CN111337994A - 一种基准值校准的方法和设备 - Google Patents

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CN111337994A CN201811554633.1A CN201811554633A CN111337994A CN 111337994 A CN111337994 A CN 111337994A CN 201811554633 A CN201811554633 A CN 201811554633A CN 111337994 A CN111337994 A CN 111337994A
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Abstract

本发明公开了一种基准值校准的方法和设备，涉及光电检测技术领域，用以解决基板映射传感器存储的基准值固定不变，容易出现对玻璃基板的漏判和误判问题，本发明方法包括：在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个检测通道对应一个发光器以及至少一个接收器，N为正整数；获取检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；在检测通道稳定且光强采样值满足校准条件时，根据光强采样值对检测通道对应的接收器进行基准值校准，由于本发明实施例实现了对基准值的校准，减少了对玻璃基板的漏判和误判。

Description

一种基准值校准的方法和设备
技术领域
本发明涉及光电检测技术领域，特别涉及一种基准值校准的方法和设备。
背景技术
玻璃基板是平板显示(FlatPanel display,FPD)产业的关键基础材料之一，基板映射传感器是用于检测卡匣内玻璃基板位置分布的光电传感器，检测方法为对射式检测。基板映射传感器主要由发光模块、受光模块和通讯模块组成，其中主要检测单元为发光模块、受光模块及多个光电检测通道，每个光电检测通道都有与之对应的发光端以及受光端，各光电检测通道通过红外对射的方式对其通道内的玻璃基板进行检测。
基本检测原理为：发光端发射红外光，受光端接收红外光并对光强数据进行采集。当存在玻璃基板时，由于玻璃基板的遮挡以及反射，使得受光端采集到的红外线强度相对没有玻璃基板时发生变化，根据判断基准值依次判断各通道内是否存在玻璃基板。
在现有技术中，多采用在基板映射传感器的存储单元中存储设计好的基准值数据，根据相对于该基准值的变化值来判断通道内是否存在玻璃基板。在实际应用时，由于产品的安装距离不同、安装位置差异、外部光线环境变化、传感器内部电子器件的特性差异以及长时间运行后的老化问题，往往使得受光端检测到的光强数据相对设计情况出现较大差异，但是各通道的判断基准值是预先存储的基准值数据，因而得到的相对于该基准值的变化值不准确，影响传感器的检测结果，甚至出现传感器对玻璃基板的漏判和误判。
综上所述，现有的基板映射传感器存储的基准值固定不变，在受光端检测到的光强数据受外界环境或器件本身等的影响出现较大差异时，容易出现对玻璃基板的漏判和误判。
发明内容
本发明提供一种基准值校准的方法和设备，用以解决现有技术中存在的基板映射传感器存储的基准值固定不变，在受光端检测到的光强数据受外界环境或器件本身等的影响出现较大差异时，容易出现对玻璃基板的漏判和误判的问题。
第一方面，本发明实施例提供的一种基准值校准的方法包括：
在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器以及至少一个接收器，N为正整数；
获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；
在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
上述方法，在基板映射传感器的检测区域无卡匣时可确定检测区域内无玻璃基板，此时通过基板映射传感器的检测通道对应的发光器与接收器进行多次采样，所述检测通道对应的每个接收器输出N个光强采样值，根据此次检测得到的光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准，实现了对基准值的校准，根据校准后的基准值进行检测可以减少基板映射传感器对玻璃基板的漏判和误判。
在一种可能的实现方式中，通过下列方式判断所述检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器，确定所述接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
上述方法，根据接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值来判断所述光强采样值是否准确，只有在确定检测通道对应的所有接收器输出的光强采样值都准确时确定所述检测通道稳定，在检测通道稳定的前提下才判断基准值是否需要进行校准，更加准确。
在一种可能的实现方式中，所述校准条件为：
所述检测通道对应的所有接收器的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器的相对变化值在设定范围内；
其中，所述接收器的相对变化值是，所述接收器输出的N个光强采样值的平均值和所述接收器当前基准值的差值，与所述接收器当前基准值的比值。
上述方法，在检测通道对应的至少一个接收器的相对变化值在预先设定的范围内时，说明此次采样数据较之前相比出现了相对明显的变化，需要对基准值进行校准，即在满足校准条件时才可以对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准，使得光强检测值受影响时可以实时调整基准值。
在一种可能的实现方式中，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准，包括：
将所述相对变化值在所述设定范围内的接收器输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器进行基准值校准后的基准值。
上述方法，在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，将多次采样得到的光强采样值的平均值作为所述检测通道对应的接收器进行基准值校准后的基准值，选用多次采样得到的平均值进行校准使结果更加可靠，校准后的基准值更加适应当前的环境及器件本身的条件相比于依据预先存储的基准值，在进行玻璃基板检测时得到的相对于基准值的变化值的更加准确，可以减少基板映射传感器对玻璃基板的漏判和误判。
在一种可能的实现方式中，通过下列方式确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣：
在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣；或
在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣，其中所述校准指令是所述上位机在通过用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后发送的。
上述方法，用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后，上位机则会向基板映射传感器下发校准指令，从而达到在线实时校准的功能，此外还可以通过人为触发的方式，在接收到用户的校准指令后则可触发基准值校准的功能，在基板映射传感器的检测区域无卡匣时则可以确定此时基板映射传感器的检测通道中没有放置玻璃基板，接收器输出的光强采样值一定不会受玻璃基板的影响。
