CN110926327B - Oct光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质 - Google Patents

Oct光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质 Download PDF

Info

Publication number
CN110926327B
CN110926327B CN201911366578.8A CN201911366578A CN110926327B CN 110926327 B CN110926327 B CN 110926327B CN 201911366578 A CN201911366578 A CN 201911366578A CN 110926327 B CN110926327 B CN 110926327B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
noise ratio
light attenuation
maximum value
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201911366578.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110926327A (zh
Inventor
王正义
明良裕
胡聪
孙杰
吴振英
冯庆宇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Agesi Technology Co ltd
Original Assignee
Wuhan Agesi Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Agesi Technology Co ltd filed Critical Wuhan Agesi Technology Co ltd
Priority to CN201911366578.8A priority Critical patent/CN110926327B/zh
Publication of CN110926327A publication Critical patent/CN110926327A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110926327B publication Critical patent/CN110926327B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/0209Low-coherence interferometers
    • G01B9/02091Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0012Optical design, e.g. procedures, algorithms, optimisation routines
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T11/002D [Two Dimensional] image generation
    • G06T11/003Reconstruction from projections, e.g. tomography
    • G06T11/005Specific pre-processing for tomographic reconstruction, e.g. calibration, source positioning, rebinning, scatter correction, retrospective gating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种OCT光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质,所述方法包括:将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值;基于预设的系统光灵敏度最小值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第一信噪比目标值;从系统处于所述信噪比最大值的状态开始步进调节参考臂中的光衰减量,确定系统处于所述第一信噪比目标值时对应的参考臂中光衰减量最大值a,从而获取参考臂中的光衰减量的调节范围为[0,a]。本发明为OCT提供了一个便捷有效的调试方式,使得OCT处于较好的工作状态,从而产生高质量图像。

Description

OCT光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质
技术领域
本申请涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种OCT光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质。
背景技术
