CN111366896A - 一种反光柱的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 - Google Patents

一种反光柱的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请涉及导航定位技术领域，尤其涉及一种反光柱的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。本申请通过获取的激光扫描设备发送的扫描数据中的各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，可以使每个第一聚类中的扫描点来自同一反光柱，进一步地，根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，这样，通过对第一聚类进行二次筛选，可以减少非反光柱物体被误检成反光柱的概率，并根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。

Description

一种反光柱的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
技术领域
本申请涉及导航定位技术领域，尤其涉及一种反光柱的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。
背景技术
在现代制造业中，生产阶段的自动化可以显著提高生产效率、降低成本，因而实现自动化的重要性与日俱增。无人搬运机器人(Automated Guided Vehicle，AGV)作为自动化生产中的运输工具，近年来吸引了工业界和学术界的广泛关注。其中，AGV的导航定位是一个重要的研究方向，常见的工业AGV导航定位方式有磁导航、自然导航、地标导航、激光导航等。其中基于反光柱的激光导航由于其定位精度高，维护成本低，安装成本相对较低，AGV的路径规划柔性高等优点在AGV上获得了大量的应用。
基于反光柱的激光导航的过程可按顺序划分为几个阶段：反光柱检测、反光柱匹配、反光柱跟踪、雷达位姿解算等。原始扫描数据为激光扫描设备扫描点的反光强度和扫描点距激光扫描设备的距离，在接收到激光扫描设备的扫描原始数据后，反光柱检测作为算法的第一步负责从原始数据中检测并获得反光柱位置坐标，用于后续处理步骤，因而，反光柱检测算法提取出的反光柱的真伪性和反光柱位置坐标的精度，直接决定了基于反光柱的激光导航的精度及鲁棒性，因此是导航过程中至关重要的一步。
发明内容
有鉴于此，本申请实施例至少提供一种反光柱的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
本申请主要包括以下几个方面：
第一方面，本申请实施例提供一种反光柱的检测方法，所述检测方法包括：
获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度；
根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类；
根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类；
根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
在一种可能的实施方式中，在所述获取激光扫描设备发送的扫描数据之前，所述检测方法还包括：
获取所述激光扫描设备在扫描距离范围内的各个距离处，向所述反光柱发射激光产生的扫描数据；所述扫描数据包括每个距离对应的多个扫描点的反光强度；
针对每个距离，根据每个距离对应的多个扫描点的反光强度，确定每个距离对应的反光强度的上限值和下限值。
在一种可能的实施方式中，所述根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，包括：
根据各个扫描点对应的反光强度，从扫描数据中，筛选出满足反光强度条件的扫描点；
将筛选出的满足反光强度条件的扫描点中，对应的距离差小于所述反光柱的半径的任一两个扫描点划分至一个聚类，得到所述第一聚类。
在一种可能的实施方式中，所述检测方法还包括根据以下步骤确定满足所述反光强度条件的扫描点：
针对任一扫描点，若所述扫描点对应的反光强度大于或等于第一预设强度，则将所述扫描点确定为满足所述反光强度条件的扫描点；
其中，所述第一预设强度是由所述扫描点对应的反光强度的下限值确定的。
在一种可能的实施方式中，所述根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，包括：
将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
根据各个第二聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第二聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类。
在一种可能的实施方式中，所述将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类，包括：
针对每个第一聚类，获取所述第一聚类中编号为中间值的扫描点对应的距离和角度；
针对任一两个第一聚类，将对应的距离差小于所述反光柱的半径，和/或角度差小于预设角度的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
其中，所述预设角度是由所述两个第一聚类中编号为中间值的两个扫描点分别对应的距离和所述反光柱的半径确定的。
在一种可能的实施方式中，所述根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，包括：
