CN111211746A - 一种用于波束成形的电路装置、方法以及非暂态存储单元 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于波束成形的电路装置、方法以及非暂态存储单元，本发明公开了使得能够针对放大器进行数字预失真的技术，可在电路装置、方法和计算机指令中实现该技术。电路装置包括：放大器，其用于放大数字输入信号的模拟版本；内置测试电路，其被配置成提供与影响放大器的失真相关联的失真信息；以及信号调节器，其用于在数字输入信号的信号路径中根据将数字输入信号映射到预失真版本上的预失真关系执行数字输入信号的前馈预失真。信号调节器可以被配置成根据失真信息来调节预失真关系。

Description

一种用于波束成形的电路装置、方法以及非暂态存储单元
技术领域
本文献涉及具有放大器(例如，高频功率放大器、射频RF功率放大器、毫米波功率放大器等)的电路装置。
本文献还涉及用于对具有放大器的电路装置中的数字输入信号进行预失真的技术。该电路装置可以用于例如波束成形应用。
本文献还涉及用于对具有射频RF放大器的电路装置中的数字输入信号进行预失真的方法。
背景技术
具有高频HF功率放大器、射频RF功率放大器和/或毫米波功率放大器的电路装置是已知的。例如，可以向天线阵列的天线元件馈送HF信号、RF信号和/或毫米波信号。天线元件可以与其他天线元件一起构成天线阵列。天线阵列可以用于例如通信应用或定位应用中的波束成形。电路装置可以例如由诸如可以生成数字输入信号的数字信号处理器(DSP)的数字处理器控制，该数字输入信号在被转换成模拟信号之后由功率放大器放大。
为了使功耗最小化，效率应该高。然而，对于功率放大器，提高效率往往会降低线性，从而引起幅度失真和/或相位失真。例如，在输入信号的值的某些范围内，放大的信号可能饱和，从而失去线性并且增加失真。因此，效率的提高通常是以线性和质量为代价的。
可以尝试通过使用基于反馈的预失真技术来应对这些损害。可以将HF功率放大器、RF功率放大器和/或毫米波功率放大器的输出端处的模拟信号转换成数字版本，该数字版本被反馈至处理器并从数字输入信号中被减去。因此基于反馈的预失真技术可以被操作成调节(预失真)数字输入信号，使得即使在饱和之后，也获得总体期望的线性。
这种基于数字反馈的预失真技术需要复杂的反馈功能，该功能必须针对放大的输出信号的每个值实时地执行减法。对于天线阵列的每个天线元件都需要一个反馈功能的实例：相应地，64个天线元件需要64个反馈功能的实例。因此，在处理器处执行在线减法需要大量的处理能力。
已经尝试了对多个放大器执行单个的数字预失真功能的基于反馈的技术。但是，通常不能确保所有放大器都受到相同的失真。因此，针对多个不同的放大器使用单个的数字预失真，固有地导致针对放大器的至少一些的不完整的预失真。不过即使效率提高非常小，由于功耗效益在整个生命周期中是综合的，因此每1％都是有价值的。
此外，在运用多个放大器的情况下(例如，当进行波束成形操作时)，应将每个反馈提供到单个的RF至数字转换器(其可以包括模数转换器ADC)，因此意味着复杂的设备。
US6,356,146B1公开了用于对放大器进行测量以生成预失真参数的方法。在一个示例中，该方法用于波束成形。在另一示例中，该方法使用分离器用于将模拟信号分离成多个分离信号。
发明内容
根据示例，提供了一种电路装置，该电路装置包括放大器、内置测试电路以及信号调节器，放大器用于放大数字输入信号的模拟版本；内置测试电路被配置成提供与影响放大器的失真相关联的失真信息；以及信号调节器用于在数字输入信号的信号路径中根据将数字输入信号映射到预失真版本的预失真关系执行数字输入信号的前馈预失真，其中，信号调节器被配置成根据失真信息来调节预失真关系。
因此，不需要实时的基于反馈的解决方案。
根据一方面，提供了一种发送/接收装置，包括电路装置以及可操作地连接到放大器的至少一个天线元件。
