CN110780181A - 查找表生成方法、装置及系统 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种查找表生成方法、装置及系统，以实现查找表LUT的自动生成，提高LUT的生成效率。本公开查找表生成方法包括：获取待测芯片的数据输入接口的位宽；根据所述数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片；根据所述待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

Description

查找表生成方法、装置及系统

技术领域

本公开涉及测试技术领域，具体地，涉及一种查找表生成方法、装置及系统。

背景技术

功率放大器是手机射频前端设计中的核心部分，通过功率放大器能把较小的发射功率推送到天线空口上，以获得较大的发射功率，非线性是功率放大器的特性之一，而在实际使用过程中，为了保证发射功率的准确性，通常需要使功率放大器工作在线性区。

相关技术中，为了使功率放大器工作在线性区，主要通过LUT(Look-Up-Table，显示查找表)对功率放大器输出的发射功率进行补偿。然而，制作LUT需要遍历待测芯片的每一种基带输入幅度，获得对应的输出情况，因此，手动制作LUT的话，会耗费测试人员大量的时间和精力，制作效率不高。

发明内容

本公开的目的是提供一种查找表生成方法、装置及系统，以实现LUT的自动生成，提高LUT的生成效率。

第一方面，本公开提供一种查找表生成方法，包括：

获取待测芯片的数据输入接口的位宽；

根据所述数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片；

根据所述待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

可选地，所述根据所述数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片，包括：

根据所述数据输入接口的位宽，控制所述输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号并发送给所述待测芯片；

根据所述待测芯片生成的测试输出信号，生成查找表LUT，包括：

根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，生成所述LUT。

可选地，所述根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，生成所述LUT，包括：

根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，确定对应的多个功率输出值；

根据所述多个功率输出值，生成所述LUT。

可选地，所述根据所述多个功率输出值，生成所述LUT，包括：

判断所述多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当所述多个功率输出值中不存在超过所述预设门限范围的功率值时，根据所述多个功率输出值，生成所述LUT；

当所述多个功率输出值中存在超过所述预设门限范围的功率值时，输出错误提示信息，并停止生成所述LUT。

可选地，所述根据所述多个功率输出值，生成所述LUT，包括：

判断所述多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当所述多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值时，确定超过所述预设门限范围的功率值的个数与所述多个功率输出值总数的比例；

当所述比例在预设比例范围内时，根据所述多个功率输出值，生成所述LUT。

可选地，所述获取待测芯片的数据输入接口的位宽，包括：

确定所述待测芯片的类型；

根据所述待测芯片的类型，确定所述待测芯片的数据输入接口；

获取所述数据输入接口的位宽。

第二方面，本公开还提供一种查找表生成装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取待测芯片的数据输入接口的位宽；

控制模块，用于根据所述数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片；

生成模块，用于根据所述待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

可选地，所述控制模块用于根据所述数据输入接口的位宽，控制所述输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号并发送给所述待测芯片；

所述生成模块用于根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，生成所述LUT。

可选地，所述生成模块包括：

确定模块，用于根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，确定对应的多个功率输出值；

生成子模块，用于根据所述多个功率输出值，生成所述LUT。

可选地，所述生成模块用于：

判断所述多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当所述多个功率输出值中不存在超过所述预设门限范围的功率值时，根据所述多个功率输出值，生成所述LUT；

当所述多个功率输出值中存在超过所述预设门限范围的功率值时，输出错误提示信息，并停止生成所述LUT。

可选地，所述生成模块用于：

判断所述多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当所述多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值时，确定超过所述预设门限范围的功率值的个数与所述多个功率输出值总数的比例；

当所述比例在预设比例范围内时，根据所述多个功率输出值，生成所述LUT。

可选地，所述获取模块用于：

确定所述待测芯片的类型；

根据所述待测芯片的类型，确定所述待测芯片的数据输入接口；

获取所述数据输入接口的位宽。

第三方面，本公开还提供一种查找表生成系统，所述系统包括第二方面里任一所述的查找表生成装置和输入输出设备：

所述查找表生成装置，分别与待测芯片和所述输入输出设备连接，用于获取所述待测芯片的数据输入接口的位宽，并根据所述数据输入接口的位宽，向所述输入输出设备发送控制指令，以控制所述输入输出设备生成测试电平信号；