从所述第一聚类中，选取对应的反光强度的最大值大于或等于第二预设强度，和/或选取包含的扫描点的数量大于或等于预设点数的第一聚类，确定为所述有效聚类；
其中，所述第二预设强度是由反光强度的最大值的扫描点对应的反光强度的上限值确定的；所述预设点数是由所述激光扫描设备的角分辨率、所述反光柱的半径和所述反光强度的最大值的扫描点对应的距离确定的。
在一种可能的实施方式中，所述根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，包括：
针对每个有效聚类，通过所述有效聚类中各个扫描点的位置坐标进行圆拟合，得到每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
第二方面，本申请实施例还提供一种反光柱的检测装置，所述检测装置包括：
第一获取模块，用于获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度；
生成模块，用于根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类；
筛选模块，用于根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类；
计算模块，用于根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
在一种可能的实施方式中，所述检测装置还包括：
第二获取模块，用于获取所述激光扫描设备在扫描距离范围内的各个距离处，向所述反光柱发射激光产生的扫描数据；所述扫描数据包括每个距离对应的多个扫描点的反光强度；
确定模块，用于针对每个距离，根据每个距离对应的多个扫描点的反光强度，确定每个距离对应的反光强度的上限值和下限值。
在一种可能的实施方式中，所述生成模块包括：
第一筛选单元，用于根据各个扫描点对应的反光强度，从扫描数据中，筛选出满足反光强度条件的扫描点；
第一生成单元，用于将筛选出的满足反光强度条件的扫描点中，对应的距离差小于所述反光柱的半径的任一两个扫描点划分至一个聚类，得到所述第一聚类。
在一种可能的实施方式中，所述第一筛选单元，用于根据以下步骤确定满足所述反光强度条件的扫描点：
针对任一扫描点，若所述扫描点对应的反光强度大于或等于第一预设强度，则将所述扫描点确定为满足所述反光强度条件的扫描点；
其中，所述第一预设强度是由所述扫描点对应的反光强度的下限值确定的。
在一种可能的实施方式中，所述筛选模块包括：
第二生成单元，用于将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
第二筛选单元，用于根据各个第二聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第二聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类。
在一种可能的实施方式中，所述第二生成单元，用于根据以下步骤得到第二聚类：
针对每个第一聚类，获取所述第一聚类中编号为中间值的扫描点对应的距离和角度；
针对任一两个第一聚类，将对应的距离差小于所述反光柱的半径，和/或角度差小于预设角度的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
其中，所述预设角度是由所述两个第一聚类中编号为中间值的两个扫描点分别对应的距离和所述反光柱的半径确定的。
在一种可能的实施方式中，所述筛选模块，用于根据以下步骤筛选出所述有效聚类：
从所述第一聚类中，选取对应的反光强度的最大值大于或等于第二预设强度，和/或选取包含的扫描点的数量大于或等于预设点数的第一聚类，确定为所述有效聚类；
其中，所述第二预设强度是由反光强度的最大值的扫描点对应的反光强度的上限值确定的；所述预设点数是由所述激光扫描设备的角分辨率、所述反光柱的半径和所述反光强度的最大值的扫描点对应的距离确定的。
在一种可能的实施方式中，所述计算模块，用于根据以下步骤计算所述中心坐标：
针对每个有效聚类，通过所述有效聚类中各个扫描点的位置坐标进行圆拟合，得到每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
第三方面，本申请实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过所述总线进行通信，所述机器可读指令被所述处理器运行时执行上述第一方面或第一方面中任一种可能的实施方式中所述的反光柱的检测方法的步骤。
第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述第一方面或第一方面中任一种可能的实施方式中所述的反光柱的检测方法的步骤。
本申请实施例中，通过获取的激光扫描设备发送的扫描数据中的各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，可以使每个第一聚类中的扫描点来自同一反光柱，进一步地，根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，这样，通过对第一聚类进行二次筛选，可以减少非反光柱物体被误检成反光柱的概率，并根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1示出了本申请实施例所提供的一种反光柱的检测方法的流程图；
图2示出了本申请实施例所提供的另一种反光柱的检测方法的流程图；
图3示出了本申请实施例所提供的一种反光柱的检测装置的功能模块图之一；
图4示出了本申请实施例所提供的一种反光柱的检测装置的功能模块图之二；