根据一方面，提供了一种方法，该方法包括：针对至少一个放大器执行校准以获得与损害至少一个放大器的失真有关的失真信息；根据在校准时获得的失真信息通过数字地调节至少一个放大器处的数字输入信号来操作至少一个放大器。
根据一方面，提供一种存储指令的非暂态存储单元，当处理器执行所述指令时处理器执行上述方法。
附图说明
图1a至图4示出了根据示例的电路装置；
图5示出了根据示例的方法；
图6示出了根据示例的电路装置。
具体实施方式
图1a示出了包括至少一个放大器110的电路装置100的示例的基本方案。放大器110可以用于例如对数字输入信号102的模拟版本142进行放大以获得数字输入信号102的模拟放大版本104。电路装置100可以存在数字信号路径108和模拟信号路径109，可以由数字至RF转换器140(其可以包括例如数模转换器DAC)将数字信号路径108和模拟信号路径109彼此分开。
在示例中，数字输入信号102可以是调制信号。在示例中，数字输入信号102可以是HF信号、RF信号和/或毫米波信号。在示例中，数字输入信号102可以是RF信号、HF信号或毫米波信号。在示例中，数字输入信号102可以是毫米波信号。一般而言，沿着数字信号路径108，可以对数字输入信号102进行处理以生成到功率放大器110的输入。
放大器110可以是例如HF放大器、RF放大器和/或毫米波放大器。放大器110可以是例如功率放大器。数字输入信号102的模拟放大版本104可以被馈送到例如天线，例如(如在波束成形中进行操作的)天线阵列的天线元件。
为了清楚起见，此处未示出可以放置在图1a中所示的元件之间的其他部件和/或连接。例如，可以(例如，在放大器110的上游或下游)插入延迟发生器以在波束成形中进行操作。
这样，放大器110可能受到不期望的幅度变化，这往往会降低线性。但是，即使没有基于反馈的技术，也可以补偿这些变化。在放大器110上游的数字信号路径108中，可以实现允许在没有基于反馈的技术的情况下修改数字信号路径108中的数字输入信号102并且保持线性的数字处理。具体地，可以执行前馈预失真，以向放大器110馈送考虑了影响放大器110的失真的预失真信号。
为了实现前馈预失真，数字信号路径108可以包括数字信号调节器111，数字信号调节器111可以处理数字输入信号102以获得数字输入信号102的数字预失真版本118。数字信号调节器111可以被实现为例如数字信号处理器DSP中的功能块。数字信号调节器111可以执行数字输入信号102的前馈预失真。数字输入信号102的数字预失真版本118可以(例如，通过数字至RF转换器140)被转换成模拟版本142。因此，可以向放大器110馈送数字输入信号102的预失真的模拟版本142。
数字信号调节器111可以处理数字信号路径108中的数字输入信号102，以将关于数字输入信号102的幅度信息映射到数字输入信号102的预失真版本118的预失真符号上。例如，数字输入信号102的幅度越大，预失真越强，和/或数字输入信号102的幅度越小，预失真越弱。数字输入信号102可以将可变相移施加至数字输入信号102，使得数字输入信号102的预失真版本118相对于数字输入信号102具有不同的相位。数字输入信号102可以将可变增益施加至数字输入信号102，使得数字输入信号102的预失真版本118相对于数字输入信号102具有不同的幅度。
数字信号调节器111处的预失真可以例如基于由内置电路140提供的失真信息135。失真信息135可以携带与影响放大器110的失真有关的信息，失真信息135使得能够区分放大器110是否受到高失真(因此，需要强的预失真)，或者放大器110是否受到低失真或没有失真(因此，分别需要强预失真、弱预失真或不需要预失真)。可以例如在校准(测试)阶段期间获得失真信息135，可以不定期地(例如，以比数字输入信号102的带宽小得多的频率)执行校准阶段，并且可以以1小时(3600秒)或更长时间的间隔执行校准阶段。