第二方面，本发明实施例提供的一种基准值校准设备包括：至少一个发光器、至少一个接收器以及处理器：
所述处理器用于：在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器以及至少一个接收器，N为正整数；获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
在一种可能的实现方式中，所述处理器还用于通过下列方式判断所述检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器，确定所述接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
在一种可能的实现方式中，所述校准条件为：
所述检测通道对应的所有接收器的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器的相对变化值在设定范围内；
其中，所述接收器的相对变化值是，所述接收器输出的N个光强采样值的平均值和所述接收器当前基准值的差值，与所述接收器当前基准值的比值。
在一种可能的实现方式中，所述处理器具体用于：
将所述相对变化值在所述设定范围内的接收器输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器进行基准值校准后的基准值。
在一种可能的实现方式中，所述处理器还用于通过下列方式确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣：
在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣；或
在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣，其中所述校准指令是所述上位机在通过用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后发送的。
第三方面，本发明实施例还提供一种基准值校准设备，该设备包括发光模块、受光模块和校准模块：
发光模块，用于在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器以及至少一个接收器，N为正整数；
受光模块，用于获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；
校准模块，用于在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
在一种可能的实现方式中，所述校准模块还用于通过下列方式判断所述检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器，确定所述接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
在一种可能的实现方式中，所述校准条件为：
所述检测通道对应的所有接收器的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器的相对变化值在设定范围内；
其中，所述接收器的相对变化值是，所述接收器输出的N个光强采样值的平均值和所述接收器当前基准值的差值，与所述接收器当前基准值的比值。
在一种可能的实现方式中，所述校准模块具体用于：
将所述相对变化值在所述设定范围内的接收器输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器进行基准值校准后的基准值。
在一种可能的实现方式中，所述发光模块还用于通过下列方式确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣：
在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣；或
在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣，其中所述校准指令是所述上位机在通过用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后发送的。
第四方面，本申请还提供一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面所述方法的步骤。
另外，第二方面至第四方面中任一种实现方式所带来的技术效果可参见第一方面中不同实现方式所带来的技术效果，此处不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1A为本发明实施例提供的一种存放玻璃基板的卡匣的示意图；
图1B为本发明实施例提供的另一种存放玻璃基板的卡匣的示意图；
图2为本发明实施例提供的一种基板映射传感器玻璃基板检测的示意图；
图3为本发明实施例提供的一种基准值校准设备的连接关系示意图；
图4为本发明实施例提供的一种基准值校准的方法示意图；
图5A为本发明实施例提供的一种基板映射传感器的示意图；
图5B为本发明实施例提供的另一种基板映射传感器的示意图；
图5C为本发明实施例提供的另一种基板映射传感器的示意图；
图6为本发明实施例提供的一种基准值校准的完整方法流程图；
图7为本发明实施例提供的一种基准值校准设备的示意图；
图8为本发明实施例提供的一种基准值校准设备的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
下面对文中出现的一些词语进行解释：
1、本发明实施例中术语“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
2、本发明实施例中术语“RJ45接口”通常用于数据传输，最常见的应用为网卡接口，中文名称为水晶插头，计算机网络数据传输插头的一种。RJ45水晶插头根据线的排序不同分为两种，一种是橙白、橙、绿白、蓝、蓝白、绿、棕白、棕；另一种是绿白、绿、橙白、蓝、蓝白、橙、棕白、棕；因此使用RJ45接头的线也有两种即：直通线、交叉线。
3、本发明实施例中术语“EEPROM”(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，带电可擦写可编程只读存储器)是用户可更改的只读存储器，其可通过高于普通电压的作用来擦除和重编程(重写)，不像EPROM(Erasable Programmable Read-OnlyMemory，可擦写可编程只读存储器)芯片，EEPROM不需从计算机中取出即可修改。在一个EEPROM中，当计算机在使用的时候可频繁地反复编程，EEPROM是一种特殊形式的闪存，其应用通常是个人电脑中的电压来擦写和重编程。
4、本发明实施例中术语“上位机”是指可以直接发出操控命令的计算机，一般是PC(personal computer，个人计算机)、host computer(主机)、master computer(主计算机)、upper computer(上位计算机)，屏幕上显示各种信号变化(液压，水位，温度等)。
