CN111141922B - 一种样品转换器以及样品位校偏方法 - Google Patents
一种样品转换器以及样品位校偏方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111141922B CN111141922B CN201911265150.4A CN201911265150A CN111141922B CN 111141922 B CN111141922 B CN 111141922B CN 201911265150 A CN201911265150 A CN 201911265150A CN 111141922 B CN111141922 B CN 111141922B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sample
- correction
- deviation
- electrode frame
- converter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/04—Details of the conveyor system
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Abstract
一种样品转换器,包括传感器支架和样品盘,样品盘上设有多个均匀分布的用于放置样品杯的样品杯托,传感器支架用于设置传感器,样品盘可以沿圆周运动,使得样品杯运动到所述传感器0号位下方,其特征在于,所述样品转换器包括存储器;以及耦合到所述存储器的处理器,该处理器被配置为执行存储在所述存储器中的指令,所述处理器执行以下操作:样品位的角度和沿样品盘半径位移校偏,样品转换器正常工作,其中,所述样品位的角度校偏过程包括,0号位自检,反复调整样品位的转动角度的偏差量,直到调整到位;所述样品位的半径位移校偏过程包括,传感器支架自检,反复调整样品位的沿样品盘半径位移偏差量,直到调整到位。
Description
技术领域
本发明属于仪器分析技术领域,特别涉及一种样品转换器以及样品位校偏方法。
背景技术
样品转换器在分析仪器中是常用的部件,是一种可以按要求自动切换样品的实验室辅助装置。样品转换器的杯子位置与电极架位置必须相对固定,需要精确定位。在实际应用中,由于机械加工误差、材料变形、不同部件的安装组合误差,会导致样品杯位置与电极架位置发生偏差,产生对不准的情况,直接影响样品转换器的使用,经常发生溶液溅出、影响测量精度等问题。
按照现有的解决方法,对样品转换器要反复拆卸、反复安装、反复调试,直到样品杯与电极架的中心位置对准,非常麻烦。一旦某个零件需要更换,有可能面临再一次的拆卸、安装调试过程。
发明内容
本发明实施例提供了一种样品转换器,目的在于解决现有的样品转换器的样品位精确对位非常困难复杂的难题。
本发明实施例之一,一种样品转换器,包括传感器支架和样品盘,样品盘上设有多个均匀分布的用于放置样品杯的样品杯托,传感器支架用于设置传感器,样品盘可以沿圆周运动,使得样品杯运动到所述传感器0号位下方。所述样品转换器包括存储器;以及耦合到所述存储器的处理器,该处理器被配置为执行存储在所述存储器中的指令,所述处理器执行以下操作:
样品位的角度和沿样品盘半径位移校偏,
样品转换器正常工作,其中
所述样品位的角度校偏过程包括,
0号位自检,
反复调整样品位的转动角度的偏差量,直到调整到位;
所述样品位的半径位移校偏过程包括,
传感器支架自检,
反复调整样品位的沿样品盘半径位移偏差量,直到调整到位。
本发明实施例在样品转换器安装完成后,利用软件校正技术,校正偏差量。样品转换器在正常运行时,处理器自动按校正的偏移量进行反向补偿,就可以很好的解决这个问题,大大降低人工。
附图说明
通过参考附图阅读下文的详细描述,本发明示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中,以示例性而非限制性的方式示出了本发明的若干实施方式,其中:
图1根据本发明实施例之一的样品转换器结构示意图。
图2根据本发明实施例之一的角度偏差校正流程示意图。
图3根据本发明实施例之一的距离偏差校正流程示意图。
图4根据本发明实施例之一的样品转换器工作时偏差校正流程示意图。
1——传感器支架,2——0号位,3——样品杯托,4——样品盘
具体实施方式
根据一个或者多个实施例,样品转换器包括处理器、存储器和样品盘,样品盘上分成里外两圈均匀分布有多个样品杯托,样品杯托呈圆形,相当于一个很大的圆盘上面有多个固定位置的圆孔。样品转换器在工作时,样品盘作圆周运动。
样品转换器还包括传感器支架,该传感器支架上可以设置一个电极架,电极架用来放置电极、搅拌器等设备。电极架形状相当于一个圆环,在传感器支架上可以作前后移动。
