CN111259572A - 辐射线阵的设计方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种辐射线阵的设计方法，包括以下步骤：提供一条经初始设计而得的仿真辐射线阵；以从仿真辐射线阵的末端开始的第一个调试单元作为待调试辐射线阵，调整第一个调试单元以使第一个调试单元的阵元处于谐振状态而完成调试；完成调试后，将待调试辐射线阵扩展至邻接的一个调试单元形成新的待调试辐射线阵，调整新扩展的调试单元使新扩展的调试单元的阵元处于谐振状态，调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸以使最大相位差值降至小于预定相位差值且使前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试，重复本步骤；将所有调试单元均完成调试的待调试辐射线阵确定为辐射线阵成品。本实施例能通用高效设计辐射线阵。

Description

辐射线阵的设计方法

技术领域

本发明实施例涉及微带阵列天线技术领域，尤其涉及一种辐射线阵的设计方法。

背景技术

微带阵列天线通常包括辐射线阵以及为每条辐射线阵馈电的功率分配器，每条辐射线阵包括多个阵元以及连接各个阵元的馈线。

现有的辐射线阵的设计方法通常是：首先根据设计需求确定辐射线阵的介质基板的材料及厚度、辐射线阵所包含的阵元的形状、数量、尺寸以及馈线的尺寸，随后对辐射线阵各部分的尺寸进行调整使辐射线阵的方向图和阻抗特性满足预定指标。但是，在实际设计调试时，由于辐射线阵的方向图的控制与阻抗特性存在相互影响，若只对方向图设计会导致辐射线阵的端口输入阻抗虚部较大，导致端口无法有效匹配，最后严重影响能量有效辐射；因此，在具体设计时，设计人员只能反复的对辐射线阵各部分的尺寸进行调整，设计难度较大，而且随着辐射线阵所包含的阵元数量增加，调整过程也会成倍增长，严重影响了微带阵列天线的设计制造。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种辐射线阵的设计方法，能通用、高效的设计满足需求的辐射线阵。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：一种辐射线阵的设计方法，包括以下步骤：

提供一条经初始设计而得的仿真辐射线阵，所述仿真辐射线阵包括多个由馈线依次串联的阵元，每个阵元和所述每个阵元靠仿真辐射线阵的输入端一侧相连的一段馈线构成一个调试单元；

以从所述仿真辐射线阵的与输入端相对的末端开始的第一个调试单元作为待调试辐射线阵，调整第一个调试单元中的阵元和馈线的尺寸以使第一个调试单元的阵元处于谐振状态而完成调试；

完成调试后，将待调试辐射线阵扩展至邻接的一个调试单元形成新的待调试辐射线阵，调整新扩展的调试单元中的阵元和馈线的尺寸使新扩展的调试单元的阵元处于谐振状态，并在新扩展的调试单元与待调试辐射线阵中的其他调试单元的最大相位差值大于或等于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试，重复本步骤，直至所述待调试辐射线阵扩展至包含仿真辐射线阵的所有调试单元并完成调试；

将所有调试单元均完成调试的所述待调试辐射线阵确定为辐射线阵成品。

进一步的，所述在新扩展的调试单元与待调试辐射线阵中的其他调试单元的最大相位差值大于或等于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试具体包括：

计算获得所述待调试辐射线阵的各个调试单元的预定位置的等效相位值；

计算新扩展的调试单元与其他调试单元的预定位置的最大相位差值；

若所述最大相位差值大于或等于预定相位差值，则调整新扩展的调试单元的上一个调试单元的阵元和馈线尺寸使新扩展的调试单元与其他调试单元的预定位置的最大相位差值减小至小于所述预定相位差值且使所述前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试。

进一步的，所述预定位置具体是指每个所述调试单元的阵元中部。

进一步的，所述调整第一个调试单元中的阵元和馈线的尺寸具体是指：保持第一个调试单元中的阵元和馈线的宽度不变而调整第一个调试单元中的阵元和馈线的长度；以及所述调整新扩展的调试单元中的阵元和馈线的尺寸具体是指：保持新扩展的调试单元中的阵元和馈线的宽度不变而调整新扩展的调试单元中的阵元和馈线的长度。

进一步的，所述调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸具体是指：保持新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线的宽度不变而减小馈线的长度且增大阵元的长度。

进一步的，所述使调试单元的阵元处于谐振状态具体是指：使所述调试单元的阵元的端口输入阻抗的虚部和实部的实际比值的绝对值小于或等于预设比值。

进一步的，所述提供一条经初始设计而得的仿真辐射线阵具体包括：

根据工程需求确定待设计辐射线阵的介质基板的材料及厚度；

初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元的形状、数量以及各个阵元的尺寸；以及

采用预定尺寸的馈线依序串接待设计辐射线阵的各个阵元而形成仿真辐射线阵。

进一步的，所述初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元的形状、数量以及各个阵元的尺寸具体包括：

