CN111124786B - 批量检测方法、批量检测装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种批量检测方法、批量检测装置及计算机可读存储介质，该批量检测方法包括：接收针对批量设备的同步上电指令；根据所述同步上电指令确定随机时间段；根据所述随机时间段计时，在计时结束的情况下，启动预设的检测流程；将各个固态硬盘的预设的检测流程的启动时刻错开，避免了因为批量的固态硬盘同时启动预设的检测流程造成的瞬间功耗过大，从而导致总电源功率需求过高，部分固态硬盘的电压波动比较大而不能正常启动或者出现固态硬盘发生故障的情况，有效降低批量固态硬盘启动预设的检测流程时的瞬间功耗，保证了电压的稳定性，保证检测效率的同时提高了批量检测固态硬盘的可靠性。

Description

批量检测方法、批量检测装置及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及固态硬盘量产领域，尤其涉及一种批量检测方法、批量检测装置及计算机可读存储介质。

背景技术

现有技术中固态硬盘SSD通常进行批量生产以提高生产效率，而为了保证批量生产出来的固态硬盘的可靠性，需要对批量生产出来的固态硬盘进行一系列的测试，比如进行RDT(Reliability Demonstration Test，可靠性展示测试)测试以对固态硬盘进行坏块扫描等。

但是，传统情况下在对固态硬盘进行批量坏块扫描时，一般一次性需要对3-4千片固态硬盘同时进行上电操作，而这将产生很大的瞬间功耗，会导致总电源功率需求过高，部分固态硬盘的电压波动会比较大而不能正常启动或者出现固态硬盘发生故障的情况。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种批量检测方法、批量检测装置及计算机可读存储介质，能够避免批量检测固态硬盘过程中瞬间功耗多大的情况，保证检测效率的同时提高检测可靠性。

为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：

一种批量检测方法，包括：

接收针对批量设备的同步上电指令；

根据所述同步上电指令确定随机时间段；

根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种批量检测装置，包括：

接收模块，用于接收针对批量设备的同步上电指令；

确定模块，用于根据所述同步上电指令确定随机时间段；

启动模块，用于根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种批量检测装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现上述的一种批量检测方法的各个步骤。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现上述的一种批量检测方法的各个步骤。

本发明的有益效果在于：在对批量的固态硬盘进行检测时，每个固态硬盘接收到同步上电指令后，会各自等待随机时间段后再启动预设的检测流程，由于各个固态硬盘各自等待的时间段都是随机的，具有不一致性，当接收到同步上电指令时，则相当于将各个固态硬盘的预设的检测流程的启动时刻错开，避免了因为批量的固态硬盘同时启动预设的检测流程造成的瞬间功耗过大，从而导致总电源功率需求过高，部分固态硬盘的电压波动比较大而不能正常启动或者出现固态硬盘发生故障的情况，有效降低批量固态硬盘启动预设的检测流程时的瞬间功耗，保证了电压的稳定性，保证检测效率的同时提高了批量检测固态硬盘的可靠性。

附图说明

图1为本发明实施例的一种批量检测方法的步骤流程图；

图2为本发明实施例的一种批量检测装置的一结构示意图；

图3为本发明实施例的一种批量检测装置的另一结构示意图；

标号说明：

1、一种批量检测装置；2、存储器；3、处理器。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

在本发明实施例提供的批量检测方法，可以用于对存储芯片、手机芯片、平板设备、移动终端等设备进行批量检测，该批量检测的项目包括但是不限于质量检测、读速度检测、写速度检测、坏块检测、ECC检测、可靠性展示测试RDT等，下面以对固态硬盘进行批量检测为例进行进一步地说明，请参照图1，本发明涉及的一种技术方案为：

一种批量检测方法，包括：

接收针对批量固态硬盘的同步上电指令；

根据所述同步上电指令确定随机时间段；

根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程。

由上述描述可知，本发明的有益效果在于：在对批量的固态硬盘进行检测时，每个固态硬盘接收到同步上电指令后，会各自等待随机时间段后再启动预设的检测流程，由于各个固态硬盘各自等待的时间段都是随机的，具有不一致性，当接收到同步上电指令时，则相当于将各个固态硬盘的预设的检测流程的启动时刻错开，解决了因为批量的固态硬盘同时启动预设的检测流程造成的瞬间功耗过大，导致总电源功率需求过高，部分固态硬盘的电压波动比较大而不能正常启动或者出现固态硬盘发生故障的情况，有效降低批量固态硬盘启动预设的检测流程时的瞬间功耗，保证了电压的稳定性，保证检测效率的同时提高了批量检测固态硬盘的可靠性。