所述输入输出设备，与所述查找表生成装置和所述待测芯片分别连接，用于接收所述控制指令，以及根据所述控制指令，生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片，以使所述查找表生成装置根据所述待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

通过上述技术方案，可以先获取待测芯片的数据输入接口的位宽，然后根据数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给待测芯片，最后根据待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。也即是说，通过本公开的查找表生成方法，能够实现LUT的自动生成，而无需测试人员手动制作，不仅减轻了测试人员的测试工作量，还提高了LUT的制作效率，保证了LUT的数据准确性，并且，通过输入输出设备能够动态适用不同种类的待测芯片，满足用户不同的测试需求。

本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：

图1是根据本公开一示例性实施例示出的查找表生成方法的一流程图；

图2是根据本公开一示例性实施例示出的查找表生成方法的另一流程图；

图3是根据本公开一示例性实施例示出的查找表生成装置的框图；

图4是根据本公开一示例性实施例示出的一种查找表生成系统的框图。

具体实施方式

以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。

本公开中的待测芯片例如可以是NB-IoT(Narrow Band Internet of Things，窄带物联网)芯片、LTE(Long Term Evolution，长期演进技术)芯片等不同类型的芯片，本公开对此不作限定。

对于本公开的应用场景，需要说明的是，本公开的查找表生成方法可以应用于上位机，或者其他的控制装置，等等，本公开实施例对此不作限定。

图1是根据一示例性实施例示出的一种查找表生成方法，参照图1，本公开实施例的查找表生成方法包括以下步骤：

步骤S101，获取待测芯片的数据输入接口的位宽；

步骤S102，根据数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给待测芯片；

步骤S103，根据待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

由于待测芯片的类型不同，待测芯片的数据输入接口也会不同，比如，当待测芯片为NB-IoT芯片时，其数据输入接口可以是AMIO(Amplitude Modulation Input/Output，幅度调制输入/输出)接口，而如果待测芯片不是NB-IoT芯片，那数据输入接口可能就会是除AMIO接口以外的其他接口，因此，在步骤S101中获取待测芯片的数据输入接口的位宽可以是先确定待测芯片的类型，然后根据待测芯片的类型确定对应的数据输入接口的位宽，即，可选地，参照图2，步骤S101，可以包括以下步骤：

步骤S1011，确定待测芯片的类型；

步骤S1012，根据待测芯片的类型，确定待测芯片的数据输入接口；

步骤S1013，获取数据输入接口的位宽。

例如，确定了待测芯片的类型为NB-IoT芯片，那么可以根据芯片类型为NB-IoT芯片，确定数据输入接口为AMIO接口，然后获取NB-IoT芯片AMIO接口的位宽，比如，可以获取到该NB-IoT芯片AMIO接口的位宽为10位。

需要说明的是，在本公开实施例中，可以当待测芯片进入LUT测试模式后，再执行上述查找表生成方法的各个步骤，即，在获取待测芯片的数据输入接口的位宽之前，可以先控制待测芯片进入LUT测试模式，而当生成LUT后，再控制待测芯片退出LUT测试模式，保证待测芯片的正常工作。比如，当待测芯片为NB-IoT芯片时，可以通过NB-IoT芯片的SPI(Serial Peripheral Interface，串行外设接口)控制NB-IoT芯片进入LUT测试模式，然后再执行上述查找表生成方法的各个步骤。

获取待测芯片的数据输入接口的位宽后，就可以根据该数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给待测芯片。

本公开实施例中，输入输出设备可以是可编程多功能IO(Input/Output，输入输出)设备，等等，本公开实施例对此不作限定，只要该输入输出设备可以根据待测芯片数据输入接口的位宽生成对应的测试电平信号即可。并且，控制输入输出设备的方式可以是通过USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)控制，等等，本公开实施例对此不作限定。

另外，本公开实施例对于根据数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给待测芯片的具体方式也不作限定，下面对可能的方式进行说明。

