CN111162974A - 可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法，所述的系统包括上位机、交换机以及待测试的二取二硬件平台，所述的上位机通过交换机分别与各待测试的二取二硬件平台连接；所述的上位机设有待测平台的板卡配置模块，用于对各待测平台的板卡进行测试前的配置。与现有技术相比，本发明具有高效节能，提高产量，有效防止误操作，降低操作人员的培训成本等优点。

Description

可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法

技术领域

本发明涉及硬件设备的老化测试技术，尤其是涉及一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法。

背景技术

二取二硬件平台，采用CPCI架构，由VLE-2、DVCOM-2、VPS-2、I/OBUS-2等多块板卡组成。其中VLE-2是安全逻辑运算板，DVCOM-2是安全通信板、VPS-2是安全校核板、I/OBUS-2是IO总线板，其他板卡，如I/OBE2、VIIB16、VOOB8均作为辅助测试板使用。二取二硬件平台结构如图1所示。

老化测试可以帮助硬件平台产品用较短的时间通过浴盆曲线，在出厂前筛选出易失效的板卡，提高产品可靠性。二取二硬件平台需要至少高温老化48小时。在产品进行高温老化前，需要通过功能测试。功能测试系统虽然也能够有效测试出故障点，并用于老化测试，单存在如下缺点：

1)测试项目：仅支持单板或单套二取二硬件平台，无法同时测试多套产品，影响产能提高；

2)用户接口：用户界面复杂，适合开发人员检测故障，但对生产技术员不友好，容易误操作。不支持对二取二硬件平台进行配置，所有板卡仅能在默认配置下使用。

3)测试扩展性：仅能支持某一板卡的单一版本，如果该板卡小版本升级，功能测试系统将无法适配；

4)辅助测试：测试信息显示更侧重板卡模块，对于长时间的拷机测试，无效测试信息容易淹没有效信息，不便于识别错误。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，包括上位机、交换机以及待测试的二取二硬件平台，所述的上位机通过交换机分别与各待测试的二取二硬件平台连接；

所述的上位机设有待测平台的板卡配置模块，用于对各待测平台的板卡进行测试前的配置。

优选地，所述的上位机设有用户界面，该用户界面用于选择待测试的平台，填写测试人员、测试时长信息，发起系统握手，并开启测试。

优选地，所述的上位机中设有用于保存测试日志文件和报告文件的存储器，其中日志文件用于辅助定位故障点和故障原因，报告文件作为老化测试通过与否的证据。

优选地，所述的上位机与待测试的二取二硬件平台采用C/S通信模式，其中上位机作为客户端，待测试的二取二硬件平台作为服务器端。

优选地，所述的待测试的二取二硬件平台最多为4台。

优选地，所述的待测试的二取二硬件平台包括均运行有下位机测试软件的VLE-2板和DVCOM-2板，其中下位机测试软件等待并解析上位机发起的各种测试请求，包括开始握手、系统配置、开始测试、结束测试、板卡复位、恢复配置。

优选地，所述的上位机通过通信协议与待测试的二取二硬件平台通信，其中通信协议以UDP协议为基础，并优化了功能测试通信协议的部分内容。

一种采用所述的可配置的二取二硬件平台老化测试系统的测试方法，包括以下步骤：

1)待测系统信息输入：根据不同待测平台，选择各个板卡及其版本，输入其对应的序列号；

2)系统配置过程：在进行老化测试前，对各个平台中的板卡进行配置，老化测试系统中，所有相同名称的板卡默认都使用相同的配置；

3)老化测试过程：在上位机用户界面，选择带测试的系统，填写测试人员、测试时长信息，发起系统握手，并开启测试；测试过程中，上位机向各个板卡下位机软件请求测试状态信息，并同步保存到日志文件和报告文件中；

4)配置恢复过程：测试结束以后，将所有修改过配置的板卡，恢复为默认配置，以便进行下一道工序。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

1)本发明老化测试系统采用系统配置和系统配置恢复的方式，最多可以支持4套二取二硬件平台同时测试，测试方法与现场实际使用场景相近。充分利用高温老化房的空间，高效节能，提高产量。

2)本发明老化测试系统用户界面简洁、易操作，有效防止误操作，降低操作人员的培训成本。

3)本发明老化测试系统扩展性强，测试相同名称不同版本的板卡时，只需要修改上位机软件的配置文件，即可使新增版本硬件与老化测试系统相匹配，不需要二次开发。

4)本发明老化测试系统支持实时监测系统运行信息。系统功能正常时，系统静默，无任何显示信息，防止信息泛滥；系统发现故障后，高亮标红提示错误系统和错误板卡，并按系统为单位，保存测试日志和测试报告，操作人员检索信息更加方便快捷。

5)本发明老化测试系统支持长时间拷机测试，最长可达1年，对于需要长期老化测试的系统，更具有使用优势。

附图说明

图1为二取二硬件平台结构图；

图2为本发明老化测试系统的结构示意图；

图3为老化测试系统C/S模式典型通信过程示意图；

图4为老化测试系统用户界面示意图；

图5为系统配置及系统配置恢复过程操作界面示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本发明保护的范围。

