CN111307185A - 探测装置及探测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种探测装置及探测方法，涉及探测技术领域。该装置包括：像素阵列，像素阵列用于感光；控制单元，与像素阵列连接，用于控制像素阵列进行感光；发光单元，用于发射探测光；驱动单元，连接控制单元与发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，驱动信号用于驱动发光单元发射探测光；检测校正单元，用于检测探测光经反射后的反射光，根据反射光确定校正后的驱动信号；检测校正单元与驱动单元连接，使得驱动单元根据校正后的驱动信号驱动发光单元发射探测光。通过设置检测校正模块，提高了生产效率，也使得测量的信息更加精确，检测校正模块产生的基准信号，对驱动信号校正，实现了按照基准发射探测光，实现了最优的测量结果。

Description

探测装置及探测方法

技术领域

本发明涉及探测技术领域，具体而言，涉及一种探测装置及探测方法。

背景技术

探测系统可以通过发射光对多种信息进行探测，由于温度、电源电压波动和系统老化等影响，发射光以及对应的反射光都会变化，从而导致测量的信息产生误差。

相关技术中，在出厂前进行发射光，随环境温度和电源电压变化的标定和相应校正，形成发射光、环境参数以及电源电压的查找表，在探测系统中预设查找表，在使用时测量环境参数信息，根据该测量环境参数信息在预设查找表中查找校正信息，采用校正信息对发射光进行校正。

但是，相关技术中，标定形成查找表的过程较为繁杂且耗时较长，降低了生产效率，且固定的查找表无法反映器件老化和环境变化对发射光的影响，容易导致测量的信息误差较大。

同时，在实际的测量过程中，发射激光和接收端像元调控波形不匹配会造成测量精度偏差，进而影响整个测量方案的应用。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种探测装置及探测方法，以便解决相关技术中，标定形成查找表的过程较为繁杂且耗时较长，降低了生产效率，且固定的查找表无法反映器件老化和环境变化对发射光的影响，容易导致测量的信息误差较大的问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种探测装置，所述装置包括：

像素阵列，所述像素阵列用于感光；

控制单元，与所述像素阵列连接，用于控制所述像素阵列进行感光；

发光单元，用于发射探测光；

驱动单元，用于连接所述控制单元与所述发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述发光单元发射所述探测光；

检测校正单元，用于检测所述探测光经反射后的反射光，根据所述反射光确定校正后的驱动信号；

所述检测校正单元与所述驱动单元连接，使得所述驱动单元根据所述校正后的驱动信号驱动所述发光单元发射探测光。

可选的，所述检测校正单元包括：探测单元、测量子单元和校正子单元；

所述探测单元与所述测量子单元连接，所述测量子单元通过所述校正子单元与所述驱动单元连接，用以使得所述测量子单元检测电信号的特征参数，并比较所述特征参数以及预设的特征参数，向所述校正子单元输出比较结果，使得所述校正子单元根据所述比较结果，校正所述驱动信号。