初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元的形状和数量；

根据待设计辐射线阵所包含的阵元的数量确定位于待设计辐射线阵中部的阵元的数量；

根据预设的计算公式初步确定位于待设计辐射线阵中部的阵元的尺寸；以及

采用预设的幅度加权函数根据位于待设计辐射线阵中部的阵元的尺寸对称地向两端逐级递减地初步确定待设计辐射线阵剩余阵元的尺寸。

进一步的，所述幅度加权函数为切比雪夫加权函数或泰勒加权函数。

进一步的，所述工程需求具体是指所述待设计辐射线阵实际应用的工作频段。

采用上述技术方案后，本发明实施例至少具有如下有益效果：本发明实施例通过以从所述仿真辐射线阵的与输入端相对的末端开始的第一个调试单元作为待调试辐射线阵，调整第一个调试单元中的阵元和馈线的尺寸以使第一个调试单元的阵元处于谐振状态而完成调试，由于第一个调试单元的阵元不存在与其他阵元的相位差，因此只需使第一个调试单元的阵元处于谐振状态即可而完成调试，完成调试后，将待调试辐射线阵扩展至邻接的一个调试单元形成新的待调试辐射线阵，调整新扩展的调试单元中的阵元和馈线的尺寸使新扩展的调试单元的阵元处于谐振状态，并在新扩展的调试单元与待调试辐射线阵中的其他调试单元的最大相位差值大于或等于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试，而且调试，直至所述待调试辐射线阵扩展至包含仿真辐射线阵的所有调试单元并完成调试，使得每扩展一个调试单元，都能保证新扩展的调试单元的阵元处于谐振状态，而且最大相位差值小于预定相位差值，最后将所有调试单元均完成调试的所述待调试辐射线阵确定为辐射线阵成品，调试过程相对简单，而且，可广泛用于设计不同数量阵元的辐射线阵，通用性非常高。

附图说明

图1为本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的辐射线阵成品的结构示意图。

图2为本发明辐射线阵的设计方法一个可选实施例的步骤流程图。

图3为本发明辐射线阵的设计方法一个可选实施例步骤S3具体的流程图。

图4为本发明辐射线阵的设计方法一个可选实施例步骤S1具体的流程图。

图5为本发明辐射线阵的设计方法一个可选实施例步骤S12具体的流程图。

图6为本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的待调试辐射线阵的第一个调试单元调试后的输入端口阻抗值图。

图7为本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的待调试辐射线阵具有一个调试单元调试后的归一化相位图。

图8为本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的待调试辐射线阵具有四个调试单元调试前的输入端口阻抗值图。

图9为本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的待调试辐射线阵具有四个调试单元调试前的归一化相位图。

图10为本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的待调试辐射线阵具有四个调试单元调试后的输入端口阻抗值图。

图11为本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的待调试辐射线阵具有四个调试单元调试后的归一化相位图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本申请作进一步详细说明。应当理解，以下的示意性实施例及说明仅用来解释本发明，并不作为对本发明的限定，而且，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。

图2所示，本发明一个可选实施例提供一种辐射线阵的设计方法，用于设计如图1所示的辐射线阵成品，所述方法包括以下步骤：

S1：提供一条经初始设计而得的仿真辐射线阵，所述仿真辐射线阵包括多个由馈线5依次串联的阵元3，每个阵元3和所述每个阵元3靠所述仿真辐射线阵的输入端一侧相连的一段馈线5构成一个调试单元7；

S2：以从所述仿真辐射线阵的与输入端相对的末端开始的第一个调试单元7作为待调试辐射线阵，调整第一个调试单元7中的阵元3和馈线5的尺寸以使第一个调试单元7的阵元3处于谐振状态；

S3：将待调试辐射线阵扩展至邻接的一个调试单元7形成新的待调试辐射线阵，调整新扩展的调试单元7中的阵元3和馈线5的尺寸使新扩展的调试单元7的阵元3处于谐振状态，并在新扩展的调试单元7与待调试辐射线阵中的其他调试单元7的预定位置的最大相位差值大于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元7的前一个调试单元7中的阵元3和馈线5尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元7的阵元3处于谐振状态，重复本步骤，直至所述待调试辐射线阵扩展至包含仿真辐射线阵的所有调试单元7且所有调试单元7均调试完毕；