本发明实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域普通技术人员可知，随着新应用场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。其中，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
玻璃基板是平板显示产业的关键基础材料之一，表面蒸镀有一层In2O3或SnO2透明导电层即ITO(Indium tin oxide，氧化铟锡)膜层。经光刻加工制成透明导电图形。这些图形由像素图形和外引线图形组成。因此，外引线不能进行传统的锡焊，只能通过导电橡胶条或导电胶带等进行连接。如果划伤、割断或腐蚀，则会造成器件报废。
由于玻璃基板容易破碎、划伤、割断或腐蚀等，这种情况下则会使器件报废，因此在玻璃基板运输过程中常常借助玻璃基板存储卡匣，卡匣可以存放多层玻璃基板，将卡匣放到基板映射传感器的发光模块、受光模块之间的检测区域后，则可以通过基板映射传感器检测卡匣各层中玻璃基板的有无，其中，基板映射传感器具有多个检测通道，可以同时检测若干张玻璃基板，其中基板映射传感器的一个检测通道对应卡匣的一层，在使用玻璃基板时依据基板映射传感器的检测结果则可以更加准确的在卡匣中取出玻璃基板。
如图1A所示是一种存放玻璃基板的卡匣示意图，其中一共有5层，且每一层都存放有玻璃基板，在实际应用时，玻璃基板的存放是随机的，不一定每一层都会放置玻璃基板，因此需要通过基板映射传感器进行检测，判断哪一层有玻璃基板，哪一层没有玻璃基板，进而可以更加准确的取出玻璃基板进行使用。
例如图1B所示的卡匣，其中有一层没有玻璃基板，在进行玻璃基板有无的检测时，将玻璃卡匣置于图2所示的基板映射传感器的检测区域中，通过对射式检测去判断各个检测通道是否存在玻璃基板，即卡匣的各层中是否存在玻璃基板。
在现有技术中，多采用在基板映射传感器的存储单元中存储设计好的基准值数据，根据相对于该基准值的变化值来判断通道内是否存在玻璃基板。
但是在实际应用时，由于产品的安装距离不同、安装位置差异、外部光线环境变化、传感器内部电子器件的特性差异以及长时间运行后的老化问题，往往使得受光端检测到的光强数据相对设计情况出现较大差异，但是各通道的判断基准值是预先存储的基准值数据，因而得到的相对于该基准值的变化值不准确，影响传感器的检测结果，甚至出现传感器对玻璃基板的漏判和误判问题。
因此本发明实施例提供了一种具有在线校准功能的基板映射传感器，可以实时校准基准值，该基板映射传感器主要包括发光模块、受光模块以及通讯模块，在基板映射传感器的检测区域无卡匣时则可触发发光模块发射红外光，通过采集各通道当前红外光强度数据，判断采集的数据稳定性并与之前各通道基准值进行比较，根据各通道比较结果作出相应判断，若无需校准时舍弃此次数据；若需要校准时，则根据此次采样数据更新基准值并存储；若设备故障时进行故障报警。本发明利用在线校准功能，及时更新基板映射传感器的检测基准值，简单易行，增强了基板映射传感器对外部环境、设备差异以及设备老化等问题的适应性，并及时排查设备故障，避免发生漏判和误判的问题。
针对上述场景，下面结合说明书附图对本发明实施例做进一步详细描述。
在本发明实施例中，基板映射传感器主要包括：发光模块，受光模块及通讯模块，其中发光模块由至少一个发光器组成，受光模块由至少一个接收器组成，基板映射传感器包括至少一个检测通道，每个检测通道对应一个发光器以及至少一个接收器。
如图2所示的基板映射传感器，有6个检测通道，且每一检测通道对应一个发光器及两个接收器，由图观察可知，这6个检测通道中都有玻璃基板，检测时发光器发射红外光，接收器接收红外光并对光强数据进行采集，输出采集的数据，由处理器进行处理，并判断检测通道中是否存放有玻璃基板。
需要说明的是，本发明实施例中所列的基板映射传感器的每个检测通道对应一个发光器及两个接收器的情况只是举例说明，任何一种检测通道对应一个发光器以及至少一个接收器的基板映射传感器都适用于本发明实施例。
现有技术中基板映射传感器的通讯模块一般采用通讯总线的方式，但仅用于基板映射传感器向上位机上传检测数据，不支持上位机对基板映射传感器下发校准指令。
可选的，上位机通过支持上位机向基板映射传感器下发指令的通讯总线连接至各台基板映射传感器的通讯模块，便于上位机与基板映射传感器之间的通讯。
其中，所述支持上位机向基板映射传感器下发指令的通讯总线包括但不限于下列的部分或全部：
EtherCAT(Ether Control Automation Technology，以太网控制自动化技术)总线、CC-Link(Control&Communication Link，控制与通信链路系统)总线。
如图3所示，为本发明实施例提供的一种上位机与各基板映射传感器之间的连接关系图，其中基板映射传感器包括发光模块1、受光模块2、通讯模块3，发光模块1与受光模块2之间通过内部线缆5连接，每台基板映射传感器可以同时检测若干张玻璃基板4。上位机6通过EtherCAT总线8连接至首台基板映射传感器7的RJ45接口1，然后由其通讯模块RJ45接口2连接至第二台基板映射传感器通讯模块的RJ45接口1，其余基板映射传感器也以此方式串行连接，直至连接到最后一台基板映射传感器的RJ45接口1。
如图4所示，本发明实施例的一种基准值校准的方法，具体包括以下步骤：
步骤400：在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器以及至少一个接收器，N为正整数；
步骤401：获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；
步骤402：在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
通过上述方案，在基板映射传感器的检测区域无卡匣时可确定检测区域内无玻璃基板，此时通过基板映射传感器的检测通道对应的发光器与接收器进行多次采样，所述检测通道对应的每个接收器输出N个光强采样值，根据此次检测得到的光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准，实现了基板映射传感器基准值的校准，根据校准后的基准值进行检测可以减少漏判或是误判的问题。
在本发明实施例中，对基准值的校准是在基板映射传感器的检测区域中无玻璃基板状态下进行的，不依赖于玻璃基板，而卡匣用于存放玻璃基板，并且卡匣有许多层，每一层有无玻璃基板是通过基板映射传感器进行检测确定的，在现有技术中基准值是固定不变的，检测结果受许多条件的影响因而不一定准确，因此在本发明实施例中，在确定基板映射传感器的检测区域无卡匣后才开始执行本次的校准，采集光强采样值，在检测通道稳定且光强采样值满足校准条件时则对满足上述情况的检测通道对应的接收器进行基准值校准。
其中，确定基板映射传感器的检测区域无卡匣的方式有很多种，下面列举几种：
确定方式一、在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣。
例如，检查人员通过观察发现基板映射传感器1在发光模块与受光模块之间的检测区域中没有卡匣，即没有玻璃基板，通过人工设置向基板映射传感器的主控CPU下发校准指令，主控CPU在接收到校准指令后则可确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣。
确定方式二、在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣。