可选的，所述预设的特征参数包括如下至少一种方式获得的特征参数：

预置先验方法、校准方案、自适应计算、开机标定、多次预设比较、动静画面区分自适应计算。

可选的，所述探测装置还包括基准信号产生模块，所述基准信号产生模块用于产生基准信号，以校正所述发光单元的至少之一特征参数。

可选的，所述像素阵列和所述控制单元位于第一芯片，所述驱动单元、所述发光单元和所述检测校正单元位于第二芯片。

第二方面，本发明实施例还提供了一种探测方法，所述方法应用于上述第一方面所述的装置，所述方法包括：

所述控制单元向所述驱动单元发送驱动信号，使得所述驱动单元根据所述驱动信号驱动所述发光单元发射探测光；

所述检测校正单元探测所述探测光经反射后的反射光，并根据探测到的所述反射光校正所述驱动信号；

所述驱动单元根据校正后的驱动信号驱动所述发光单元继续发射探测光。

可选的，所述所述检测校正单元探测所述探测光经目标物反射后的反射光，并根据探测到的所述反射光校正所述驱动信号，包括：

所述检测校正单元探测所述反射光，得到所述反射光对应的电信号；

所述检测校正单元检测所述电信号的特征参数，并比较所述特征参数以及预设的特征参数，根据比较结果，校正所述驱动信号。

可选的，所述检测校正单元检测所述电信号的特征参数，并比较所述特征参数以及预设的特征参数，根据比较结果，校正所述驱动信号，包括：

所述检测校正单元检测所述电信号的所述特征参数，并计算所述特征参数与所述预设的特征参数之间的差值，根据所述差值，校正所述驱动信号。

可选的，所述探测装置还包括基准信号产生模块，所述基准信号产生模块用于产生基准信号，以校正所述发光单元的至少之一特征参数。

可选的，所述特征参数包括下述参数中的至少一种：占空比、相位、幅值、平均功率；

所述预设的特征参数包括下述参数中的至少一种：预设占空比、预设延迟、预设幅值、预设平均功率。

本发明的有益效果是：本发明实施例提供一种探测装置，装置包括：像素阵列，像素阵列用于感光；控制单元，与像素阵列连接，用于控制像素阵列进行感光；发光单元，用于发射探测光；驱动单元，连接控制单元与发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，驱动信号用于驱动发光单元发射探测光；检测校正单元，用于检测探测光经反射后的反射光，根据反射光确定校正后的驱动信号；检测校正单元与驱动单元连接，使得驱动单元根据校正后的驱动信号驱动发光单元发射探测光。通过设置检测校正单元，便可以实现对驱动信号的校正，无需标定形成查找表，提高了生产效率；而且通过设置检测校正单元，根据检测校正单元对驱动信号进行校正，使得探测的反射光更加准确，从而使得测量的信息更加精确，更进一步装置中的检测校正模块可以按照预设的或者自适应生成等方式产生的基准信号，对于驱动信号进行校正，实现了对于至少之一的特征参数按照基准进行发射探测光的目的，达到了系统最优的测量效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的一种探测装置的原理示意图；

图6为本发明实施例提供的一种探测装置的原理示意图；

图7为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图；

图8为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图；

图9为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图；

图10为本发明实施例提供的一种探测方法的流程示意图；

图11为本发明实施例提供的一种探测方法的流程示意图；

图12为本发明实施例提供的一种控制单元的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

图1为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图，如图1所示，该探测装置可以包括：像素阵列101、控制单元102、发光单元103、驱动单元104和检测校正单元105。

其中，像素阵列101，像素阵列101用于感光；控制单元102，与像素阵列101连接，用于控制像素阵列101进行感光。

另外，发光单元103，用于发射探测光；驱动单元104，用于连接控制单元102与发光单元103，根据接收控制单元102的控制信号确定驱动信号，驱动信号用于驱动发光单元103发射探测光。

检测校正单元105，用于检测探测光经反射后的反射光，根据反射光确定校正后的驱动信号；检测校正单元105与驱动单元104连接，使得驱动单元104根据校正后的驱动信号驱动发光单元103发射探测光。

在一些实施方式中，控制单元102可以向驱动单元104发送驱动信号，驱动单元104可以接收该驱动信号，并根据驱动信号驱动发光单元103发射探测光，检测校正单元105可以探测探测光经反射后的反射光，并根据探测到的反射光校正驱动信号，驱动单元104可以根据校正后的驱动信号驱动发光单元103继续发射探测光。

继而，像素阵列101可以探测继续发射的探测光经过反射后的反射光，并向控制单元102发送该反射光对应的电信号，控制单元102可以对该电信号进行处理，以计算对应的信息，例如，计算距离信息等。

需要说明的是，控制单元102可以通过检测校正单元105与驱动单元104连接，控制单元102也可以直接与驱动单元104连接，本发明实施例对此不进行具体限制。

在本发明实施例中，检测校正单元105可以根据探测到的反射光，校正剩余的所有探测光对应的驱动信号。例如，对于600μs(微秒)的探测光，可以先发射100μs的探测光，根据该100μs的探测光的反射光，对剩余500μs的探测光的驱动信号进行校正。