光学干涉断层成像系统(Optical Coherence Tomography简称OCT),是基于光的干涉原理,系统光源发出的一束光线被分为两束,其中一束光进入参考臂,另一束光进入探测臂,扫描目标后,从被扫描目标中返回光信号随被扫描目标的不同性状而显示不同强弱的特性,参考臂和探测臂中两束返回光线发生干涉,这些光信号经过光电转换和采样后处理,通过比较分析反射信号和参考信号即可获得关于被扫描目标反射性和距离的数据,从而迅速、直接地获得被扫描目标的高分辨率图像。
但是,在OCT中,存在许多难以避免的噪声,例如激光器噪声、平衡探测器噪声、Kclock取样噪声等,若不能有效正确地调试系统,则很难使系统处于在有效工作状态,获得实际图像,因此,如何有效便捷地调试OCT成为亟待解决的技术问题。
发明内容
为了解决上述技术问题,提出了本申请。本申请的实施例提供了一种OCT光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质,其为OCT提供了一个便捷有效的调试方式,使得OCT处于较好的工作状态,从而产生高质量图像。
根据本申请的一方面,提供了一种OCT光学链路的匹配调试方法,包括:
将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值,其中,所述探测臂调试模块连接探测臂,用于调节探测臂链路的光衰减量和探测臂光信号的偏振状态;
基于预设的系统光灵敏度最小值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第一信噪比目标值;
从系统处于所述信噪比最大值的状态开始步进调节参考臂中的光衰减量,确定系统处于所述第一信噪比目标值时对应的参考臂中光衰减量最大值a,从而获取参考臂中的光衰减量的调节范围为[0,a]。
在上述OCT光学链路的匹配调试方法中,所述将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值,包括:
设置参考臂中的光衰减量为0;
设置探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量为b,其中,0.25*M≤b≤0.3*M,M是待调试OCT工作在量子噪声极限范围时的灵敏度数值;
将参考臂中的延迟线初始值设为0,步进调节所述延迟线,确定延迟线调节过程中信噪比的最大值作为所述系统信噪比最大值。
在上述OCT光学链路的匹配调试方法中,还包括:
调节探测臂的光信号的偏振状态,获得偏振状态调节过程中的信噪比最大值;
将所述延迟线调节过程中信噪比的最大值和偏振状态调节过程中的信噪比最大值中的较大值作为所述系统信噪比最大值。
在上述OCT光学链路的匹配调试方法中,还包括:
基于所述探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量和系统信噪比最大值,确定系统光灵敏度最大值;
在所述预设的系统光灵敏度最小值至系统光灵敏度最大值之间选择一系统光灵敏度目标值;
基于所述系统光灵敏度目标值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第二信噪比目标值;
在所述参考臂中的光衰减量的调节范围内,调节参考臂的光衰减量,确定系统处于所述第二信噪比目标值时对应的光衰减量默认值。根据本申请的另一方面,提供了一种OCT光学链路的匹配调试装置,其特征在于,包括:
参数获取模块,配置为将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值,其中,所述探测臂调试模块连接探测臂,用于调节探测臂链路的光衰减量和探测臂光信号的偏振状态;
信噪比确定模块,配置为基于预设的系统光灵敏度最小值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第一信噪比目标值;
调节范围获取模块,配置为从系统处于信噪比最大值的状态开始步进调节参考臂中的光衰减量,确定系统处于所述第一信噪比目标值时对应的参考臂中光衰减量最大值a,从而获取参考臂的光衰减量的调节范围为[0,a]。
在上述OCT光学链路的匹配调试装置中,所述参数获取模块包括:
信噪比最大值获取单元,配置为
设置参考臂中的光衰减量为0,设置探测臂中的光衰减量为b,其中,0.25*M≤b≤0.3*M,M是待调试OCT工作在量子噪声极限范围时的灵敏度数值,获取此状态下的信噪比最大值;
第一信噪比最大值确定单元,配置为将参考臂中的延迟线初始值设为0,步进调节所述延迟线,确定延迟线调节过程中信噪比的最大值作为所述系统信噪比最大值。
在上述OCT光学链路的匹配调试装置中,还包括:
第二信噪比最大值确定单元,配置为调节探测臂的光信号的偏振状态,获得偏振状态调节过程中的信噪比最大值;
系统信噪比最大值确定单元,配置为将所述延迟线调节过程中信噪比的最大值和偏振状态调节过程中的信噪比最大值中的较大值作为所述系统信噪比最大值。
在上述OCT光学链路的匹配调试装置中,还包括光衰减量默认值确定模块,包括:
系统光灵敏度最大值确定单元,配置为基于所述探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量和系统信噪比最大值,确定系统光灵敏度最大值;
系统光灵敏度目标值确定单元,配置为在所述预设的系统光灵敏度最小值至系统光灵敏度最大值之间选择一系统光灵敏度目标值;
