CN110793670A - 一种白光led结温测量方法及测量装置 - Google Patents

一种白光led结温测量方法及测量装置 Download PDF

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CN110793670A CN201911113330.0A CN201911113330A CN110793670A CN 110793670 A CN110793670 A CN 110793670A CN 201911113330 A CN201911113330 A CN 201911113330A CN 110793670 A CN110793670 A CN 110793670A
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蒋福春
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刘远海
刘�文
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Abstract

本申请公开了一种白光LED结温测量方法及测量装置，该方法包括：检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值；其中，预设第一公式是通过检测白光LED在不同温度下的多个第二光谱曲线，并基于多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。通过上述方式，实现对白光LED的非接触式测量，降低测量过程的技术难度和成本投入。

Description

一种白光LED结温测量方法及测量装置
技术领域
本申请涉及LED检测领域，特别是涉及一种白光LED结温测量方法及测量装置。
背景技术
白光LED是新一代照明光源，具有发光效率高，寿命长和绿色环保等优点，在各种领域中得到了广泛的应用，被认为是最具有应用前景照明光源之一。目前LED工作时仍有大量的能量转变成了热能，使得LED结温过高，从而引起光衰、发光效率降低、颜色偏移、寿命缩短、降低可靠性等各种问题。
快速、准确地测量LED结温就成为研究者所关注的重要问题。相关的LED结温标准测量方法是正向电压法，但对于成品LED灯具而言，在测量时易受到LED封装结构及灯具外壳的限制，一般很难实现LED引脚上两端电压的精确测量，并且其测量条件是在极小电流状态下进行，而且结电压与结温的线性关系在高温端明显优于低温端，从而引起测量误差，无法及时有效掌握LED结温。
发明内容
为了解决上述问题，本申请提供一种白光LED结温测量方法及测量装置，实现对白光LED的非接触式测量，降低测量过程的技术难度和成本投入。
本申请采用的一种技术方案是提供一种白光LED结温测量方法，包括：检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值；其中，预设第一公式是通过检测白光LED在不同温度下的多个第二光谱曲线，并基于多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。
其中，该方法还包括：将每个第二相对光谱值和对应的温度，分别代入预设第二公式；将两个第二相对光谱值对应的预设第二公式作差，以得到预设第一公式。
其中，预设第二公式为：T+ΔT＝ax+b；其中，T为一个第二相对光谱值对应的温度，ΔT为白光LED点亮时增加的温度，x为第二相对光谱值，a为白光LED对应的系数，b为白光LED对应的常数。
其中，预设第一公式为：T1-T2＝a(x1-x2)；其中，x1为T1对应的相对光谱值，T2为基础温度值，x2为基础温度值对应的相对光谱值。
其中，检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值，包括：将白光LED置于积分球的收光口，以使白光LED的光射入积分球内；积分球的检测口连接光谱仪，并通过光谱仪检测积分球内的光以得到白光LED的工作状态下的第一光谱曲线；基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值。
本申请采用的另一种技术方案是提供一种白光LED结温测量装置，该白光LED结温测量装置包括：光谱仪，用于检测待检测白光LED的光，以得到光谱曲线；处理器，用于通过光谱仪检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值；其中，该白光LED结温测量装置还包括恒温组件，预设第一公式是通过光谱仪检测特定白光LED在恒温组件的控制下对应不同温度的光，以得到多个第二光谱曲线，并基于多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。
其中，恒温组件与特定白光LED贴合，恒温组件与待检测白光LED贴合面之间涂导热硅脂。
其中，处理器还用于将每个第二相对光谱值和对应的温度，分别代入预设第二公式；将两个第二相对光谱值对应的预设第二公式作差，以得到预设第一公式；预设第二公式为：T+ΔT＝ax+b；其中，T为一个第二相对光谱值对应的温度，ΔT为白光LED点亮时增加的温度，x为第二相对光谱值，a为白光LED对应的系数，b为白光LED对应的常数；预设第一公式为：T1-T2＝a(x1-x2)；其中，x1为T1对应的相对光谱值，T2为基础温度值，x2为基础温度值对应的相对光谱值。