可选地，可以是根据数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号并发送给待测芯片。相应地，在步骤S103中就根据待测芯片生成的多个测试输出信号，生成LUT。

本公开实施例中，控制输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号，可以是按照从二进制全0到二进制全1的递增顺序，控制输入输出设备依次生成对应的测试电平信号，等等，本公开对此不作限定，只要能生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号即可。

例如，上述待测芯片为NB-IoT芯片的例子中，获取到AMIO接口的位宽为10位，那么就可以通过USB按照从二进制0000000000到二进制1111111111的递增顺序，控制输入输出设备依次生成对应的测试电平信号并依次发送给NB-IoT芯片，NB-IoT芯片根据接收到的测试电平信号依次生成测试输出信号，然后就可以根据NB-IoT芯片依次生成的测试输出信号，生成LUT。

应当理解的是，在本公开实施例中，根据待测芯片的数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号并发送给待测芯片时，可以是每次控制输入输出设备生成一个测试电平信号发送给待测芯片，当获取到待测芯片的测试输出信号后，再控制输入输出设备生成下一个测试电平信号并发送给待测芯片，依次循环，直到获得从二进制全0到二进制全1对应的全部测试输出信号。

由于LUT是用于对功率放大器的输出功率进行补偿，所以较佳地，生成的LUT应包括待测芯片的测试输入值与功率输出值间的对应关系，因此，可选地，根据待测芯片生成的多个测试输出信号，生成LUT可以是先根据待测芯片生成的多个测试输出信号，确定对应的多个功率输出值，然后根据所述多个功率输出值，生成LUT。

当本公开实施例的查找表生成方法应用于上位机时，确定测试输出信号对应的功率输出值可以是通过上位机的GPIB(General-Purpose Interface Bus，通用接口总线)接口控制频谱仪在待测芯片的天线口接收待测芯片的测试输出信号，那么当频谱仪接收到测试输出信号后，就可以输出该测试输出信号对应的功率输出值，并通过GPIB接口将功率输出值返回给上位机，从而可以建立测试输入值与功率输出值的对应关系，获得LUT。

例如，待测芯片的数据输入接口的位宽为10位，控制输入输出设备生成的一个测试电平信号为0000000000，将该测试电平信号输入给待测芯片，待测芯片产生了一个对应的测试输出信号，这时，控制频谱仪在待测芯片的天线口接收该测试输出信号，然后确定频谱仪输出了为-60dbm的功率值，即，得到了测试电平信号为0000000000时，功率输出值为-60dbm，以此类推，每一次测试电平信号都对应一个功率输出值，那么就可以得到一个完整的LUT。

通过以上的方式，生成的LUT包括待测芯片的测试输入信号与功率输出值间的关系，因此，根据测试输入信号，可以直接在LUT中确定对应的功率输出值，实现了LUT的自动生成。

由于根据测试输入信号获得对应功率输出值的过程中，可能存在偶然误差，从而得到的功率输出值可能就存在偏差，因此，为了消除这种功率输出值存在的偏差，保证生成的LUT的数据准确性，在本公开实施例中可以对功率输出值进行偏差检测，并根据偏差检测的结果生成LUT。

可选地，可以先判断多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值，当多个功率输出值中不存在超过预设门限范围的功率值时，根据多个功率输出值，生成LUT，当多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值时，输出错误提示信息，并停止生成LUT。

预设门限范围可以是用户根据待测芯片的类型设定的，也可以是用户根据待测芯片的使用场景设定的，等等，本公开对此不作限定，只要根据预设门限范围，可以确定存在偏差的功率输出值即可。

错误提示信息可以是通过语音的方式报告给用户，也可以是通过文字显示的方式报告给用户，当然，如果是以语音的方式报告给用户，那么本公开实施中还应该增加语音输出装置，然后就可以控制语音输出装置语音播报错误提示信息，同样的，如果是通过文字显示的方式报告给用户，那么本公开实施例还应该增加屏幕显示装置，然后就可以控制屏幕显示装置显示错误提示信息。