样品转换器正常运行时,当样品盘转动到某个样品位时,这个样品杯的圆中心位置必须与电极架的圆中心位置对齐。从现有的样品转换器机械结构看,这里存在两个偏差,一个是转动偏差(从角度偏差分析)、一个是距离偏差(从半径方向分析)。
为了解决现有结构中的偏差,本实施例的解决方案分两步实现:偏差校正过程、正常运行过程。其中
偏差校正过程是,利用PC机通信连接样品转换器,在PC端运行一段调试校正软件,通过相关命令,写入补偿量,反复控制样品转换器的转动、前后运动。当样品转换器运动到准确位置时,保存校正量,即完成校正工作。
正常运行过程是,样品转换器自动按照校正量,计算补偿位置偏差值,得到运行的真实值,即可运行到正确位置,解决机械安装偏差问题。
可以只校正0号位的中心偏差,如果有必要,也可以校正所有样品杯的位置。0号位为对应传感器支架方向的电极架下的位置。这里的0号位也是电极架的清洗位,用于清洗电极。进样首次启动就是以此为依据,增加判断、补偿的依据。
根据一个或者多个实施例,偏差校正过程包括角度偏差的校正和距离偏差的校正。
角度偏差的校正,利用PC机连接样品转换器,在PC端运行一段调试校正软件,通过相关命令,写入补偿量,反复控制样品转换器的转动、前后运动,当样品转换器运动到准确位置时,即完成校正工作。具体过程包括,
第一步,样品转换器连接PC机;
第二步,PC机发送转动命令。样品转换器开始转动,由0号位限位开关的状态变化判断起始位置,这个过程叫0号位自检。
第三步,操作人员按实际情况,设置转动需要的偏差量(补偿量),再次发送转动命令。样品转换器自动按新的转动偏差量计算下一次的运动量,重复这个过程,直到转动角度偏差减小到合适的程度。具体流程如图2所示。
距离偏差的校正,具体过程包括,
第一步,操作人员在PC机上发送后退命令。样品转换器开始后退到底,由电极架位置的状态变化判断,这个过程叫电极架自检。
第二步,按实际电极架与0号位样品杯的偏差,设置电极架前进、后退的运动量,发送命令。样品转换器按设定的运动量调整电极架。重复这个过程,直到电极架的中心偏差减小到合适的程度。
第三步,校正完毕,发送相关命令,保存校正量。具体流程如图3所示。
根据一个或者多个实施例,样品转换器的正常运行过程包括,
第一步,样品转换器正常启动后,完成自检,等待进一步命令;
第二步,接收到转动命令后,样品转换器按以下流程运行。
1、样品转换器控制电极架后退,检测电极架位置限位开关状态变化判断电极架是否到位,完成电极架自检
2、按电极架的距离偏差,计算补偿量,电极架前进到合适位置,完成距离校正,即距离偏差校正完成。
3、样品转换器开始转动,判断0号位限位开关的状态变化,确定起始位置,完成0号位自检。
4、按要求的样品号位置、校正的转动偏差量,计算要求的真实转动量。
5、控制样品转换器转动上述转动量,完成样品位的定位。
值得说明的是,虽然前述内容已经参考若干具体实施方式描述了本发明创造的精神和原理,但是应该理解,本发明并不限于所公开的具体实施方式,对各方面的划分也不意味着这些方面中的特征不能组合,这种划分仅是为了表述的方便。本发明旨在涵盖所附权利要求的精神和范围内所包括的各种修改和等同布置。
Claims (2)
1.一种样品转换器,包括传感器支架和样品盘,样品盘上设有多个均匀分布的用于放置样品杯的样品杯托,传感器支架用于设置传感器,样品盘可以沿圆周运动,使得样品杯运动到所述传感器0号位下方,其特征在于,所述样品转换器包括:
存储器;以及耦合到所述存储器的处理器,该处理器被配置为执行存储在所述存储器中的指令,所述处理器执行以下操作,包括偏差校正过程和正常运行过程:
偏差校正过程包括角度偏差的校正和距离偏差的校正;
所述角度偏差的校正为:利用PC机连接样品转换器,在PC端运行一段调试校正软件,通过相关命令,写入补偿量,反复控制样品转换器的转动、前后运动,当样品转换器运动到准确位置时,即完成校正工作,具体过程包括:
第一步,样品转换器连接PC机;
第二步,PC机发送转动命令,样品转换器开始转动,由0号位限位开关的状态变化判断起始位置,这个过程叫0号位自检;
第三步,操作人员按实际情况,设置转动需要的偏差量,再次发送转动命令,样品转换器自动按新的转动偏差量计算下一次的运动量,重复这个过程,直到转动角度偏差减小到合适的程度;
所述距离偏差的校正,具体过程包括:
第一步,操作人员在PC机上发送后退命令,样品转换器开始后退到底,由电极架位置的状态变化判断,这个过程叫电极架自检;
第二步,按实际电极架与0号位样品杯的偏差,设置电极架前进、后退的运动量,发送命令,样品转换器按设定的运动量调整电极架,重复这个过程,直到电极架的中心偏差减小到合适的程度;
第三步,校正完毕,发送相关命令,保存校正量;
所述样品转换器的正常工作过程包括:
第一步,样品转换器正常启动后,完成自检,等待进一步命令;
第二步,接收到转动命令后,样品转换器按以下流程运行:
1、样品转换器控制电极架后退,检测电极架位置限位开关状态变化判断电极架是否到位,完成电极架自检;
2、按电极架的距离偏差,计算补偿量,电极架前进到合适位置,完成距离校正,即距离偏差校正完成;