信号调节器111可以通过根据将数字输入信号102的符号映射到预失真版本118的符号上的预失真关系将数字输入信号102转换成预失真版本118来进行操作。预失真关系可以是非线性的。可以根据失真信息135来调节预失真关系。预失真关系可以使得相对大的失真的情况下对数字输入信号102进行相对大的量(amount)的预失真，和/或在相对小的失真的情况下对数字输入信号102进行相对小的量的预失真。预失真关系可以将关于数字输入信号102的幅度信息映射到数字输入信号102的预失真版本118的符号上。预失真关系可以根据失真信息135将关于数字输入信号102的幅度信息映射到相移上。预失真关系可以根据失真信息135将关于数字输入信号102的幅度信息映射到增益上。其他映射是可行的。
为了获得失真信息135，可以执行校准(测试)阶段。图1b示出了使用图1a的元件进行校准的可能实施方式。如图1b所示，可以实现测试信号注入块以用于生成模拟测试输入信号142'。在图1b中，测试信号注入块被表示为与内置测试电路140集成在一起。模拟测试输入信号142'可以被馈送到放大器110。放大器110的输出端处的放大信号104"可以被输入到检测器。这里，检测器被表示为与内置测试电路140集成在一起。因此，内置测试电路140可以确定影响放大器110的预失真。例如，如果放大的输出信号104"明显地不同于模拟测试输入信号142'，则可以确定高失真，如果放大的输出信号104"与模拟测试输入信号142'略有不同，则可以确定低失真。
因此，失真信息135可以提供基于模拟测试输入信号142'的关于失真的信息。例如，失真信息135可以提供与模拟测试输入信号142'和放大的信号104"之间的差异相关联的信息。
测试信号注入块可以在模拟测试输入信号142'的多个幅度中进行扫描，以针对不同的幅度获得不同的失真测量结果。因此，失真信息135可以针对模拟测试输入信号142'的不同幅度提供关于失真的信息。可以实现其他方法。
所获得的失真信息135可以用于定义预失真关系。与预失真关系(例如，将数字输入信号102的幅度映射到预失真版本118的符号上)相关联的幅度信息和/或数据可以存储在查找表LUT中。LUT可以包含可以用于将幅度信息映射成相移调节信号和/或增益调节信号的函数(其可以是非线性函数)。LUT可以包括符号表(星座图)，而根据失真信息135来设置修改。
在获得失真信息135之后，电路装置100可以如图1所示进行操作。幅度信息(例如，存储在LUT中的版本或另一版本)可以由信号调节器111在运行模式下使用。
因此，电路装置以前馈方式进行操作，因为它不需要从放大器104连续获得反馈。
图2示出了内置测试电路的元件的可能实施方式，并且可以实例化根据图1a和图1b的示例。具体地，图2示出了其上可以安装内置测试电路和放大器的集成电路160(其可以是射频集成电路RFIC)。集成电路160可以包括输入端口168(例如，来自可以实现信号调节器111的DSP或另一处理器以获得输入信号102的预失真版本118)和/或输出端口170(例如，朝向天线元件)。RFIC 160可以包括模拟移相器166，模拟移相器166可以例如在处理器(其也可以是DSP)的控制下被控制用于移相，例如，用于波束成形。RFIC 160可以包括放大器110的版本(其可能受到失真)。在一些实现方式中，可以实现其他模拟部件165(这里表示为移相器和放大器)。
集成电路160的一种型式可以包括内置测试电路140。内置测试电路140可以包括测试信号注入块182，以用于生成要馈送到放大器110的模拟测试输入信号142'。内置测试电路140在测试阶段中可以包括检测器180，检测器180可以检测从放大器110下游获得的放大信号104"。检测器180可以输出例如在测试阶段(校准阶段)中获得的失真信息135。锁相环PLL块172可以用于生成定时173，例如要由测试信号注入块182和/或检测器180使用的定时173。