第二信噪比目标值确定单元,配置为基于所述系统光灵敏度目标值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第二信噪比目标值;
参考臂中光衰减量默认值确定单元,配置为在所述参考臂的光衰减量调节范围内调节参考臂的光衰减量,确定系统处于所述第二信噪比目标值时对应的光衰减量默认值。
根据本发明又一方面,提供一种控制器,其包括存储器与处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述程序在被所述处理器执行时能够实现所述方法的步骤。
根据本发明又一方面,提供一种计算机可读存储介质,用于存储计算机程序,所述程序在由一计算机或处理器执行时实现所述方法的步骤。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案,本发明提供的一种OCT光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质可达到相当的技术进步性及实用性,并具有产业上的广泛利用价值,其至少具有下列优点:
本发明可以快速获得OCT参考臂的光衰减量的调节范围和光衰减量默认值,为OCT提供了一个便捷有效的调试方式,使得OCT处于较好的工作状态,从而产生高质量图像。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。
附图说明
通过结合附图对本申请实施例进行更详细的描述,本申请的上述以及其他目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本申请实施例的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请实施例一并用于解释本申请,并不构成对本申请的限制。在附图中,相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。
图1为本申请实施例提供的OCT光学链路的匹配调试方法示意图;
图2为本申请实施例提供的OCT光学链路的匹配调试方法装置示意图;
图3为本申请实施例提供的OCT光学链路的匹配调试架构示意图。
【符号说明】
1:参数获取模块 2:信噪比确定模块
3:调节范围获取模块 M1:扫频光源单元
M2:参考臂端口单元 M3:延迟线单元
M4:探测臂端口单元 M5:探测臂调试模块
M6:光衰减单元 M7:干涉处理单元
M8:光电转换处理单元 M9:信号处理与反馈控制单元
M10:用户界面单元
具体实施方式
下面,将参考附图详细地描述根据本申请的示例实施例。显然,所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例,而不是本申请的全部实施例,应理解,本申请不受这里描述的示例实施例的限制。
本发明实施例提供了一种OCT光学链路的匹配调试方法,如图1所示,包括以下步骤:
步骤S1、将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值,其中,探测臂调试模块连接探测臂,用于调节探测臂链路的光衰减量和探测臂光信号的偏振状态。
可以理解是的,将参考臂中的光衰减量调至对应的预设值,调整的是参考臂中可调的光衰减量,而不包括参考臂中已存在的固有衰减。本发明实施例所述的系统均指的是OCT连接探测臂调试模块后组成的调试系统。
步骤S2、基于预设的系统光灵敏度最小值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第一信噪比目标值。
其中,系统光灵敏度最小值为预先设定好的已知量,根据系统光灵敏度=系统信噪比+(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ),可知,系统光灵敏度最小值=(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ)+第一信噪比目标值,即第一信噪比目标值=系统光灵敏度最小值-(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ),其中,δ是探测臂调试模块的固有光衰减量,即探测臂调试模块的光纤端面的光衰减量,是常量设计值,需要说明的是,2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+探测臂调试模块的固有光衰减量=探测臂调试模块的总衰减量,计算总衰减时候,探测臂光一次发射过程中,光仅通过探测臂调试模块的光纤端面一次,因此端面衰减计算一次即可,由于探测臂光要往返经过测臂调试模块衰减可调部分的光衰减,所以探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量乘以2。
步骤S3、从系统处于信噪比最大值的状态开始步进调节参考臂中的光衰减量,确定系统处于所述第一信噪比目标值时对应的参考臂中光衰减量最大值a,从而获取参考臂中的光衰减量的调节范围为[0,a]。
其中,可以设定一光衰减量调节步长,步进调节参考臂中的光衰减量,为了提高系统精度,可以在可选光衰减量的调节步长范围内尽可能小地选择光衰减量的调节步长进行调节。