图5示出了图4中的生成模块的功能模块图；
图6示出了图4中的筛选模块的功能模块图；
图7示出了本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。
主要元件符号说明：
图中：300-反光柱的检测装置；310-第一获取模块；320-生成模块；322-第一筛选单元；324-第一生成单元；330-筛选模块；332-第二生成单元；334-第二筛选单元；340-计算模块；350-第二获取模块；360-确定模块；700-电子设备；710-处理器；720-存储器；730-总线。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本申请中的附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本申请的保护范围。另外，应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本申请中使用的流程图示出了根据本申请的一些实施例实现的操作。应当理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本申请内容的指引下，可以向流程图添加一个或多个其他操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。
另外，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的全部其他实施例，都属于本申请保护的范围。
为了使得本领域技术人员能够使用本申请内容，结合特定应用场景“反光柱的检测”，给出以下实施方式，对于本领域技术人员来说，在不脱离本申请的精神和范围的情况下，可以将这里定义的一般原理应用于其他实施例和应用场景。
本申请实施例下述方法、装置、电子设备或计算机可读存储介质可以应用于任何需要进行反光柱的检测的场景，本申请实施例并不对具体的应用场景作限制，任何使用本申请实施例提供的反光柱的检测方法及装置的方案均在本申请保护范围内。
值得注意的是，在本申请提出之前，基于反光柱的激光导航的过程可按顺序划分为几个阶段：反光柱检测、反光柱匹配、反光柱跟踪、雷达位姿解算等。原始扫描数据为激光扫描设备扫描点的反光强度和扫描点距激光扫描设备的距离，在接收到激光扫描设备的扫描原始数据后，反光柱检测作为算法的第一步负责从原始数据中检测并获得反光柱位置坐标，用于后续处理步骤，因而，反光柱检测算法提取出的反光柱的真伪性和反光柱位置坐标的精度，直接决定了基于反光柱的激光导航的精度及鲁棒性，因此是导航过程中至关重要的一步，因此，如何提升反光柱的检测的精度是目前亟待解决的技术问题。
针对上述问题，本申请实施例，通过获取的激光扫描设备发送的扫描数据中的各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，可以使每个第一聚类中的扫描点来自同一反光柱，进一步地，根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，这样，通过对第一聚类进行二次筛选，可以减少非反光柱物体被误检成反光柱的概率，并根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
为便于对本申请进行理解，下面结合具体实施例对本申请提供的技术方案进行详细说明。
图1为本申请实施例所提供的一种反光柱的检测方法的流程图。如图1所示，本申请实施例提供的反光柱的检测方法，包括以下步骤：
S101：获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度。
在具体实施中，在基于反光柱的激光导航技术对AGV进行导航定位时，先需要检测出反光柱的位置，具体地，先通过在AGV上安装的激光扫描设备发射激光束，并获取水平面360°角度范围的各个扫描点的扫描数据，这里，扫描数据包括各个扫描点到发射激光束的激光扫描设备之间的距离，各个扫描点的反光强度、各个扫描点到激光扫描设备的光束和激光扫描设备发射的水平光束之间的角度，即，每个扫描点对应扫描数据包括距离、反光强度和角度。其中，激光扫描设备可以为激光雷达，也可以为激光扫描仪，也可以为其他具有激光扫描效果的设备。
这里，每个扫描点对应的距离和反光强度是存在对应关系的，激光扫描设备向处于不同位置的反光柱发射激光束，得到的扫描点的反光强度是不同的。在激光扫描设备距离反光柱的一个距离时，发射一束激光束至反光柱上，从照射在反光柱上的激光点向反光柱两侧会产生多个扫描点，产生的扫描点的数量由激光扫描设备的角分辨率确定的，该多个扫描点对应的反光强度也是不同地，具体地，该多个扫描点中，处于中间位置的扫描点的反光强度最高，处于边缘的扫描点的反光强度最低，处于中间位置的扫描点为激光点，也就是说，对于激光扫描设备到反光柱的一个距离，产生的多个扫描点中，存在具有反光强度最高的扫描点，也存在具有反光强度最低的扫描点，这里，将最高的反光强度称之为反光强度的上限值，将最低的反光强度称之为反光强度的下限值，在一个距离下，如果一个扫描点的反光强度在对应的反光强度的下限值和反光强度的上限值范围内，认为该扫描点为来自反光柱的扫描点，否则，认为该扫描点为来自非反光柱的扫描点，故，可以通过任一距离对应的反光强度的下限值和上限值，来对获取的任意一个扫描点进行是否来自反光柱的筛选。
进一步地，通过以下步骤确定每个距离对应的反光强度的上限值和下限值：
获取所述激光扫描设备在扫描距离范围内的各个距离处，向所述反光柱发射激光产生的扫描数据；所述扫描数据包括每个距离对应的多个扫描点的反光强度；针对每个距离，根据每个距离对应的多个扫描点的反光强度，确定每个距离对应的反光强度的上限值和下限值。