内置测试电路140可以在测试模式(用于执行测试阶段或校准阶段)与运行模式(用于执行操作阶段)之间切换。这里，内置测试设备BITE模式选择器174被表示为通过控制开关176进行选择。当开关闭合时，内置测试电路140可以在测试模式(图1b)下操作。当开关断开时，内置测试电路140可以在运行模式(图1a)下操作。
图3示出了用于实现信号调节器111(例如，图1a的信号调节器)的具体示例。可以例如使用处理器(例如，该处理器可以是DSP)可支配的功能元件来获得信号调节器111。信号调节器111可以包括例如预失真功能件107，预失真功能件107可以处理数字输入信号102以获得数字输入信号102的预失真版本118。可以实现幅度确定器功能件120以获得关于数字输入信号102的当前符号的幅度信息124(例如，幅度)。预失真功能件107可以使用由数字信号映射功能件125提供的映射数据127。映射数据127可以例如通过将数字输入信号102的符号映射到预失真版本118的符号中(例如，可以将幅度信息124映射到预失真版本118的符号中)来实例化预失真关系。信号映射功能件125可以从LUT 144获得映射。LUT 144可以包含基于失真信息135的信号102的符号与其版本112(或者信号102的符号与要施加的相移和/或增益)之间的关系。
上面针对图3的元件107、120和125所讨论的操作通常在运行模式下(图1a；图2，在开关断开的情况下)执行。在测试模式期间(图1b；图2，在开关闭合的情况下)，可以用实例化预失真关系的数据来填充LUT144。
电路装置不必包含一个单一的放大器：可以有若干放大器，每个放大器受到不同的失真。尽管如此，已经注意到，即使使用一个单一的处理器(例如，DSP)来实现信号调节器111，仍然也可以预补偿多个放大器的失真。通常，不同的放大器会受到不同的失真，但是可以针对每个放大器对每个信号进行预失真。在测试模式下，可以简单地通过针对每个放大器重复测试阶段来获得失真信息135，使得失真信息135表现为数据的集合，每个数据都针对一个特定的放大器(例如，针对每个特定的放大器将存在一个LUT)。
图4示出了包括例如多个放大器110(其可以是高频HF放大器、RF放大器或毫米波功率放大器)的装置400(其可以是发送/接收装置)的示例。每个放大器110可以包括在相应的分支408中。通常，不同的放大器110受到不同的非线性的损害。每个分支408可以被独立地控制例如用于波束成形。可以实现信号调节器111的处理器162(例如，DSP)可以控制每个分支408，并且可以向每个放大器110提供预失真信号142。可以针对特定的放大器110处理每个预失真信号142，以针对其特定的失真进行预补偿。因此，不同分支408处的预失真信号142通常彼此不同。可以通过如上所述的技术来生成预失真信号142中的每一个。针对每个分支408，可以实现内置测试电路140。因此，每个分支408可以表现为图2的RFIC 160。失真信息135可以由此被提供到DSP 162。DSP 162可以因此获得要在运行模式下使用的预失真关系。
通过依靠本前馈技术，每个分支408处的每个放大器110被馈送有适于其特定的失真的信号142。不需要针对所有不同的放大器执行一个单一的预失真。因此，以一对一的方式来补偿影响不同的HF功率放大器、RF功率放大器和/或毫米波功率放大器的不同的失真。
此外，可以将一个信号硬件部件(例如，DSP、RF至数字转换器)用于多个放大器。
图5示出了可以例如使用诸如装置400的装置来实现的方法500。