当然，检测校正单元105也可以根据探测到的反射光，校正相邻的预设时长内的探测光对应的驱动信号。通过该校正方式校正驱动信号，可以使得获取的探测光更加准确。

例如，对于600μs(微秒)的探测光，可以先发射1000ns(纳秒)的探测光，根据该1000ns的探测光的反射光，对相邻的100μs的探测光的驱动信号进行校正，继而再发射1000ns的探测光，直至完成对于600μs(的探测光的驱动信号的校正，在校正之后每次探测中均可采用上述方式进行校正，也可以只完成一次校正在后续的多次探测中多次使用，激光可以使用600μs(微秒)的探测光，也可以在此基础上剪掉之前的探测光占时。

需要说明的是，还可以采用其他方式校正探测光的驱动信号，本发明实施例对此不进行具体限制。

另外，控制单元102，用于控制像素阵列101进行感光。当控制单元102预通过驱动单元控制发光单元发射探测光时，控制单元102可以控制像素阵列101处于工作状态；反之，在其他情况下，控制单元102可以控制像素阵列处于休眠状态。

在本发明实施例中，校正模块可以按照预设的或者自适应生成等方式产生的基准信号，驱动单元可以根据该基准信号对于驱动信号进行校正，以校正发光单元至少之一的特征参数，实现发光单元按照基准进行发射，使得发射探测光和接收端像元调控波形更加匹配，提高了测量精度。

当然，还可以直接通过驱动单元校正发光单元至少之一的特征参数，以使发光单元按照基准进行发射，发射探测光和接收端像元调控波形更加匹配，本发明实施例对此不进行具体限制。

综上所述，本发明实施例提供一种探测装置，装置包括：像素阵列，像素阵列用于感光；控制单元，与像素阵列连接，用于控制像素阵列进行感光；发光单元，用于发射探测光；驱动单元，连接控制单元与发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，驱动信号用于驱动发光单元发射探测光；检测校正单元，用于检测探测光经反射后的反射光，根据反射光确定校正后的驱动信号；检测校正单元与驱动单元连接，使得驱动单元根据校正后的驱动信号驱动发光单元发射探测光。仅设置检测校正单元，便可以实现对驱动信号的校正，无需标定形成查找表，提高了生产效率；而且通过设置检测校正单元，根据检测校正单元对驱动信号进行校正，使得探测的反射光更加准确，从而使得测量的信息更加精确。更进一步装置中的检测校正模块可以按照预设的或者自适应生成等方式产生的基准信号，对于驱动信号进行校正，实现了对于至少之一的特征参数按照基准进行发射探测光的目的，达到了系统最优的测量效果。

图2为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图，如图2所示，可选的，检测校正单元105可以包括：探测单元1051、测量子单元1052和校正子单元1053。

其中，探测单元1051与测量子单元1052连接，测量子单元1052通过校正子单元1053与驱动单元104连接，用以使得测量子单元1052检测电信号的特征参数，并比较特征参数以及预设的特征参数，向校正子单元1053输出比较结果，使得校正子单元1053根据比较结果，校正驱动信号。

在一种可能的实施方式中，探测单元1051可以探测探测光经过反射的反射光，并将反射光转换为电信号，向测量子单元1052发送该电信号；测量子单元1052可以接收该电信号，并确定该电信号的特征参数，继而根据预设算法比较该特征参数与预设的特征参数，得到比较结果，向校正子单元1053发送该比较结果；

继而校正子单元1053可以接收该比较结果，并根据该比较结果校正驱动信号，得到校正后的驱动信号；驱动单元104可以根据该校正后的驱动信号，控制发光单元103继续发送相应的探测光。

其中，上述预设算法可以包括但不限于：减法，即，测量子单元1052可以接收该电信号，并确定该电信号的特征参数，继而计算该特征参数与预设的特征参数之间的差值，根据该差值，校正驱动信号。

