CN111060288A - 偏光片光学性能检测系统及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种偏光片光学性能检测系统，包括旋转台，所述旋转台上驱动设置有标准偏光片，所述标准偏光片两侧分别设置有光源和光学采样装置，所述标准偏光片与所述光学采样装置之间设置有待测偏光片；所述旋转台通过驱动装置驱动转动，所述光学采样装置连接有光谱仪；所述偏光片光学性能检测系统通过供电电源供电。一种便捷式的偏光片光学性能检测系统，有效降低了传统光学检测对人工操作的依赖性。通过检测系统能够有效调节偏光片的状态，进而用于测量偏光片的参数性能。

Description

偏光片光学性能检测系统及其检测方法
技术领域
本发明涉及光学性能检测领域，尤其涉及偏光片检测领域，具体涉及一种偏光片光学性能检测系统及其检测方法。
背景技术
目前的偏光片光学性能检测，在偏光片行业中，检测采用人工内眼手动检测，检测效率低下，检测品质不稳定。本发明的目的在于提供一种高速偏光片光学性能的检测系统，以测量偏光片的偏光度、透光率曲线、透射光谱和光透过偏光片后的色坐标。现有技术采用手动操作进行光学性能检测，容易存在人为的误差。同时依赖人工检测费时费力人工成本大。
因此，需要研发一种便捷式的偏光片光学性能检测系统，有效降低了人工操作的依赖性，通过检测系统能够有效调节偏光片的状态，进而用于测量偏光片的偏光度、透光率曲线、透射光谱和光透过偏光片后的色坐标。
发明内容
本发明克服了现有技术的不足，提供一种便捷式的偏光片光学性能检测系统，有效降低了传统光学检测对人工操作的依赖性。通过检测系统能够有效调节偏光片的状态，进而用于测量偏光片的参数性能。
为达到上述目的，本发明采用的技术方案为：一种偏光片光学性能检测系统，包括旋转台，所述旋转台上驱动设置有标准偏光片，所述标准偏光片两侧分别设置有光源和光学采样装置，所述标准偏光片与所述光学采样装置之间设置有待测偏光片；所述旋转台通过驱动装置驱动转动，所述光学采样装置连接有光谱仪；所述偏光片光学性能检测系统通过供电电源供电。
本发明一个较佳实施例中，所述标准偏光片在驱动马达的作用下能调节标准偏光片与待测偏光片之间的相对偏转角。
本发明一个较佳实施例中，所述待测偏光片通过传送台进行依次传送，所述传送台设置在旋转台与所述光学采样装置之间；且传送台上设置有放置所述待测偏光片的通槽；所述光源、与所述光源对应的通槽、以及所述光学采样装置在同一直线上。
本发明一个较佳实施例中，所述光源外罩设有积分球，所述积分球将光源汇聚后投射至标准偏光片上。
本发明一个较佳实施例中，所述驱动装置包括与所述旋转台驱动连接的马达控制器，以及与所述传送台驱动连接的驱动电机。
本发明一个较佳实施例中，所述偏光片光学性能检测系统还包括工控PC，所述工控PC分别与所述光谱仪、所述驱动装置、所述光源连接；所述光源采用的是LED光源。
本发明一个较佳实施例中，所述工控PC与所述积分球之间还设置有检测电源，所述检测电源由所述工控机调控。
本发明一个较佳实施例中，所述检测电源采用的是脉冲电信号；所述光源采用的是与所述检测电源电连接的LED光源。
本发明一个较佳实施例中，一种偏光片光学性能检测系统的检测方法：
步骤1，上料，将标准偏光片放置在旋转台上，将待侧片光片放置在传送台上；
步骤2，启动检测光源，给光源提供脉冲信号；
步骤3，调整检测角度，通过马达控制器调整旋转台上标准偏光片的偏转角度，从而调节标准偏光片与待测偏光片的相对偏转角；
步骤4，光学采样，通过光学采样装置对应所述待测偏光片，由光学采样装置进行待测偏光片上折射的光源进行光学采样；
步骤5，光学检测，通过光谱仪将光学采样获取的数据进行光学检测。
本发明一个较佳实施例中，光源外罩设有积分球，通过积分球将光源集中投射在标准偏光片上；通过工控PC提供脉冲信号给光源；并工控PC还能提供马达控制器驱动信号，驱动马达控制器控制旋转台动作；工控PC控制驱动传送台传送待测偏光片的驱动电机，驱动电机控制传送台的传送进程，依次传送待测偏光片至标准偏光片上，进行光学新能检测。
本发明解决了背景技术中存在的缺陷，本发明的有益效果：