在具体实施中，在激光扫描设备的扫描距离范围内的各个距离处，通过激光扫描设备向各个距离处的反光柱发射激光束，获得各个距离处对应的扫描数据，针对各个距离中的任一一个距离，确定出该距离对应的反光强度的上限值和下限值，具体地，可以获取每个距离下各个扫描点对应的距离和反光强度之间的曲线，其中，每个距离对应一条距离-反光强度曲线，对每条距离-反光强度曲线进行标定，从每条距离-反光强度曲线中提取出两条阈值直线，分别为反光柱的反光强度的下限值和上限值，相对于反光柱距激光扫描设备的距离之间的函数，记为f_inf(range)，f_sup(range)。
S102：根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类。
在具体实施中，通过激光扫描设备获得的扫描点大多来自多个反光柱，还可能存在一些扫描点来自也具有反光效果的非反光柱的物体，因此，需要从获得扫描点中筛选出来自反光柱的扫描点，并对筛选出的扫描点进行聚类，得到多个第一聚类，每个第一聚类中的扫描点为来自同一个反光柱的扫描点，这里，通过每个扫描点的反光强度，来确定该扫描点是否为来自反光柱的扫描点，通过各个扫描点对应的距离之间的关系，对筛选出的扫描点进行聚类。
进一步地，对如何根据各个扫描点对应的反光强度和距离，得到来自各个反光柱的扫描点的第一聚类，也即，步骤S102中所述根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，包括以下步骤：
步骤a：根据各个扫描点对应的反光强度，从扫描数据中，筛选出满足反光强度条件的扫描点。
在具体实施中，对于来自一个反光柱的扫描点来讲，该扫描点对应的反光强度是有固定范围区间的，故，可以通过各个扫描点对应的反光强度，来判断各个扫描点的反光强度是否满足反光强度条件，对于满足强度的扫描点；认为该扫描点来自反光柱，对于不满足强度的扫描点，认为该扫描点来自非反光柱的其他物体。
进一步地，针对每个扫描点，可以通过判断该扫描点对应的反光强度是否大于或等于对应的反光强度的下限值，来确定该扫描点是否为来自反光柱的扫描点，也即，针对任一扫描点，若所述扫描点对应的反光强度大于或等于第一预设强度，则将所述扫描点确定为满足所述反光强度条件的扫描点；其中，所述第一预设强度是由所述扫描点对应的反光强度的下限值确定的。
在具体实施中，使第一预设强度大于对应的反光强度下限值，即对是否来自反光柱的扫描点进行更严格的筛选，可以提高反光柱检测结果的精度。其中，每个扫描点对应的反光强度的下限值，可以通过距离-反光强度曲线的标定结果进行查询，其中，通常第一预设强度等于对应的反光强度下限值与第一系数的乘积，其中，第一系数为大于1的常数，优选为1.2。
步骤b：将筛选出的满足反光强度条件的扫描点中，对应的距离差小于所述反光柱的半径的任一两个扫描点划分至一个聚类，得到所述第一聚类。
在具体实施中，在从获取的各个扫描点中，筛选出满足反光强度条件的扫描点后，对于筛选出的任一两个扫描点，若该两个扫描点对应的两个距离之间的距离差小于反光柱的半径，即认为该两个扫描点来自同一个反光柱，则将该两个扫描点划分至一个聚类，采用上述方法，可以得到多个第一聚类，每个第一聚类中的扫描点为来自同一个反光柱的扫描点。这里，可以按顺序获取激光扫描设备发送的各个扫描点的扫描数据，即，各个扫描点在反光柱上的位置是相邻的，若当前扫描点通过反光强度条件筛选，判断其与上一通过筛选的扫描点是否属于同一聚类，其中，判断条件为两者距激光扫描设备的距离差是否小于反光柱半径，如果通过判断，则将当前扫描点加入上一个通过筛选的扫描点的聚类中，否则，新建聚类，将当前扫描点加入新建聚类中。
需要说明的是，激光扫描设备在向反光柱发射激光束后，会在反光柱上产生多个扫描点，这多个扫描点在反光柱靠近激光的一侧产生，在反光柱上形成半圈的扫描点，各个扫描点与激光扫描设备之间对应有一个距离，对于任一两个扫描点对应的两个距离，以及两个扫描点之间的第三边，可以形成三角形，第三边最长为反光柱的半径，由于在三角形中，两边之差大于第三边，故，来自同一反光柱的任一两个扫描点对应的距离差都应该小于反光柱的半径，否则，这两个扫描点来自不同的反光柱。
S103：根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类。
在具体实施中，由于反光柱上贴有反光效果较好的反光材料，因而，在激光扫描设备向反光柱发射激光束时，会产生多个扫描点，其中，产生的扫描点的数量是由激光扫描设备的角分辨率和反光柱的反光材料的完整性确定的，对于，反光材料完好的反光柱，其产生的扫描点的数量是固定的，或在一个预设范围内，故，可以通过扫描点的数量，来确定第一聚类中的扫描点是否为来自真实反光柱的扫描点，即对第一聚类进行再次筛选，剔除非反光柱聚类，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类；对于来自一个反光柱的扫描点来讲，该扫描点对应的反光强度是有固定范围区间的，故，可以通过各个扫描点对应的反光强度，来判断各个扫描点的反光强度是否满足条件，上述步骤中采用对应的强度下限值进行筛选，但有的非反光柱具有较高的反光性能，来自其的扫描点的反光强度超过了对应的反光强度的下限值，这里，通过对应的反光强度的上限值进行进一步筛选，来确定第一聚类中的扫描点是否为来自真实反光柱的扫描点，即对第一聚类进行再次筛选，剔除非反光柱聚类，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，即对第一聚类进行反光强度的上限值筛选，可以进一步减小将非反光柱误检测成反光柱的可能性。
进一步地，可以通过多种方式，从第一聚类中，筛选出有效聚类，也即，步骤S103中所述根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，包括以下方式：
方式一：从所述第一聚类中，选取对应的反光强度的最大值大于或等于第二预设强度的第一聚类，确定为所述有效聚类；其中，所述第二预设强度是由反光强度的最大值的扫描点对应的反光强度的上限值确定的。
在具体实施中，对于来自一个反光柱的扫描点来讲，该扫描点对应的反光强度是有固定范围区间的，故，可以通过各个扫描点对应的反光强度，来判断各个扫描点的反光强度是否满足条件，具体地，对于任一第一聚类，可以从第一聚类中选取反光强度最大的扫描点，并判断该反光强度是否大于或等于第二预设强度，若大于，说明该第一聚类中的扫描点为来自反光柱的扫描点，将该第一聚类确定为有效聚类；若小于，说明该第一聚类中的扫描点为来自非反光柱的物体的扫描点，将该第一聚类筛除，该第一聚类不作为有效聚类。
需要说明的是，使第二预设强度小于对应的反光强度的上限值，由于反光柱可能破损，故在此，放宽了对是否来自反光柱的扫描点的筛选，由于，本申请同时使用了反光强度的上限值和下限值对扫描点进行筛选，可类比于对扫描点的反光强度进行了带通滤波，降低了反光柱的误检测率。其中，通常第二预设强度等于对应的反光强度上限值与第二系数的乘积，其中，第二系数为小于1的常数，优选为0.9。
方式二：从所述第一聚类中，选取包含的扫描点的数量大于或等于预设点数的第一聚类，确定为所述有效聚类；所述预设点数是由所述激光扫描设备的角分辨率、所述反光柱的半径和所述反光强度的最大值的扫描点对应的距离确定的。
在具体实施中，在激光扫描设备向反光柱发射激光束时，会产生多个扫描点，其中，产生的扫描点的数量是由激光扫描设备的角分辨率和反光柱的反光材料的完整性确定的，对于，反光材料完好的反光柱，其产生的扫描点的数量是固定的，或在一个预设范围内，故，可以通过扫描点的数量，来确定第一聚类中的扫描点是否为来自真实反光柱的扫描点，具体地，对于任一第一聚类，确定该第一聚类中包含的扫描点的数量，并判断该数量是否大于或等于预设点数，若大于，说明该第一聚类中的扫描点为来自反光柱的扫描点，将该第一聚类确定为有效聚类；若小于，说明该第一聚类中的扫描点为来自非反光柱的物体的扫描点，将该第一聚类筛除，该第一聚类不作为有效聚类。
需要说明的是，使预设点数小于对应的完整的反光柱对应的点数，由于反光柱可能破损，故在此，放宽了对是否来自反光柱的扫描点的筛选，预设点数等于预设阈值与第三系数的乘积，第三系数为小于1的常数，第三系数表达的物理含义为允许在某一反光柱多大部分被遮挡的情况下，该反光柱仍能算法认定为有效反光柱，建议值2/3，即只要某反光柱三分之二的部分被扫描到，就认为该第一聚类为有效聚类。其中，预设阈值的公式为：
Figure BDA0002401365630000151
其中，r为反光柱半径，d为激光扫描设备到反光柱的水平距离，f为角分辨率，对于反光柱上的最远的两个扫描点，一个扫描点与激光扫描设备的光束与另一个扫描点与激光扫描设备的光束之间的夹角为最大的扫描范围角，该扫描范围角的一半等于反光柱的半径除以一个扫描点与激光扫描设备的发射点之间的距离，根据三角形定理，两条边之和大于第三边，则扫描点与激光扫描设备的发射点之间的距离要小于激光扫描设备到反光柱的水平距离和反光柱的半径之和，故，预设阈值为上述公式。本申请加入了对第一聚类中扫描点数的筛选判断，使得扫描点数接近于对应反光柱期望扫描点数的第一聚类才被识别为有效聚类，这些处理避免了在特殊情况下，同一反光柱被检测为多个的情况，并降低了反光柱漏检率，提高了有反激光雷达定位算法在大面积场景使用情况下的鲁棒性。
方式三：从所述第一聚类中，选取对应的反光强度的最大值大于或等于第二预设强度，且包含的扫描点的数量大于或等于预设点数的第一聚类，确定为所述有效聚类。
在具体实施中，从第一聚类中，选取同时满足反光强度要求和点数要求的第一聚类，确定为有效聚类。
S104：根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
在具体实施中，在筛选出有效聚类后，对于每个有效聚类，计算出该有效聚类对应的反光柱的位置，即中心坐标，该中心坐标用于后续进行激光导航的步骤。
进一步地，可以根据每个有效聚类对应的全部扫描点，来计算该有效聚类对应的反光柱的中心坐标，以提高反光柱检测结果的精度，也即，步骤S104中所述根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，包括以下步骤：
针对每个有效聚类，通过所述有效聚类中各个扫描点的位置坐标进行圆拟合，得到每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
在具体实施中，针对每个有效聚类，由于该有效聚类对应的反光柱产生的扫描点围绕反光柱的一侧分布，且构成半圆，故，在此，通过将该有效聚类中各个扫描点的位置坐标进行圆拟合，得到该有效聚类对应的反光柱的中心坐标。这里，对提取出的有效反光柱聚类进行中心点提取，反光柱半径作为已知条件，可通过几何或代数方法对每一有效聚类内的所有扫描点进行圆拟合，得到反光柱的中心坐标，这样，可以充分利用对应同一反光柱的全部扫描点的信息进行反光柱的中心坐标解算，可以提高反光柱检测结果精度，从而提高基于反光柱的激光定位的精度。
在本申请实施例中，通过获取的激光扫描设备发送的扫描数据中的各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，可以使每个第一聚类中的扫描点来自同一反光柱，进一步地，根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，这样，通过对第一聚类进行二次筛选，可以减少非反光柱物体被误检成反光柱的概率，并根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
图2为本申请实施例所提供的另一种反光柱的检测方法的流程图。如图2所示，本申请实施例提供的反光柱的检测方法，包括以下步骤：