进一步的，所述根据所述同步上电指令确定随机时间段包括：

在检测到所述同步上电指令的情况下，根据预设的检测流程启动时间，动态确定一对应的时间范围，根据所述时间范围确定随机时间段。

由上述描述可知，根据预设的检测流程启动时间，动态确定对应的时间范围，并根据确定的时间范围确定对应的随机时间段，能够基于不同的启动时间要求自适应地确定合适的随机时间段，提高了灵活性。

进一步的，所述根据所述时间范围确定随机时间段包括：

利用随机函数根据所述时间范围生成随机值，根据所述随机值确定随机时间段。

进一步的，所述根据所述随机值确定随机时间段包括：

以所述随机值为随机时间段的时间范围，确定所述随机时间段。

进一步的，所述根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程包括：

在接收到所述同步上电指令的情况下，将计时模块置零，开始计时；

当所述计时模块的计时值与所述随机时间段的数值一致时，启动预设的检测流程。

由上述描述可知，通过增加定时模块用于对各个固态硬盘等待的时间进行计时，能够准确的确定各个固态硬盘对应的需要等待的随机时间段，可靠的实现各个固态硬盘检测流程启动时刻的错开，避免由于各个固态硬盘等待时间的不准确性而导致各个固态硬盘检测流程启动时刻的聚集而起不到降低瞬间功耗的目的。

进一步的，所述检测流程包括：

采用单通道模式进行坏块扫描；

在对一通道进行坏块扫描时，控制其余通道处于休眠状态。

由上述描述可知，传统的多通道模式比单通道模式产生的瞬间功耗大许多，但在扫描效率上与单通道模式并没有太多区别，因此选取单通道模式并不会对坏块扫描的速率造成影响，并且还能够降低在对固态硬盘进行坏块扫描过程中产生的瞬间功耗，进一步保证了批量检测固态硬盘的可靠性。

进一步的，所述采用单通道模式进行坏块扫描包括：

通过片选对每一个Flash逐一进行擦除操作。

由上述描述可知，在对固态硬盘进行坏块扫描，比如进行RDT的过程中，在操作Flash时传统的操作方式是对所有的Flash同时进行擦除操作，即固态硬盘在擦除时是多通道并行进行的，单个固态硬盘通过这样的操作并不会出现不良情况，但是，在对固态硬盘进行批量的坏块扫描时，比如同时对3-4千片固态硬盘进行多通道扫描时，会大大增加瞬时功耗，从而导致部分固态硬盘供电不足引起的不运作现象，而通过上述对固态硬盘上的每一个Flash逐一进行擦除操作能够避免对多个Flash同时擦除造成的瞬时功耗过高的问题，不仅在固态硬盘启动坏块扫描程序有效，而且在对固态硬盘的坏块扫描过程中有效降低瞬时功耗，全方位的对在批量固态硬盘进行检测的过程中可能存在的瞬时功耗过大的情况进行控制并降低，充分地保证了进行批量固态硬盘检测的可靠性。

请参照图2，本发明涉及的另一种技术方案为：

一种批量检测装置1，包括存储器2、处理器3及存储在存储器2上并可在处理器3上运行的计算机程序，所述处理器3执行所述计算机程序时实现上述的一种批量检测方法的各个步骤。