例如，预设门限范围为-60dbm到80dbm之间，且获取到了根据待测芯片的测试输出信号确定的功率输出值分别为-70dbm、30dbm、60dbm，可以确定的是-70dbm超过了预设门限范围(-60dbm到80dbm)，即，多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值，那么可以输出一错误提示信息，比如，可以输出语音的错误提示信息为：功率输出值存在偏差，同时，还可以停止生成LUT的过程，然后对出现偏差功率值的原因进行排查，当排查到出现偏差功率值的原因并进行修复后，就可以重新开始生成LUT的过程，即，重新执行本公开实施例中的查找表生成方法的各步骤。

通过上述的方式，可以确定功率输出值中是否存在偏差的功率值，并当存在偏差功率值时，输出一提示信息，以及停止生成LUT，而当不存在偏差功率值时，生成LUT，这保证了生成的LUT的数据准确性。

可选地，还可以先判断多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值，当多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值时，确定超过预设门限范围的功率值的个数与多个功率输出值总数的比例，当该比例在预设比例范围内时，根据多个功率输出值，生成LUT。

超过预设门限范围的功率值的个数与多个功率输出值总数的比例表征了输出功率值中存在偏差的功率值的多少，即，当存在偏差的功率值较多时，该比例较高，当存在偏差的功率值较少时，该比例较低。

预设比例可以是用户根据需求自行设定的，当对LUT数据准确性要求较高时，可以将预设比例设置得较低，比如，可以将预设比例设置为10％，那么预设比例范围就是0％到10％，即，当超过预设门限范围的功率值的个数与多个功率输出值总数的比例低于10％时，根据多个功率输出值，生成LUT。

相反地，当对LUT数据准确性要求不高时，则可以将预设比例设置得较高，比如，可以将预设比例设置为40％，那么预设比例范围就是0％到40％，即，当超过预设门限范围的功率值的个数与多个功率输出值总数的比例低于40％时，根据多个功率输出值，生成LUT。

应当理解的是，当超过预设门限范围的功率值的个数与多个功率输出值总数的比例不在预设比例范围内时，说明输出功率值中存在偏差的值较多，那么可以重新进行测试过程，然后根据重新测试得到的测试数据，生成LUT，从而保证LUT的数据准确性。

基于同一发明构思，参照图3，本公开还提供一种查找表生成装置300，包括：

获取模块301，用于获取待测芯片的数据输入接口的位宽；

控制模块302，用于根据数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给待测芯片；

生成模块303，用于根据待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

可选地，控制模块302用于根据数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号并发送给待测芯片；

生成模块303用于根据待测芯片生成的多个测试输出信号，生成LUT。

可选地，生成模块303包括：

确定模块，用于根据待测芯片生成的多个测试输出信号，确定对应的多个功率输出值；

生成子模块，用于根据多个功率输出值，生成LUT。

可选地，生成模块303用于：

判断多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当多个功率输出值中不存在超过预设门限范围的功率值时，根据多个功率输出值，生成LUT；

当多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值时，输出错误提示信息，并停止生成LUT。

可选地，生成模块303用于：

判断多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值时，确定超过预设门限范围的功率值的个数与多个功率输出值总数的比例；

当所述比例在预设比例范围内时，根据多个功率输出值，生成LUT。

可选地，获取模块用于：

确定所述待测芯片的类型；

根据所述待测芯片的类型，确定所述待测芯片的数据输入接口；

获取所述数据输入接口的位宽。

基于同一发明构思，本公开还提供一种查找表生成系统，包括上述任一查找表生成装置和输入输出设备：

查找表生成装置，分别与待测芯片和输入输出设备连接，用于获取待测芯片的数据输入接口的位宽，并根据数据输入接口的位宽，向输入输出设备发送控制指令，以控制输入输出设备生成测试电平信号；

输入输出设备，与查找表生成装置和待测芯片分别连接，用于接收控制指令，以及根据该控制指令，生成对应的测试电平信号并发送给待测芯片，以使查找表生成装置根据待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