这里假设有N个功率放大器，每个功率放大器都与一个整数i＝[0……N-1]相关联。在步骤502处，选择第一功率放大器0。在步骤504处，例如通过将模拟测试输入信号142'注入第一功率放大器0中、通过检测由放大器0输出的放大信号104"、以及通过针对模拟测试输入信号142'的至少一个幅度确定与放大器0相关联的失真信息135以及更新LUT来针对功率放大器0来执行校准(可以通过在多个值之间通过扫描模拟测试输入信号142'的幅度来重复该过程，例如，以将不同的失真关联到不同的幅度)。在步骤506处，通过更新指数i(例如，诸如i++的运算)来选择随后的功率放大器i+1(例如，1)。在步骤508处，检查最后一个功率放大器N-1是否已经被校准。如果还有其他功率放大器要被校准(“否”，即，i＜N)，则通过重复迭代由步骤504至步骤506形成的循环来执行新的校准。
如果所有的功率放大器均已经被校准(“是”，即i＝N)，则可以开始新的操作阶段。在步骤510处，选择第一功率放大器0。在步骤512处，例如根据在校准中识别的预失真关系(例如，通过从LUT检索数据)对数字输入信号102进行预失真。在步骤516处，选择新的功率放大器i+1(例如，1)。如果还有其他功率放大器待被选择(“否”，i＜N)，则针对随后的功率放大器再次调用步骤514。如果没有其他功率放大器待被选择(“是”，i＝N)，则在步骤518处检查是否到了进行新的校准阶段的时间。如果没到进行新的校准阶段的时间(“否”)，则可以通过重复迭代由步骤512至步骤514形成的循环来执行新的信号调节。如果到了进行新的校准阶段的时间(“是”)，则在步骤502至步骤508处调用新的校准阶段。
图6示出了电路装置600，其可以是电路装置400的示例，并且提供多个输出信号604用于波束成形。通过公共信号源606(其可以是内部的或外部的)来提供公共模拟信号602(其是未示出的数字输入信号的模拟版本)。公共信号源606实现信号调节器111。公共模拟信号602(例如通过分离器/合成器609)被分离成多个模拟信号，每个信号被馈送到不同的通道608(每个通道与图6中的下标1、……4相关联，为简洁起见在文本中未指出)。每个通道608(与相应的信号路径108相关联)包括可能经受失真的放大器610(110)。每个通道608可以包括延迟发生器619，延迟发生器619可以与其他通道的延迟发生器协同操作以控制波束形成。
在测试模式下，可以对每个通道608进行校准例如以确定必要的预失真关系。例如，可以使用如上所讨论的技术。
具体地，在测试模式下，可以由测试信号目标块682(内置测试电路的一部分)而不是由外部源606注入测试公共模拟信号602'(142')而不是公共模拟信号602。检测器640(内置测试电路的一部分)可以用于确定放大的测试信号604'，该放大的测试信号604'可以被提供到RF至数字转换器(例如，RF至数字转换器可以包括ADC)并且被提供到处理器634(其可以被理解为用于实现诸如图2的检测器180的检测器，并且可以是内置测试电路的一部分)。
检测器640可以包括IQ(同相正交)确定器，IQ确定器可以在IQ空间中提供放大的测试信号604'的版本(其可以是模拟的)。IQ确定器可以被配置成：
-将放大的测试信号的版本乘以本地振荡器(LO)信号，以提供放大的测试信号604'的I版本；以及
-将放大的测试信号的延迟版本(延迟90°)乘以LO信号，以提供放大的测试信号604'的Q版本。
放大的测试信号604'的I版本和Q版本可以在RF至数字转换器615处被转换成数字信号，并且被提供到处理器634以用于确定失真信息。仍然可以使用其他类型的检测器。
DC去除滤波器621可以放置在信号源606与分离器/合成器609之间。DC去除滤波器623可以放置在每个放大器610的下游。DC去除滤波器中的至少一个可以是基于变压器的滤波器(在其他示例中可以提供其他类型的滤波器)。
接收线613可以例如各自与通道608并联设置。针对每个通道608，由接收线613和通道608形成的并联可以与相应的延迟发生器619(例如，其下游)串联。
