CN110879336A - 绝缘寿命试验方法及绝缘试验体 - Google Patents

Abstract

本发明能够简易地评价绝缘寿命特性。绝缘寿命试验方法包括：准备步骤(S02)，准备绝缘试验体，构成试验装置，绝缘试验体具有层叠体和各自的前端具有间隔地插入层叠体的施加侧电极及接地侧电极，层叠体是将无机材料的主绝缘层和有机材料的高分子化合物层进行层叠而成的；电压施加步骤(S03)，在沿着主绝缘层的方向对层叠体施加电压。此外，也可以是，在准备步骤(S02)中，使用被层叠成可以观察内部状态的程度的层叠体，还包括观察步骤，在电压施加步骤之后观察绝缘试验体中的电树枝的发展状况。

Description

绝缘寿命试验方法及绝缘试验体

技术领域

本发明涉及绝缘寿命试验方法及绝缘试验体。

背景技术

对于旋转电机，为了评价其绝缘寿命即电绝缘寿命，通常是制作实机线圈或者与其同等的模拟线圈进行评价(参照文献1)。在使用了实机线圈的绝缘寿命的评价中，需要长期的通电时间来得到结果，例如花费约5000小时的时间。并且，由于在线圈的制作时含有缺陷，因而到击穿为止的时间存在较大偏差，需要一定数量的评价用的试样。因此，在使用材料的变更或新的绝缘材料的研发等中，评价多种材料的绝缘寿命伴随着大量的成本、劳力。基于这样的理由，期望有这样的方法，即用实机线圈进行最终应用于实机的阶段的评价，在此之前的诸如筛选成为候选的材料的阶段能够简易地评价其绝缘寿命特性，但此方法尚未被研发。

为了评价绝缘寿命特性，需要模拟与实机线圈同等的绝缘劣化状态。旋转电机的绝缘主要由以下部分构成：芯线绝缘和芯线间的绝缘(匝间绝缘)；在芯线彼此的周围卷绕将作为无机物的云母设为带状的云母带而形成的主绝缘；从主绝缘周围以线圈端部的电场缓和为目的而卷绕的半导电层和电场缓和层。最后，例如在真空加压系统的情况下，通过利用浸渍树脂对这些绝缘进行浸渍/固化而完成。在此，对主绝缘的绝缘寿命进行说明。主绝缘的绝缘劣化是从芯线绝缘或匝间绝缘附近、或如绝缘层内的微小空隙(孔隙)那样电场集中的部位或缺陷处产生局部放电，由此产生被称为电树枝(電気トリー)的空穴。所产生的电树枝发展并最终导致绝缘击穿。在线圈主绝缘中，电树枝在云母带的层间(浸渍环氧树脂的部分)逐渐发展(参照文献2)。即，如果能够制作模拟电树枝在该云母带间发展的劣化状态的试样，则能够在短时间内简易地进行主绝缘的绝缘寿命评价。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本实开昭63－156559号公报

专利文献2：日本实开昭63－21472号公报

发明内容

发明要解决的课题

如上所述，使用了实机线圈的绝缘寿命特性的评价耗费时间、成本，不适合于诸如由多种材料中筛选适合的材料的情况，要求能够简易地进行评价的方法。

因此，本发明的目的在于，能够简易地评价绝缘寿命特性。

用于解决课题的手段

为了达到上述目的，有关本发明的绝缘寿命试验方法的特征在于，所述绝缘寿命试验方法包括：准备步骤，准备绝缘试验体，构成试验装置，所述绝缘试验体具有层叠体和各自的前端具有间隔地插入所述层叠体的内部的施加侧电极及接地侧电极，所述层叠体是将无机材料的主绝缘层和有机材料的高分子化合物层进行层叠而成的；以及电压施加步骤，在沿着所述主绝缘层的方向对所述层叠体施加电压。