其中，测量装置还包括一积分球，积分球用于在检测口连接光谱仪，以使光谱仪检测积分球内的待检测白光LED的光，以得到待检测白光LED的光谱曲线。
本申请采用的另一种技术方案是提供一种计算机存储介质，计算机存储介质用于存储程序数据，程序数据在被处理器执行时，用于实现上述方案中提供的任一方法。
本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请的一种白光LED结温测量方法，包括：检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值；其中，预设第一公式是通过检测白光LED在不同温度下的多个第二光谱曲线，并基于多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。通过上述方式，一方面通过将白光LED的光谱曲线得到相对光谱值代入预设第一公式，计算得到结温值，实现对白光LED的非接触式测量，另一方面降低测量过程的技术难度和成本投入。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
图1是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例的流程示意图；
图2是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例中的光谱曲线示意图；
图3是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例中的不同温度的光谱曲线示意图；
图4是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例中的不同温度与相对光谱值的关系示意图；
图5是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例中的温度变化量与相对光谱值变化量的关系示意图；
图6是本申请提供的白光LED结温测量装置一实施例结构示意图；
图7是本申请提供的白光LED结温测量装置另一实施例结构示意图；
图8是本申请提供的白光LED结温测量装置另一实施例中积分球的结构示意图；
图9是本申请提供的计算机存储介质一实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
参阅图1，图1是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例的流程示意图，该方法包括：
步骤11：检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值。
可选的，将白光LED置于积分球的收光口，以使白光LED的光射入积分球内；积分球的检测口连接光谱仪，并通过光谱仪检测积分球内的光以得到白光LED的工作状态下的第一光谱曲线；基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值。
可以理解，本实施例中的相对光谱值为对应光的相对光谱强度。
积分球是一个内壁涂有白色漫反射材料的空腔球体，又称光度球，光通球等。球壁上开一个或几个窗孔，用作进光孔和放置光接收器件的接收孔。积分球的内壁应是良好的球面，通常要求它相对于理想球面的偏差应不大于内径的0.2％。球内壁上涂以理想的漫反射材料，也就是漫反射系数接近于1的材料。常用的材料是氧化镁或硫酸钡，将它和胶质粘合剂混合均匀后，喷涂在内壁上。氧化镁涂层在可见光谱范围内的光谱反射比都在99％以上，这样，进入积分球的光经过内壁涂层多次反射，在内壁上形成均匀照度。为获得较高的测量准确度，积分球的开孔比应尽可能小。开孔比定义为积分球开孔处的球面积与整个球内壁面积之比。
光谱仪(Spectroscope)是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成，利用光谱仪可测量物体表面反射的光线。阳光中的七色光是肉眼能分的部分(可见光)，但若通过光谱仪将阳光分解，按波长排列，可见光只占光谱中很小的范围，其余都是肉眼无法分辨的光谱，如红外线、微波、紫外线、X射线等等。通过光谱仪对光信息的抓取、以照相底片显影，或电脑化自动显示数值仪器显示和分析，从而测知物品中含有何种元素。这种技术被广泛地应用于空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中。
步骤12：将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值。
可选的，预设第一公式是通过白光LED在不同温度下的第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。
具体地，将每个第二相对光谱值和对应的温度，分别代入预设第二公式，经两个第二个相对光谱值对应的预设第二公式作差，以得到预设第一公式。
预设第二公式为：
T+ΔT＝ax+b；
其中，T为一个第二相对光谱值对应的温度，ΔT为白光LED点亮时增加的温度，x为第二相对光谱值，a为白光LED对应的系数，b为白光LED对应的常数。
预设第一公式为：
T1-T2＝a(x1-x2)；
其中，x1为T1对应的相对光谱值，T2为基础温度值，x2为基础温度值对应的相对光谱值。