S4：将所有调试单元7均调试完毕的所述待调试辐射线阵确定为辐射线阵成品。

本发明实施例通过上述方法，以从所述仿真辐射线阵的与输入端相对的末端开始的第一个调试单元7作为待调试辐射线阵，调整第一个调试单元7中的阵元3和馈线5的尺寸以使第一个调试单元7的阵元3处于谐振状态而完成调试，由于第一个调试单元7的阵元3不存在与其他阵元3的相位差，因此只需使第一个调试单元7的阵元3处于谐振状态即可而完成调试，完成调试后，将待调试辐射线阵扩展至邻接的一个调试单元7形成新的待调试辐射线阵，调整新扩展的调试单元7中的阵元3和馈线5的尺寸使新扩展的调试单元7的阵元3处于谐振状态，并在新扩展的调试单元7与待调试辐射线阵中的其他调试单元7的最大相位差值大于或等于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元7的前一个调试单元7中的阵元3和馈线5尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元7的阵元3处于谐振状态而再次完成调试，而且调试，直至所述待调试辐射线阵扩展至包含仿真辐射线阵的所有调试单元7并完成调试，使得每扩展一个调试单元7，都能保证新扩展的调试单元7的阵元3处于谐振状态，而且最大相位差值小于预定相位差值，最后将所有调试单元7均完成调试的所述待调试辐射线阵确定为辐射线阵成品，调试过程相对简单，而且，可广泛用于设计不同数量阵元3的辐射线阵，通用性非常高。在具体实施时，根据设计要求，为使辐射线阵的副瓣抑制水平小于-24dB，因此，所述预定相位差值为10°。

在本发明的一个可选实施例中，如图3所示，所述在新扩展的调试单元7与待调试辐射线阵中的其他调试单元7的最大相位差值大于或等于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元7的前一个调试单元7中的阵元3和馈线5尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元7的阵元3处于谐振状态而再次完成调试具体包括：

S31：计算获得所述待调试辐射线阵的各个调试单元7的预定位置的等效相位值；

S32：计算新扩展的调试单元7与其他调试单元7的预定位置的最大相位差值；

S33：若所述最大相位差值大于预定相位差值，则调整新扩展的调试单元7的上一个调试单元7的阵元3和馈线5尺寸使新扩展的调试单元7与其他调试单元7的预定位置的最大相位差值减小至小于所述预定相位差值且使所述前一个调试单元7的阵元3处于谐振状态而再次完成调试。

本发明实施例通过上述方法，通过计算获得所述待调试辐射线阵的各个调试单元7的预定位置的等效相位值，再计算新扩展的调试单元7与其他调试单元7的预定位置的最大相位差值，可有效的计算出最大相位差值，计算方便；此时若所述最大相位差值大于预定相位差值，则调整新扩展的调试单元7的上一个调试单元7的阵元3和馈线5尺寸使新扩展的调试单元7与其他调试单元7的预定位置的最大相位差值减小至小于所述预定相位差值且使所述前一个调试单元7的阵元3处于谐振状态而再次完成调试，设计效率高。

在本发明的再一个可选实施例中，所述预定位置具体是指每个所述调试单元7的阵元3中部。本发明实施例通过采用所述仿真设计软件计算每个所述调试单元7的阵元3中部的等效相位值，从而可以有效的反映各个阵元3之间的相位差。在具体实施时，采用仿真设计软件(例如：MATLAB)读取每个调试单元7的阵元3的相对两端和馈线5的起始端的相位值，然后将阵元3的相对两端的相位值减去起始点的相位进行归一化，从而计算出阵元3中部的等效相位值。

在本发明的又一个可选实施例中，所述调整第一个调试单元7中的阵元3和馈线5的尺寸具体是指：保持第一个调试单元7中的阵元3和馈线5的宽度不变而调整第一个调试单元7中的阵元3和馈线5的长度；以及

所述调整新扩展的调试单元7中的阵元3和馈线5的尺寸具体是指：保持新扩展的调试单元7中的阵元3和馈线5的宽度不变而调整新扩展的调试单元7中的阵元3和馈线5的长度。

本实施例通过保持第一个调试单元7和新扩展的调试单元7中的阵元3和馈线5的宽度不变而调整新增加的所述调试单元7的阵元3和馈线5的长度，调试更加的方便，更利于后续的相位差的调试，而且可有效的保证阵元3处于谐振状态。