另外，有关本发明的绝缘试验体的特征在于，所述绝缘试验体具有：层叠体，将无机材料的至少一个主绝缘层和有机材料的至少一个高分子化合物层进行层叠而成；施加侧电极，与所述主绝缘层扩展的面平行地插入一个高分子化合物层的第一端部；以及接地侧电极，从与所述高分子化合物层的所述第一端部相反侧的第二端部插入，其一端部和所述前端部之间隔开规定的间隔，所述层叠体层叠成可以从外部观察内部状态的程度的厚度。

发明效果

根据本发明，能够简易地评价绝缘寿命特性。

附图说明

图1是表示有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的步骤的流程图。

图2是表示作为使用有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的对象即绝缘物的例子的定子的端部附近的局部斜视图。

图3是表示作为使用有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的对象即绝缘物的例子的定子绕组的层叠导体的结构的横剖面图。

图4是表示作为使用有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的对象即绝缘物的例子的主绝缘带的结构的纵剖面图。

图5是表示作为使用有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的对象即绝缘物的例子的定子绕组的主绝缘的结构的局部纵剖面图。

图6是表示有关本发明的第1实施方式的绝缘试验体的结构的、沿图7中的VI-VI线的向视剖面图。

图7是表示有关本发明的第1实施方式的绝缘试验体的结构的、沿图6中的VII-VII线的向视剖面图。

图8是表示在有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法中使用的试验装置的结构的纵剖面图。

图9是表示根据有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法得到的特性曲线的例子的曲线图。

图10是表示有关本发明的第2实施方式的绝缘寿命试验方法的步骤的流程图。

图11是表示有关本发明的第2实施方式的绝缘试验体的结构的、沿图12中的XI-XI线的向视剖面图。

图12是表示有关本发明的第2实施方式的绝缘试验体的结构的、沿图11中的XII-XII线的向视剖面图。

图13是表示在有关本发明的第2实施方式的绝缘寿命试验方法中使用的试验装置的结构的斜视图。

标号的说明

10…定子；11…定子铁芯；11a…电磁钢板；11b…定子插槽；12…定子绕组；13…层叠导体；13a…导体；14…匝绝缘；15…楔子；16…垫片；17…主绝缘；18…电场缓和层；19…半导电层；20…主绝缘带；21…主绝缘层；22…纤维强化部；23…接合用高分子聚合体；25…浸渍后高分子聚合体部；100…绝缘试验体；110…层叠体；111…主绝缘层；112…高分子化合物层；120…接地侧电极；130…施加侧电极；131…前端；150…试验装置；151、152…连接导体；153…电源；200…绝缘试验体；210…层叠体；211…主绝缘层；212…高分子化合物层；220…接地侧电极；230…施加侧电极；231…前端；250…试验装置；251、252…连接导体；253…电源；254…光源；255…光学显微镜。

具体实施方式

下面，参照附图对有关本发明的实施方式的绝缘寿命试验方法及绝缘试验体进行说明。另外，对于相互相同或相似的部分赋予相同的标号，并省略重复说明。

[第1实施方式]

图1是表示有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的步骤的流程图。绝缘寿命试验再现向绝缘试验体施加电压的状况下的电树枝的发展及由此形成的绝缘试验体的绝缘击穿。并且，根据其特性选择期望的绝缘材料。

在绝缘寿命试验方法中，首先选择试验对象绝缘材料(步骤S01)。即，选择正在研究实机中的使用的绝缘材料、或者虽已计划使用但想要详细掌握其绝缘特性的绝缘材料。

图2是表示作为使用有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的对象即绝缘物的例子的定子的端部附近的局部斜视图。定子10具有定子铁芯11和多个定子绕组12，定子铁芯11具有沿未图示的转子的转子轴的旋转轴方向层叠的多个电磁钢板11a。