请参照图3，本发明涉及的另一种技术方案为：

一种批量检测装置，包括：

接收模块，用于接收针对批量固态硬盘的同步上电指令；

确定模块，用于根据所述同步上电指令确定随机时间段；

启动模块，用于根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程。

进一步的，确定模块具体用于：

在检测到所述同步上电指令的情况下，根据预设的检测流程启动时间动态确定一对应的时间范围，根据所述时间范围确定随机时间段。

进一步的，确定模块具体还用于：

利用随机函数根据所述时间范围生成随机值，根据所述随机值确定随机时间段。

进一步的，确定模块具体还用于：

以所述随机值为随机时间段的时间范围，确定所述随机时间段。

进一步的，启动模块具体用于：

在接收到所述同步上电指令的情况下，将计时模块置零，开始计时；

当所述计时模块的计时值与所述随机时间段的数值一致时，启动预设的检测流程。

进一步的，批量检测装置还包括：

扫描模块，用于采用单通道模式进行坏块扫描，在对一通道进行坏块扫描时，控制其余通道处于休眠状态。

进一步的，扫描模块具体用于：

通过片选对每一个Flash逐一进行擦除操作。

本发明涉及的另一种技术方案为：

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现上述的一种批量检测方法的各个步骤。

实施例一

请参照图1，一种批量检测方法，包括：

S1，接收同步上电指令；

具体的，每一块固态硬盘SSD接收针对批量固态硬盘的同步上电指令，该同步上电指令来自统一对批量的固态硬盘进行控制检测的控制系统，并且被每一块固态硬盘同时接收。具体地，该控制系统可以通过广播的方式向需要进行测试的固态硬盘发送同步上电指令，但是为了保证所有的固态硬盘能够同时接收到该同步上电指令，可以采用电连接形式，即控制系统与每一固态硬盘相连接，并通过一个开关控制与所有待检测的固态硬盘之间的通断，当需要进行上电操作时，控制系统导通该开关，以实现向所有的固态硬盘发送同步上电指令。

S2，根据所述同步上电指令确定随机时间段；

优选的，每一块固态硬盘在接收到同步上电指令的同时确定随机时间段；

S3，根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程；

其中，预设的检测流程可以是RDT程序，通过启动RDT程序对固态硬盘的Flash进行坏块扫描，也可以是其他的检测流程，如读速度检测、写速度检测或者纠错测试等。

具体的，每一块固态硬盘在接收到同步上电指令后，通过内部的随机函数在一预设的时间范围内选择一个数字，作为随机值，以所述随机值作为随机时间段的时间范围，并在等待了确定的随机时间段之后，执行上电操作，启动RDT程序；

每一固态硬盘为了精确地对随机时间段进行监测，每一块固态硬盘在自身结构或者自身程序中增加一个计时模块，在接收到上电指令的一瞬间，固态硬盘在生成该随机时间段的同时，将所述计时模块置零，并开始计时，当所述计时模块的计时值与所述随机时间段的数值一致时，响应预设的检测流程，如启动RDT程序。

由于每一固态硬盘启动RDT程序时的瞬间功耗比较大，而批量的固态硬盘，比如3-4千块固态硬盘同时启动RDT程序时，其产生的瞬间功耗非常高，本实施例中，当批量的固态硬盘同时接收到上电指令时，每块固态硬盘通过在RDT程序启动之前等待一随机时间段后再执行上电操作，由于通过随机函数进行了启动时间的随机化，因此不同固态硬盘的实际启动上电时间就会错开，降低了同时启动上电的固态硬盘的数量，进一步地有效降低了批量固态硬盘启动上电时产生的瞬间功耗，解决了现有技术批量固态硬盘同步上电检测时瞬间功耗过高的问题。

在另一可选的实施方式中，可以令不同固态硬盘对应的所述随机时间段不同，由于通过随机函数确定随机时间段，还是有可能出现随机时间段可能相同的情况，所以为了最大程度的保证对批量固态硬盘进行检测过程中，不会出现扎堆同时启动上电的情况出现，可以具体限制不同固态硬盘对应的随机时间段不同，优选的，还可以进一步限制不同固态硬盘的启动时间差以提供更好的灵活性，这种方式比较适合于小批量固态硬盘的检测，有足够的时间保证不同的固态硬盘错开启动上电的时间；

通过设定不同固态硬盘对应的随机时间段不同，能够将不同固态硬盘的实际检测流程的启动时间完全错开，最大限度的保证瞬间功耗不会过大，使得电压始终保持在一个稳定的范围内，进一步提高了固态硬盘批量检测时的可靠性，特别适合针对小批量固态硬盘的检测。