在本发明的一个可选实施例中，所述调整新扩展的调试单元7的前一个调试单元7中的阵元3和馈线5尺寸具体是指：保持新扩展的调试单元7的前一个调试单元7中的阵元3和馈线5的宽度不变而减小馈线5的长度且增大阵元3的长度。本实施例通过保持新扩展的调试单元7的前一个调试单元7中的阵元3和馈线5宽度不变而减小馈线5的长度且增大阵元3的长度，当减小馈线5的长度时，虽然使最大相位差满足了预定相位差值，但是会破坏新扩展的调试单元7的前一个调试单元7的阵元3谐振状态，因此，同步的增大阵元3的长度，保证新扩展的调试单元7的前一个调试单元7的阵元3仍处于谐振的状态，避免调试之间的相互影响。

在具体实施时，可以通过MATLAB的去嵌入功能实现调整调试单元7的馈线5长度，即去嵌入前后阻抗保持一致时可确定馈线5长刚好半个波长，调整效率更高。

在本发明的一个可选实施例中，所述使调试单元7的阵元3处于谐振状态具体是指：使所述调试单元7的阵元3的端口输入阻抗的虚部和实部的实际比值的绝对值小于或等于预设比值。本实施例通过在具体调试时，借助仿真设计软件，使调试单元7的阵元3的端口输入阻抗的虚部和实部的实际比值的绝对值小于或等于预设比值，使阵元3的输入端口阻抗接近史密斯圆图实轴，即纯阻抗状态，保证阵元3的充分谐振；在具体实施时，根据设计需求，可将所述预设比值设定为六分之一。

在本发明的另一个可选实施例中，如图4所示，所述步骤S1具体包括：

S11：根据工程需求确定待设计辐射线阵的介质基板1的材料及厚度；

S12：初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元的形状、数量以及各个阵元的尺寸；以及

S13：采用预定尺寸的馈线依序串接待设计辐射线阵的各个阵元而形成仿真辐射线阵。

在本发明的又一个可选实施例中，如图5所示，所述步骤S12具体包括：

S121：初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元3的形状和数量；

S122：根据待设计辐射线阵所包含的阵元3的数量确定位于待设计辐射线阵中部的阵元3的数量；

S123：根据预设的计算公式初步确定位于待设计辐射线阵中部的阵元3的尺寸；以及

S124：采用预设的幅度加权函数根据位于待设计辐射线阵中部的阵元3的尺寸对称地向两端逐级递减地初步确定待设计辐射线阵剩余阵元3的尺寸。

本发明实施例通过上述方法，首先确定待设计辐射线阵所包含的阵元3的形状和数量，根据阵元3的数量的奇偶性，当阵元3的数量的为奇数时，确定位于待设计辐射线阵中部的阵元3的数量为一个，当阵元3的数量的为偶数时，确定位于待设计辐射线阵中部的阵元3的数量为两个，然后根据预设的计算公式初步确定位于待设计辐射线阵中部的阵元3的尺寸，最后再根据幅度加权函数根据位于待设计辐射线阵中部的阵元3的尺寸初步确定待设计辐射线阵剩余阵元3的尺寸，可以高效的初步确定待设计辐射线阵的各个阵元3的尺寸，设计效率高。

在本发明的再一个可选实施例中，所述幅度加权函数为切比雪夫加权函数或泰勒加权函数。本发明实施例幅度加权函数采用切比雪夫加权函数或泰勒加权函数，根据不同微带阵列提天线的设计需求，和预定性能指标，灵活的选择不同的幅度加权函数。

在本发明的另一个可选实施例中，所述工程需求具体是指所述待设计辐射线阵实际应用的工作频段。本发明实施例通过根据所述待设计辐射线阵实际应用的工作频段，灵活的选择不同的介质基板，设计的实用性更强。

在具体实施时，如图1所示，根据本发明辐射线阵的设计方法所对应设计的一个可选实施例的辐射线阵成品的结构，具体的：

当调整第一个调试单元7，通过调整第一个调试单元7的馈线5长度和阵元3长度，阵元3处于谐振状态，如图6所示；可以理解的是，由于相位准则为阵元3之间的相位差作为依据，而此时待调试辐射线阵仅有一个调试单元7，因此不做调整，如图7中圆圈所示。

然后，当所述待调试辐射线阵的调试单元7的数量扩展至四个时，在进行尺寸调整前，新扩展的调试单元7的阵元3的输入端口阻抗和等效相位值，分别如图8和图9的所示，其中，在图9中，从横坐标起，从左至右中的圆圈依次是新扩展的调试单元7的预定位置的等效相位值直至第一个调试单元7的预定位置的等效相位值。

