CN111267376A - 聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法,是使用一聚酰亚胺膜修补装置执行,该聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法是以图像识别技术,检测并传递面板基材的聚酰亚胺膜缺陷三维位置数据及缺陷范围大小数据至控制装置,并依据缺陷范围大小数据及三维位置数据,控制所述聚酰亚胺膜修补装置的修补针针尖与聚酰亚胺膜之间的高度距离,使所述修补针的针尖能在不接触所述聚酰亚胺膜的情形下,将聚酰亚胺液沾附于聚酰亚胺膜的缺陷处,以达到修补聚酰亚胺膜缺陷的效果,能有效避免所述修补针的针尖磨耗问题,进而提高聚酰亚胺膜缺陷修补作业的精准性。
Description
技术领域
本发明是一种聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法,尤指用以修补聚酰亚胺膜缺陷的修补方法。
背景技术
在显示器面板的领域中,面板基材包含一玻璃基板及一聚酰亚胺膜(简称PI膜),所述聚酰亚胺膜会涂布于所述玻璃基板上,其中,当所述面板基材应用于可挠性有机发光二极管(OLED)面板时,会以聚酰亚胺膜为衬底,并在所述聚酰亚胺模上进行加工或其他的工艺,在该聚酰亚胺膜上进行相关元件(例如:半导体材料膜、电极、介电膜…等)的工艺;而当所述面板基材应用于液晶面板(LCD)时,会通过在所述聚酰亚胺膜上进行加工,藉此控制液晶分子的排列方向及角度。
其中,若所述聚酰亚胺膜涂布于所述玻璃基板上有厚度不均或是有破损等缺陷时,容易导致影响后续工艺以及面板产品的品质,故必须进行所述聚酰亚胺膜的修补作业,而现今在聚酰亚胺膜的修补作业中,会通过一聚酰亚胺膜修补装置将聚酰亚胺液涂布于所述聚酰亚胺膜的待修补位置,以达到修补聚酰亚胺膜的目的,所述聚酰亚胺膜修补装置能设置于一外部的平面位移装置上,所述聚酰亚胺膜修补装置包含一支撑架、多个针座及多个修补针,该支撑架上形成多个间隔排列的容槽,该多个针座可上下移动地设置于该支撑架上,并该多个针座的位置分别位于该多个容槽的上方,该多个修补针分别可拆组地设置于该多个针座上,且该多个修补针的针尖能分别伸入该多个容槽内。
当在使用所述聚酰亚胺膜修补装置进行聚酰亚胺膜的修补作业前,能先将多个填充有聚酰亚胺液的光刻胶盒置放于该支撑架的各容槽内,该聚酰亚胺膜修补装置能受控于外部的平面位移装置而移动至聚酰亚胺膜的缺陷处上方,接着藉由控制针座向下移动,使修补针的针尖穿过对应的光刻胶盒并抵至聚酰亚胺膜的缺陷处,此时,所述光刻胶盒内的聚酰亚胺液会被所述修补针带至聚酰亚胺膜的缺陷处,以达到修补聚酰亚胺膜缺陷的效果。
然而在前述的修补作业中,所述修补针的针尖在接触聚酰亚胺膜的缺陷处时,会产生微量的磨耗,在长时间及多次的进行修补作业时,所述修补针的针尖容易在长期的磨耗下产生变形或端部面积增加,故在长时间或多次进行聚酰亚胺膜修补作业时,聚酰亚胺液涂布的面积会随着修补针的针尖磨耗程度而逐渐增加,进而影响修补作业的精确性。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法,希藉此改善现今在进行聚酰亚胺膜修补作业时,有修补针磨耗而影响修补作业的精确性的问题。
为达成前揭目的,本发明的聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法其是使用一聚酰亚胺膜修补装置执行,该聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法包含:
将待修补的一面板基材置放定位于一承载台上;
利用图像识别技术检测该面板基材的聚酰亚胺膜缺陷,并将所述聚酰亚胺膜的缺陷的三维位置数据以及缺陷范围大小数据传输至一控制装置;
该控制装置依据所述缺陷范围大小数据运算出一沾附高度数据,再依据所述沾附高度位置数据及所述三维位置数据运算出一下针距离数据,该控制装置进行下列步骤:
依据所述三维位置数据,控制一平面位移装置驱动该聚酰亚胺膜修补装置,使该聚酰亚胺膜修补装置的修补针移动至该面板基材的缺陷位置上方;以及
依据所述下针距离数据,控制该聚酰亚胺膜修补装置的针座向下移动,使所述针座上的修补针的针尖穿透对应的光刻胶盒并移动至该聚酰亚胺膜缺陷位置的上方预定位置,使聚酰亚胺膜修补装置的光刻胶盒内的聚酰亚胺液沿着所述针尖沾附至与所述聚酰亚胺膜的缺陷位置,修补所述聚酰亚胺膜的缺陷。
本发明聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法主要是依据修补针的针尖与聚酰亚胺膜之间的距离与聚酰亚胺液沾附于聚酰亚胺膜的范围大小成反比的特性,通过以图像识别技术检测出聚酰亚胺膜缺陷的三维位置数据以及缺陷范围大小数据,使控制装置能依据缺陷范围大小数据运算出符合所述缺陷范围大小的沾附高度数据,并再进一步以所述沾附高度数据与所述聚酰亚胺膜缺陷的三维位置数据运算出下针距离数据,使控制装置得以精确地控制该聚酰亚胺膜修补装置,使该聚酰亚胺膜修补装置的修补针针尖得以移动置缺陷位置上方的预定位置,使聚酰亚胺液得以沿着所述针尖沾附至与所述聚酰亚胺膜的缺陷位置。