在另一个可选的实施方式中，可以在经过所述随机时间段之后启动预设的检测流程检测对应组的固态硬盘；

不同固态硬盘组对应的所述随机时间段不同；

具体实现时，可以基于固态硬盘的数量对固态硬盘进行预设数目的分组，每一组配置一个对应的子控制器，各子控制器同时接收到来自控制系统的上电指令后，会通过一随机函数确定对应的随机时间段，然后通过定时器计时，当等待对应的随机时间段后，可以发送启动上电的指令给对应组的固态硬盘，使得对应组的固态硬盘启动上电；

这种方式比较适合于大批量固态硬盘的检测，由于启动时间的限制，无法保证每一固态硬盘的启动上电时间都错开，可以在保证不会产生会造成固态硬盘故障的瞬时功耗的前提下对固态硬盘进行分组；

通过将批量的固态硬盘进行分组，不同组的固态硬盘等待的随机时间段不同，能够避免批量的固态硬盘同时启动预设的检测流程而造成的瞬间电压过大，特别适合针对大批量的固态硬盘的检测，通过分组能够将大批量的固态硬盘缩小化，提高大批量固态硬盘检测效率的同时保证检测的可靠性。在其他实现过程中，为了保证在批量检测的固态硬盘的随机时间段不一样，可以在设置每一固态硬盘在确定随机时间段后，向其他固态硬盘进行问询，根据问询结果修改自身的随机时间段，以实现全部的固态硬盘的随机时间段均不一样。

在另一个可选的实施方式中，固态硬盘在检测到所述同步上电指令的情况下，根据预设的检测流程启动时间动态确定一对应的时间范围，并根据所述时间范围确定随机时间段；

具体的，比如设定要在2min内完成各固态硬盘的上电启动，则可以确定对应的时间范围为0～120s，如果进行检测的是小批量的固态硬盘，则可以针对每块固态硬盘从0～120s范围内随机选取一个数值作为其对应的随机时间段，优选的，可以限制不同固态硬盘对应的随机时间段不同；如果进行检测的是大批量的固态硬盘，则可以先将固态硬盘进行分组，针对每组从0～120s范围内随机选取一个数值作为该组固态硬盘对应的随机时间段，不同组固态硬盘对应的随机时间段不同。

作为另一种可选方式，在控制批量固态硬盘的上电启动时，可以由统一对批量的固态硬盘进行控制检测的控制系统分别针对不同的固态硬盘或者不同组的固态硬盘通过随机函数确定对应的随机时间段，当不同的固态硬盘或不同组的固态硬盘对应的随机时间段计时完成时，则控制系统发送上电指令给对应的固态硬盘或固态硬盘组，则对应的固态硬盘或固态硬盘组根据上电指令立即启动预设的检测流程，比如RDT程序，这样也能够实现不同固态硬盘上电启动时间的错开。

实施例二

本实施例在实施例一的基础上，进一步限定了所述检测流程包括：

采用单通道模式进行坏块扫描；

在对一通道进行坏块扫描时，控制其余通道处于休眠状态；

具体的，以单通道模式对每一通道进行坏块扫描直至全部扫描完成；

所述采用单通道模式进行坏块扫描包括：

通过片选对单个Flash逐一进行擦除操作；

具体的，在RDT操作过程中通过片选对每一个Flash逐一进行擦除操作直至全部擦除完成，在对单个的Flash进行擦除的过程中，其余Flash均处于休眠状态。

在其他实施例中，采用单通道模式进行坏块扫描还可以包括：获取所有通道的工作状态，得到处于空闲工作状态的通道；选取任一所述处于空闲工作状态的通道进行坏块扫描。则所述控制其余通道进入休眠状态包括：控制其他处于空闲工作状态的通道进入休眠状态。具体地，某固态硬盘在接收到同步上电指令后，根据该上电指令确定随机时间段的同时激活计时模块开始计时，当计时模块的计时值与该随机时间段一致时，该固态硬盘执行上电操作，并获取所有读写通道的工作状态，得到处于空闲工作状态的读写通道，固态硬盘进一步选取任意一个处于空闲工作状态的读写通道进行坏块扫描，同时控制其他处于空闲工作状态的读写通道进入休眠状态。需要说明的是，在固态硬盘的测试过程中，所有的读写通道均处于随时待命，虽然此时进行上电操作后所有的读写通道可能均为处于工作状态，但是为了防止出现导致检测流程异常的其他情况，固态硬盘将获取所有的读写通道的工作状态，选择处于空闲工作状态的一个读写通道作为工作通道执行检测流程。在本实施例中，处于空闲工作状态的读写通道和处于休眠状态的读写通道情况不同，处于空闲工作状态的读写通道其依然工作在随时准备进行读写操作的工作状态，只是其当前未进行任何操作，而处于休眠状态表示该读写通道已进行休眠，不进行任何等待的操作，在通过该处于休眠状态的读写通道进行其他操作前，需激活该处于休眠状态的读写通道。