作为一种示例,所述步骤S1包括:
步骤S11、设置参考臂中的光衰减量为0,设置探测臂中探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量为b,获取此状态下的信噪比最大值;
其中,0.25*M≤b≤0.3*M,M是待调试OCT工作在量子噪声极限范围时的灵敏度数值,该值会因选取不同的系统器件(如光源、光电探测器等)而略有不同,通常在110-125(dB)范围区间,本实施例中,M=120(dB);
步骤S12、将参考臂中的延迟线初始值设为0,步进调节所述延迟线,确定延迟线调节过程中信噪比的最大值作为所述系统信噪比最大值。
其中,可以设定一光延迟线调节步长,步进调节参考臂中的延迟线,为了提高系统精度,可以在可选光延迟线调节步长范围内尽可能小地选择光延迟线调节步长进行调节。
需要说明的是,步骤S12为粗调过程,为了进一步通过微调获取更为精确的系统信噪比最大值,所述方法还包括:
步骤S13、调节探测臂的光信号的偏振状态,获得偏振状态调节过程中的信噪比最大值;
可以理解的是,通过探测臂调试模块来调节探测臂的光信号的偏振状态。
步骤S14、将所述延迟线调节过程中信噪比的最大值和偏振状态调节过程中的信噪比最大值中的较大值作为所述系统信噪比最大值。
通过上述步骤可获得光衰减量的设定范围在[0,a],该范围是OCT参考臂中的光衰减量可调节范围,对应着光学链路匹配的有效工作状态。不同用户对OCT的灵敏度需求不同,为了进一步满足实际需求,可直接OCT参考臂中光衰减量的调节至符合OCT的灵敏度实际需求的光衰减量默认值,因此,所述方法还包括:
步骤S4、基于所述探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量和系统信噪比最大值,确定系统光灵敏度最大值;
其中,系统光灵敏度最大值=系统信噪比最大值+(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ)。
步骤S5、在所述预设的系统光灵敏度最小值至系统光灵敏度最大值之间选择一系统光灵敏度目标值;
作为一种示例,系统光灵敏度目标值可以设置为系统光灵敏度最大值-3。
步骤S6、基于所述系统光灵敏度目标值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第二信噪比目标值;
其中,第二信噪比目标值=系统光灵敏度目标值-(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ)。
步骤S7、在所述参考臂的光衰减量的调节范围内调节参考臂的光衰减量,确定系统处于所述第二信噪比目标值时对应的光衰减量默认值。
本发明实施例还提供了一种OCT光学链路的匹配调试装置,如图2所示,包括:参数获取模块1、信噪比确定模块2和调节范围获取模块3,其中,参数获取模块1配置为将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值,其中,探测臂调试模块连接探测臂,用于调节探测臂链路的光衰减量和探测臂光信号的偏振状态。信噪比确定模块2配置为基于预设的系统光灵敏度最小值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第一信噪比目标值,其中,系统光灵敏度最小值为预先设定好的已知量,根据系统光灵敏度=系统信噪比+(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ),可知,系统光灵敏度最小值=(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ)+第一信噪比目标值,即第一信噪比目标值=系统光灵敏度最小值-(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ)。调节范围获取模块3配置为从系统处于信噪比最大值的状态开始步进调节参考臂中的光衰减量,确定系统处于所述第一信噪比目标值时对应的参考臂中光衰减量最大值a,从而获取参考臂的光衰减量的调节范围为[0,a],其中,可以设定一光衰减量调节步长,步进调节参考臂中的光衰减量,为了提高系统精度,可以在可选光衰减量的调节步长范围内尽可能小地选择光衰减量的调节步长进行调节。
作为一种示例,所述参数获取模块1包括信噪比最大值获取单元和第一信噪比最大值确定单元,其中,信噪比最大值获取单元,配置为设置参考臂中的光衰减量为0,设置探测臂中的光衰减量为b,获取此状态下的信噪比最大值,,其中,0.25*M≤b≤0.3*M,M是待调试OCT工作在量子噪声极限范围时的灵敏度数值,该值会因选取不同的系统器件(如光源、光电探测器等)而略有不同,通常在110-125(dB)范围区间,本实施例中M=120(dB);第一信噪比最大值确定单元配置为将参考臂中的延迟线初始值设为0,步进调节所述延迟线,确定延迟线调节过程中信噪比的最大值作为所述系统信噪比最大值,其中,可以设定一光延迟线调节步长,步进调节参考臂中的延迟线,为了提高系统精度,可以在可选光延迟线调节步长范围内尽可能小地选择光延迟线调节步长进行调节。