S201：获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度。
S202：根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类。
S203：将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类。
在具体实施中，在对筛选出的扫描点进行聚类，得到多个第一聚类后，由于可能存在误检或反光柱被局部遮挡的情况，而使得同一反光柱的扫描点在距离上存在不连续的特殊情况，即存在将来自同一反光柱的扫描点划分至两个不同的第一聚类中的情况，这里，对第一聚类进行二次处理，将识别除的来自同一反光柱的至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类。
进一步地，下面对得到第二聚类的步骤进行阐述，也即，步骤S203中所述将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类，包括以下步骤：
针对每个第一聚类，获取所述第一聚类中编号为中间值的扫描点对应的距离和角度；针对任一两个第一聚类，将对应的距离差小于所述反光柱的半径，和/或角度差小于预设角度的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；其中，所述预设角度是由所述两个第一聚类中编号为中间值的两个扫描点分别对应的距离和所述反光柱的半径确定的。
在具体实施中，由于每个第一聚类中包含的扫描点的数量较多，如果将两个第一聚类中包含的扫描点一一进行比对，计算量会较大，这里，针对任一两个第一聚类，仅从每个第一聚类中选取出一个扫描点，每个扫描点对应有编号，具体地，可以选取每个第一聚类中，编号为所有扫描点的编号的中间编号的扫描点，通过将这两个编号为中间值的扫描点的距离和/或角度进行比较，确定是否将这两个第一聚类进行合并，可以采用以下方式进行合并：
方式一：针对任一两个第一聚类，将对应的距离差小于所述反光柱的半径的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类。
在具体实施中，针对任一两个第一聚类，分别获取该两个第一聚类中处于编号中间值的扫描点，若该两个扫描点对应的距离差小于反光柱的半径，说明该两个第一聚类中的扫描点来自同一个反光柱，则将该两个第一聚类进行合并，得到第二聚类。
方式二：针对任一两个第一聚类，将对应的角度差小于预设角度的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类。
在具体实施中，针对任一两个第一聚类，分别获取该两个第一聚类中处于编号中间值的扫描点，若该两个扫描点对应的角度差小于预设角度，说明该两个第一聚类中的扫描点来自同一个反光柱，则将该两个第一聚类进行合并，得到第二聚类。其中，
Figure BDA0002401365630000191
方式三：针对任一两个第一聚类，将同时满足对应的距离差小于所述反光柱的半径，且对应的角度差小于预设角度的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类。
S204：根据各个第二聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第二聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类。
S205：根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
其中，步骤S201、S202、S204、S205的描述参见步骤S101-S104的描述，并且能够达到相同的技术效果，对此，不再进行阐述。
在本申请实施例中，通过获取的激光扫描设备发送的扫描数据中的各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，可以使每个第一聚类中的扫描点来自同一反光柱，进一步地，根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，这样，通过对第一聚类进行二次筛选，可以减少非反光柱物体被误检成反光柱的概率，并根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
基于同一申请构思，本申请实施例中还提供了与上述实施例提供的反光柱的检测方法对应的反光柱的检测装置，由于本申请实施例中的装置解决问题的原理与本申请上述实施例的反光柱的检测方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
如图3至图6所示，图3为本申请实施例所提供的一种反光柱的检测装置300的功能模块图之一，图4示出了本申请实施例所提供的一种反光柱的检测装置300的功能模块图之二，图5示出了图4中的生成模块320的功能模块图，图6示出了图4中的筛选模块330的功能模块图。
如图3所示，所述反光柱的检测装置300包括：
第一获取模块310，用于获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度；
生成模块320，用于根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类；
筛选模块330，用于根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类；
计算模块340，用于根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