在一应用场景中，将白光LED贴紧恒温组件，恒温组件可以是温度控制装置，白光LED与恒温组件的贴合面可以涂导热硅脂，利于导热。通过恒温组件控制白光LED的温度，以检测白光LED在不同温度下的光谱曲线，例如，在一实施例中，可以将温度分别控制为25摄氏度、35摄氏度、45摄氏度、55摄氏度、65摄氏度、75摄氏度、85摄氏度，每个温度保持一定时间段，以达到动态热平衡，如2-3分钟。为了保证动态热平衡的稳定性，温度保持时间越长，动态热平衡越稳定。时间段可以为3-5分钟、5-10分钟、10-15分钟、15-25分钟，这里不做限制。此时恒温组件的温度可代替白光LED的结温值，恒温时间满足后，将恒温组件与积分球结合，将白光LED置于积分球的收光口。给白光LED提供电源，如电流为350mA的电源，使白光LED发光，以使白光LED的光通过积分球的收光口射入积分球内。积分球的检测口连接光谱仪，通过光谱仪测量得到白光LED的光谱曲线。参阅图2，图2是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例中的光谱曲线示意图，通过光谱仪测量得到的光谱曲线如图2所示的，横坐标为波长，纵坐标为相对光谱值，图2中波谷位置对应的纵坐标的值为对应温度的白光LED的相对光谱值。
分别对恒温装置处于25摄氏度、35摄氏度、45摄氏度、55摄氏度、65摄氏度、75摄氏度、85摄氏度时，白光LED通电时用光谱仪进行检测，以得到不同温度下的光谱曲线，参阅图3，图3是本申请提供的白光LED结温测量方法一实施例中的不同温度的光谱曲线示意图。每一温度的白光LED光谱曲线的波谷对应一相对光谱值，不同温度与相对光谱值的对应关系可建立表格，如下所示：
温度/℃ 25 35 45 55 65 75 85
相对光谱值 0.1123 0.119 0.126 0.1336 0.1413 0.1483 0.1576
依靠如上表格所示的数据可以得出，将温度与相对光谱值经过最小二乘法拟合后，可得到如图4所示的温度与相对光谱值的关系示意图；横坐标表示相对光谱值，纵坐标表示温度。根据图4所示，通过将温度与相对光谱值用最小二乘法拟合后得到的温度与相对光谱值的关系式为：y＝1332.2x-123.54；
其中，将此公式与上述预设公式进行对比，此公式中y相当于上述预设第二公式的T+ΔT，此公式中的1332.2相当于上述预设第二公式中的系数a,此公式的-123.54相当于上述预设第二公式中的常数b。
可以理解，根据白光LED的材料上的差异，预设第二公式中的系数a的值是相应变化的，常数b的值也是相应变化的。
在本应用场景中，以25摄氏度为基准，其余温度与其作差，得到温度变化量与相对光谱值变化量的对应表格，如下所示：
Figure BDA0002273372320000071
依靠如上表格所示的数据可以得出，将温度变化量与相对光谱值变化量的数值经过最小二乘法拟合后，可得到如图5所示的关系示意图。图5中的横坐标表示相对光谱值变化量，纵坐标表示温度变化量，温度变化量与相对光谱值变化量的关系式为：y-25＝1332.2(x-0.1123)；其中，此公式中的y对应上述预设第一公式的T1，此公式中的25对应上述预设第一公式的T2，表示基础值为25摄氏度，此公式中的1332.2相当于上述预设第一公式中的系数a，此公式中的0.1123表示基础值为25摄氏度时白光LED对应的相对光谱值。
依照上述的公式y-25＝1332.2(x-0.1123)；当检测到白光LED在350mA工作15s下的光谱曲线对应的相对光谱值为0.1449，将相对光谱值代入公式y-25＝1332.2(x-0.1123)，计算到的y为68.43摄氏度，此时的y表示白光LED工作状态下的结温值。
在其他实施例中，基础温度的设定可以按照实际需要进行调整，不同温度之间的等差值也可以根据实际需要进行调整，并不限制某一固定值。
在其他实施例中，光谱仪可以在暗室中检测待检测白光LED的光，以得到光谱曲线。
区别于现有技术的情况，本申请的一种白光LED结温测量方法，包括：检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值；其中，预设第一公式是通过检测白光LED在不同温度下的多个第二光谱曲线，并基于多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。通过上述方式，一方面通过将白光LED的光谱曲线得到相对光谱值代入预设第一公式，计算得到结温值，实现对白光LED的非接触式测量，另一方面降低测量过程的技术难度和成本投入。
参阅图6，图6是本申请提供的白光LED结温测量装置一实施例结构示意图，该测量装置60包括恒温组件61、光谱仪62和处理器63。
其中，恒温组件61用于与特定白光LED贴合，对特定白光LED进行温度控制。
恒温组件61是直接或间接控制一个或多个热源和冷源来维持所要求的温度的一种装置。恒温组件具有一个敏感元件和一个转换器，敏感元件量度出温度的变化，并对转换器产生所需的作用。转换器把来自敏感元件的作用转换成对改变温度的装置能进行适当控制的作用。
本实施例中，特定白光LED与恒温组件贴合，可选的，恒温组件与特定白光LED贴合面之间可以涂导热硅脂。导热硅脂以有机硅酮为主要原料，添加耐热、导热性能优异的材料，制成的导热型有机硅脂状复合物，用于功率放大器、晶体管、电子管、CPU等电子元器件的导热，从而保证电子仪器、仪表等的电气性能的稳定。还可以涂其他利于导热的有机材料，保证恒温组件对白光LED的温度控制。