一种便捷式的偏光片光学性能检测系统，有效降低了传统光学检测对人工操作的依赖性。通过检测系统能够有效调节偏光片的状态，进而用于测量偏光片的参数性能。
不需要不断固定安装待测偏光片，通过调节带侧偏光片进行角度的调节；只需要通过马达控制器调整旋转台上标准偏光片的偏转角度，从而调节标准偏光片与待测偏光片的相对偏转角。提升了检测系统的便捷性和稳定性。使用光谱仪测试可一次测试所有的光学参数。
使用LED脉冲测试，速度更快，光源寿命更长。太阳光LED相比传统卤素灯有更好的光谱分布。
通过积分球将光源投射的光进行汇聚，提升了检测质量。并给光源提供脉冲信号便于光源的投射和检测。使用积分球光源更均匀。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明优选实施例的偏光片光学性能检测系统的结构示意图；
图2是脉冲光源，选取太阳光LED，与传统卤素灯的光谱分布对比图；
图3是单次测试偏转角中分别给光谱仪、传送台、旋转台、光源的脉冲；
图4是太阳光LED和卤素灯在不同波长范围的光强测试跳动；
其中，1-工控PC，2-光谱仪，3-光学采样装置，4-传送台，41-通槽，42-待测偏光片，5-旋转台，51-驱动装置，52-标准偏光片，6-光源，61-积分球，62-检测电源，63-光源投射口；
a-视觉曲线，b-太阳光LED光谱，c-卤素灯光谱，d-光谱仪的测试信号脉冲，e-传送台的传送信号脉冲，f-旋转台的驱动信号脉冲、g-光源的电灯信号脉冲。
具体实施方式
现在结合附图和实施例对本发明作进一步详细的说明，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
如图1~图4所示，研发了一种偏光片光学性能检测系统，旋转台5，旋转台5上驱动设置有标准偏光片52，标准偏光片52下方设置有光源6，以及位于标准偏光片52上方的光学采样装置3，光学采样装置3与光源6相对设置在标准偏光片52的上下两侧，标准偏光片与光学采样装置之间设置有待测偏光片，光源6采用的是LED光源。偏光片光学性能检测系统还包括工控PC，工控PC分别与光谱仪2、驱动装置51、光源6连接，工控PC 1与积分球61之间还设置有检测电源62，检测电源62由工控PC 1调控。驱动装置51包括与旋转台5驱动连接的马达控制器，以及与传送台4上的传送带驱动连接的驱动电机。
旋转台5通过马达控制器驱动转动，光学采样装置3连接有光谱仪2；偏光片光学性能检测系统通过供电电源供电。光源6外罩设有积分球61，积分球61将光源汇聚后投射至标准偏光片52上。标准偏光片52在驱动马达的作用下能调节标准偏光片52与待测偏光片42之间的相对偏转角。
本发明一个较佳实施例中，待测偏光片42通过传送台4上设置的传送带进行依次传送，传送台4设置在旋转台5与光学采样装置3之间；且传送台以及传送带上均设置有通槽41，传送带上放置有正对通槽41的待测偏光片42；光源6、与传送台4上的通槽41，以及传送带对应光源的通槽41、以及光学采样装置3在同一直线上。
本发明一个较佳实施例中，检测电源62采用的是脉冲电信号；光源6采用的是与检测电源62电连接的LED光源。本发明中，LED光源优选太阳光LED。如图2所示，太阳光LED相比传统的卤素灯，太阳光LED可见光范围内的太阳光LED光谱b分布比例比较均匀，亮度视觉曲线a范围内光谱能量比例较高，信噪比高，可提高测试重复精度。如图4所示，太阳光LED和卤素灯在不同波长范围的光强测试跳动；连续测试100次最大最小跳动百分比，太阳光LED稳定性高于卤素灯稳定性。太阳光LED能使用脉冲方式加电，无需长时间点灯，测试速度更快，使用寿命更长，稳定性更高。
本发明一个较佳实施例中，一种偏光片光学性能检测系统的检测方法：
步骤1，上料，工控PC 1提供脉冲信号将标准偏光片52放置在旋转台5上，将待侧片光42片放置在传送台4上的传送带上的通槽41上；
步骤2，启动检测电源62，给光源6提供脉冲信号；
步骤3，调整检测角度，通过马达控制器调整旋转台5上标准偏光片52的偏转角度，从而调节标准偏光片52与待测偏光片42的相对偏转角；