例如，在卡匣置于基板映射传感器的检测区域后，用于检测卡匣位置信息的传感器则会将卡匣到位的信息上报给上位机，在用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后，则上位机向基板映射传感器的主控CPU发送校准指令，主控CPU在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣。
实际场景中，基板映射传感器安装位置较为分散，为了便于对各个基板映射传感器的基准值进行校准，通过上位机下发校准指令，省去了人工逐个设置的麻烦，更加方便。
需要说明的是，本发明实施例中所列举的确定基板映射传感器的检测区域无卡匣的方式只是举例说明，任何一种可以确定基板映射传感器的检测区域无卡匣的方式都适用于本发明实施例。
在本发明实施例中，确定在基板映射传感器的检测区域无卡匣后，则由主控CPU控制所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，并获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值，N为正整数。
如图5A所示，基板映射传感器1具有3个检测通道，其中一个检测通道对应一个发光器和一个接收器REF。
在基板映射传感器1的主控CPU接收到校准指令后，触发各个检测通道的发光器发射三次红外光，发光器每发射一次红外光，与发光器对应的接收器通过接收红外光对光强数据进行一次采集，最后每个检测通道对应的接收器都输出3个光强采样值，光强采样值的单位为lux(勒克斯)。
其中，检测通道1的发光器1对应的接收器为接收器REF1，通过检测得到接收器REF1输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3；
检测通道2的发光器2对应的接收器为接收器REF2，通过检测得到接收器REF2输出的3个光强采样值为30.1、31.1、32.1；
检测通道3的发光器3对应的接收器为接收器REF3，通过检测得到接收器REF3输出的3个光强采样值为50.1、51.2、52.3。
如图5B所示，基板映射传感器2具有3个检测通道，其中一个检测通道对应一个发光器和两个接收器REF和DAT。
在基板映射传感器2的主控CPU接收到校准指令后，触发各个检测通道的发光器发射三次红外光，发光器每发射一次红外光，与发光器对应的接收器通过接收红外光对光强数据进行一次采集，最后每个检测通道对应的接收器都输出6个光强采样值，光强采样值的单位为lux(勒克斯)。
其中，检测通道1的发光器1对应的接收器为接收器REF1及接收器DAT1，通过检测得到接收器REF1输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，接收器DAT1输出的3个光强采样值为30.1、30.1、30.2；
检测通道2的发光器2对应的接收器为接收器REF2及接收器DAT2，通过检测得到接收器REF2输出的3个光强采样值为30.1、31.1、32.1，接收器DAT2输出的3个光强采样值为30.1、30.1、30.2；
检测通道3的发光器3对应的接收器为接收器REF3及接收器DAT3，通过检测得到接收器REF3输出的3个光强采样值为50.1、51.2、52.3，接收器DAT3输出的3个光强采样值为30.1、31.1、32.1。
在本发明实施例中，获取基板映射传感器各个检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值之后，根据光强采样值判断检测通道是否稳定。
可选的，通过下列方式判断检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器，确定所述接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
以上述基板映射传感器1的采样数据为例，假设第一阈值为1.5％：
(1)对于检测通道1，接收器REF1输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，最大值MAX(REF)为50.3，最小值MIN(REF)为50.1；
Figure BDA0001911522590000141
可知，检测通道1对应的一个接收器的比值不大于第一阈值，可以确定检测通道1稳定。
(2)对于检测通道2，接收器REF2输出的3个光强采样值为30.1、31.1、32.1，MAX(REF)为32.1，MIN(REF)为30.1；
Figure BDA0001911522590000142
可知，检测通道2对应的一个接收器的比值大于第一阈值，则确定检测通道2不稳定。
(3)对于检测通道3，接收器REF3输出的3个光强采样值为50.1、51.2、52.3，MAX(REF)为52.3，MIN(REF)为50.1；
Figure BDA0001911522590000143
可知，检测通道3对应的一个接收器的比值大于第一阈值，则确定检测通道3不稳定。
以上述基板映射传感器2的采样数据为例，假设第一阈值为1％：
(1)对于检测通道1，接收器REF1输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，最大值MAX(REF)为50.3，最小值MIN(REF)为50.1；
Figure BDA0001911522590000151
接收器DAT1输出的3个光强采样值为30.1、30.1、30.2，MAX(DAT)为30.2，MIN(DAT)为30.1；
Figure BDA0001911522590000152
可知，检测通道1对应的两个接收器的比值都不大于第一阈值，可以确定检测通道1稳定。
(2)对于检测通道2，接收器REF2输出的3个光强采样值为30.1、31.1、32.1，MAX(REF)为32.1，MIN(REF)为30.1；
Figure BDA0001911522590000153
接收器DAT2输出的3个光强采样值为30.1、30.1、30.2，MAX(DAT)为30.2，MIN(DAT)为30.1；
Figure BDA0001911522590000154
可知，检测通道2对应的接收器DAT2的比值小于第一阈值，REF2的比值大于第一阈值，则确定检测通道2不稳定。
(3)对于检测通道3，接收器REF3输出的3个光强采样值为50.1、51.2、52.3，MAX(REF)为52.3，MIN(REF)为50.1；
Figure BDA0001911522590000155
接收器DAT3输出的3个光强采样值为30.1、31.1、32.1，MAX(DAT)为32.1，MIN(DAT)为30.1；
Figure BDA0001911522590000156
可知，检测通道3对应的两个接收器的比值都大于第一阈值，则确定检测通道3不稳定。
需要说明的是，本发明实施例中所列举的判断检测通道是否稳定的方式只是举例说明，任何一种可以判断检测通道是否稳定的方式都适用于本发明实施例。
可选的，在确定所述检测通道不稳定之后，进行故障报警并将故障信息上传给上位机。
其中，所述故障信息包括但不限于下列的部分或全部：
发生故障的检测通道编号，采样不稳定的接收器信息。
以上述基板映射传感器2的采样数据为例，通过上述判断确定检测通道2与检测通道3不稳定，需要进行故障报警，并通过通讯模块的通讯总线将故障信息上传给上位机。
具体的，在确定检测通道2的接收器REF2采样不稳定后则进行故障报警，通过EtherCAT总线上传给上位机的故障信息为：检测通道2，接收器REF2采样不稳定。