其中，光谱仪62用于检测待检测白光LED的光，以得到光谱曲线。
其中，处理器63用于通过光谱仪检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值；其中，预设第一公式是通过光谱仪62检测特定白光LED在恒温组件61的控制下对应不同温度的光，以得到多个第二光谱曲线，并基于多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。
可以理解，上述的特定白光LED和待检测白光LED属于同种材料或类别，两者的性能相同。其中，特定白光LED在恒温组件控制温度时与恒温组件贴合，并通电发光；待检测白光LED在工作状态下通电发光。
可选地，在另一实施例中，处理器63还用于将每个第二相对光谱值和对应的温度，分别代入预设第二公式；将两个第二相对光谱值对应的预设第二公式作差，以得到预设第一公式；预设第二公式为：
T+ΔT＝ax+b；
其中，T为一个第二相对光谱值对应的温度，ΔT为白光LED点亮时增加的温度，x为第二相对光谱值，a为白光LED对应的系数，b为白光LED对应的常数；预设第一公式为：
T1-T2＝a(x1-x2)；
其中，x1为T1对应的相对光谱值，T2为基础温度值，x2为基础温度值对应的相对光谱值。
参阅图7，图7是本申请提供的白光LED结温测量装置另一实施例结构示意图，测量装置60包括恒温组件61、光谱仪62、处理器63和积分球64。
积分球64用于在检测口连接光谱仪，以使光谱仪检测积分球内的白光LED的光，以得到白光LED的光谱曲线。
参阅图8，图8是积分球64的结构示意图；积分球64包括内表面具有反射涂层的空心球壳641、设置在空心球壳641上的收光口642及光探测器固定座643。
收光口642用于当白光LED置于此处时，通过收光口642将光射入积分球64内。
光探测器固定座643即检测口，用于设置一系列的光检测装置，本实施例中，光探测器固定座643连接光谱仪，检测积分球内的白光LED的光，以得到白光LED的光谱曲线。
恒温组件61、光谱仪62、处理器63的作用与上述另一装置中的作用相同或相似，这里不做赘述。
在其他实施例中，光谱仪62可以在暗室中检测待检测白光LED的光，以得到光谱曲线。
在一些实施例中，此白光LED结温测量装置采用普通的光谱仪稍加改装并配上温控系统即可。测试过程中对所有影响白光LED器件结温的因素均加以控制。整个过程分为定标和测量两部分，定标的目的是得到白光LED样品在不同条件下结温温度差△Tj与波谷位置A的光谱强度差△IA形成的△Tj＝f(△IA)函数关系，此函数称为定标函数，具体测试步骤如下：
(1)将待测白光LED安装在恒温装置内，并在基底上均匀涂覆一层导热硅脂，保持良好的热接触；
(2)将恒温腔装置环境设定为T1，稳定一段时间(如2-3分钟)，使得待测白光LED与恒温装置基座之间达到稳定热平衡；
(3)给待测白光LED通以正常的驱动电流(如350mA)，并立即用光谱仪测量其发光光谱，得到光谱最低点波谷位置A的相对光谱强度；
(4)改变恒温装置的温度为Ti(i＝2,3,…)，重复步聚3，得到其温度下同一电流对应的IA。
定标：为了消除自加热效应和温控装置精确度的影响，选定某一状态(如恒温装置温度为25℃)为基准状态(如恒温装置温度为25℃)，其对应的温度为Tb，光谱最底点波谷位置A的相对光谱强度为Ib，将步骤(4)得出的Tj和IA分别与基准值作差得到△Tj＝Ti－Ib,和△IA＝IA－Ib,通过拟合，得到线性函数关系△Tj＝f(△IA)，即得到了定标函数。
测量：为了得到实际白光LED正常工作时的任一结温Tj，步骤如下：
(1)用光谱仪测量待测条件下白光LED光谱分布，得到光谱最低点波谷位置A的相对光谱强度值IA；
(2)将上一步测得的IA值与基准Ib作差得到△IA；
(3)将计算出的△IA，代入到定标函数△Tj＝f(△IA),便得到了此时的真实结温Tj＝Tb+△Tj＝Tb+f(△IA)。
在正式测量时，温控装置根据需要进行选择。
区别于现有技术的情况，通过光谱仪检测白光LED发出的光，以得到光谱曲线中波谷对应的相对光谱值，将相对光谱值代入预设第一公式，计算得到结温值，实现对白光LED的非接触式测量，降低测量过程的技术难度和成本投入。
参阅图9，图9是本申请提供的计算机存储介质一实施例的结构示意图，计算机存储介质90用于存储程序数据91，程序数据91在被处理器执行时，用于实现以下的方法：
检测白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算白光LED在工作状态下的结温值；其中，预设第一公式是通过检测白光LED在不同温度下的多个第二光谱曲线，并基于多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。
可以理解地，本实施例中的计算机存储介质90还可以实现上述实施例的任一方法，这里不再赘述。
在本申请所提供的几个实施方式中，应该理解到，所揭露的方法以及设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施方式仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。