综上所述，本发明提供的一种批量检测方法、批量检测装置及计算机可读存储介质，通过设置随机时间段，在对批量的固态硬盘进行检测的过程中，使得不同固态硬盘预设检测流程的启动上电时间错开，并且在针对每块固态硬盘进行检测的过程中，比如进行坏块扫描的过程中，通过片选对所述固态硬盘上的每一个Flash逐一进行擦除操作直至全部擦除完成，不仅降低了批量固态硬盘上电启动时的瞬间功耗，也降低了在检测过程中出现的固态硬盘各通道同时擦除导致的功耗的显著增加，全方位的避免在对批量的固态硬盘进行检测的过程中出现的功耗过高而导致固态硬盘无法正常启动、出现故障或者由于供电不足引起的不运行的问题，保证检测效率的同时提高了批量检测固态硬盘的可靠性。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法和装置，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个装置，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本发明所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种批量检测方法，其特征在于，包括：

接收针对批量设备的同步上电指令：每一块固态硬盘SSD接收针对批量固态硬盘的同步上电指令，该同步上电指令来自统一对批量的固态硬盘进行控制检测的控制系统，并且被每一块固态硬盘同时接收；

根据所述同步上电指令确定随机时间段：每一块固态硬盘在接收到同步上电指令的同时确定随机时间段；

根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程；

所述根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程包括：

在接收到所述同步上电指令的情况下，将计时模块置零，开始计时；

当所述计时模块的计时值与所述随机时间段的数值一致时，启动预设的检测流程；

每一块固态硬盘在自身结构或者自身程序中增加一个计时模块；

所述检测流程包括：

采用单通道模式进行坏块扫描；

在对一通道进行坏块扫描时，控制其余通道处于休眠状态；

所述采用单通道模式进行坏块扫描包括：

通过片选对每一个Flash逐一进行擦除操作。

2.根据权利要求1所述的一种批量检测方法，其特征在于，所述根据所述同步上电指令确定随机时间段包括：

在检测到所述同步上电指令的情况下，根据预设的检测流程启动时间，动态确定一对应的时间范围，根据所述时间范围确定所述随机时间段。

3.根据权利要求2所述的一种批量检测方法，其特征在于，所述根据所述时间范围确定随机时间段包括：

利用随机函数根据所述时间范围生成随机值，根据所述随机值确定随机时间段。

4.根据权利要求3所述的一种批量检测方法，其特征在于，所述根据所述随机值确定随机时间段包括：

以所述随机值为随机时间段的时间范围，确定所述随机时间段。

5.一种批量检测装置，其特征在于，包括：

接收模块，用于接收针对批量设备的同步上电指令：每一块固态硬盘SSD接收针对批量固态硬盘的同步上电指令，该同步上电指令来自统一对批量的固态硬盘进行控制检测的控制系统，并且被每一块固态硬盘同时接收；

确定模块，用于根据所述同步上电指令确定随机时间段：每一块固态硬盘在接收到同步上电指令的同时确定随机时间段；

启动模块，用于根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程；所述根据所述随机时间段计时，计时结束时，启动预设的检测流程包括：在接收到所述同步上电指令的情况下，将计时模块置零，开始计时；当所述计时模块的计时值与所述随机时间段的数值一致时，启动预设的检测流程；

每一块固态硬盘在自身结构或者自身程序中增加一个计时模块；

所述检测流程包括：

采用单通道模式进行坏块扫描；

在对一通道进行坏块扫描时，控制其余通道处于休眠状态；

所述采用单通道模式进行坏块扫描包括：

通过片选对每一个Flash逐一进行擦除操作。

6.一种批量检测装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1至4中任一项所述的一种批量检测方法的各个步骤。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1至4中任一项所述的一种批量检测方法的各个步骤。