在确定检测通道3的接收器REF3采样不稳定后则进行故障报警，通过EtherCAT总线上传给上位机的故障信息为：检测通道3，接收器REF3采样不稳定，并在报警后判断接收器DAT3采样是否稳定；在确定检测通道3的接收器DAT3采样不稳定后再次进行故障报警，通过EtherCAT总线上传给上位机的故障信息为：检测通道3，接收器DAT3采样不稳定。
或者，在确定检测通道3的接收器REF3采样不稳定且接收器DAT3采样也不稳定后，进行一次故障报警，通过EtherCAT总线上传给上位机的故障信息为：检测通道3，接收器REF3及接收器DAT3采样不稳定。
需要说明的是，本发明实施例中所列举的确定所述检测通道不稳定之后，进行故障报警并将故障信息上传给上位机的方式只是举例说明，任何一种进行故障报警并将故障信息上传给上位机的方式都适用于本发明实施例。
在本发明实施例中，确定基板映射传感器的任意一个检测通道稳定后，则可判断该检测通道光强采样值是否满足校准条件，在满足校准条件时对该检测通道对应的接收器进行基准值校准。
可选的，校准条件为：检测通道对应的所有接收器的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器的相对变化值在设定范围内；其中，接收器的相对变化值是，接收器输出的N个光强采样值的平均值和接收器当前基准值的差值，与接收器当前基准值的比值。
如图5A中所示的基板映射传感器1，假设通过判断得这3个检测通道均稳定，则依据光强采样值判断这3个检测通道是否满足校准条件，假设设定范围为2％～5％(不包含边界值)，第二阈值为设定范围的上限5％。
(1)针对检测通道1，接收器1输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器1当前的基准值REF0为49，则接收器1的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000171
可知，检测通道1对应的接收器1的相对变化值小于第二阈值且在设定范围内，满足校准条件。
(2)针对检测通道2，接收器2输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器3当前的基准值REF0为50，则接收器2的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000172
可知，检测通道2对应的接收器2的相对变化值小于第二阈值但是不在设定范围内，不满足校准条件。
(3)针对检测通3，接收器3输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器3当前的基准值REF0为47，则接收器3的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000173
可知，检测通道3对应的接收器3的相对变化值大于第二阈值，不满足校准条件。
如图5C所示，基板映射传感器3有6个检测通道，其中一个检测通道对应一个发光器和两个接收器REF和DAT，各检测通道进行3次采样，判断得6个检测通道均稳定，则对这6个检测通道依据光强采样值判断是否满足校准条件，假设设定范围为2％～5％(不包含边界值)，第二阈值为设定范围的上限5％。
(1)针对检测通道1，接收器REF1输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器REF1当前的基准值REF0为49，则接收器REF1的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000181
接收器DAT1输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(DAT)为50.2，接收器DAT1当前的基准值DAT0为50，则接收器DAT1的相对变化值β为：
Figure BDA0001911522590000182
可知，对于检测通道1，两个接收器的相对变化值都小于第二阈值且有一个接收器的相对变化值在设定范围内，满足校准条件。
(2)针对检测通道2，接收器REF2输出的3个光强采样值为51.1、51.2、51.3，平均值AVE(REF)为51.2，接收器REF2当前的基准值REF0为50，则接收器REF2的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000183
接收器DAT2输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(DAT)为50.2，接收器DAT2当前的基准值DAT0为48，则接收器DAT2的相对变化值β为：
Figure BDA0001911522590000184
可知，对于检测通道2，两个接收器的相对变化值都在设定范围内，因此满足校准条件。
(3)针对检测通道3，接收器REF3输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器REF3当前的基准值REF0为50，则接收器REF3的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000191
接收器DAT3输出的3个光强采样值为51、51.3、51.3，平均值AVE(DAT)为51.2，接收器DAT3当前的基准值DAT0为49.5，则接收器DAT3的相对变化值β为：
Figure BDA0001911522590000192
可知，对于检测通道3，两个接收器的相对变化值都小于第二阈值且有一个接收器的相对变化值在设定范围内，满足校准条件。
(4)针对检测通道4，接收器REF4输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器REF3当前的基准值REF0为50，则接收器REF3的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000193
接收器DAT4输出的3个光强采样值为50.1、50.3、50.5，平均值AVE(DAT)为50.3，接收器DAT4当前的基准值DAT0为50，则接收器DAT3的相对变化值β为：
Figure BDA0001911522590000194
可知，对于检测通道4，两个接收器的相对变化值都小于第二阈值，但是都没有在设定范围内，不满足校准条件。
(5)针对检测通道5，接收器REF5输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器REF5当前的基准值REF0为47，则接收器REF5的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000195
接收器DAT5输出的3个光强采样值为50.1、50.3、50.5，平均值AVE(DAT)为50.3，接收器DAT5当前的基准值DAT0为46.3，则接收器DAT5的相对变化值β为：
Figure BDA0001911522590000201
可知，对于检测通道5，两个接收器的相对变化值都大于第二阈值，不满足校准条件。
(6)针对检测通6，接收器REF6输出的3个光强采样值为50.1、50.2、50.3，平均值AVE(REF)为50.2，接收器REF6当前的基准值REF0为46.9，则接收器REF6的相对变化值α为：
Figure BDA0001911522590000202
接收器DAT6输出的3个光强采样值为50.1、50.3、50.5，平均值AVE(DAT)为50.3，接收器DAT6当前的基准值DAT0为49，则接收器DAT6的相对变化值β为：