下面以一个完整的实施例说明本公开中的查找表生成方法和系统。

参照图4，以待测芯片为待测NB-IoT芯片为例，查找表生成系统包括上位机401(查找表生成装置)、可编程多功能IO设备402(输入输出设备)、频谱仪403，上位机401通过IO接口(比如USB)和可编程多功能IO设备402连接并进行交互，同时，上位机401通过芯片控制接口(比如SPI)与待测NB-IoT芯片404连接并进行交互，频谱仪403的数据输入端与待测NB-IoT芯片404连接，数据输出端与上位机401的GPIB接口连接，以实现与上位机401的数据交互。

当上位机401通过芯片控制接口(SPI)控制待测NB-IoT芯片404进入LUT测试模式后，待测NB-IoT芯片404的数据输入接口(AMIO接口)开始准备接收数据，然后上位机401根据AMIO接口的位宽，通过IO接口控制可编程多功能IO设备402依次生成对应的测试电平信号并发送给待测NB-IoT芯片404，接着待测NB-IoT芯片404就根据依次接收到的测试电平信号依次生成对应的测试输出信号，然后频谱仪403根据依次接收到的待测NB-IoT芯片404生成的测试输出信号，依次输出对应的功率值，最后上位机401通过GPIB接口控制频谱仪403，依次将功率值返回到上位机401，这样，上位机401就能根据功率值，生成完整的LUT。

通过本公开的查找表生成方法、装置及系统，可以实现LUT的自动生成，保证LUT的数据准确性，并且，通过输入输出设备能够动态适用不同种类的待测芯片，满足用户不同的测试需求。

以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。

Claims (10)

1.一种查找表生成方法，其特征在于，包括：

获取待测芯片的数据输入接口的位宽；

根据所述数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片；

根据所述待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片，包括：

根据所述数据输入接口的位宽，控制所述输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号并发送给所述待测芯片；

根据所述待测芯片生成的测试输出信号，生成查找表LUT，包括：

根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，生成所述LUT。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，生成所述LUT，包括：

根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，确定对应的多个功率输出值；

根据所述多个功率输出值，生成所述LUT。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个功率输出值，生成所述LUT，包括：

判断所述多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当所述多个功率输出值中不存在超过所述预设门限范围的功率值时，根据所述多个功率输出值，生成所述LUT；

当所述多个功率输出值中存在超过所述预设门限范围的功率值时，输出错误提示信息，并停止生成所述LUT。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个功率输出值，生成所述LUT，包括：

判断所述多个功率输出值中是否存在超过预设门限范围的功率值；

当所述多个功率输出值中存在超过预设门限范围的功率值时，确定超过所述预设门限范围的功率值的个数与所述多个功率输出值总数的比例；

当所述比例在预设比例范围内时，根据所述多个功率输出值，生成所述LUT。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测芯片的数据输入接口的位宽，包括：

确定所述待测芯片的类型；

根据所述待测芯片的类型，确定所述待测芯片的数据输入接口；

获取所述数据输入接口的位宽。

7.一种查找表生成装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取待测芯片的数据输入接口的位宽；

控制模块，用于根据所述数据输入接口的位宽，控制输入输出设备生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片；

生成模块，用于根据所述待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述控制模块用于根据所述数据输入接口的位宽，控制所述输入输出设备生成二进制全0到二进制全1对应的多个测试电平信号并发送给所述待测芯片；

所述生成模块用于根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，生成所述LUT。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述生成模块包括：

确定模块，用于根据所述待测芯片生成的多个测试输出信号，确定对应的多个功率输出值；

生成子模块，用于根据所述多个功率输出值，生成所述LUT。

10.一种查找表生成系统，其特征在于，所述系统包括权利要求7-9任一所述的查找表生成装置和输入输出设备：

所述查找表生成装置，分别与待测芯片和所述输入输出设备连接，用于获取所述待测芯片的数据输入接口的位宽，并根据所述数据输入接口的位宽，向所述输入输出设备发送控制指令，以控制所述输入输出设备生成测试电平信号；

所述输入输出设备，与所述查找表生成装置和所述待测芯片分别连接，用于接收所述控制指令，以及根据所述控制指令，生成对应的测试电平信号并发送给所述待测芯片，以使所述查找表生成装置根据所述待测芯片的测试输出信号，生成查找表LUT。

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