CN111288961A - 塔筒模具组件的基准定位件及其测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种塔筒模具组件的基准定位件及其测量方法，塔筒模具组件包括塔筒模具和底座，底座设在塔筒模具的下方，基准定位件设在底座上且位于塔筒模具内，基准定位件包括：支撑座，支撑座支撑在底座上；支撑杆，支撑杆设在支撑座上且向上竖直延伸至预定高度；多个基准环，多个基准环沿支撑杆的高度方向间隔开布置，支撑杆上设有与多个基准环的中心相对的定位装置用以检测底座的基准面所在平面为水平面。根据本发明实施例的塔筒模具组件的基准定位件，通过在底座的基准面上放置可移动的基准定位件，在测量时可以移动基准定位件，便于检测整个基准面是否水平，检测过程直观、方便，且在加工塔筒段的过程中可以随时观察。

Description

塔筒模具组件的基准定位件及其测量方法

技术领域

本发明涉及塔筒技术领域，尤其是涉及一种塔筒模具组件的基准定位件及其测量方法。

背景技术

塔筒包括多个竖向依次排布的塔筒段，采用塔筒模具加工制作塔筒段时需要测量底面是否水平，相关技术中，将测量装置的支撑杆直接与底部平台相连用于检测底部平台是否水平，该测量装置只能与底部平台固定相连，无法进行移动，给测量带来不便。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的提出一种塔筒模具组件的基准定位件，所述基准定位件可以移动，检测方便。

本发明还提出一种采用上述基准定位件的底座的基准面测量方法。

根据本发明第一方面实施例的塔筒模具组件的基准定位件，所述塔筒模具组件包括塔筒模具和底座，所述底座设在所述塔筒模具的下方，所述基准定位件设在所述底座上且位于所述塔筒模具内，所述基准定位件包括：支撑座，所述支撑座支撑在所述底座上；支撑杆，所述支撑杆设在所述支撑座上且向上竖直延伸至预定高度；多个基准环，多个所述基准环沿所述支撑杆的高度方向间隔开布置，所述支撑杆上设有与多个所述基准环的中心相对的定位装置用以检测所述底座的基准面所在平面为水平面。

根据本发明实施例的塔筒模具组件的基准定位件，通过在底座的基准面上放置可移动的基准定位件，在测量时可以移动基准定位件以对不同的测量点位进行检测，便于检测整个基准面是否水平，检测过程直观、方便，且在加工塔筒段的过程中可以随时观察。

根据本发明的一个实施例，所述定位装置包括：悬吊杆，所述悬吊杆设在所述支撑杆的上端且水平延伸；测量件，所述测量件设在所述悬吊杆上，所述测量件在所述支撑座上的正投影与所述基准环的中心轴线重合时，所述底座的基准面所在平面为水平面。

根据本发明的一个可选的示例，所述测量件为适于穿过多个所述基准环的铅垂线。

根据本发明的另一个可选的示例，所述测量件被构造成红外装置，所述红外装置产生的红外线穿过多个所述基准环后投射至所述支撑座上。

根据本发明的另一个可选的示例，所述测量件为激光装置，所述激光装置发出的光束穿过多个所述基准环后投射至所述支撑座上。

根据本发明的另一个实施例，多个所述基准环分别处在竖向上间隔分布的不同水平面内。

根据本发明的又一个实施例，所述基准环的内径小于等于1mm。

根据本发明的又一个实施例，所述基准环的中心轴线与所述支撑杆在同一竖直面内平行。

根据本发明的再一个实施例，所述基准环的外轮廓为圆形、椭圆形或者多边形。

根据本发明的再一个实施例，所述支撑杆的预定高度大于等于2m。

根据本发明第二方面实施例的底座的基准面测量方法，所述方法利用上述实施例中所述的基准定位件，所述基准定位件的定位装置包括悬吊杆和所述基准环，所述方法包括以下步骤：在塔筒模具的底座基准面上设置若干个测量点位；将所述基准定位件放置在所述底座的基准面上的预定测量点位；在预定的高度处观察所述测量件在所述支撑座上的正投影与所述基准环的中心轴线是否重合；逐步移动基准定位件的测量点位，可检测各测量点位是否为水平面。

根据本发明实施例的底座的基准面测量方法，通过在底座的基准面上放置可移动的基准定位件，在测量时可以移动基准定位件以对不同的测量点位进行检测，便于检测整个基准面是否水平，检测过程更加直观、方便，且在加工塔筒段的过程中可以随时观察。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本发明实施例的塔筒模具组件和基准定位件的立体图；

图2是根据本发明实施例的塔筒模具组件的基准定位件的立体图；

图3是根据本发明实施例的塔筒模具组件的基准定位件的俯视图；

图4是根据本发明实施例的塔筒模具组件的基准定位件的侧视图；

图5是根据本发明实施例的塔筒模具组件的基准定位件另一个视角的侧视图。

附图标记：

100：模具组件；10：塔筒模具；20：底座；

200：基准定位件；210：支撑座；220：支撑杆；221：定位装置；2211：悬吊杆；230：基准环。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考图1-图5描述根据本发明第一方面实施例的塔筒模具组件100的基准定位件200。

如图1和图2所示，根据本发明实施例的塔筒模具组件100的基准定位件200，其中塔筒模具组件100包括塔筒模具10和底座20，底座20设在塔筒模具10的下方，可以理解的是，通过采用塔筒模具组件100加工塔筒段，在加工制作塔筒段时，模具组件100与底座20相连，且底座20连接在模具组件100的下端，底座20的朝向模具组件100的表面构成基准面，以此为基准逐次向上加工塔筒段时，需要保持底座20的基准面为水平面，且在加工塔筒段的时候需要随时检测基准面是否为水平状态，以确保所加工的好塔筒结构更加稳定、可靠。

具体地，可以将基准定位件200设在底座20上，且基准定位件200位于塔筒模具10内。进一步地，基准定位件200包括支撑座210、支撑杆220和多个基准环230，支撑座210支撑在底座20的基准面上，支撑杆220设在支撑座210上，并且支撑杆220向上竖直延伸至预定高度，这里的预定高度即指可以达到实际中加工塔筒段(也就是最上层的塔筒段)时所需的高度。

多个基准环230沿支撑杆220的高度方向间隔开布置，支撑杆220上设有定位装置221，该定位装置221与多个基准环230的中心相对，用以检测底座20的基准面上各个测量点位是否水平，通过观察定位装置221与多个基准环230的中心轴线是否重合进而判断底座20的基准面上各个测量点位是否水平，进而判断整个基准面是否为水平面，具体地，若定位装置221与多个基准环230的中心轴线重合，则证明底座20的基准面在该处的测量点位水平，反之，则认为底座20的基准面在该处的测量点位不平整。

此外，与相关技术中固定式的测量装置(即支撑杆直接与底部平台固定相连)相比，通过在基准定位件200的支撑杆220下端连接有支撑座210，可以方便对基准定位件200进行移动，以对基准面上的不同的测量点位进行检测，以对基准面的整个表面检测是否水平。在测量底座20的基准面时，以圆形底座20的基准面为例，基准定位件200可以逐步移动基准测量点位，例如可沿基准面的径向由中心向外逐步移动，可检测各个测量点是否水平，进而判断基准面的整个面是否水平。

根据本发明实施例的塔筒模具组件100的基准定位件200，通过在底座20的基准面上放置可移动的基准定位件200，在测量时可以移动基准定位件200，以对基准面上的不同的测量点位进行检测，逐步移动基准测量点位，便于检测整个基准面是否水平，检测过程更加直观、方便，且在加工塔筒段的过程中可以随时观察。

根据本发明的一个实施例，定位装置221包括悬吊杆2211和测量件，悬吊杆2211设在支撑杆220的上端，且悬吊杆2211沿着水平方向延伸，也就是说，悬吊杆2211垂直于支撑杆220设置，在悬吊杆2211上设有测量件，观察若测量件在支撑座210上的正投影与基准环230的中心轴线重合时，底座20的基准面对应的测量点位即为水平，若测量件在支撑座210上的正投影与基准环230的中心轴线有偏移时，则证明底座20基准面对应的测量点位处不平整，检测直观、方便。