需要说明的是，根据校正后的驱动信号，控制发光单元103继续发送相应的探测光后，像素阵列101可以检测到对应的反射光，该反射光的特征参数应当与预设的特征参数相同。

图3为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图，如图3所示，可选的，检测校正单元105还可以包括：激光发射控制单元1054。

其中，校正子单元1053可以通过激光发射控制单元1054与驱动单元104连接。

在一些实施方式中，在校正子单元1053确定校正后的驱动信号后，激光发射控制单元1054根据校正后的驱动信号控制驱动单元104，以使驱动单元104驱动发光单元103发送对应的探测光。

图4为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图，如图4所示，可选的，控制单元102还可以通过检测校正单元105中的激光发射控制单元1054与驱动单元104连接。

图5为本发明实施例提供的一种探测装置的原理示意图，如图5所示，探测装置检测探测光经过反射的反射光，并将反射光转换为光电流，从该光电流中取一个脉宽(该脉宽可以用t表示)的电信号，并通过由电源、MOS管、电容和运算放大器所组成电路，确定该电信号的特征参数，继而计算特征参数与预设的特征参数之间的差值；校正子单元根据该差值，利用高频时钟延迟信号得到驱动信号，驱动单元根据该驱动信号驱动发光单元继续发射探测光。

图6为本发明实施例提供的一种探测装置的原理示意图，如图6所示，上述图5中继续发射探测光后，对于再次检测到的反射光，探测装置对该反射光转化为光电流，并对该光电流进行二分频后，取一个脉宽(该脉宽可以用2t表示)的电信号，继而可以由电源、MOS管、电容、运算放大器和电阻所组成电路根据该电信号测量相应的信号。

需要说明的是，预设的特征参数为占空比为百分之五十时，图6所再次探测到的反射光的占空比也为百分之五十。

可选的，以上叙述仅基于占空比为例，实际校正可以依据所述预设的特征参数，包括如下至少一种方式获得的特征参数：预置先验方法、校准方案、自适应计算、开机标定、多次预设比较、动静画面区分自适应计算。

其中，预制先验指在之前置入设定的函数关系式或者表格等，校准方案指在进行实际校准过程中的方案依据可以为一种计算方法，自适应类似于前述描述中所提及的在使用过程中利用使用中获得的历史数据进行动态的调整校正，开机标定指在开机时系统被激活，快速获得数据，并依照该数据形成校正方案，多次预设比较涉及到多个预设值在使用中动态比较获得最佳的实现方案，动静画面区分自适应计算为，对动静画面进行区分，之后利用静画面多次获得的值修正动画面的值，或者在动态画面中设置速度阈值或者与速度的比较值，当速度较低时获得多次噪音的平均值，再利用此值处理高动态画面的噪音。

需要说明书的是，本发明实施例还可以采用其他方式获得特征参数，本发明实施例对此不进行具体限制。

可选的，图7、图8和图9为本发明实施例提供的一种探测装置的结构示意图，如图7、8和9所示，探测装置还包括基准信号产生模块106，基准信号产生模块106用于产生的基准信号，以校正发光单元103的至少之一特征参数。

其中，如图7所示，基准信号产生模块106可以作为驱动单元104的一部分，也即是驱动单元104可以包括基准信号产生模块106。

另外，基准信号产生模块106还可以作为一个单独的模块。如图8所示，当基准信号产生模块106作为单独的模块时，基准信号产生模块106可以连接于检测校正单元105与驱动单元104之间，当然检测校正单元105与基准信号产生模块106也可为一个模块中的功能区。当然，如图9所示，基准信号产生模块106也可以仅与驱动单元104连接，本发明实施例对此不进行具体限制。

需要说明的是，基准信号产生模块106通过驱动单元104向发光单元发送基准信号，以通过该基准信号校正发光单元103的至少之一特征参数。使得发光单元可以按照基准进行发射探测光，使得发射探测光和接收端像元调控波形更加匹配，提高了测量精度，基准信号产生当然也可以采用类似于校正信号的方法获得，该值可以预制为固定值也可以在使用过程中自适应调整。