定子绕组12具有：层叠导体13，具有被捆束的多个导体13a(图3)；主绝缘17，在层叠导体13的周围卷绕主绝缘带20而形成；电场缓和层18，施加于主绝缘17的外侧；半导电层19，施加于电场缓和层18的外侧。

在定子铁芯11的径向内侧形成有沿周向相互隔开间隔地贯通轴向的多个定子插槽11b。如上所述，外侧被实施了绝缘处理的层叠导体13沿轴向贯通各个定子插槽11b内。被收纳于同一个定子插槽11b内、沿径向相互相邻的两个层叠导体13之间，通过垫片16保持彼此的间隙。

另外，在各个定子插槽11b的层叠导体13的径向内侧设有楔子15，防止层叠导体13从定子铁芯11的径向内侧表面突出。在楔子15的径向外侧、沿径向相互相邻的定子绕组12之间、以及径向外侧的定子绕组12的径向内侧，设有间隙调整及绝缘处理部分的保护用的垫片16。

图3是表示定子绕组的层叠导体的结构的横剖面图。在层叠导体13处，沿径向层叠7个导体13a，沿周向排列两列。为了导体13a彼此间的绝缘，对各个导体13a在外侧施加了匝间绝缘14。另外，构成层叠导体13的导体13a的数量不限于14个，也可以是其它的个数。

对层叠导体13的外侧施加了多层主绝缘17。在图3中以施加了5层主绝缘17为例进行图示，但不限于此。例如，也可以是1层，还可以是5圈以上的多层。层数可以根据施加给绝缘部分的电位差、主绝缘17的绝缘带的耐压性能等进行设定。

图4是表示主绝缘带的结构的纵剖面图。主绝缘带20具有相互对置的主绝缘层21和纤维强化部22、以及使它们结合的接合用高分子聚合物23。

主绝缘层21基本是担负绝缘功能的部分。另外，纤维强化部22是具有如下功能的部分，即通过沿着主绝缘层21支承主绝缘层21，确保作为主绝缘带20的强度。接合用高分子聚合物23渗透纤维强化部22，使纤维强化部22和主绝缘层21接合。

其中，主绝缘层21的材质例如是使非煅烧云母或者煅烧云母等粉末成为纸状所得的无机材料。另外，纤维强化部22的材料例如是玻璃纤维等，通常被编织成网眼状。此外，接合用高分子聚合物23例如是环氧树脂、聚酯树脂或者硅树脂等有机材料。

主绝缘层21的厚度例如约100μm。另外，纤维强化部22的厚度比其薄，例如约30μm。在图4中，作为主绝缘带20的构成部分，图示了纤维强化部22、接合用高分子聚合物23及主绝缘层21，关于接合用高分子聚合物23，具有浸入纤维强化部22且将主绝缘层21和纤维强化部22接合的作用。因此，仅仅接合用高分子聚合物23的部分几乎没有厚度，主绝缘层21和纤维强化部22通常是相互几乎接触的状态。

主绝缘带20将主绝缘层21侧作为绝缘对象物侧、将纤维强化部22作为外侧进行卷绕。

图5是表示作为使用有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法的对象即绝缘物的例子的定子绕组的主绝缘的结构的局部纵剖面图。在图5中，仅示出了构成层叠导体13的一个导体13a的表面附近的一部分。对导体13a的表面施加了匝间绝缘14。

对匝间绝缘14的外侧施加了主绝缘17。具体地，在被施加了匝间绝缘14的导体13a的表面上卷绕主绝缘带20，再浸渍高分子聚合体，由此形成主绝缘17。

在图5中示出了以半叠接方式卷绕两圈的例子。即，在第一圈的卷绕和第二圈的卷绕中分别使带的宽度重叠各一半进行卷绕。换言之，一面将带的宽度错开各一半，一面沿图的白箭头方向移动卷绕部位进行卷绕。在图5中，在各圈的卷绕中，主绝缘层21沿宽度方向每次重叠一半，但该重叠宽度能够任意地进行设定，例如带宽度的1/4、3/4或其他距离。