根据本发明的一个可选的示例，即在悬吊杆2211上设有铅垂线，测量件为适于穿过多个基准环230的铅垂线，铅垂线在竖直方向上始终保持铅锤的状态，当底座20的基准面对应测量点位为水平时，支撑座210也保持水平状态，此时多个基准环230的中心轴线与铅垂线重合，也就是铅垂线恰好位于多个基准环230的正中心，当底座20的基准面对应测量点位不水平，例如底座20的基准面具有一定斜度的倾斜面时，支撑座210也保持对应的倾斜状态，此时多个基准环230的中心轴线与铅垂线偏离，铅垂线恰好位于多个基准环230的正中心，甚至铅垂线就会触碰至多个基准环230上，这样，通过观察铅垂线与多个基准环230的中心轴线是否接触，即可判断出底座20的基准面对应的测量点位是否水平，检测方式简单、直观。

根据本发明的另一个可选的示例，测量件也可以被构造成始终竖直向下投射的红外装置，红外装置产生的红外线可以穿过多个基准环230后投射至支撑座210上，即即使基准定位件200发生倾斜，但是红外装置始终保持竖直向下投射，这样，通过观察红外装置在支撑座210上的投影是否与多个基准环230的中心轴线是否重合，即可判断出底座20的基准面是否为水平面，具体地，若红外装置的红外线投影正好落在多个基准环230的中心轴线所在的位置，则可以得出底座20的基准面为水平面，若红外装置的红外线投影偏离多个基准环230的中心轴线时(红外线投射至基准环230上)，则可以判断出底座20的基准面对应的测量点位不水平，不仅结构更加简单，且检测直观、方便。

可选地，测量件也可以为激光装置，激光装置发出的光束可以穿过基准环230投射在支撑座210上，测量件采用激光装置与测量件采用红外装置在检测基准面是否水平的方法基本相同，此处不再一一赘述。

如图2所示，根据本发明的另一个实施例，多个基准环230分别处在竖向上间隔分布的不同水平面内，以确保对底座20基准面的检测更加准确，可以理解的是，即使底座20的基准面只有较小的倾斜度或不平整度，都会在支撑座210、支撑杆220尤其是多个竖向排布的基准环230上反应出来，此时与测量件相配合可以更加直观地反应出来。

这里需要说明的是，在支撑座210支撑在水平面上时，多个基准环230分别处于不同竖直高度的水平面内，且多个基准环230的中心轴线重合，优选地，多个基准环230中每相邻的两个在竖向上的间隔相等，保证检测的精确性。

根据本发明的又一个实施例，基准环230的内径小于等于1mm，例如可以为1mm、0.7mm、0.5mm等，具体可以根据实际情况进行选取，可以理解的是，通过将基准环230的内径设置在上述范围之内，即使底座20的基准面只有很小的倾斜度或不平整度，即测量件与多个基准环230的中心轴线发生较小的偏离时，测量件就会投射或者触碰至基准环230上，从而可以精确地判断出底座20的基准面不是水平面，检测结果更加精确、直观。

如图5所示，根据本发明的又一个实施例，基准环230的中心轴线与支撑杆220在同一竖直面内平行，结构更加简单，适于将基准件置于塔筒段内，在径向上占用的空间较小。

根据本发明的再一个实施例，基准环230的外轮廓可以为圆形、椭圆形或者多边形，本发明对基准环230的外轮廓不做具体限定，可以根据实际需求进行选取。

根据本发明的再一个实施例，支撑杆220的预定高度大于等于2m，可以是2m、2.5m、3m、4m等，具体可以根据实际需要选取支撑杆220的高度，以满足在加工较高的塔筒时的检测需要，此外将支撑杆220的预定高度设置在上述范围之内，即使底座20的基准面具有较小的倾斜度或者不平整度时，都可以直观地在基准定位件200上反应出来，即测量件与多个基准环230的中心轴线偏离更加明显，便于观察。

在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上。

根据本发明第二方面实施例的底座20的基准面测量方法，方法利用根据上述实施例中所述的基准定位件200，基准定位件200的定位装置221包括悬吊杆2211和基准环230，方法包括以下步骤：