由图8和图9可以看出，新扩展的调试单元7的阵元3的处于非谐振状态，而且所述最大相位差值大于10°。

因此依次对新扩展的调试单元7的馈线5和阵元3的长度进行调整，再对新扩展的调试单元7的上一个调试单元7的馈线5和阵元3的长度进行调整，调整后，如图10和图11所示，同样的，在如图11中，从横坐标起，从左至右中的圆圈依次是新扩展的调试单元7的预定位置的等效相位值直至第一个调试单元7的预定位置的等效相位值。

由图10和图11可以看出，调整后新扩展的调试单元7的阵元3处于谐振状态，而且所述最大相位差值小于10°。

最后，依次进行后续的调试步骤，将所有调试单元7均调试完毕的所述待调试辐射线阵确定为辐射线阵成品。

另外，可以理解的是，所述调试单元7的阵元3是否处于谐振状态是指具体应用在76.5GHZ频段时是否处于谐振状态。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

提供一条经初始设计而得的仿真辐射线阵，所述仿真辐射线阵包括多个由馈线依次串联的阵元，每个阵元和所述每个阵元靠仿真辐射线阵的输入端一侧相连的一段馈线构成一个调试单元；

以从所述仿真辐射线阵的与输入端相对的末端开始的第一个调试单元作为待调试辐射线阵，调整第一个调试单元中的阵元和馈线的尺寸以使第一个调试单元的阵元处于谐振状态而完成调试；

完成调试后，将待调试辐射线阵扩展至邻接的一个调试单元形成新的待调试辐射线阵，调整新扩展的调试单元中的阵元和馈线的尺寸使新扩展的调试单元的阵元处于谐振状态，并在新扩展的调试单元与待调试辐射线阵中的其他调试单元的最大相位差值大于或等于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试，重复本步骤，直至所述待调试辐射线阵扩展至包含仿真辐射线阵的所有调试单元并完成调试；

将所有调试单元均完成调试的所述待调试辐射线阵确定为辐射线阵成品。

2.如权利要求1所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述在新扩展的调试单元与待调试辐射线阵中的其他调试单元的最大相位差值大于或等于预定相位差值时，调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸以使所述最大相位差值降至小于预定相位差值且使所述前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试具体包括：

计算获得所述待调试辐射线阵的各个调试单元的预定位置的等效相位值；

计算新扩展的调试单元与其他调试单元的预定位置的最大相位差值；

若所述最大相位差值大于或等于预定相位差值，则调整新扩展的调试单元的上一个调试单元的阵元和馈线尺寸使新扩展的调试单元与其他调试单元的预定位置的最大相位差值减小至小于所述预定相位差值且使所述前一个调试单元的阵元处于谐振状态而再次完成调试。

3.如权利要求2所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述预定位置具体是指每个所述调试单元的阵元中部。

4.如权利要求1所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述调整第一个调试单元中的阵元和馈线的尺寸具体是指：保持第一个调试单元中的阵元和馈线的宽度不变而调整第一个调试单元中的阵元和馈线的长度；以及

所述调整新扩展的调试单元中的阵元和馈线的尺寸具体是指：保持新扩展的调试单元中的阵元和馈线的宽度不变而调整新扩展的调试单元中的阵元和馈线的长度。

5.如权利要求1所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述调整新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线尺寸具体是指：保持新扩展的调试单元的前一个调试单元中的阵元和馈线的宽度不变而减小馈线的长度且增大阵元的长度。

6.如权利要求1所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述使调试单元的阵元处于谐振状态具体是指：使所述调试单元的阵元的端口输入阻抗的虚部和实部的实际比值的绝对值小于或等于预设比值。

7.如权利要求1所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述提供一条经初始设计而得的仿真辐射线阵具体包括：

根据工程需求确定待设计辐射线阵的介质基板的材料及厚度；

初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元的形状、数量以及各个阵元的尺寸；以及

采用预定尺寸的馈线依序串接待设计辐射线阵的各个阵元而形成仿真辐射线阵。

8.如权利要求7所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元的形状、数量以及各个阵元的尺寸具体包括：

初步确定待设计辐射线阵所包含的阵元的形状和数量；

根据待设计辐射线阵所包含的阵元的数量确定位于待设计辐射线阵中部的阵元的数量；

根据预设的计算公式初步确定位于待设计辐射线阵中部的阵元的尺寸；以及

采用预设的幅度加权函数根据位于待设计辐射线阵中部的阵元的尺寸对称地向两端逐级递减地初步确定待设计辐射线阵剩余阵元的尺寸。

9.如权利要求8所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述幅度加权函数为切比雪夫加权函数或泰勒加权函数。

10.如权利要求7所述的辐射线阵的设计方法，其特征在于，所述工程需求具体是指所述待设计辐射线阵实际应用的工作频段。

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