Figure BDA0001911522590000203
可知，对于检测通道6，其中一个接收器的相对变化值大于第二阈值，另一个接收器的相对变化值在设定范围内，不满足校准条件。
需要说明的是，本发明实施例中所列举的判断接收器的基准值是否需要校准的校准条件只是举例说明，任何一种判断是否对接收器的基准值进行校准的校准条件都适用于本发明实施例。
可选的，在确定所述检测通道稳定且所述检测通道对应的接收器输出的光强采样值满足校准条件后，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
具体的，在确定某一检测通道稳定且该检测通道对应的接收器输出的光强采样值满足校准条件时，表明该检测通道对应的至少一个接收器此次光强采样值较上一次的采样数据出现较明显变化，需要依据此次光强采样值更新基准值，一般是由于该检测通道的运行状态、外部环境等因素发生明显变化导致的。针对将该检测通道对应的任意一个接收器，将相对变化值在设定范围内的接收器输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器进行基准值校准后的基准值，并将接收器更新后的基准值保存至非易失性存储单元EEPROM中，替换接收器当前基准值，此外可将此次光强采样值保存至EEPROM，这样可以防止数据丢失，且设备重新上电时可以直接读取使用，即使设备断电后，数据也不会丢失，重新上电后仍可以使用断电前保存的数据进行基准值校准。
以上述基板映射传感器3的采样数据为例，通过判断确定检测通道1、2、3需要进行基准值校准：
检测通道1对应的接收器REF1需要进行基准值校准，当前基准值49，接收器REF1输出的3个光强采样值的平均值为50.2，则校准后的基准值为50.2，即校准后REF0为50.2，此外可将接收器REF1校准后的基准值以及该通道对应的接收器REF1、DAT1输出的6个光强采样值保存至EEPROM中，并以校准后的基准值替换校准前的基准值。
检测通道2对应的接收器REF2及DAT2都需要进行基准值校准，接收器REF2校准后的基准值为51.2，接收器DAT2校准后的基准值为50.2，此外可将接收器REF2、DAT2校准后的基准值以及该通道对应的接收器REF2、DAT2输出的6个光强采样值保存至EEPROM中，并以校准后的基准值替换校准前的基准值。
检测通道3对应的接收器DAT3需要进行基准值校准，校准后的基准值为51.2，此外可将接收器DAT3校准后的基准值以及接收器REF3、DAT3对应的光强采样值保存至EEPROM中，以校准后的基准值替换校准前的基准值。
可选的，在确定某一检测通道对应的接收器的光强采样值不满足校准条件后，根据计算得到的该检测通道对应的各个接收器的相对变化值进行相应处理，其中处理的方式有很多种，下面列举几种：
处理方式一、当某一检测通道对应的所有接收器的相对变化值都不大于设定范围的下限时保持该检测通道对应的所有接收器当前基准值不变。
具体的，在某一检测通道对应的所有接收器的相对变化值都不大于设定范围的下限时，表明该检测通道对应的所有接收器此次光强采样值较上一次的采样数据的差别较小，该检测通道的运行状态、外部环境等因素均未发生明显变化，则无需进行重新校准，舍弃该检测通道此次采样数据。
例如，上述有6个检测通道的基板映射传感器，检测通道4对应的两个接收器的相对变化值都小于设定范围的下限2％，此时表明该检测通道的运行状态、外部环境等因素均未发生明显变化，不需要进行基准值校准，并舍弃该检测通道对应的接收器REF4及DAT4此次的光强采样值。
处理方式二、当检测通道对应的至少一个接收器的相对变化值不小于设定范围的上限时进行故障报警。
具体的，当检测通道对应的至少一个接收器的相对变化值不小于设定范围的上限时，表明该检测通道对应的至少一个接收器的光强采样值较当前的基准值相比出现剧烈变化，即该通道出现故障，因此进行故障报警，并将故障通道编号以及故障类型信息等故障信息通过通讯总线上传给上位机，等待人员进行故障排查。
以上述基板映射传感器3的采样数据为例，其中检测通道5中两个接收器的相对变化值都大于5％，检测通道6中有一个接收器的相对变化值大于5％，说明检测通道5与检测通道6都出现故障，此时不再对该检测通道对应的任意一个接收器的基准值进行校准，通过主控CPU进行故障报警，并且将故障信息上传给上位机。
在确定检测通道5故障后进行一次报警，并通过CC-Link总线上报给上位机的故障信息为：检测通道5、外部环境影响；在确定检测通道6故障后再进行一次报警，并通过CC-Link总线上报给上位机的故障信息为：检测通道5、电子器件老化。
可选的，在某一基板映射传感器的全部通道对应的接收器的基准值都确定校准或是不较准并进行相应处理之后，确定该基板映射传感器的所有通道基准值更新完毕，结束该基板映射传感器此次校准。
以基板映射传感器3的采样数据为例，对于检测通道1、2、3，确定需要进行校准，并将校准后的基准值以及此次光强采样值进行保存；对于检测通道4确定不需要进行校准，并舍弃此次光强采样值；对于检测通道5、6确定不需要进行校准，并进行故障报警，将故障信息上传给上位机，之后确定该基板映射传感器的所有通道基准值更新完毕，结束该基板映射传感器此次校准。
针对图5C所示的基板映射传感器，如图6所示，本发明实施例提供的一种基准值校准的完整方法包括：
步骤600、主控CPU在接收到上位机基准值校准指令后触发基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射3次红外光；
步骤601、主控CPU获取检测通道对应的接收器REF输出的3个REF光强采样值及接收器DAT输出的3个DAT光强采样值；
步骤602、主控CPU判断检测通道REF光强采样值是否稳定，如果是，则执行步骤603，否则执行步骤610；
步骤603、主控CPU判断检测通道DAT光强采样值是否稳定，如果是，则执行步骤604，否则执行步骤610；
步骤604、主控CPU计算检测通道对应的3个REF光强采样值的平均值AVE(REF)及3个DAT光强采样值的平均值AVE(DAT)；
步骤605、主控CPU从EEPROM中提取检测通道对应的接收器的当前基准值REF0及DAT0；
步骤606、主控CPU根据光强采样平均值AVE(REF)、AVE(DAT)及当前基准值REF0、DAT0计算检测通道对应的接收器REF的相对变化值α及接收器DAT的相对变化值β；
步骤607、主控CPU判断检测通道对应的α与β是否都小于第二阈值且至少一个在设定范围内，如果是，则执行步骤608，如果否且α和β都不大于设定范围的下限，则执行步骤609，如果否且α或β不小于设定范围的上限，则执行步骤610；
步骤608、主控CPU确定检测通道对应的接收器需要进行基准值校准，保存AVE(REF)及AVE(DAT)，并将AVE(REF)及AVE(DAT)作为校准后的基准值；
步骤609、主控CPU确定检测通道对应的接收器无需进行基准值校准，舍弃检测通道光强采样值；
步骤610、主控CPU确定检测通道出现故障，进行故障报警，并将故障信息上传给上位机。
基于相同的发明构思，本发明实施例中还提供了一种基准值校准设备，由于该设备即是本发明实施例中的方法中的设备，并且该设备解决问题的原理与该方法相似，因此该设备的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
如图7所示，本发明实施例还提供一种基准值校准设备，该设备包括：至少一个发光器700、至少一个接收器701以及处理器702：