需要说明的是,第一信噪比最大值确定单元进行的是粗调过程,为了进一步通过微调获取更为精确的系统信噪比最大值,所述装置还包括第二信噪比最大值确定单元和系统信噪比最大值确定单元来实现微调过程。其中,第二信噪比最大值确定单元配置为调节探测臂的光信号的偏振状态,获得偏振状态调节过程中的信噪比最大值,可以理解的是,通过探测臂调试模块来调节探测臂的光信号的偏振状态。系统信噪比最大值确定单元配置为将所述延迟线调节过程中信噪比的最大值和偏振状态调节过程中的信噪比最大值中的较大值作为所述系统信噪比最大值。
通过上述装置可获得光衰减量的设定范围在[0,a],该范围是OCT参考臂中的光衰减量可调节范围,对应着光学链路匹配的有效工作状态。但是,不同用户对OCT的灵敏度需求不同,为了进一步满足实际需求,可直接OCT参考臂中光衰减量的调节至符合OCT的灵敏度实际需求的光衰减量默认值,因此,所述装置还包括光衰减量默认值确定模块,光衰减量默认值确定模块具体包括系统光灵敏度最大值确定单元、系统光灵敏度目标值确定单元、第二信噪比目标值确定单元和参考臂中光衰减量默认值确定单元,其中,系统光灵敏度最大值确定单元,配置为基于所述探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量和系统信噪比最大值,确定系统光灵敏度最大值;其中,系统光灵敏度最大值=系统信噪比最大值+(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ)。系统光灵敏度目标值确定单元配置为在所述预设的系统光灵敏度最小值至系统光灵敏度最大值之间选择一个系统光灵敏度目标值,作为一种示例,系统光灵敏度目标值可以设置为系统光灵敏度最大值-3。第二信噪比目标值确定单元配置为基于所述系统光灵敏度目标值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第二信噪比目标值,其中,第二信噪比目标值=系统光灵敏度目标值-(2*探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量+δ)。参考臂中光衰减量默认值确定单元配置为在所述参考臂的光衰减量的调节范围内调节参考臂的光衰减量,确定系统处于所述第二信噪比目标值时对应的光衰减量默认值。
本实施例所述方法和装置可应用于图2所示的光学链路的匹配调试架构图来实现,图3所示的光学链路的匹配调试架构包括OCT和探测臂调试模块M5,通过进行光学链路的匹配调试可将OCT调至目标状态。
具体的,图3中的OCT包括:
扫频光源单元M1,主要包括扫频光源和光纤耦合器,其作用是扫频光源输出一束光,经光学设计通路分成两束,其中一束进入OCT的参考臂,另一束进入OCT的探测臂。
参考臂端口单元M2,主要包括环形器,其作用是将来自参考臂的返回光信号单向传递到后端的干涉处理单元M7的输入端口1。
延迟线单元M3,主要是指相对位置可调的反射镜,其作用是调节参考臂中的延迟线,以更精确匹配探测臂的光程。
探测臂端口单元M4,主要包括环形器,其作用是将探测臂调试模块M5返回来的包含被扫描目标信息的光信号单向传递到干涉处理单元M7的输入端口2。
光衰减单元M6,主要是指可调节光衰减器;用于调节参考臂中的光衰减量,从而调节参考臂输出光功率的大小,使之与探测臂输出光功率的大小相匹配。
干涉处理单元M7,主要是指干涉仪的干涉机制部分和光纤耦合器,其作用是使来自参考臂和探测臂的返回光信号发生干涉,获得含有被扫描目标信息的干涉光信号,并将其平衡地分成两路作为光电转换处理单元M8的两路输入。
光电转换处理单元M8,主要包括平衡探测器,其作用是将含有被扫描目标信息的干涉信号完成光电转换,并通过端口1和端口2分别输出原始电信号和反馈信号1,其中反馈信号1用于监测M8输入光的大小。
信号处理与反馈控制单元M9,主要是包括数据采集卡、数据处理和控制单元,其作用一是将所述原始数据处理转换成图像输出到户界面单元M10;其作用二是监测并输出量化的信噪比,其作用三是设置相应的控制变量分别控制参考臂中的延迟线单元M3和光衰减器单元M6来进行匹配调试。
用户界面单元M10,其作用是OCT输入输出信息的显示。
探测臂调试模块M5,主要是由偏振控制器、可调光衰减器和光学设计尾端组成,主要是调节探测臂光信号偏振状态,改变系统信噪比,调节探测臂输出光功率的大小,使之与参考臂输出光功率的大小相匹配,作为一种示例,探测臂调试模块M5具体可以为点扩散函数调试模块。
根据本发明实施例所述方法和装置调整上述对应组成单元对应的参数,最终获得参考臂中光衰减量的调节范围和光衰减量默认值,从而完成OCT的调试,保证OCT能够产生高质量的图像。
本发明实施例还提供一种控制器,其包括存储器与处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述程序在被所述处理器执行时能够实现所述OCT光学链路的匹配调试方法的步骤。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,用于存储计算机程序,所述程序在由一计算机或处理器执行时实现所述OCT光学链路的匹配调试方法的步骤。
本发明实施例可以快速获得OCT参考臂的光衰减量的调节范围和光衰减量默认值,为OCT提供了一个便捷有效的调试方式,使得OCT处于较好的工作状态,从而产生高质量图像。