在一种可能的实施方式中，如图4所示，所述反光柱的检测装置300还包括：
第二获取模块350，用于获取所述激光扫描设备在扫描距离范围内的各个距离处，向所述反光柱发射激光产生的扫描数据；所述扫描数据包括每个距离对应的多个扫描点的反光强度；
确定模块360，用于针对每个距离，根据每个距离对应的多个扫描点的反光强度，确定每个距离对应的反光强度的上限值和下限值。
在一种可能的实施方式中，如图5所示，所述生成模块320包括：
第一筛选单元322，用于根据各个扫描点对应的反光强度，从扫描数据中，筛选出满足反光强度条件的扫描点；
第一生成单元324，用于将筛选出的满足反光强度条件的扫描点中，对应的距离差小于所述反光柱的半径的任一两个扫描点划分至一个聚类，得到所述第一聚类。
在一种可能的实施方式中，如图5所示，所述第一筛选单元322，用于根据以下步骤确定满足所述反光强度条件的扫描点：
针对任一扫描点，若所述扫描点对应的反光强度大于或等于第一预设强度，则将所述扫描点确定为满足所述反光强度条件的扫描点；
其中，所述第一预设强度是由所述扫描点对应的反光强度的下限值确定的。
在一种可能的实施方式中，如图6所示，所述筛选模块330包括：
第二生成单元332，用于将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
第二筛选单元334，用于根据各个第二聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第二聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类。
在一种可能的实施方式中，如图6所示，所述第二生成单元332，用于根据以下步骤得到第二聚类：
针对每个第一聚类，获取所述第一聚类中编号为中间值的扫描点对应的距离和角度；
针对任一两个第一聚类，将对应的距离差小于所述反光柱的半径，和/或角度差小于预设角度的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
其中，所述预设角度是由所述两个第一聚类中编号为中间值的两个扫描点分别对应的距离和所述反光柱的半径确定的。
在一种可能的实施方式中，如图4所示，所述筛选模块330，用于根据以下步骤筛选出所述有效聚类：
从所述第一聚类中，选取对应的反光强度的最大值大于或等于第二预设强度，和/或选取包含的扫描点的数量大于或等于预设点数的第一聚类，确定为所述有效聚类；
其中，所述第二预设强度是由反光强度的最大值的扫描点对应的反光强度的上限值确定的；所述预设点数是由所述激光扫描设备的角分辨率、所述反光柱的半径和所述反光强度的最大值的扫描点对应的距离确定的。
在一种可能的实施方式中，如图4所示，所述计算模块340，用于根据以下步骤计算所述中心坐标：
针对每个有效聚类，通过所述有效聚类中各个扫描点的位置坐标进行圆拟合，得到每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
在本申请实施例中，通过第一获取模块310获取的激光扫描设备发送的扫描数据中的各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，通过生成模块320得到第一聚类，可以使每个第一聚类中的扫描点来自同一反光柱，进一步地，根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从第一聚类中，通过筛选模块330筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，这样，通过对第一聚类进行二次筛选，可以减少非反光柱物体被误检成反光柱的概率，并根据每个有效聚类中的扫描点，通过计算模块340计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
基于同一申请构思，参见图7所示，为本申请实施例提供的一种电子设备700的结构示意图，包括：处理器710、存储器720和总线730，所述存储器720存储有所述处理器710可执行的机器可读指令，当电子设备700运行时，所述处理器710与所述存储器720之间通过所述总线730进行通信，所述机器可读指令被所述处理器710运行时执行如上述实施例中任一所述的反光柱的检测方法的步骤。
具体地，所述机器可读指令被所述处理器710执行时可以执行如下处理：
获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度；
根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类；
根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类；
根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
本申请实施例中，通过获取的激光扫描设备发送的扫描数据中的各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，可以使每个第一聚类中的扫描点来自同一反光柱，进一步地，根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，这样，通过对第一聚类进行二次筛选，可以减少非反光柱物体被误检成反光柱的概率，并根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
基于同一申请构思，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述实施例提供的反光柱的检测方法的步骤。