所述处理器702用于：在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器700发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器700以及至少一个接收器701，N为正整数；
获取所述检测通道对应的接收器701输出的至少一个光强采样值；
在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器701进行基准值校准。
可选的，所述处理器702还用于通过下列方式判断所述检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器701，确定所述接收器701输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器701的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
在一种可能的实现方式中，所述校准条件为：
所述检测通道对应的所有接收器701的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器701的相对变化值在设定范围内；
其中，所述接收器701的相对变化值是，所述接收器701输出的N个光强采样值的平均值和所述接收器701当前基准值的差值，与所述接收器701当前基准值的比值。
可选的，所述处理器702具体用于：
将所述相对变化值在所述设定范围内的接收器701输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器701进行基准值校准后的基准值。
可选的，所述处理器702还用于通过下列方式确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣：
在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣；或
在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣，其中所述校准指令是所述上位机在通过用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后发送的。
可选的，所述处理器702为CPU(Central Processing Unit，中央处理器)，图7中所示的基板映射传感器还包括通讯模块703，所述通讯模块703用于与外接设备进行通讯，向外接设备传输数据等；处理器702外接存储器704，例如非易失性存储介质EEPROM，用于存储玻璃基板各通道对应的接收器光强采样值以及接收器当前的基准值。
其中，接收器701和发光器700分别连接至处理器702，处理器702用于采集各光电检测通道的光强数据，并将采集到的光强数据与当前基准值进行比较得出玻璃基板检测结果。图7中所示基板映射传感器有n个检测通道(n为正整数)，每一检测通道对应一个发光器及两个接收器，例如，检测通道1对应的发光器为发光器1，对应的接收器为接收器11及接收器12。
基于相同的发明构思，本发明实施例中还提供了一种基准值校准设备，由于该设备即是本发明实施例中的方法中的设备，并且该设备解决问题的原理与该方法相似，因此该设备的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
如图8所示，本发明实施例还提供一种基准值校准设备，该设备包括：发光模块800、受光模块801和校准模块802：
发光模块800：用于在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器以及至少一个接收器，N为正整数；
受光模块801：用于获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；
校准模块802：用于在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
可选的，所述校准模块802还用于通过下列方式判断所述检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器，确定所述接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
可选的，所述校准条件为：
所述检测通道对应的所有接收器的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器的相对变化值在设定范围内；
其中，所述接收器的相对变化值是，所述接收器输出的N个光强采样值的平均值和所述接收器当前基准值的差值，与所述接收器当前基准值的比值。
可选的，所述校准模块802具体用于：
将所述相对变化值在所述设定范围内的接收器输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器进行基准值校准后的基准值。
可选的，所述发光模块800还用于通过下列方式确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣：
在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣；或
在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣，其中所述校准指令是所述上位机在通过用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后发送的。
本发明实施例还提供一种计算机可读非易失性存储介质，包括程序代码，当所述程序代码在计算终端上运行时，所述程序代码用于使所述计算终端执行上述本发明实施例提供的基准值校准方法的步骤。
以上参照示出根据本申请实施例的方法、装置(系统)和/或计算机程序产品的框图和/或流程图描述本申请。应理解，可以通过计算机程序指令来实现框图和/或流程图示图的一个块以及框图和/或流程图示图的块的组合。可以将这些计算机程序指令提供给通用计算机、专用计算机的处理器和/或其它可编程数据处理装置，以产生机器，使得经由计算机处理器和/或其它可编程数据处理装置执行的指令创建用于实现框图和/或流程图块中所指定的功能/动作的方法。
相应地，还可以用硬件和/或软件(包括固件、驻留软件、微码等)来实施本申请。更进一步地，本申请可以采取计算机可使用或计算机可读存储介质上的计算机程序产品的形式，其具有在介质中实现的计算机可使用或计算机可读程序代码，以由指令执行系统来使用或结合指令执行系统而使用。在本申请上下文中，计算机可使用或计算机可读介质可以是任意介质，其可以包含、存储、通信、传输、或传送程序，以由指令执行系统、装置或设备使用，或结合指令执行系统、装置或设备使用。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种基准值校准的方法，其特征在于，该方法包括：
在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器以及至少一个接收器，N为正整数；
获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；