在主绝缘17的厚度方向上，在主绝缘层21的内外形成有浸渍后高分子聚合体部25。浸渍后高分子聚合体部25是由在图5中省略图示的存在于纤维强化部22的内部及外侧的接合用高分子聚合物23、和在浸渍工序中由外部浸入的高分子聚合体混合形成的。

图5的箭头曲线T模拟地表示电树枝的发展状态。如图5所示，电树枝不贯通主绝缘层21，而在主绝缘层21的外侧即浸渍后高分子聚合体部25中沿着主绝缘层21发展。另外，纤维强化部22例如是网眼构造，是不妨碍电树枝的发展的部分，在电树枝的发展上，将网眼构造包含在内部所存在的浸渍后高分子聚合体部25比较重要，因而如前面所述省略了纤维强化部22的图示。

宏观地，电场的方向是主绝缘17的厚度方向，但是例如图5的A部所示，微观地，电场的成分还存在于沿着主绝缘层21的方向，电树枝沿着主绝缘层21发展。

然后，准备绝缘试验体100(图6)，构成试验装置150(图8)(步骤S02)。

图6是表示有关本发明的第1实施方式的绝缘试验体的结构的、沿图7中的VI-VI线的向视剖面图，图7是沿图6中的VII-VII线的向视剖面图。

绝缘试验体100具有层叠体110、接地侧电极120、施加侧电极130。

层叠体110具有平面地扩展的多个主绝缘层111及多个高分子化合物层112。多个主绝缘层111相互平行地层叠。多个高分子化合物层112被配置在层叠的主绝缘层111之间。

另外，可以把主绝缘带20的一部分切成相同形状相互重叠多片，并浸渍高分子化合物，由此形成层叠体110。在这种情况下，被高分子化合物所充满的纤维强化部22配置在主绝缘层111之间，这成为高分子化合物层112。

另外，如图6及图7所示，通过层叠长方形的主绝缘层111，层叠体110的外形呈长方体，但不限于此。即，所层叠的主绝缘层111的形状也可以是长方形以外的形状，例如可以是椭圆形或其它多边形。

接地侧电极120被安装在层叠体110的端部，对于全部的主绝缘层111及高分子化合物层112，它们的一部分与接地侧电极120接触。

施加侧电极130是长的平板状的金属，前端131变尖成锐角。施加侧电极130使尖的前端131在前面、并与主绝缘层111扩展的面平行地插入多个高分子化合物层112中的任意一个层。另外，也可以是，在形成层叠体110时，施加侧电极130预先被夹入相互相邻的主绝缘层111之间。

将施加侧电极130的前端131与接地侧电极120之间的间隔D管理成规定的值。

另外，以上示出了具有尖的前端131的施加侧电极130的例子，但不限于此。例如，也可以是前端为曲面状或者平面状的电极。

图8是表示在有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法中使用的试验装置的结构的纵剖面图。试验装置150具有3个绝缘试验体100、连接导体151、152及电源153。

3个绝缘试验体100相互并列配置。接地侧电极120通过连接导体151而相互电连接，连接导体151被接地。另外，施加侧电极130通过连接导体152而相互电连接，连接导体152与电源153连接。

在图8中示出了3个绝缘试验体100的例子，但不限于此。为了进行规定的经过时间中的电树枝的观察，考虑进行击穿确认所需要的个数或者作为比较对象的根据高分子化合物层112的种类而需要的个数等设定个数即可。或者，还可以准备多个试验装置150。在这种情况下，还可以共用电源153。

然后，向电极之间施加规定的电压，在沿着主绝缘层111的方向即与主绝缘层111扩展的面平行的方向形成电场(步骤S03)。电压例如是作为定子绕组12和接地之间的电压的高压的交流电压。电压波形可适当选定，如在直流设备用的评价中施加直流电压，在逆变器驱动旋转机中施加反复脉冲电压。