3、样品转换器开始转动,判断0号位限位开关的状态变化,确定起始位置,完成0号位;
4、按要求的样品号位置、校正的转动偏差量,计算要求的真实转动量;
5、控制样品转换器转动上述转动量,完成样品位的定位。
2.一种样品转换器样品位校偏方法,用于如权利要求1所述的一种样品转换器,其特征在于,包括偏差校正过程和正常运行过程,所述偏差校正过程包括角度偏差的校正和距离偏差的校正,所述角度偏差的校正为:利用PC机连接样品转换器,在PC端运行一段调试校正软件,通过相关命令,写入补偿量,反复控制样品转换器的转动、前后运动,当样品转换器运动到准确位置时,即完成校正工作,具体过程包括:
第一步,样品转换器连接PC机;
第二步,PC机发送转动命令,样品转换器开始转动,由0号位限位开关的状态变化判断起始位置,这个过程叫0号位自检;
第三步,操作人员按实际情况,设置转动需要的偏差量,再次发送转动命令,样品转换器自动按新的转动偏差量计算下一次的运动量,重复这个过程,直到转动角度偏差减小到合适的程度;
所述距离偏差的校正,具体过程包括:
第一步,操作人员在PC机上发送后退命令,样品转换器开始后退到底,由电极架位置的状态变化判断,这个过程叫电极架自检;
第二步,按实际电极架与0号位样品杯的偏差,设置电极架前进、后退的运动量,发送命令,样品转换器按设定的运动量调整电极架,重复这个过程,直到电极架的中心偏差减小到合适的程度;
第三步,校正完毕,发送相关命令,保存校正量;
所述样品转换器的正常工作过程包括:
第一步,样品转换器正常启动后,完成自检,等待进一步命令;
第二步,接收到转动命令后,样品转换器按以下流程运行:
1、样品转换器控制电极架后退,检测电极架位置限位开关状态变化判断电极架是否到位,完成电极架自检;
2、按电极架的距离偏差,计算补偿量,电极架前进到合适位置,完成距离校正,即距离偏差校正完成;
3、样品转换器开始转动,判断0号位限位开关的状态变化,确定起始位置,完成0号位;
4、按要求的样品号位置、校正的转动偏差量,计算要求的真实转动量;
5、控制样品转换器转动上述转动量,完成样品位的定位。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911265150.4A CN111141922B (zh) | 2019-12-11 | 2019-12-11 | 一种样品转换器以及样品位校偏方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911265150.4A CN111141922B (zh) | 2019-12-11 | 2019-12-11 | 一种样品转换器以及样品位校偏方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111141922A CN111141922A (zh) | 2020-05-12 |
CN111141922B true CN111141922B (zh) | 2024-01-16 |
Family
ID=70518002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201911265150.4A Active CN111141922B (zh) | 2019-12-11 | 2019-12-11 | 一种样品转换器以及样品位校偏方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111141922B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6061120A (en) * | 1997-12-29 | 2000-05-09 | Shimadzu Corporation | Infrared microscope |
US6107771A (en) * | 1997-03-21 | 2000-08-22 | Fanuc Ltd. | Move command correction method and servo control system with correction of move command |
US6324251B1 (en) * | 1998-12-25 | 2001-11-27 | Shimadzu Corporation | Fluorescent x-ray analyzer including detection signal correction based on position variation |
CN1936589A (zh) * | 2005-09-21 | 2007-03-28 | 霍夫曼-拉罗奇有限公司 | 精确定位移液机构的方法和装置 |