在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过下列方式判断所述检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器，确定所述接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校准条件为：
所述检测通道对应的所有接收器的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器的相对变化值在设定范围内；
其中，所述接收器的相对变化值是所述接收器输出的N个光强采样值的平均值和所述接收器当前基准值的差值，与所述接收器当前基准值的比值。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准，包括：
将所述相对变化值在所述设定范围内的接收器输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器进行基准值校准后的基准值。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过下列方式确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣：
在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣；或
在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣，其中所述校准指令是所述上位机在通过用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后发送的。
6.一种基准值校准设备，其特征在于，该设备包括：至少一个发光器、至少一个接收器、处理器：
所述处理器用于：在基板映射传感器的检测区域无卡匣时触发所述基板映射传感器的检测通道对应的发光器发射N次红外光，其中所述基板映射传感器包括至少一个检测通道，且每个所述检测通道对应一个所述发光器以及至少一个接收器，N为正整数；获取所述检测通道对应的接收器输出的至少一个光强采样值；在所述检测通道稳定且所述光强采样值满足校准条件时，根据所述光强采样值对所述检测通道对应的接收器进行基准值校准。
7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述处理器还用于通过下列方式判断所述检测通道是否稳定：
针对所述检测通道对应的任意一个接收器，确定所述接收器输出的光强采样值中的最大值和最小值的差值与所述最小值的比值；
判断所述检测通道对应的接收器的比值是否都不大于第一阈值；
如果是，则确定所述检测通道稳定；否则，确定所述检测通道不稳定。
8.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述校准条件为：
所述检测通道对应的所有接收器的相对变化值都小于第二阈值且至少一个接收器的相对变化值在设定范围内；
其中，所述接收器的相对变化值是所述接收器输出的N个光强采样值的平均值和所述接收器当前基准值的差值，与所述接收器当前基准值的比值。
9.如权利要求8所述的设备，其特征在于，所述处理器具体用于：
将所述相对变化值在所述设定范围内的接收器输出的N个光强采样值的平均值作为所述接收器进行基准值校准后的基准值。
10.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述处理器还用于通过下列方式确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣：
在接收到用户的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣；或
在接收到上位机的校准指令后确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣，其中所述校准指令是所述上位机在通过用于检测卡匣的传感器确定所述基板映射传感器的检测区域无卡匣后发送的。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060170658A1 (en) * 2005-02-03 2006-08-03 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Display device including function to input information from screen by light
US20070188831A1 (en) * 2005-03-29 2007-08-16 Seiko Epson Corpoation Method of detecting position of printing medium performed in printing apparatus
CN203858376U (zh) * 2014-03-07 2014-10-01 北京京东方光电科技有限公司 卡匣内玻璃基板的检测装置
WO2017107597A1 (zh) * 2015-12-23 2017-06-29 努比亚技术有限公司 灵敏度校准方法、装置及移动终端、存储介质
US20170285154A1 (en) * 2014-09-26 2017-10-05 Huawei Technologies Co., Ltd. Detection distance calibration method, apparatus, and device
WO2017185701A1 (zh) * 2016-04-29 2017-11-02 乐视控股（北京）有限公司 在移动终端上进行距离传感器防污的方法及系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060170658A1 (en) * 2005-02-03 2006-08-03 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Display device including function to input information from screen by light
US20070188831A1 (en) * 2005-03-29 2007-08-16 Seiko Epson Corpoation Method of detecting position of printing medium performed in printing apparatus
CN203858376U (zh) * 2014-03-07 2014-10-01 北京京东方光电科技有限公司 卡匣内玻璃基板的检测装置
US20170285154A1 (en) * 2014-09-26 2017-10-05 Huawei Technologies Co., Ltd. Detection distance calibration method, apparatus, and device
WO2017107597A1 (zh) * 2015-12-23 2017-06-29 努比亚技术有限公司 灵敏度校准方法、装置及移动终端、存储介质
WO2017185701A1 (zh) * 2016-04-29 2017-11-02 乐视控股（北京）有限公司 在移动终端上进行距离传感器防污的方法及系统

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