以上结合具体实施例描述了本申请的基本原理,但是,需要指出的是,在本申请中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制,不能认为这些优点、优势、效果等是本申请的各个实施例必须具备的。另外,上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用,而非限制,上述细节并不限制本申请为必须采用上述具体的细节来实现。
本申请中涉及的器件、装置、设备、系统的方框图仅作为例示性的例子并且不意图要求或暗示必须按照方框图示出的方式进行连接、布置、配置。如本领域技术人员将认识到的,可以按任意方式连接、布置、配置这些器件、装置、设备、系统。诸如“包括”、“包含”、“具有”等等的词语是开放性词汇,指“包括但不限于”,且可与其互换使用。这里所使用的词汇“或”和“和”指词汇“和/或”,且可与其互换使用,除非上下文明确指示不是如此。这里所使用的词汇“诸如”指词组“诸如但不限于”,且可与其互换使用。
还需要指出的是,在本申请的装置、设备和方法中,各部件或各步骤是可以分解和/或重新组合的。这些分解和/或重新组合应视为本申请的等效方案。
提供所公开的方面的以上描述以使本领域的任何技术人员能够做出或者使用本申请。对这些方面的各种修改对于本领域技术人员而言是非常显而易见的,并且在此定义的一般原理可以应用于其他方面而不脱离本申请的范围。因此,本申请不意图被限制到在此示出的方面,而是按照与在此公开的原理和新颖的特征一致的最宽范围。
为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外,此描述不意图将本申请的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例,但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。

Claims (10)

1.一种OCT光学链路的匹配调试方法,其特征在于,包括:
将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,获取系统信噪比最大值,其中,所述探测臂调试模块连接探测臂,用于调节探测臂链路的光衰减量和探测臂光信号的偏振状态;
基于预设的系统光灵敏度最小值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第一信噪比目标值;
从系统处于所述信噪比最大值的状态开始步进调节参考臂中的光衰减量,确定系统处于所述第一信噪比目标值时对应的参考臂中光衰减量最大值a,从而获取参考臂中的光衰减量的调节范围为[0,a]。
2.根据权利要求1所述的OCT光学链路的匹配调试方法,其特征在于,
所述将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值,包括:
设置参考臂中的光衰减量为0;
设置探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量为b,其中,0.25*M≤b≤0.3*M,M是待调试OCT工作在量子噪声极限范围时的灵敏度数值;
将参考臂中的延迟线初始值设为0,步进调节所述延迟线,确定延迟线调节过程中信噪比的最大值作为所述系统信噪比最大值。
3.根据权利要求2所述的OCT光学链路的匹配调试方法,其特征在于,
还包括:
调节探测臂的光信号的偏振状态,获得偏振状态调节过程中的信噪比最大值;
将所述延迟线调节过程中信噪比的最大值和偏振状态调节过程中的信噪比最大值中的较大值作为所述系统信噪比最大值。
4.根据权利要求1-3中任意一项所述的OCT光学链路的匹配调试方法,其特征在于,
还包括:
基于所述探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量和系统信噪比最大值,确定系统光灵敏度最大值;
在所述预设的系统光灵敏度最小值至系统光灵敏度最大值之间选择一系统光灵敏度目标值;
基于所述系统光灵敏度目标值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第二信噪比目标值;
在所述参考臂中的光衰减量的调节范围内,调节参考臂的光衰减量,确定系统处于所述第二信噪比目标值时对应的光衰减量默认值。
5.一种OCT光学链路的匹配调试装置,其特征在于,包括:
参数获取模块,配置为将参考臂中的光衰减量和探测臂调试模块衰减可调部分的光衰减量分别调至对应的预设值,并确定系统信噪比最大值,其中,所述探测臂调试模块连接探测臂,用于调节探测臂链路的光衰减量和探测臂光信号的偏振状态;
信噪比确定模块,配置为基于预设的系统光灵敏度最小值、探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量确定第一信噪比目标值;
调节范围获取模块,配置为从系统处于信噪比最大值的状态开始步进调节参考臂中的光衰减量,确定系统处于所述第一信噪比目标值时对应的参考臂中光衰减量最大值a,从而获取参考臂的光衰减量的调节范围为[0,a]。
6.根据权利要求5所述的OCT光学链路的匹配调试装置,其特征在于,
所述参数获取模块包括:
信噪比最大值获取单元,配置为设置参考臂中的光衰减量为0,设置探测臂中的光衰减量为b,其中,0.25*M≤b≤0.3*M,M是待调试OCT工作在量子噪声极限范围时的灵敏度数值,获取此状态下的信噪比最大值;