步骤4，光学采样，通过光学采样装置3对应待测偏光片52的标准偏光采样，由光学采样装置3进行待测偏光片上折射的光源进行光学采样；
步骤5，光学检测，通过光谱仪2将光学采样获取的数据进行光学检测。
工作原理：
光源外罩设有积分球，通过积分球将光源集中投射在标准偏光片上；通过工控PC提供脉冲信号给光源；并工控PC还能提供马达控制器驱动信号，驱动马达控制器控制旋转台动作；工控PC控制驱动传送台传送待测偏光片的驱动电机，驱动电机控制传送台的传送进程，依次传送待测偏光片至标准偏光片上，进行光学新能检测。
以上依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定技术性范围。

Claims (10)

1.一种偏光片光学性能检测系统，其特征在于：包括旋转台，所述旋转台上驱动设置有标准偏光片，所述标准偏光片两侧分别设置有光源和光学采样装置，所述标准偏光片与所述光学采样装置之间设置有待测偏光片；所述旋转台通过驱动装置驱动转动，所述光学采样装置连接有光谱仪；所述偏光片光学性能检测系统通过供电电源供电。
2.根据权利要求1所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：所述标准偏光片在驱动马达的作用下能调节标准偏光片与待测偏光片之间的相对偏转角。
3.根据权利要求2所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：所述待测偏光片通过传送台进行依次传送，所述传送台设置在旋转台与所述光学采样装置之间；且传送台上设置有放置所述待测偏光片的通槽；所述光源、与所述光源对应的通槽、以及所述光学采样装置在同一直线上。
4.根据权利要求3所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：所述光源外罩设有积分球，所述积分球将光源汇聚后投射至标准偏光片上；所述光源采用的是LED光源。
5.根据权利要求4所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：所述驱动装置包括与所述旋转台驱动连接的马达控制器，以及与所述传送台驱动连接的驱动电机。
6.根据权利要求1所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：所述偏光片光学性能检测系统还包括工控PC，所述工控PC分别与所述光谱仪、所述驱动装置、所述光源连接。
7.根据权利要求6所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：所述工控PC与所述积分球之间还设置有检测电源，所述检测电源由所述工控机调控。
8.根据权利要求7所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：所述检测电源采用的是脉冲电信号；所述光源采用的是与所述检测电源电连接的LED光源。
9.权利要求1~8中任一权利要求所述的偏光片光学性能检测系统的检测方法，其特征在于：
步骤1，上料，将标准偏光片放置在旋转台上，将待侧片光片放置在传送台上；
步骤2，启动检测光源，给光源提供脉冲信号；
步骤3，调整检测角度，通过马达控制器调整旋转台上标准偏光片的偏转角度，从而调节标准偏光片与待测偏光片的相对偏转角；
步骤4，光学采样，通过光学采样装置对应所述待测偏光片，由光学采样装置进行待测偏光片上折射的光源进行光学采样；
步骤5，光学检测，通过光谱仪将光学采样获取的数据进行光学检测。
10.根据权利要求9所述的偏光片光学性能检测系统，其特征在于：光源外罩设有积分球，通过积分球将光源集中投射在标准偏光片上；通过工控PC提供脉冲信号给光源；并工控PC还能提供马达控制器驱动信号，驱动马达控制器控制旋转台动作；工控PC控制驱动传送台传送待测偏光片的驱动电机，驱动电机控制传送台的传送进程，依次传送待测偏光片至标准偏光片上，进行光学新能检测。
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