可选的，像素阵列101和控制单元102位于第一芯片，驱动单元104、发光单元103和检测校正单元105位于第二芯片。

其中，第一芯片可以为传感器芯片或者激光驱动芯片，第二芯片也可以为传感器芯片或者激光驱动芯片。

在本发明实施例中，像素阵列101和控制单元102可以位于传感器芯片中，驱动单元104、发光的那元和检测校正单元105可以位于激光驱动芯片中。另外，像素阵列101、控制单元102和检测校正单元105，可以位于传感器芯片中，驱动单元104和发光单元103可以位于激光驱动芯片中。

需要说明的是，将检测校正单元105设置于激光驱动芯片中，可以使得检测校正单元105适应不同的激光驱动芯片，使得检测校正单元105具有更好的系统适应性。

综上所述，检测校正单元105可以设置于传感器芯片或者激光驱动芯片，增加了设置检测校正单元105时的灵活性。

图10为本发明实施例提供的一种探测方法的流程示意图，如图10所示，该方法应用于上述的装置，该方法可以包括：

S101、控制单元向驱动单元发送驱动信号，使得驱动单元根据驱动信号驱动发光单元发射探测光。

S102、检测校正单元探测探测光经反射后的反射光，并根据探测到的反射光校正驱动信号。

S103、驱动单元根据校正后的驱动信号驱动发光单元继续发射探测光。

本发明是实例中，通过控制单元向驱动单元发送驱动信号，使得驱动单元根据驱动信号驱动发光单元发射探测光；检测校正单元探测探测光经反射后的反射光，并根据探测到的反射光校正驱动信号；驱动单元根据校正后的驱动信号驱动发光单元继续发射探测光。通过设置检测校正单元，采用检测校正单元对探测光的驱动信号进行动态校正，使得探测的反射光更加准确，从而使得测量的信息更加精确；另外无需标定形成查找表，提高了生产效率。

图11为本发明实施例提供的一种探测方法的流程示意图，如图11所示，可选的，S102的过程，可以包括：

S201、检测校正单元探测反射光，得到反射光对应的电信号。

S202、检测校正单元检测电信号的特征参数，并比较特征参数以及预设的特征参数，根据比较结果，校正驱动信号。

其中，检测校正单元可以包括：探测单元、测量子单元和校正子单元；探测单元与测量子单元连接，测量子单元通过校正子单元与驱动单元连接。

在一种可能的实施方式中，检测校正单元可以通过探测单元探测反射光，得到反射光对应的电信号，通过测量子单元检测电信号的特征参数，并比较特征参数以及预设的特征参数，通过校正子单元根据比较结果，校正驱动信号。

可选的，检测校正单元检测电信号的特征参数，并计算特征参数与预设的特征参数之间的差值，根据差值，校正驱动信号。

其中，检测校正单元可以计算特征参数与对应的预设特征参数之间的差值时。特征参数的类型与对应的预设特征参数的类型相同。

另外，预设的特征参数包括如下至少一种方式获得的特征参数：预置先验方法、校准方案、自适应计算、开机标定、多次预设比较、动静画面区分自适应计算。

可选的，探测装置还包括基准信号产生模块，基准信号产生模块产生的基准信号校正发光单元的至少之一特征参数。

上述方法与前述实施例提供的装置，其实现原理类似，在此不再赘述。

可选的，特征参数包括下述参数中的至少一种：占空比、相位、幅值、平均功率；预设的特征参数包括下述参数中的至少一种：预设占空比、预设延迟、预设幅值、预设平均功率。

在一些实施方式中，测量子单元可以检测电信号的占空比、相位、幅值、平均功率，并计算占空比与预设占空比的第一差值，计算比较相位与预设相位的第二差值，计算幅值与预设幅值的第三差值，计算平均功率与预设平均功率的第四差值，校正子单元可以根据第一差值、第二差值、第三差值和第四差值，校正驱动信号。