通过控制所述聚酰亚胺膜修补装置的修补针针尖与聚酰亚胺膜之间的高度距离的方式,使所述修补针的针尖能在不接触所述聚酰亚胺膜的情形下,将聚酰亚胺液沾附于聚酰亚胺膜的缺陷处,以达到修补聚酰亚胺膜缺陷的效果,能有效避免所述修补针的针尖磨耗问题,进而提高聚酰亚胺膜缺陷修补作业的精准性。
附图说明
图1:为本发明聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法的聚酰亚胺膜修补装置示意图。
图2:为本发明聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法的下针动作示意图(一)。
图3:为本发明聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法的下针动作示意图(二)。
图4:为本发明聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法的下针动作示意图(三)。
具体实施方式
请参阅图1、图2,本发明聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法是使用一聚酰亚胺膜修补装置10执行,其中,该聚酰亚胺膜修补装置10是用以设置于一外部的平面位移装置(图未示)上,并位于一承载台30上方,所述聚酰亚胺膜修补装置10包含一支撑架11、多个针座12及多个修补针13,该支撑架11上形成多个间隔排列的容槽14,该多个针座12是可上下移动地设置于该支撑架11上,且该多个针座12的位置是分别位于该多个容槽14的上方,该多个修补针13分别可拆组地设置于该多个针座12上,且该多个修补针13的针尖131能分别伸入该多个容槽14内,所述聚酰亚胺膜修补装置10的容槽14内能分别置放一填充有聚酰亚胺液151的光刻胶盒15。
请参阅图2,在进行聚酰亚胺膜22修补作业时,作业人员能将待修补的一面板基材20置放定位于所述承载台30上,所述面板基材20包含一玻璃基板21及一涂布于玻璃基板21表面的聚酰亚胺膜22,接着利用图像识别技术检测该面板基材20的聚酰亚胺膜22缺陷23,并将所述聚酰亚胺膜22的缺陷23的三维位置数据以及缺陷范围大小数据传输至一控制装置(图未示)。
该控制装置依据所述缺陷范围大小数据运算出一沾附高度数据,再依据所述沾附高度位置数据及所述三维位置数据运算出一下针距离数据,其中,所述沾附高度数据是依据修补针13的针尖131与聚酰亚胺膜22之间的距离与聚酰亚胺液151沾附于聚酰亚胺膜22的范围大小成反比的特性,并藉由所述缺陷范围大小数据运算出符合所述缺陷23范围大小的修补针13的针尖131与聚酰亚胺膜22之间的最佳距离参数,而所述下针距离数据则是依据所述三维位置数据与所述沾附高度数据所运算出的针座12带动修补针13的针尖131下移的距离参数。
接着,请配合参看图2,该控制装置会依据所述三维位置数据,控制一平面位移装置驱动该聚酰亚胺膜修补装置10,使该聚酰亚胺膜修补装置10的修补针13移动至该面板基材20的缺陷23位置上方。
请参看图2至图4,再依据所述下针距离数据,控制该聚酰亚胺膜修补装置10的针座12向下移动,使所述针座12上的修补针13的针尖131穿透对应的光刻胶盒15并移动至该聚酰亚胺膜22缺陷23位置的上方预定位置,使该针尖131与聚酰亚胺膜22之间的距离符合所述沾附高度数据,进而使聚酰亚胺膜修补装置10的光刻胶盒15内的聚酰亚胺液151能沿着所述针尖131沾附至与所述聚酰亚胺膜22的缺陷23位置,修补所述聚酰亚胺膜22的缺陷23。
综上所述,本发明聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法主要是通过控制所述聚酰亚胺膜修补装置10的修补针13针尖131与聚酰亚胺膜22之间的高度距离的方式,使所述修补针13的针尖131能在不接触所述聚酰亚胺膜22的情形下,将聚酰亚胺液151沾附于聚酰亚胺膜22的缺陷23处,以达到修补聚酰亚胺膜22缺陷23的效果,能有效避免所述修补针13的针尖131磨耗问题,进而提高聚酰亚胺膜22缺陷23修补作业的精准性。
Claims (1)
1.一种聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法,其特征在于,所述方法是使用一聚酰亚胺膜修补装置执行,该聚酰亚胺膜缺陷的非接触式修补方法包含:
将待修补的一面板基材置放定位于一承载台上;
利用图像识别技术检测该面板基材的聚酰亚胺膜缺陷,并将所述聚酰亚胺膜的缺陷的三维位置数据以及缺陷范围大小数据传输至一控制装置;
该控制装置依据所述缺陷范围大小数据运算出一沾附高度数据;
依据所述沾附高度位置数据及所述三维位置数据运算出一下针距离数据,该控制装置进行下列步骤:
依据所述三维位置数据,控制一平面位移装置驱动该聚酰亚胺膜修补装置,使该聚酰亚胺膜修补装置的修补针移动至该面板基材的缺陷位置上方;以及
依据所述下针距离数据,控制该聚酰亚胺膜修补装置的针座向下移动,使所述针座上的修补针的针尖穿透对应的光刻胶盒并移动至该聚酰亚胺膜缺陷位置的上方预定位置,使聚酰亚胺膜修补装置的光刻胶盒内的聚酰亚胺液沿着所述针尖沾附至与所述聚酰亚胺膜的缺陷位置,修补所述聚酰亚胺膜的缺陷。
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