在校准(测试阶段)期间，可以向外部源606通知由处理器634获得的失真信息。因此，外部源606可以(使用信号调节器111)得出将数字输入信号的幅度映射到数字输入信号的预失真版本的符号中的关系。此后，可以将数字输入信号的预失真版本转换成模拟版本602并提供到电路装置600。在一些示例中，外部源606与电路装置600集成在一起。预失真可以基于在校准阶段中获得的失真关系。可以由公共信号源606控制预失真。
值得注意的是，对于多个放大器610，需要单个的RF至数字转换器615和单个的处理器634。在每次校准迭代中，可以校准每个通道608，但是仅使用单个的处理器634和单个的RF至数字转换器615。没有使用基于反馈的技术。
通常，示例可以被实现为具有程序指令的计算机程序产品，当计算机程序产品在计算机上运行时，程序指令被操作以用于执行方法之一。程序指令可以例如存储在机器可读介质上。
其他示例包括存储在机器可读载体上的用于执行本文中描述的方法之一的计算机程序。
因此，换言之，方法的示例是具有下述程序指令的计算机程序，当计算机程序在计算机上运行时，所述程序指令用于执行本文中描述的方法之一。
因此，方法的另一示例是数据载体介质(或数字存储介质或计算机可读介质)，该数据载体介质包括记录在其上的用于执行本文中描述的方法之一的计算机程序。数据载体介质、数字存储介质或记录介质是有形的和/或非暂态的，而不是无形的和暂态的信号。
因此，方法的另一示例是表示用于执行本文中描述的方法之一的计算机程序的数据流或信号序列。该数据流或信号序列可以例如经由数据通信连接例如通过互联网来传送。
另一示例包括执行本文中描述的方法之一的处理装置，例如计算机或可编程逻辑装置。
另一示例包括其上安装有用于执行本文中描述的方法之一的计算机程序的计算机。
另一示例包括将用于执行本文中描述的方法之一的计算机程序(例如，电子地或光学地)传送至接收器的装置或系统。接收器可以例如是计算机、移动装置、存储器装置等。该装置或系统可以例如包括用于将计算机程序传送至接收器的文件服务器。
在一些示例中，可编程逻辑装置(例如，现场可编程门阵列)可以用于执行本文中描述的方法中的一些功能或全部功能。在一些示例中，现场可编程门阵列可以与微处理器协作以执行本文中描述的方法之一。通常，方法可以由任何适当的硬件装置执行。
上面描述的示例仅是用于说明上面讨论的原理。应当理解，本文中描述的装置和细节的修改和变化将是明显的。因此，旨在由未决的权利要求书的范围来限制而不是由通过本文中的示例的描述和说明所呈现的具体细节来限制。
在本说明书中，即使在不同的附图中出现，也由相同或等同的附图标记表示相同或等同的元件或具有相同或等同功能的元件。

Claims (19)

1.一种用于波束成形的电路装置，所述电路装置包括：
公共信号源(606)，其用于根据数字输入信号(102)提供公共模拟信号(602)；
多个放大器(610)，其用于放大作为所述公共模拟信号(602)的分离版本的分离信号；
内置测试电路(140)，其被配置成提供与影响所述多个放大器(610)的失真相关联的失真信息(135)，
其中，所述公共信号源(606)实现信号调节器(111)以在所述数字输入信号(102)的信号路径(108)中根据预失真关系执行所述数字输入信号(102)的前馈预失真，所述预失真关系将所述数字输入信号(102)映射到预失真版本(118)上，
其中，所述信号调节器(111)被配置成根据所述失真信息(135)来调节所述预失真关系。
2.根据权利要求1所述的电路装置，其中，所述预失真关系将关于所述数字输入信号(102)的幅度信息映射到所述数字输入信号(102)的所述预失真版本(118)的预失真符号上。
3.根据权利要求1所述的电路装置，
其中，所述信号调节器(111)被配置成根据所述预失真关系将可变相移施加至所述数字输入信号(102)，