本发明中，计算机软件通过网络与最多4套二取二硬件平台进行通信。

老化测试系统的网络拓扑图如图2所示。在PC机上实现上位机软件，作为用户界面。用户在进行老化测试时，需要按照如下几个过程进行：

待测系统信息输入：根据不同系统，选择各个板卡及其版本，输入其对应的序列号。

系统配置过程：在进行老化测试前，对各个系统中的板卡进行配置。老化测试系统中，所有相同名称的板卡默认都使用相同的配置，如，使用相同的网络IP地址。以VLE-2为例，如图2所示，在老化测试系统中共有4块VLE-2板，在实际测试发起前，必须先按照既定的规则，为这4块VLE-2板配置不同的IP地址，否则老化测试无法正常开展。

老化测试过程：在上位机用户界面，选择带测试的系统，填写测试人员、测试时长等信息，发起系统握手，并开启测试。测试过程中，上位机向各个板卡下位机软件请求测试状态信息，并同步保存到日志文件和报告文件中。日志文件用于辅助定位故障点和故障原因，报告文件作为老化测试通过与否的证据。

配置恢复过程：测试结束以后，将所有修改过配置的板卡，恢复为默认配置，以便进行下一道工序。

在每块VLE-2和DVCOM-2板上，都运行着老化测试系统的下位机软件。下位机软件作为服务器，等待并解析上位机发起的各种测试请求，如，开始握手、系统配置、开始测试、结束测试、板卡复位、恢复配置等。

老化测试系统支持的测试项目，如表1所示。

表1

老化测试系统以UDP协议为基础，优化了功能测试通信协议的部分内容。该协议的格式和指令，如表2和表3所示。

表2

其中修改类型、子类型、数据长度和数据，可以实现不同的控制命令。

表3

子类型明确后，不同的数据和长度均有不同的含义。

老化测试系统采用C/S通信模式，PC上位机是客户端，各个系统中各板卡的下位机是服务器端。老化测试系统满配时，一个客户端需要与4套硬件平台的16个服务器同时通信。典型的通信过程，如图3所示。

老化测试系统用户界面，如图4所示。

1)待测系统信息输入及系统握手：填写各系统板卡的SN编号，输入测试时长、测试人员等信息，并根据待测二取二硬件平台的数量，勾选对应系统编号，进行系统握手。

2)系统配置：所有板卡默认与系统1的配置兼容，勾选待设置系统编号和对应的板卡类型，进行系统配置。配置过程的日志信息可以显示在用户界面上。系统配置操作，如图5所示。

3)老化测试系统开始测试：成功配置各个系统，并成功握手之后，可以进行老化测试系统测试。测试信息周期性刷新，如果无错误，用户界面无任何显示；如果有错误，则高亮标红对应的故障板卡，同时在显示测试故障信息。测试日志和测试报告，每30s在后台更新，并同步保存在PC机中的指定目录中。当系统测试时间达到预设的测试时间时，系统自动停止，并强制更新测试日志和测试报告。

4)配置恢复：“系统配置”过程的反向操作。

5)测试停止：测试完成后，如果测试报告显示通过，将4种不同配置的系统，全部恢复到各板卡的默认配置；如果测试不通过，则将故障板卡返回到老化测试的上一个工序。

根据此发明中描述的设计方案实现的可配置的二取二硬件平台老化测试系统，符合预期设计目标，完成产品验收，并在实际使用中运行稳定可靠，广受好评。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，包括上位机、交换机以及待测试的二取二硬件平台，所述的上位机通过交换机分别与各待测试的二取二硬件平台连接；

所述的上位机设有待测平台的板卡配置模块，用于对各待测平台的板卡进行测试前的配置。

2.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机设有用户界面，该用户界面用于选择待测试的平台，填写测试人员、测试时长信息，发起系统握手，并开启测试。

3.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机中设有用于保存测试日志文件和报告文件的存储器，其中日志文件用于辅助定位故障点和故障原因，报告文件作为老化测试通过与否的证据。

4.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机与待测试的二取二硬件平台采用C/S通信模式，其中上位机作为客户端，待测试的二取二硬件平台作为服务器端。

5.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的待测试的二取二硬件平台最多为4台。

6.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的待测试的二取二硬件平台包括均运行有下位机测试软件的VLE-2板和DVCOM-2板，其中下位机测试软件等待并解析上位机发起的各种测试请求，包括开始握手、系统配置、开始测试、结束测试、板卡复位、恢复配置。

7.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机通过通信协议与待测试的二取二硬件平台通信，其中通信协议以UDP协议为基础，并优化了功能测试通信协议的部分内容。

8.一种采用权利要求1所述的可配置的二取二硬件平台老化测试系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)待测系统信息输入：根据不同待测平台，选择各个板卡及其版本，输入其对应的序列号；

2)系统配置过程：在进行老化测试前，对各个平台中的板卡进行配置，老化测试系统中，所有相同名称的板卡默认都使用相同的配置；

3)老化测试过程：在上位机用户界面，选择带测试的系统，填写测试人员、测试时长信息，发起系统握手，并开启测试；测试过程中，上位机向各个板卡下位机软件请求测试状态信息，并同步保存到日志文件和报告文件中；

4)配置恢复过程：测试结束以后，将所有修改过配置的板卡，恢复为默认配置，以便进行下一道工序。

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