根据如上所述的结构，通过对施加侧电极130施加电压，从施加侧电极130的前端131向接地侧电极120的方向产生电场，如果在施加侧电极130的前端131产生电树枝，则在具有间隔D(图7)的区域中，电树枝的发展再现。

因此，绝缘试验体100中的电树枝的发展模拟了A部的电树枝的发展，A部被夹入在图5所示的主绝缘17中相互邻接的主绝缘层21之间。电树枝最终到达电极并产生绝缘击穿，通过测量截止到该击穿的时间，可以进行材料的筛选。

然后，将接地侧电极120卸下，定期地确认与接地侧电极120接触的一侧的层叠体110的端面(步骤S04)。此时，判定电树枝是否已贯通端面(步骤S05)。在判定为电树枝未贯通端面的情况下(步骤S05：否)，再次安装接地侧电极120，反复进行步骤S04及步骤S05。

在判定为电树枝贯通端面的情况下(步骤S05：是)，将电树枝贯通的绝缘试验体100取出，确认电树枝的具体情况(步骤S06)。

然后，判定是否结束了全部绝缘试验体100的确认(步骤S07)。在判定为未结束全部绝缘试验体100的确认的情况下(步骤S07：否)，反复进行步骤S03至步骤S07。

在判定为结束了全部绝缘试验体100的确认的情况下(步骤S07：是)，整理绝缘击穿时间和击穿概率的关系(步骤S08)。

另外，上述步骤中的步骤S04至步骤S06不是必须的。即，如果电树枝贯通，则连接导体151和连接导体152之间的绝缘被击穿。在试验装置150中通过电压计和电流计监视并记录状态，但没有图示。另外，在因绝缘击穿而短路时，在电源153中断路器等保护装置自动进行动作，但没有图示。因此，能够自动记录并确认绝缘被击穿的时刻。如果绝缘被击穿，则电气地检查是在哪个层叠体110发生的，仅将该部分从试验装置150卸下即可。即使是这样的步骤，也能够生成后述的特性曲线。

图9是表示根据有关本发明的第1实施方式的绝缘寿命试验方法得到的特性曲线的例子的曲线图。横轴表示绝缘击穿时间(小时)，纵轴表示击穿概率(％)。施加侧电极130的前端131与接地侧电极120之间的间隔D是3mm，施加电压是12kVrms。

黑圆点表示高分子化合物层112不含纳米填料的情况的数据，白菱形表示高分子化合物层112含有10wt％的纳米填料的情况的数据，黑四方形表示高分子化合物层112含有5wt％的纳米填料的情况的数据。另外，实线A表示基于高分子化合物层112不含纳米填料的情况的试验结果的特性曲线(威布尔V-t曲线)，虚线B表示基于高分子化合物层112含有10wt％的纳米填料的情况的试验结果的特性曲线(威布尔V-t曲线)，单点划线C表示基于高分子化合物层112含有5wt％的纳米填料的情况的试验结果的特性曲线(威布尔V-t曲线)。

然后，判定是否结束了预定的全部绝缘材料的确认(步骤S09)。在判定为未结束预定的全部绝缘材料的确认的情况下(步骤S09：否)，反复进行步骤S01至步骤S09。

在判定为结束了预定的全部绝缘材料的确认的情况下(步骤S09：是)，选择候选绝缘材料(步骤S10)。

在图9所示的结果的情况下，判定为高分子化合物层112含有5wt％的纳米填料的情况绝缘击穿时间最长、绝缘性能良好，选择含有5wt％的纳米填料的高分子化合物层112。

根据有关本实施方式的绝缘寿命试验方法及绝缘试验体，如前面所述，在实际的主绝缘17的体系中，在未沿着宏观的电场的方向的如图5的A部所示的、被夹在主绝缘层21扩展的方向之间、与电场强度相对较弱的部位对应的部分，即在沿着绝缘试验体100中的主绝缘层111的方向上形成电场，因而实验能够使电树枝的发展加速。因此，与模拟实际的主绝缘17的体系的试验相比，在模拟主绝缘弱点部分即图5的A部的部分，能够在短时间内再现电树枝。