其中，所述信号调节器(111)被配置成根据所述失真信息(135)来调节所述预失真关系，使得所述预失真关系根据所述失真信息(135)将关于所述数字输入信号(102)的幅度信息映射到相移上。
4.根据权利要求1所述的电路装置，
其中，所述信号调节器(111)被配置成根据所述预失真关系将增益施加至所述数字输入信号(102)，
其中，所述信号调节器(111)被配置成根据所述失真信息(135)来调节所述预失真关系，使得所述预失真关系根据所述失真信息(135)将关于所述数字输入信号(102)的幅度信息映射到增益上。
5.根据权利要求1所述的电路装置，其中，所述预失真关系是非线性的。
6.根据权利要求1所述的电路装置，其中，所述内置测试电路(140)被配置成确定每个放大器(610)的输出端处的放大的测试信号(604')以得出所述失真信息(135)。
7.根据权利要求1所述的电路装置，
还包括测试注入块，所述测试注入块被配置成注入具有可设置幅度的信号(602')以针对在所述放大器(610)的输出端处的信号(604)测量失真信息(135)。
8.根据权利要求1所述的电路装置，其被配置成在测试模式与运行模式之间切换，以在所述测试模式下测量失真信息(135)和/或确定将所述数字输入信号(102)映射到所述数字输入信号(102)的分离预失真版本上的关系。
9.根据权利要求1所述的电路装置，其中，所述信号调节器(111)被配置成：
在所述数字输入信号(102)的幅度相对大的情况下，对所述数字输入信号(102)进行相对大的量的预失真；和/或
在所述数字输入信号(102)的幅度相对小的情况下，对所述数字输入信号(102)进行相对小的量的预失真。
10.根据权利要求1所述的电路装置，其中，所述信号调节器(111)被配置成应用所述预失真关系使得：
在相对大的失真的情况下，对所述数字输入信号(102)进行相对大的量的预失真；和/或
在相对小的失真的情况下，对所述数字输入信号(102)进行相对小的量的预失真。
11.根据权利要求1所述的电路装置，其中，根据特定的预失真关系独立地控制每个放大器(610)。
12.根据权利要求11所述的电路装置，其被配置成重复多个测试迭代以在每个测试迭代中针对所述多个放大器中的一个放大器(610)测量失真信息和/或确定所述预失真关系。
13.根据权利要求1所述的电路装置，其中，所述信号调节器(111)被实现在数字信号处理器DSP中。
14.根据权利要求1所述的电路装置，还包括集成电路(160)，每个放大器(610)和所述内置测试电路(140)被安装在所述集成电路(160)上。
15.根据权利要求1所述的电路装置，还包括连接到所述多个放大器(610)的单个RF至数字转换器(615)以在测试模式下转换从每个放大器(610)获得的放大的测试信号(604')。
16.一种发送/接收装置(300，400)，包括根据权利要求1至15中任一项所述的电路装置以及可操作地连接到放大器(610)的多个天线元件。
17.一种用于波束成形的方法，所述方法包括：
针对多个放大器(610)中的每个放大器执行校准(504)以获得与损害所述多个放大器(610)的失真有关的失真信息(135)；
根据在所述校准时获得的失真信息(135)通过对数字输入信号(102)依次分离并且在所述放大器(610)处放大来数字地调节(512)所述数字输入信号(102)以操作所述多个放大器(610)。
18.根据权利要求17所述的方法，其中，在电路装置(600)的初始化时和/或当所述电路装置(600)被接通时和/或周期性地执行所述校准。
19.一种存储指令的非暂态存储单元，当所述指令由处理器(162)执行时使所述处理器执行根据权利要求17或18所述的方法。
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