另外，测量子单元可以检测电信号的占空比、相位、幅值、平均功率，并计算占空比与预设占空比的第一差值，校正子单元可以根据第一差值校正驱动信号。其中，预设占空比可以为百分之五十。根据校正后的驱动信号发射探测光，对应的探测到的反射光的占空比也可以为百分之五十，此处仅列举了一种具体的数值，实际使用中可以依照测试数据等改变占空比的标准值，其他参数类似于占空比校正的方案，再此不再一一赘述。

图12为本发明一实施例提供的控制单元的结构示意图，如图12所示，该控制单元可以包括：处理器701、存储器702。

存储器702用于存储程序，处理器701调用存储器702存储的程序，以执行上述图10-11任一项所述的方法实施例。具体实现方式和技术效果类似，这里不再赘述。

可选地，本发明还提供一种程序产品，例如计算机可读存储介质，包括程序，该程序在被处理器执行时用于执行上述图10-11任一项所述的方法实施例。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(英文：processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(英文：Read-Only Memory，简称：ROM)、随机存取存储器(英文：Random Access Memory，简称：RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

Claims (10)

1.一种探测装置，其特征在于，所述装置包括：

像素阵列，所述像素阵列用于感光；

控制单元，与所述像素阵列连接，用于控制所述像素阵列进行感光；

发光单元，用于发射探测光；

驱动单元，用于连接所述控制单元与所述发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述发光单元发射所述探测光；

检测校正单元，用于检测所述探测光经反射后的反射光，根据所述反射光确定校正后的驱动信号；

所述检测校正单元与所述驱动单元连接，使得所述驱动单元根据所述校正后的驱动信号驱动所述发光单元发射探测光。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检测校正单元包括：探测单元、测量子单元和校正子单元；

所述探测单元与所述测量子单元连接，所述测量子单元通过所述校正子单元与所述驱动单元连接，用以使得所述测量子单元检测电信号的特征参数，并比较所述特征参数以及预设的特征参数，向所述校正子单元输出比较结果，使得所述校正子单元根据所述比较结果，校正所述驱动信号。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述预设的特征参数包括如下至少一种方式获得的特征参数：

预置先验方法、校准方案、自适应计算、开机标定、多次预设比较、动静画面区分自适应计算。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述探测装置还包括基准信号产生模块，所述基准信号产生模块用于产生基准信号，以校正所述发光单元的至少之一特征参数。

5.如权利要求1-4中任一所述的装置，其特征在于，所述像素阵列和所述控制单元位于第一芯片，所述驱动单元、所述发光单元和所述检测校正单元位于第二芯片。

6.一种探测方法，其特征在于，所述方法应用于上述权利要求1-5任一项所述的装置，所述方法包括：

所述控制单元向所述驱动单元发送驱动信号，使得所述驱动单元根据所述驱动信号驱动所述发光单元发射探测光；

所述检测校正单元探测所述探测光经反射后的反射光，并根据探测到的所述反射光校正所述驱动信号；

所述驱动单元根据校正后的驱动信号驱动所述发光单元继续发射探测光。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述检测校正单元探测所述探测光经目标物反射后的反射光，并根据探测到的所述反射光校正所述驱动信号，包括：

所述检测校正单元探测所述反射光，得到所述反射光对应的电信号；

所述检测校正单元检测所述电信号的特征参数，并比较所述特征参数以及预设的特征参数，根据比较结果，校正所述驱动信号。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述检测校正单元检测所述电信号的特征参数，并比较所述特征参数以及预设的特征参数，根据比较结果，校正所述驱动信号，包括：

所述检测校正单元检测所述电信号的所述特征参数，并计算所述特征参数与所述预设的特征参数之间的差值，根据所述差值，校正所述驱动信号。

9.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述探测装置还包括基准信号产生模块，所述基准信号产生模块用于产生基准信号，以校正所述发光单元的至少之一特征参数。

10.如权利要求7-9任一项所述的方法，其特征在于，所述特征参数包括下述参数中的至少一种：占空比、相位、幅值、平均功率；

所述预设的特征参数包括下述参数中的至少一种：预设占空比、预设延迟、预设幅值、预设平均功率。

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