在塔筒模具10的底座20基准面上设置若干个测量点位，将基准定位件200放置在底座20的基准面上预定的测量点位，在预定的高度处观察测量件在支撑座210上的正投影与基准环230的中心轴线是否重合，具体地，若测量件在支撑座210上的投影正好落在多个基准环230的中心轴线所在的位置，则可以得出底座20的基准面对应的测量点位为水平状态，若测量件在支撑座210上的投影偏离多个基准环230的中心轴线时，则可以判断出底座20的基准面对应的测量点位不平整。

以测量件为铅垂线为例，基准定位件200的悬吊杆2211上悬挂铅垂线后，放置于塔筒模具10的底座20基准面上，通过观察铅垂线与基准环230之间是否接触，进而可以确定塔筒模具10的底座20基准面是否水平。如果铅垂线与基准环230之间接触，那么塔筒模具10的底座20基准面不是水平面。

然后逐步移动基准定位件200的测量点位，可检测各测量点位处是否为水平。例如以底座20的基准面为圆形表面为例，可以将基准定位件200沿径向由中心向外逐步移动，逐步检测各个测量点位是否处于水平，以判断底座20的整个基准面是否为水平面。

根据本发明实施例的底座20的基准面测量方法，通过在底座20的基准面上放置可移动的基准定位件200，在测量时可以移动基准定位件200逐步对各个测量点位进行检测，便于检测整个基准面是否水平，检测过程更加直观、方便，且在加工塔筒段的过程中可以随时观察。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

根据本发明实施例的塔筒模具组件100的基准定位件200及其测量方法的其他构成以及操作对于本领域普通技术人员而言都是已知的，这里不再详细描述。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (11)

1.一种塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述塔筒模具组件包括塔筒模具和底座，所述底座设在所述塔筒模具的下方，所述基准定位件设在所述底座上且位于所述塔筒模具内，所述基准定位件包括：

支撑座，所述支撑座支撑在所述底座上；

支撑杆，所述支撑杆设在所述支撑座上且向上竖直延伸至预定高度；

多个基准环，多个所述基准环沿所述支撑杆的高度方向间隔开布置，所述支撑杆上设有与多个所述基准环的中心相对的定位装置用以检测所述底座的基准面所在平面为水平面。

2.根据权利要求1所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述定位装置包括：

悬吊杆，所述悬吊杆设在所述支撑杆的上端且水平延伸；

测量件，所述测量件设在所述悬吊杆上，所述测量件在所述支撑座上的正投影与所述基准环的中心轴线重合时，所述底座的基准面所在平面为水平面。

3.根据权利要求2所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述测量件为适于穿过多个所述基准环的铅垂线。

4.根据权利要求2所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述测量件被构造成红外装置，所述红外装置产生的红外线穿过多个所述基准环后投射至所述支撑座上。

5.根据权利要求2所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述测量件为激光装置，所述激光装置发出的光束穿过多个所述基准环后投射至所述支撑座上。

6.根据权利要求1所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，多个所述基准环分别处在竖向上间隔分布的不同水平面内。

7.根据权利要求1所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述基准环的内径小于等于1mm。

8.根据权利要求1所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述基准环的中心轴线与所述支撑杆在同一竖直面内平行。

9.根据权利要求1所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述基准环的外轮廓为圆形、椭圆形或者多边形。

10.根据权利要求1所述的塔筒模具组件的基准定位件，其特征在于，所述支撑杆的预定高度大于等于2m。

11.一种底座的基准面测量方法，其特征在于，所述方法利用根据权利要求1-10中任一项所述的基准定位件，所述基准定位件的定位装置包括悬吊杆和所述基准环，所述方法包括以下步骤：

在塔筒模具的底座基准面上设置若干个测量点位；

将所述基准定位件放置在所述底座的基准面上的预定测量点位；

在预定的高度处观察所述测量件在所述支撑座上的正投影与所述基准环的中心轴线是否重合；

逐步移动基准定位件的测量点位，可检测各测量点位是否为水平面。

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