这样，由于能够在极短时间中再现诱发主绝缘的绝缘击穿的电树枝，因而能够从多个绝缘材料中选定候选材料。即，能够简易地实施筛选。此外，对所选定或者所限定的候选材料实施正式的试验即制作实机线圈或者与其同等的模拟线圈，实施绝缘寿命试验即可，能够大幅地减轻试验准备、试验的实施、以及材料选定中的研究等的负担。

如上所述，根据有关本实施方式的绝缘寿命试验方法及绝缘试验体，能够简易地评价绝缘寿命特性。

[第2实施方式]

图10是表示有关本发明的第2实施方式的绝缘寿命试验方法的步骤的流程图。本实施方式是第1实施方式的变形，不同之处如下：具有步骤S22，替代在第1实施方式的步骤S02中使用的绝缘试验体100及试验装置150，而使用绝缘试验体200(图11)及试验装置250(图13)；具有步骤S24来替代第1实施方式中的步骤S04；以及具有步骤S25来替代第1实施方式中的步骤S05。除这些以外，与第1实施方式相同。下面，对与第1实施方式的不同之处进行说明。

图11是表示有关本发明的第2实施方式的绝缘试验体的结构的沿图12中的XI-XI线的向视剖面图，图12是沿图11中的XII-XII线的向视剖面图。绝缘试验体200具有层叠体210、接地侧电极220及施加侧电极230。

层叠体210具有平面地扩展的主绝缘层211及高分子化合物层212。主绝缘层211可以是两层。此外，可以将主绝缘带20的一部分切成相同形状相互重叠两片或者三片以上，并浸渍高分子化合物，由此形成层叠体210。

另外，与第1实施方式相同，主绝缘层211的形状也可以是长方形以外的形状。

接地侧电极220呈长的平板状，与主绝缘层211扩展的面平行地、从高分子化合物层212的端部插入高分子化合物层212的内部。

施加侧电极230呈长的平板状，前端231变尖成锐角。施加侧电极230使尖的前端231在前面、并与主绝缘层211扩展的面平行地插入已插入接地侧电极220的高分子化合物层212。

施加侧电极230和接地侧电极220例如能够使用铝等金属薄板。

另外，示出了施加侧电极230具有尖的前端231的例子，但不限于此。例如，也可以是前端为曲面状或者平面状的电极。

施加侧电极230和接地侧电极220配置为沿同一方向排成一列，将施加侧电极230的前端231与接地侧电极220的端部之间的间隔D(图11)管理成规定的值。

对层叠体210限制主绝缘层211的层叠数。由此，如后面所述，能够使光或者X射线透射层叠体210，从外部观察在高分子化合物层212内形成的电树枝。

图13是表示在有关本发明的第2实施方式的绝缘寿命试验方法中使用的试验装置的结构的斜视图。试验装置250具有绝缘试验体200、电源253、光源254及光学显微镜255。

绝缘试验体200的施加侧电极230经由连接导体252与电源253连接。电源253例如是能够施加高压的交流电压、反复脉冲电压作为定子绕组12和接地之间的电压的电源。另外，接地侧电极220经由连接导体251接地。

特别地，光源254沿层叠体210的厚度方向向施加侧电极230的前端231与接地侧电极220的端部之间的区域照射光。

光学显微镜255接受由光源254所照射的光的透射，使焦点对准施加侧电极230的前端231与接地侧电极220的端部之间的区域，以便从外部观察在该区域产生的电子树的发展的状况。