CN110514857A (zh) * | 2019-07-30 | 2019-11-29 | 安徽皖仪科技股份有限公司 | 一种自动进样器的样品瓶定位方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6526364B2 (en) * | 2000-01-19 | 2003-02-25 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for measuring roundness |
-
2019
- 2019-12-11 CN CN201911265150.4A patent/CN111141922B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6107771A (en) * | 1997-03-21 | 2000-08-22 | Fanuc Ltd. | Move command correction method and servo control system with correction of move command |
US6061120A (en) * | 1997-12-29 | 2000-05-09 | Shimadzu Corporation | Infrared microscope |
US6324251B1 (en) * | 1998-12-25 | 2001-11-27 | Shimadzu Corporation | Fluorescent x-ray analyzer including detection signal correction based on position variation |
CN1936589A (zh) * | 2005-09-21 | 2007-03-28 | 霍夫曼-拉罗奇有限公司 | 精确定位移液机构的方法和装置 |
CN110514857A (zh) * | 2019-07-30 | 2019-11-29 | 安徽皖仪科技股份有限公司 | 一种自动进样器的样品瓶定位方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111141922A (zh) | 2020-05-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2253930B1 (en) | Form measuring instrument, and calibration method and calibration program therefor | |
JP5143636B2 (ja) | 自動分析装置 | |
CN101310162A (zh) | 测量头的调节装置 | |
JP5060915B2 (ja) | スタイラス、形状測定機及びパートプログラム | |
CN109204605A (zh) | 利用agv作为运载工具的夹具自动交换装置 | |
CN109590168B (zh) | 倾斜旋转式点胶装置的校准方法 | |
CN111141922B (zh) | 一种样品转换器以及样品位校偏方法 | |
CN105965049B (zh) | 一种采用伺服系统对飞机鸭翼装配定位镗孔的方法 | |
CN109238721B (zh) | 叶片位移校准装置 | |
JP2001201340A (ja) | 真円度測定装置 | |
CN109813357A (zh) | 一种指针仪表的归零算法 | |
CN111707246A (zh) | 一种梁结构拼装所用测量棱镜的定位装置 | |
CN116223721A (zh) | 一种自动监控式的电位滴定仪 | |
CN102500842A (zh) | 微机螺纹磨床自动校正机构、校正系统及其控制方法 | |
CN112388339A (zh) | 一种连杆转台及其解耦控制方法 | |
CN203132520U (zh) | 活塞压力计工作位置测量及显示装置 | |
CN111230595B (zh) | 一种数控加工中心用孔系自动找正装置 | |
CN112221848B (zh) | 一种点胶方法及点胶设备 | |
CN205833481U (zh) | 一种喷枪角度自动调节系统 | |
CN101329919A (zh) | 一种转台调平方法 | |
CN114859141A (zh) | 球面近场测试系统及测试方法 | |
CN110247148B (zh) | 滤波器的螺杆深度参数调试系统及其方法 | |
CN221097482U (zh) | 数控针阀装置 | |
CN215197832U (zh) | 一种通过单激光实现包衣机喷枪自动调节的装置 | |
JP4908755B2 (ja) | 研削機械の較正方法および再較正方法並びに当該方法を実行するデバイスを有する機械 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |