CN111383843A - 电解电容老化方法、系统及自动老化机 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种电解电容老化方法、系统及自动老化机,其中,该电解电容老化方法包括:接收到进料指令后,控制自动老化机的老化夹具进料,并控制自动老化机增大电流对老化夹具上的多个电解电容进行排短;在对多个电解电容进行排短后,控制自动老化机对多个电解电容进行第一常温老化;在对多个电解电容进行第一常温老化后,控制自动老化机对多个电解电容进行高温老化;在对多个电解电容进行高温老化后,控制自动老化机对多个电解电容进行第二常温老化;在对多个电解电容进行第二常温老化后,控制自动老化机的老化夹具出料。本发明技术方案提升了电解电容的老化可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及电解电容技术领域,特别涉及一种电解电容老化方法、系统及自动老化机。
背景技术
现有的电解电容是由具有绝缘氧化膜(经过化学合成生成)的正极、没有经过化学合成的负极、电解质及电解液构成。在制作电解电容器的过程中,有裁剪、打卷等工艺。这些工艺,往往会对正极上的绝缘氧化膜(经过化学合成生成)带来损伤,导致电解电容的漏电流大大增加。
为了解决在制造过程中产生的绝缘氧化膜损伤的问题,对组装完成的电解电容器,在电解电容器的正极上连接正电源,在负极上连接负电源,施加超标准的电流,再次进行化学合成处理,修复正极铝箔上的绝缘氧化膜。此种工艺称为老化,经过这样的老化工艺,铝电解电容的性能达到正常水平。
基于目前的电解电容老化工艺,在批量生产时,把多个电解电容并联起来通过一个电源施加电流,总电流量很大,无法控制供应到每个铝电解电容器的电流;同时多个铝电解电容器以并联的方式连接在同一个夹具上,如果一个电解电容器短路,那么,并联在同一个夹具的其它电解电容器也得不到化学合成,导致成品率降低和生产力低下,无法控制通过每个铝电解电容器的老化电流。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种电解电容老化方法、系统及自动老化机,旨在提升电解电容的老化可靠性。
为实现上述目的,本发明提出的电解电容老化电路,所述电解电容老化方法包括:
步骤S10,接收到进料指令后,控制所述自动老化机的老化夹具进料,并控制所述自动老化机增大电流对老化夹具上的多个所述电解电容进行排短;
步骤S20,在对多个电解电容进行排短后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化;
步骤S30,在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化;
步骤S40,在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化;
步骤S50,在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,控制所述自动老化机额老化夹具出料。
可选地,所述自动老化机包括排短电路,所述步骤S10包括:
步骤S11,接收到进料指令后,控制所述自动老化机的老化夹具进料;
步骤S12,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第一排短处理。
可选地,所述自动老化机还包括电压检测电路和辅助老化电路,所述步骤S20包括:
步骤S21,在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温检测,以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化;
步骤S22,在对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第二排短处理。
可选地,所述步骤S30包括:
步骤S31,在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行高温检测,以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化;
步骤S32,在对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第三排短处理。
可选地,所述步骤S40包括:
在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,并控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行过电压冲击及交流叠加冲击。
本发明还提出一种电解电容老化系统,应用于自动老化机,所述电解电容老化系统包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电解电容老化程序,所述电解电容老化程序被所述处理器执行时实现如上所述的电解电容老化方法的步骤。
可选地,所述电解电容老化系统包括:
电容进料单元,接收到进料指令后,控制多个所述电解电容装配到自动老化机的老化夹具上,并控制所述自动老化机增大电流对多个所述电解电容进行排短;
第一常温老化单元,在对多个电解电容进行排短后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化;
高温老化单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化;
第二常温老化单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化;
放电测试单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行放电测试。
可选地,所述电解电容老化系统包括第一电源和第二电源;
所述第一电源,用于对多个所述电解电容进行老化的主电源;
所述第二电源,用于对多个所述电解电容进行辅助老化和排短的辅助电源。
可选地,所述老化夹具上的电解电容数量范围为50-200个。
本发明还提出一种自动老化机,所述自动老化机包括老化夹具、如上所述的电解电容老化方法,以及如上所述的电解电容老化系统;其中,
所述老化夹具包括正极滑槽和负极滑槽,用于将多个电解电容的正负极整排对应放置,且多个所述电解电容相邻设置。
本发明技术方案通过电解电容老化方法通过对自动老化机中具有多个电解电容的老化夹具进行老化处理,实现提高电解电容老化的可靠性。具体地,在自动老化机接收到老化夹具进料指令后,控制老化夹具自动进料,并控制老化夹具对多个电解电容进行排短处理,第一常温老化处理,高温老化处理,以及第二常温老化处理,再控制老化夹具出料;相对于相关技术中的普通老化处理,本方案提升了老化夹具上的电解电容在老化过程中可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明电解电容老化方法一实施例的流程示意图;
图2为图1中步骤S10一实施例的流程示意图;
图3为图1中步骤S20一实施例的流程示意图;
图4为图1中步骤S30一实施例的流程示意图;
图5为本发明自动老化机中老化电路一实施例的电路结构示意图;
图6为本发明自动老化机中老化电路另一实施例的电路结构示意图;
图7为相关技术自动老化机中老化夹具一实施例的电路结构示意图;
图8为本发明自动老化机中老化夹具一实施例的电路结构示意图。
附图标号说明:
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明,若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,若全文中出现的“和/或”的含义为,包括三个并列的方案,以“A和/或B”为例,包括A方案,或B方案,或A和B同时满足的方案。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提出一种电解电容老化方法、系统及自动老化机,常用的固定式烘箱老化测试方法:串排(将电容用半自动或全自动的方法,固定在特殊的老化架上)将串好的排架置入老化机上,接入固定电源常温充电至工艺要求的电压,并保持一段时间,将老化机推入固定的烘箱,高温充电至工艺要求的电压,并保持一段时间,接着推出烘箱,二次常温老化后下架置入测试机进行测试。然而,基于目前的电解电容老化工艺,在批量生产时,把多个电解电容并联起来通过一个电源施加电流,总电流量很大,无法控制供应到每个铝电解电容器的电流;同时多个铝电解电容器以并联的方式连接在同一个夹具上,如果一个电解电容器短路,那么,并联在同一个夹具的其它电解电容器也得不到化学合成,导致成品率降低和生产力低下,无法控制通过每个铝电解电容器的老化电流,可靠性较低,降低了生产效率。
为了解决上述问题,在本发明一实施例中,参照如图1所示,所述电解电容老化方法包括:
步骤S10,接收到进料指令后,控制所述自动老化机的老化夹具进料,并控制所述自动老化机增大电流对老化夹具上的多个所述电解电容进行排短;
步骤S20,在对多个电解电容进行排短后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化;
步骤S30,在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化;
步骤S40,在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化;
步骤S50,在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,控制所述自动老化机的老化夹具出料。
上述实施例中,参照如图2所示,所述自动老化机包括排短电路,所述步骤S10包括:
步骤S11,接收到进料指令后,控制所述自动老化机的老化夹具进料;
步骤S12,在对老化夹具上的多个所述电解电容更换后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第一排短处理。
参照如图3所示,所述自动老化机还包括电压检测电路和辅助老化电路,所述步骤S20包括:
步骤S21,在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温检测,以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化;
步骤S22,在对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第二排短处理。
参照如图4所示,所述步骤S30包括:
步骤S31,在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行高温检测,以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化;
步骤S32,在对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第三排短处理。
可以理解的是,参照如图7所示,相关技术中仅通过对老化夹具上的电解电容接入固定电源,进行常温充电至工艺要求的电压,并保持一段时间,再将老化夹具推入固定的烘箱,进行高温充电至工艺要求的电压,并保持一段时间,推出烘箱进行二次常温老化,最后置入测试机测试。这种对电解电容的老化测试可靠性较低。此外老化夹具上多个电解电容之间有间隔,每个电解电容连接有限流热敏电阻,不便于直接在老化夹具上对电解电容进行测试,便捷性较低。
参照如图5、如图6和如图8所示,本方案将多个电解电容整排设置在老化夹具上,电解电容之间没有间隔,限流热敏电阻与老化夹具独立设置,便于直接通过老化夹具对老化夹具上的电解电容进行测试。同时本方案还通过自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行大电流排短路、多次常温老化和高温老化,提升了电解电容老化测试的可靠性。
可以理解的是,大电流排短路即是如图5或如图6所示,通过在自动老化机的电路具有主电源的基础上,增加辅助电源,以通过开启辅助电源增大电流,对老化夹具上的多个电解电容进行排短,实现了辅助老化电源和过电流冲击剔除不良电解电容。
常温老化即是在独立于老化夹具的外部设置一个或多个限流电阻,或其他限流恒流控制电路对多个电解电容进行常温老化,逐步地转动老化夹具,以接入不同的电源对多个电解电容进行老化。
如图6所示,进入隧道式烘箱高温老化,逐步地转动老化夹具,以接入不同的电源对多个电解电容进行老化。再进行二次常温老化后,控制自动老化机的老化夹具自动出料,进入输送带后进入测试机或者下架至料箱等待测试。
上述实施例中,在第一次常温老化、高温老化和第二次常温老化后,均具有大电流排短,以此实现在对多个电解电容老化过程的每一步骤中,通过辅助老化电源和过电流冲击剔除不良电解电容。此外在电解电容老化过程中,还通过自动老化机中的电压检测电路直接对老化夹具上的多个电解电容进行测试并记录测试数据。
需要说明的是,本方案中的常温一般指室温,高温的温度范围为55摄氏度至125摄氏度,即是高温可以是55摄氏度、80摄氏度、125摄氏度等,此处不做限制。
本方案通过电解电容老化方法通过对自动老化机中具有多个电解电容的老化夹具进行老化处理,实现提高电解电容老化的可靠性。具体地,在自动老化机接收到老化夹具进料指令后,控制老化夹具自动进料,并控制老化夹具对多个电解电容进行排短处理,第一常温老化处理,高温老化处理,以及第二常温老化处理,再控制老化夹具出料;相对于相关技术中的普通老化处理,本方案提升了老化夹具上的电解电容在老化过程中可靠性。
上述实施例中,在自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行老化的电解电容老化方法中,可以采用如图5所示的电解电容老化电路,电解电容老化电路包括第一电源U1、第二电源U2、限流电路10、第一开关KA1、第二开关KA2和老化夹具20;
所述第一电源U1的正极与所述限流电路10的输入端连接,所述限流电路10的输出端与所述第一开关KA1的第一端连接,所述第一开关KA1的第二端分别与所述第二开关KA2的第一端和所述老化夹具20的输入端连接,所述第二开关KA2的第二端连接于所述第二电源U2的正极,所述第一电源U1的负极和所述第二电源U2的负极均连接于所述老化夹具20的输出端;
所述限流电路10,用于限制流入所述老化夹具20的电流;
所述老化夹具20用于对装载于自动老化机夹具上的多个电解电容进行老化。
可以理解的是,相关技术中自动老化机老化方法是将单个电解电容置入机器上的固定夹具中的固定位置,每个电容连接一个或两个限流热敏电阻,逐步地转动接入不同区间的电源,进入滚筒烘箱或隧道式烘箱高温老化,逐步地转动接入不同区间的电源进行二次常温老化,单个电解电容下架至测试机进料区域进行测试。
在本方案中,是将整排电解电容固定在老化夹具上(电解电容之间没有间隔),首先进行大电流排短路,常温老化(每个老化夹具上一个或两个限流电阻或其他限流恒流控制电路进行限流控制,逐步地转动接入不同区域的第一电源U1,第二电源U2和过电流冲击剔除不良电解电容后,进入隧道式烘箱高温老化,二次常温老化,第二电源U2过电压老化后夹具整排下架,进入输送带后进入测试机或者下架至料箱等待测试。
具体而言,相关技术中的老化夹具中间有间隔,每个电解电容连接有限流热敏电阻,相关技术中单支老化夹具线路如图7所示。本方案中自动老化机上的夹具并联设置多个电解电容没有间隔,老化夹具本身不具有限流电阻,夹具正负极接电可以在老化夹具两端,本方案中单支老化夹具如图8所示,提升了电解电容老化电路在对电解电容老化的便捷性。
本实施例中,假设自动老化机上老化夹具有效长度为x,电解电容直径y,可以老化数量为x/y,相关技术中由于一个电容需要1个或2个限流电阻,电解电容的数量由限流电阻数量决定,通用性下降,电容直径减小,数量不变,直径差异大时需要更换夹具。例如,老化夹具900mm配直径18mm的电解电容,单支老化夹具上电解电容的数量就为50个,一个电容2个限流电阻,如果生产13mm电解电容,数量也是50个,当电解电容的直径为10mm时,就需要换间隔小的老化夹具。
本方案中由于一支老化夹具的电解电容老化电路上串联一个或2个限流电阻,为了剔除夹具中的电解电容隐性短路、隐性开路或者膨胀骨气的不良品,在老化过程中增加了大电流冲击和过电压冲击,即是通过第一电源U1和第二电源U2的电源叠加,让短路及隐性短路的电解电容膨胀鼓起形成开路,以使得剔除不良电解电容,采用第一电源U1和第二电源U2的切换,使得电解电容老化电路可以继续工作。
本实施例中,由于老化夹具20中没有限流电阻,可以采用电压检测监控每支老化夹具20上的电压,并保留检测的老化夹具20上电压数据,解决了相关技术中由于每支老化夹具上有多个热敏电阻,检测连线太过复杂,无法监控每只电解电容的电压曲线。进一步地,由于本方案中减少了较多的限流电阻,并且限流电阻不设置在老化夹具20上,老化的限流电阻,以及电解电容老化电路的第一电源U1和第二电源U2在烘箱外,以此减少了热敏电阻失效的维修量,当第一电源U1失效时,可以控制第二电源U2进行工作,提升了电解电容老化电路中限流电阻寿命和生产效率。
本实施例中,可以增加限流、限压等元件的失效显示,如LED指示,以此实现维修人员对电解电容老化电路等的维修管理。
本实施例中,检测的自动老化机中老化夹具上电解电容的电压数据可以通过蓝牙或WIFI传送,即是在本方案自动老化机上可以设置有无线传输模块,将检测的电解电容的电压数据通过无线传输模块发送至终端设备进行显示,此处无线传输模块不限定为蓝牙模块或WIFI模块,根据实际应用场景设置。
需要说明的是,上述实施例中充电电源可以根据电解电容老化的需要进行更换,当电解电容老化的后期,可以将充电电源更换为程控电源,以此达到电解电容两端电压过高时,自动降低电压,从而使老化更加均匀,也避免电解电容过充。
上述的电解电容老化电路包括第一电源U1、第二电源U2、限流电路10、第一开关KA1、第二开关KA2和老化夹具20,在电解电容老化电路中,通过设置第一电源U1和第二电源U2,当老化夹具20中出现电解电容短路等故障时,可以采用第二电源U2继续补充充电,不会造成电解电容老化电路停止工作,降低老化效率。此外限流电路10设置于第一电源U1正极和老化夹具20的输入端之间,限制流入老化夹具20的电流,以保护老化夹具20中电解电容,解决了相关技术中老化夹具20中的每一电解电容需要连接限流电阻的问题,降低了电解电容老化电路的成本,且本方案设置的限流电路10可以根据第一电源U1的电压值大小更换,而不需要更换整个老化夹具20,提升了电解电容老化电路的便捷性,同时提升了电解电容老化的可靠性。
在一实施例中,如图5和如图6所示,所述限流电路10包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第一发光二极管D1;
所述第一电阻R1的第一端、所述第二电阻R2的第一端和所述第三电阻R3的第一端的公共端为所述限流电路10的输入端,所述第一电阻R1的第二端与所述第一发光二极管D1的阳极连接,所述第一发光二极管D1的阴极、所述第二电阻R2的第二端和所述第三电阻R3的第二端的公共端为所述限流电路10的输出端。
本实施例中,所述第二电阻R2和所述第三电阻R3均为热敏电阻。
可以理解的是,限流电路10中包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第一发光二极管D1,对电解电容老化电路中的老化电路进行限流,防止电解电容的损坏,此处的第一电源U1可以是高压电源。
需要说明的是,高压电源的电压范围可以是350V-650V,即是高压电源的电压可以是350V、400V、650V等,此处不做限制。
在一实施例中,如图6所示,所述限流电路10包括灯泡R5、第六电阻R6和第二发光二极管D2;
所述灯泡R5的第一端与所述第二发光二极管D2的阳极的公共端为所述限流电路10的输入端,所述第二发光二极管D2的阴极与所述第六电阻R6的第一端连接,所述灯泡R5的第二端与所述第六电阻R6的第二端的公共端为所述限流电路10的输出端。
可以理解的是,限流电路10中包括灯泡R5、第六电阻R6和第二发光二极管D2,对电解电容老化电路中的老化电路进行限流,防止电解电容的损坏,此处的第三电源U3可以是中压电源。
需要说明的是,中压电源的电压范围可以是125V-300V,即是高压电源的电压可以是125V、200V、300V等,此处不做限制。
在一实施例中,如图6所示,所述限流电路10包括第七电阻R7、第八电阻R8和第三发光二极管D3;
所述第七电阻R7的第一端和所述第三发光二极管D3的阳极的公共端为所述限流电路10的输入端,所述第三发光二极管D3的阴极与所述第八电阻R8的第一端连接,所述第七电阻R7的第二端和所述第八电阻R8的第二端的公共端为所述限流电路10的输出端。
可以理解的是,限流电路10中包括第七电阻R7、第八电阻R8和第三发光二极管D3,对电解电容老化电路中的老化电路进行限流,防止电解电容的损坏,此处的第四电源U4可以是低压电源。
需要说明的是,低压电源的电压范围可以是1V-100V,即是高压电源的电压可以是1V、50V、100V等,此处不做限制。
基于上述实施例,电解电容老化电路可以通过简单切换第一电源U1和限流电路10,就可以老化低压、中压或者高压的电容,提升了电解电容老化电路的便捷性。
在一实施例中,所述第一开关KA1和所述第二开关KA2为继电器开关。可以理解的是,继电器开关是一种电控制器件,是当输入量(激励量)的变化达到规定要求时,在电气输出电路中使被控量发生预定的阶跃变化的一种电器。它具有控制系统(又称输入回路)和被控制系统(又称输出回路)之间的互动关系。通常应用于自动化的控制电路中,实际上是用小电流去控制大电流运作的一种“自动开关”,故在电路中起着自动调节、安全保护、转换电路等作用。本方案中,是实现第一电源U1与第二电源U2之间的自动切换,以达到对电解电容老化电路中老化电路的持续供电。
本发明还提出一种电解电容老化系统,应用于自动老化机,所述电解电容老化系统包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电解电容老化程序,所述电解电容老化程序被所述处理器执行时实现如上所述的电解电容老化方法的步骤。
本实施例中,所述电解电容老化系统包括:
电容进料单元,接收到更换指令后,控制多个所述电解电容装配到自动老化机的老化夹具上,并控制所述自动老化机增大电流对多个所述电解电容进行排短;
第一常温老化单元,在对多个电解电容进行排短后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化;
高温老化单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化;
第二常温老化单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化;
放电测试单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行放电测试。
基于上述实施例,所述老化夹具上的电解电容数量范围为50-200个。
本实施例中,一般自动老化机有300支以上夹具,每个夹具有50至200个电解电容,本发明只是需要300个检测点就可以等同测试所有电解电容,降低了自动老化机夹具的接线复杂程度。可以理解的是,每个夹具上的电解电容的数量可以是50个、100个、200个等,此处不做限制。
基于上述实施例,如图4所示,所述电解电容老化电路还包括第四电阻R4;
所述第四电阻R4连接于所述第二开关KA2和所述第二电源U2之间。
本发明还提出一种自动老化机,所述自动老化机包括老化夹具、如上所述的电解电容老化方法,以及如上所述的电解电容老化系统;其中,所述老化夹具包括正极滑槽和负极滑槽,用于将多个电解电容的正负极整排对应放置,且多个所述电解电容相邻设置。该电解电容老化方法和电解电容老化系统的具体结构参照上述实施例,由于本自动老化机采用了上述所有实施例的全部技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。其中,相对于现有技术中在将电解电容放置进入夹具中时,需要单个定位放置,本方案采用正极滑槽和负极滑槽的方式,可以对每个电解电容单独放置,也可以整排放置,提升了自动老化机夹具放置电解电容的便捷性。
可以理解的是,由于老化夹具包括正极滑槽和负极滑槽,设置在夹具上的电解电容可以是导针型(包括固态电解电容,贴片电解电容)和钮角型电解电容等,根据实际应用情况设置,此处不做限制。
以上所述仅为本发明的可选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的发明构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种电解电容老化方法,应用于自动老化机,其特征在于,所述电解电容老化方法包括:
步骤S10,接收到进料指令后,控制所述自动老化机的老化夹具进料,并控制所述自动老化机增大电流对老化夹具上的多个所述电解电容进行排短;
步骤S20,在对多个电解电容进行排短后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化;
步骤S30,在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化;
步骤S40,在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化;
步骤S50,在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,控制所述自动老化机的老化夹具出料。
2.如权利要求1所述的电解电容老化方法,其特征在于,所述自动老化机包括排短电路,所述步骤S10包括:
步骤S11,接收到进料指令后,控制所述自动老化机的老化夹具进料;
步骤S12,在对老化夹具上的多个所述电解电容更换后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第一排短处理。
3.如权利要求2所述的电解电容老化方法,其特征在于,所述自动老化机还包括电压检测电路和辅助老化电路,所述步骤S20包括:
步骤S21,在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温检测,以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化;
步骤S22,在对老化夹具上的多个电解电容第一辅助老化后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第二排短处理。
4.如权利要求3所述的电解电容老化方法,其特征在于,所述步骤S30包括:
步骤S31,在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,并控制所述自动老化机的电压检测电路对老化夹具上的多个电解电容进行高温检测,以及控制所述自动老化机的辅助老化电路对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化;
步骤S32,在对老化夹具上的多个电解电容第二辅助老化后,控制所述自动老化机的排短电路对多个所述电解电容进行第三排短处理。
5.如权利要求4所述的电解电容老化方法,其特征在于,所述步骤S40包括:
在控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,并控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行过电压冲击及交流叠加冲击。
6.一种电解电容老化系统,应用于自动老化机,其特征在于,所述电解电容老化系统包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电解电容老化程序,所述电解电容老化程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任意一项所述的电解电容老化方法的步骤。
7.如权利要求6所述的电解电容老化系统,其特征在于,所述电解电容老化系统包括:
电容进料单元,接收到进料指令后,控制多个所述电解电容装配到自动老化机的老化夹具上,并控制所述自动老化机增大电流对多个所述电解电容进行排短;
第一常温老化单元,在对多个电解电容进行排短后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化;
高温老化单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行第一常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化;
第二常温老化单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行高温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化;
放电测试单元,在对老化夹具上的多个电解电容进行第二常温老化后,控制所述自动老化机对老化夹具上的多个电解电容进行放电测试。
8.如权利要求7所述的电解电容老化系统,其特征在于,所述老化夹具上的电解电容数量范围为50-200个。
9.一种自动老化机,其特征在于,所述自动老化机包括老化夹具、如权利要求1至5任意一项所述的电解电容老化方法,以及如权利要求6至8任意一项所述的电解电容老化系统;其中,
所述老化夹具包括正极滑槽和负极滑槽,用于将多个电解电容的正负极整排对应放置,且多个所述电解电容相邻设置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113270272A (zh) * | 2021-04-02 | 2021-08-17 | 章恒 | 一种固态铝电解电容器 |
CN115360027A (zh) * | 2022-08-23 | 2022-11-18 | 东莞士格电子集团有限公司 | 一种用于加工超级电容的老化工艺加工设备 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10294243A (ja) * | 1997-04-22 | 1998-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電解コンデンサのエージング方法 |
JP2000340466A (ja) * | 1999-05-28 | 2000-12-08 | Hitachi Aic Inc | 固体電解コンデンサの製造方法 |
CN101383225A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 艾立华 | 一种铝电解电容器自动老化生产线 |
CN201274234Y (zh) * | 2008-07-23 | 2009-07-15 | 南通天禾机械科技有限公司 | 自动老化机独立充放电装置 |
CN102646514A (zh) * | 2012-03-31 | 2012-08-22 | 南通一品机械电子有限公司 | 中高压铝电解电容器新型老化工艺 |
CN102830306A (zh) * | 2012-08-17 | 2012-12-19 | 常州华威电子有限公司 | 一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法 |
CN103854860A (zh) * | 2014-03-12 | 2014-06-11 | 中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司 | 一种耐高温钽电容器的老炼方法 |
CN104882279A (zh) * | 2015-05-28 | 2015-09-02 | 南通华裕电子有限公司 | 一种高比容铝电解电容器老化方法 |
CN105047437A (zh) * | 2015-07-03 | 2015-11-11 | 南通新三能电子有限公司 | 一种能够老化超高压铝电解电容器的夹具及其老化工艺 |
CN204966297U (zh) * | 2015-10-10 | 2016-01-13 | 东莞首科电子科技有限公司 | 一种电容器自动老化机 |
CN105931862A (zh) * | 2016-06-23 | 2016-09-07 | 深圳市万腾电子有限公司 | 铝电解电容器的制作方法 |
CN110379628A (zh) * | 2019-05-31 | 2019-10-25 | 南通一品机械电子有限公司 | 一种低内压铝电解电容器的老化工艺 |
-
2020
- 2020-03-05 CN CN202010150712.7A patent/CN111383843B/zh active Active
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10294243A (ja) * | 1997-04-22 | 1998-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電解コンデンサのエージング方法 |
JP2000340466A (ja) * | 1999-05-28 | 2000-12-08 | Hitachi Aic Inc | 固体電解コンデンサの製造方法 |
CN101383225A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 艾立华 | 一种铝电解电容器自动老化生产线 |
CN201274234Y (zh) * | 2008-07-23 | 2009-07-15 | 南通天禾机械科技有限公司 | 自动老化机独立充放电装置 |
CN102646514A (zh) * | 2012-03-31 | 2012-08-22 | 南通一品机械电子有限公司 | 中高压铝电解电容器新型老化工艺 |
CN102830306A (zh) * | 2012-08-17 | 2012-12-19 | 常州华威电子有限公司 | 一种对铝电解电容器的低电压方式短路检测电路及其检测方法 |
CN103854860A (zh) * | 2014-03-12 | 2014-06-11 | 中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司 | 一种耐高温钽电容器的老炼方法 |
CN104882279A (zh) * | 2015-05-28 | 2015-09-02 | 南通华裕电子有限公司 | 一种高比容铝电解电容器老化方法 |
CN105047437A (zh) * | 2015-07-03 | 2015-11-11 | 南通新三能电子有限公司 | 一种能够老化超高压铝电解电容器的夹具及其老化工艺 |
CN204966297U (zh) * | 2015-10-10 | 2016-01-13 | 东莞首科电子科技有限公司 | 一种电容器自动老化机 |
CN105931862A (zh) * | 2016-06-23 | 2016-09-07 | 深圳市万腾电子有限公司 | 铝电解电容器的制作方法 |
CN110379628A (zh) * | 2019-05-31 | 2019-10-25 | 南通一品机械电子有限公司 | 一种低内压铝电解电容器的老化工艺 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113270272A (zh) * | 2021-04-02 | 2021-08-17 | 章恒 | 一种固态铝电解电容器 |
CN113270272B (zh) * | 2021-04-02 | 2023-03-28 | 益阳市天成源电子有限公司 | 一种固态铝电解电容器 |
CN115360027A (zh) * | 2022-08-23 | 2022-11-18 | 东莞士格电子集团有限公司 | 一种用于加工超级电容的老化工艺加工设备 |
CN115360027B (zh) * | 2022-08-23 | 2024-02-20 | 东莞士格电子集团有限公司 | 一种用于加工超级电容的老化工艺加工设备 |
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