准备如上所述的绝缘试验体200及试验装置250的步骤对应于步骤S22，观察的步骤对应于步骤S24。

另外，关于电树枝的贯通，在第1实施方式中是指一直贯通到高分子化合物层112的与接地侧电极120接触的端部，而在本第2实施方式中，把电树枝达到设定在从施加侧电极230的前端231到接地侧电极220之间的任意的距离的情况，称为电树枝贯通，其判定的步骤对应于步骤S25。

另外，也可以替代上述说明的光学方法，而通过使用X射线的方法来进行。在这种情况下，替代光源及光学显微镜，而使用X射线产生装置及X射线影像增强器，同样能够从外部观察电树枝的发展状况。

如上所述，在本第2实施方式中，能够从外部观察电树枝的发展状况。其结果是，能够掌握电树枝产生的状况、分支的方式、发展的速度等发展状况，并进行材料的选择，该电树枝以往因主绝缘自身不透明而不能用光学显微镜观察，并且因实机模拟线圈不透射X射线而不能观察。

另外，例如当在高分子化合物层212内存在纳米填料的情况下，能够根据电树枝的状况确认基于纳米填料的效果。

[其它实施方式]

以上将例如真空加压浸渍系统的情况作为例子，对本发明的实施方式进行了说明，但实施方式是作为例子而提示的，并非限定发明的范围。

另外，这些实施方式还能够以其它各种各样的方式、例如预浸料坯绝缘系统等其它绝缘系统来实施，能够在不脱离发明的主旨的范围中进行各种各样的省略、替换、变更。

这些实施方式及其变形包含在发明的范围或主旨中，同样包含在权利要求书所记载的发明和其等价的范围中。

Claims (7)

1.一种绝缘寿命试验方法，其特征在于，

所述绝缘寿命试验方法包括：

准备步骤，准备绝缘试验体，构成试验装置，所述绝缘试验体具有层叠体和各自的前端具有间隔地插入所述层叠体的内部的施加侧电极及接地侧电极，所述层叠体是将无机材料的主绝缘层和有机材料的高分子化合物层进行层叠而成的；以及

电压施加步骤，在沿着所述主绝缘层的方向对所述层叠体施加电压。

2.根据权利要求1所述的绝缘寿命试验方法，其特征在于，

所述绝缘寿命试验方法准备多个所述绝缘试验体，所述绝缘寿命试验方法包括对于各个所述绝缘试验体的所述准备步骤和所述电压施加步骤，

所述绝缘寿命试验方法还包括结果整理步骤，根据各个结果整理绝缘击穿时间和击穿概率的关系。

3.根据权利要求2所述的绝缘寿命试验方法，其特征在于，

所述绝缘寿命试验方法还包括在所述准备步骤之前选择试验对象绝缘材料的试验对象材料选择步骤，

所述绝缘寿命试验方法还包括在所述结果整理步骤之后选择候选材料的候选材料选择步骤。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的绝缘寿命试验方法，其特征在于，

在所述准备步骤中，使用层叠成可以观察内部状态的程度的层叠体，

所述绝缘寿命试验方法还包括在所述电压施加步骤之后，观察所述绝缘试验体中的电树枝的发展状况的观察步骤。

5.根据权利要求4所述的绝缘寿命试验方法，其特征在于，

所述观察是基于光学方法或者使用X射线的方法进行的。

6.一种绝缘试验体，其特征在于，

所述绝缘试验体具有：

层叠体，将无机材料的至少一个主绝缘层和有机材料的至少一个高分子化合物层进行层叠而成；

施加侧电极，与所述主绝缘层扩展的面平行地插入一个高分子化合物层的第一端部；以及

接地侧电极，从与所述高分子化合物层的所述第一端部相反侧的第二端部插入，其一端部和所述施加侧电极的前端部之间隔开规定的间隔，

所述层叠体层叠成可以从外部观察内部状态的程度的厚度。

7.根据权利要求6所述的绝缘试验体，其特征在于，

所述观察是基于光学方法或者使用X射线的方法进行的。

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