第一信噪比最大值确定单元,配置为将参考臂中的延迟线初始值设为0,步进调节所述延迟线,确定延迟线调节过程中信噪比的最大值作为所述系统信噪比最大值。
7.根据权利要求6所述的OCT光学链路的匹配调试装置,其特征在于,还包括:
第二信噪比最大值确定单元,配置为调节探测臂的光信号的偏振状态,获得偏振状态调节过程中的信噪比最大值;
系统信噪比最大值确定单元,配置为将所述延迟线调节过程中信噪比的最大值和偏振状态调节过程中的信噪比最大值中的较大值作为所述系统信噪比最大值。
8.根据权利要求5-7中任意一项所述的OCT光学链路的匹配调试装置,其特征在于,
还包括光衰减量默认值确定模块,包括:
系统光灵敏度最大值确定单元,配置为基于所述探测臂调试模块可调部分的光衰减量和探测臂调试模块的固有光衰减量和系统信噪比最大值,确定系统光灵敏度最大值;
系统光灵敏度目标值确定单元,配置为在所述预设的系统光灵敏度最小值至系统光灵敏度最大值之间选择一系统光灵敏度目标值;
第二信噪比目标值确定单元,配置为基于所述系统光灵敏度目标值和系统信噪比最大值确定第二信噪比目标值;
参考臂中光衰减量默认值确定单元,配置为在所述参考臂的光衰减量调节范围内调节参考臂的光衰减量,确定系统处于所述第二信噪比目标值时对应的光衰减量默认值。
9.一种控制器,其包括存储器与处理器,其特征在于,所述存储器存储有计算机程序,所述程序在被所述处理器执行时能够实现权利要求1至4中任意一项权利要求所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,用于存储计算机程序,其特征在于,所述程序在由一计算机或处理器执行时实现如权利要求1至4中任意一项权利要求所述的方法的步骤。
CN201911366578.8A 2019-12-26 2019-12-26 Oct光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质 Active CN110926327B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911366578.8A CN110926327B (zh) 2019-12-26 2019-12-26 Oct光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911366578.8A CN110926327B (zh) 2019-12-26 2019-12-26 Oct光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110926327A CN110926327A (zh) 2020-03-27
CN110926327B true CN110926327B (zh) 2021-07-30

Family

ID=69860997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911366578.8A Active CN110926327B (zh) 2019-12-26 2019-12-26 Oct光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110926327B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2022113790A1 (zh) * 2020-11-27 2022-06-02
CN115236867A (zh) * 2022-07-26 2022-10-25 苏州微创阿格斯医疗科技有限公司 光学链路的匹配调试装置及其调试方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5991029A (en) * 1998-04-06 1999-11-23 Axiom Analytical, Inc. Attenuated total reflecance probe employing large incidence angles
CN1466301A (zh) * 2002-06-22 2004-01-07 华为技术有限公司 长距离传输光功率均衡方法和装置
CN1825159A (zh) * 2006-01-20 2006-08-30 中国科学院安徽光学精密机械研究所 天文光学望远镜偏振滤波方法与装置
CN101634548A (zh) * 2009-09-01 2010-01-27 北京航空航天大学 一种光纤-空间光合成孔径的数字全息三维显微观测装置
CN107065619A (zh) * 2017-05-15 2017-08-18 武汉光迅科技股份有限公司 一种可调谐激光器的波长控制电极参数设定方法和装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101788273B (zh) * 2010-02-05 2011-10-26 北京航空航天大学 一种基于多偏振态合成的数字全息三维显微观测装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5991029A (en) * 1998-04-06 1999-11-23 Axiom Analytical, Inc. Attenuated total reflecance probe employing large incidence angles
