在相应的第一输入端和第二输入端之间。本发明的测试装置不仅可以在点灯测试前检测显示装置中的终端电阻是否正常连接于源极驱动芯片的输入端之间，提高测试准确度，而且可降低人力成本，有利于降低测试成本，提高测试效率。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种显示装置的测试装置，所述显示装置包括驱动电路、显示面板和多个终端电阻，所述驱动电路适于向所述显示面板提供驱动信号以使所述显示面板显示相应的画面，所述驱动电路包括多组输入端，每个所述终端电阻连接于每组输入端中的第一输入端和第二输入端之间，其特征在于，所述测试装置包括：

多组测试输出端，每组测试输出端包括第一测试端和第二测试端，所述驱动电路的每组所述输入端分别与相应的一组所述测试输出端相连接；

测试信号生成模块，在第一模式下，向每个所述第一测试端提供第一测试电压，并向每个所述第二测试端提供第二测试电压；

电阻检测模块，与所述多组测试输出端连接，在所述第一模式下检测每组所述测试输出端中所述第一测试端和所述第二测试端之间的电压差；以及

微控制模块，根据所述电压差提供指示信号，所述指示信号指示所述终端电阻是否正常连接在相应的所述第一输入端和第二输入端之间。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试信号生成模块包括信号处理模块，所述信号处理模块在所述第一模式下生成多个第一测试电压和第二测试电压，

其中，所述信号处理模块还在第二模式下生成多个点灯信号，所述驱动电路根据所述点灯信号向所述显示面板提供驱动信号以显示相应的画面。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述电阻检测模块包括多个检测子模块，每个所述检测子模块与相应的所述测试输出端中的所述第一测试端和第二测试端连接，每个所述检测子模块都包括适于接收相应的使能信号的使能端，所述多个检测子模块受控于所述使能信号以分时开启。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，每个所述检测子模块包括：

第一三态门，包括与相应的所述测试输出端中的第一测试端连接的输入端、接收相应的使能信号的使能端以及输出端；

第二三态门，包括与相应的所述测试输出端中的第二测试端连接的输入端、接收相应的使能信号的使能端以及输出端；

第一电阻，包括与所述第一三态门的输出端连接的第一端以及第二端；

第二电阻，包括与所述第二三态门的输出端连接的第一端以及第二端；

比较器，包括与所述第一电阻的第二端连接的反相输入端、与所述第二电阻的第二端连接的正相输入端以及输出所述电压差的输出端；

第三电阻，包括与所述比较器的反相输入端连接的第一端以及与所述比较器的输出端连接的第二端；以及

第四电阻，包括与所述比较器的正相输入端连接的第一端以及与地连接的第二端。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述信号处理模块还适于向所述电阻检测模块提供多个使能信号，以使能控制所述多个检测子模块。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试信号生成模块还包括：

缓冲模块，连接于所述信号处理模块和所述多个测试输出端之间。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：

显示及报警模块，与所述微控制模块连接，根据所述指示信号进行信息显示。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试电压为直流高电平，所述第二测试电压为直流低电平。

9.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述点灯信号为低压差分信号。

10.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述微控制模块包括ARM微处理器，所述信号处理模块为可编程逻辑阵列。

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