另外，在本申请各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述其他实施方式中的集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请各个实施方式所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccess Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种白光LED结温测量方法，其特征在于，包括：
检测所述白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于所述第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；
将所述第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算所述白光LED在工作状态下的结温值；
其中，所述预设第一公式是通过检测所述白光LED在不同温度下的多个第二光谱曲线，并基于所述多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据所述多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。
2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
所述方法还包括，包括：
将每个所述第二相对光谱值和对应的温度，分别代入预设第二公式；
将两个所述第二相对光谱值对应的所述预设第二公式作差，以得到所述预设第一公式。
3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，
所述预设第二公式为：
T+ΔT＝ax+b；
其中，T为一个所述第二相对光谱值对应的温度，ΔT为所述白光LED点亮时增加的温度，x为所述第二相对光谱值，a为所述白光LED对应的系数，b为所述白光LED对应的常数。
4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，
所述预设第一公式为：
T1-T2＝a(x1-x2)；
其中，x1为所述T1对应的相对光谱值，T2为基础温度值，x2为所述基础温度值对应的相对光谱值。
5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
所述检测所述白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于所述第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值，包括：
将所述白光LED置于积分球的收光口，以使所述白光LED的光射入所述积分球内；
所述积分球的检测口连接光谱仪，并通过所述光谱仪检测所述积分球内的光以得到所述白光LED的工作状态下的第一光谱曲线；
基于所述第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值。
6.一种白光LED结温测量装置，其特征在于，所述白光LED结温测量装置包括：
光谱仪，用于检测所述待检测白光LED的光，以得到光谱曲线；
处理器，用于通过所述光谱仪检测所述白光LED的工作状态下的第一光谱曲线，并基于所述第一光谱曲线的波谷得到第一相对光谱值；将所述第一相对光谱值代入预设第一公式，以计算所述白光LED在工作状态下的结温值；
其中，所述白光LED结温测量装置还包括恒温组件，所述预设第一公式是通过所述光谱仪检测特定白光LED在所述恒温组件的控制下对应不同温度的光，以得到多个第二光谱曲线，并基于所述多个第二光谱曲线的波谷分别得到多个第二相对光谱值，并进一步根据所述多个第二相对光谱值和对应的温度确定的。
7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，
所述恒温组件与所述特定白光LED贴合，所述恒温组件与所述待检测白光LED贴合面之间涂导热硅脂。
8.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，
所述处理器还用于将每个所述第二相对光谱值和对应的温度，分别代入预设第二公式；将两个所述第二相对光谱值对应的所述预设第二公式作差，以得到所述预设第一公式；
所述预设第二公式为：
T+ΔT＝ax+b；
其中，T为一个所述第二相对光谱值对应的温度，ΔT为所述白光LED点亮时增加的温度，x为所述第二相对光谱值，a为所述白光LED对应的系数，b为所述白光LED对应的常数；
所述预设第一公式为：
T1-T2＝a(x1-x2)；
其中，x1为所述T1对应的相对光谱值，T2为基础温度值，x2为所述基础温度值对应的相对光谱值。
9.根据所述权利要求6所述的测量装置，其特征在于，
所述测量装置还包括一积分球，所述积分球用于在检测口连接光谱仪，以使所述光谱仪检测所述积分球内的所述待检测白光LED的光，以得到所述待检测白光LED的光谱曲线。
10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质用于存储程序数据，所述程序数据在被处理器执行时，用于实现如权利要求1-5任一项所述的方法。
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