具体地，所述存储介质能够为通用的存储介质，如移动磁盘、硬盘等，所述存储介质上的计算机程序被运行时，能够执行上述反光柱的检测方法，可以提高反光柱检测结果的精度，进而提高基于反光柱的激光导航的最终位姿解算的精度。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统和装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在本申请所提供的几个实施例中，应所述理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者所述技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，所述计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种反光柱的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度；
根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类；
根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类；
根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述获取激光扫描设备发送的扫描数据之前，所述检测方法还包括：
获取所述激光扫描设备在扫描距离范围内的各个距离处，向所述反光柱发射激光产生的扫描数据；所述扫描数据包括每个距离对应的多个扫描点的反光强度；
针对每个距离，根据每个距离对应的多个扫描点的反光强度，确定每个距离对应的反光强度的上限值和下限值。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类，包括：
根据各个扫描点对应的反光强度，从扫描数据中，筛选出满足反光强度条件的扫描点；
将筛选出的满足反光强度条件的扫描点中，对应的距离差小于所述反光柱的半径的任一两个扫描点划分至一个聚类，得到所述第一聚类。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括根据以下步骤确定满足所述反光强度条件的扫描点：
针对任一扫描点，若所述扫描点对应的反光强度大于或等于第一预设强度，则将所述扫描点确定为满足所述反光强度条件的扫描点；
其中，所述第一预设强度是由所述扫描点对应的反光强度的下限值确定的。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，包括：
将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
根据各个第二聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第二聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类。
6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述将至少两个第一聚类进行合并，得到第二聚类，包括：
针对每个第一聚类，获取所述第一聚类中编号为中间值的扫描点对应的距离和角度；
针对任一两个第一聚类，将对应的距离差小于所述反光柱的半径，和/或角度差小于预设角度的所述两个第一聚类进行合并，得到第二聚类；
其中，所述预设角度是由所述两个第一聚类中编号为中间值的两个扫描点分别对应的距离和所述反光柱的半径确定的。
7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类，包括：
从所述第一聚类中，选取对应的反光强度的最大值大于或等于第二预设强度，和/或选取包含的扫描点的数量大于或等于预设点数的第一聚类，确定为所述有效聚类；
其中，所述第二预设强度是由反光强度的最大值的扫描点对应的反光强度的上限值确定的；所述预设点数是由所述激光扫描设备的角分辨率、所述反光柱的半径和所述反光强度的最大值的扫描点对应的距离确定的。
8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标，包括：
针对每个有效聚类，通过所述有效聚类中各个扫描点的位置坐标进行圆拟合，得到每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
9.一种反光柱的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
第一获取模块，用于获取激光扫描设备发送的扫描数据；所述扫描数据包括各个扫描点到所述激光扫描设备之间的距离、各个扫描点的反光强度、各个扫描点到所述激光扫描设备的光束和所述激光扫描设备发射的水平光束之间的角度；
生成模块，用于根据各个扫描点对应的反光强度和距离，对各个扫描点进行聚类，得到第一聚类；
筛选模块，用于根据各个第一聚类中扫描点的数量和/或扫描点的反光强度，从所述第一聚类中，筛选出对应的扫描点来自反光柱有效聚类；
计算模块，用于根据每个有效聚类中的扫描点，计算每个有效聚类对应的反光柱的中心坐标。
10.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过所述总线进行通信，所述机器可读指令被所述处理器运行时执行如权利要求1至8任一所述的反光柱的检测方法的步骤。
11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至8任一所述的反光柱的检测方法的步骤。
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