CN1466301A (zh) * 2002-06-22 2004-01-07 华为技术有限公司 长距离传输光功率均衡方法和装置
CN1825159A (zh) * 2006-01-20 2006-08-30 中国科学院安徽光学精密机械研究所 天文光学望远镜偏振滤波方法与装置
CN101634548A (zh) * 2009-09-01 2010-01-27 北京航空航天大学 一种光纤-空间光合成孔径的数字全息三维显微观测装置
CN107065619A (zh) * 2017-05-15 2017-08-18 武汉光迅科技股份有限公司 一种可调谐激光器的波长控制电极参数设定方法和装置

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
An approach enabling adaptive FEC for OFDM in fiber-VLLC system;Yiran Wei;《Optics Communications》;20171230;全文 *
光伏组件自然老化年度衰减率分析;王冬;《信阳师范学院学报》;20180730;全文 *
衰减全反射红外光谱对易燃液体的快速筛选;程芳彬;《光谱学与光谱分析》;20180830;全文 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN110926327A (zh) 2020-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110926327B (zh) Oct光学链路的匹配调试方法、装置以及控制器和介质
JP4828167B2 (ja) 距離測定装置及びその方法
CN111257282B (zh) Oct成像系统、电子设备和机器可读存储介质
KR20010015576A (ko) 고정밀도 3차원 표면 디지털화 시스템 및 방법
CN107807366B (zh) 一种大气能见度的计算方法、装置、雷达及系统
EP1851504A1 (de) Phasenrauschkompensation für interferometrische absolutdistanzmesser
US11860037B2 (en) Interferometer movable mirror position measurement apparatus and fourier transform infrared spectroscopy
CN109332879B (zh) 基于迈克尔逊干涉在线振镜定位精度校正加工系统和方法
JP2018511054A (ja) レーザー光源の周波数変調を測定する方法
US20210173054A1 (en) Optical range calculation apparatus and method of range calculation
AU2009240769B2 (en) Apparatus and method for measurement of the reception time of a pulse
US20030227629A1 (en) Laser spectroscopy using a master/slave architecture
He et al. Adaptive sampling for terahertz time-domain spectroscopy and imaging
CN114578547B (zh) 一种原子束光钟光束指向控制方法及装置
Naveed et al. Real-time adaptive spectral filter based parasitic vibration cancellation in self-mixing laser sensor signals
Moiseev Measurement of radial velocities and velocity dispersion of stars in circumnuclear regions of galaxies using the 2D spectrosopy technique
CN111624582B (zh) 周期误差标定方法、装置及周期误差标定系统
JP5522910B2 (ja) 干渉分光法用の装置、干渉分光法を使用した方法、干渉測定装置
CN108844642B (zh) 探测器层析仪及量子层析方法
JP2004264116A (ja) 光波距離計
JP2853350B2 (ja) レーザ測距装置
Seiter et al. Correction of a phase dependent error in a time-of-flight range sensor
CN110196107B (zh) 一种太赫兹线宽测量装置及方法
JP2004354209A (ja) 光波長測定方法、光波長測定装置および光スペクトラム解析装置
JP2899077B2 (ja) 屈折率分布測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant