CN110763153A - 多光谱大视场微观三维形貌测量装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明具体涉及一种多光谱大视场微观三维形貌测量装置及方法，该装置包括：复色光照明模块、纵向色散增强型光学成像模块、图像分析与载物台控制模块，其中，所述图像分析与载物台控制模块包括多光谱图像传感器、图像分析与载物台控制系统、高精度三轴载物台该装置能实现一次自动聚焦后，在无载物台轴向运动的情况下，完成样本大视场微观三维形貌测量。该方法能实现高横向分辨率、高纵向测量精度、毫米量级纵向测量范围、英寸级大视场横向测量范围的微观三维形貌测量。

Description

多光谱大视场微观三维形貌测量装置及方法

技术领域

本发明属于光学显微成像领域，涉及一种大视场微观三维形貌测量装置和方法，尤其涉及一种基于多光谱的大视场微观三维形貌测量装置和方法。

背景技术

现有微观三维形貌测量技术存在诸多不足，如扫描类显微测量观测范围小，环境抗干扰能力低；干涉测量方法需要大量轴向扫描限制了该方法的测量效率；传统共焦显微测量单点机械扫描，难以实现实时快速的三维测量；并行共焦测量技术虽然实现了同一共焦剖面上样点的同时探测，但仍需纵向扫描或者辅助设备的机械扫描，扫描过程的多次启停以及机械扫描的振动，一定程度上限制了其测量效率和测量精度。例如，现有申请号CN201510922156.X，解决了传统并行共焦测量技术逐层纵向扫描的问题，但仍需分别在局部观测视场的焦面焦前、焦后采集样本灰度图片，还存在机械启停运动，效率较低，一定程度上限制了微观三维形貌还原从局部观测视场向大视场的拓展。因此，目前亟需一种光学测量方法来解决以上问题以实现高精度，高效率，大视场范围的微观三维形貌测量。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种多光谱大视场微观三维形貌测量装置，以及一种多光谱大视场微观三维形貌测量方法。该装置及在该装置上实施的多光谱大视场微观三维形貌测量方法能实现一次自动聚焦后，在无载物台轴向运动的情况下，完成样本大视场微观三维形貌测量。该装置及方法能实现高横向分辨率、高纵向测量精度、毫米量级纵向测量范围、英寸级大视场横向测量范围的微观三维测量。

本发明的目的是这样实现的：

所述多光谱大视场微观三维形貌测量装置，包括复色光照明模块、纵向色散增强型光学成像模块、图像分析与载物台控制模块。

所述复色光照明模块按照光路传播方向依次设置有：复色光源、聚光镜、均匀准直光透镜组、半反半透分光镜、带纵向色散的物镜。

所述纵向色散增强型光学成像模块按照光路传播方向依次设置有：高精度三轴载物台、带纵向色散的物镜、半反半透分光镜、带纵向色散的管镜、多光谱图像传感器。

所述图像分析与载物台控制模块按照信号传递方向依次设置有：多光谱图像传感器、图像分析与载物台控制系统、高精度三轴载物台。

所述复色光照明模块与纵向色散增强型光学成像模块共用半反半透分光镜、带纵向色散的物镜。

所述纵向色散增强型光学成像模块与所述图像分析与载物台控制模块共用所述高精度三轴载物台和多光谱图像传感器。

所述纵向色散增强型光学成像模块，包括至少一个带纵向色散的物镜，或者包括至少一个带纵向色散的管镜，或是其他的有益组合。

所述纵向色散增强型光学成像模块对于不同波段光信号具有不同的焦距或者像距，即在同一物距下，不同波段物体清晰成像轴向位置不同，可以根据多光谱图像传感器清晰成像波段反推物体表面高度。

所述纵向色散增强型光学成像模块需消除横向色散。

所述高精度三轴载物台能实现高精度纵向Z轴运动和水平方向X轴，Y轴运动。

所述多光谱图像传感器可零时差同时采集N(N≥2)幅不同中心波长光谱波段的样品灰度图像I_n(x,y)，0≤x≤X，0≤y≤Y，1≤n≤N，其中X为光谱灰度图像总行数，Y为光谱灰度图像总列数。

在上述多光谱大视场微观三维形貌测量装置上实现的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，包括以下步骤：

步骤1，将待测样本放置于高精度三轴载物台上；

步骤2，调节所述高精度三轴载物台，使得多光谱成像传感器某个成像光谱波段对样品清晰成像；

步骤3，通过所述多光谱图像传感器获取N(N≥2)幅不同中心波长光谱波段下的样品光谱灰度图像I_n(x,y)，0≤x≤X，0≤y≤Y，，1≤n≤N，其中X为光谱灰度图像总行数，Y为光谱灰度图像总列数；

步骤4，计算每幅光谱灰度图像的清晰度值F_n，所述清晰度值F_n可根据Laplacian函数，Brenner函数，Tenengrad函数等图像清晰度评价函数进行计算；

步骤5，对清晰度最大的两相邻光谱波段下的光谱灰度图像清晰度值F_n进行做差处理，获取离焦差动信号F_D＝F_n-1-F_n；

步骤6，通过预先刻度的离焦差动信号F_D与离焦量关系曲线，获取离焦量值及离焦方向信号，调节高精度三轴载物台至光学成像系统聚焦面，完成自动聚焦；

步骤7，重复步骤3所述操作；

步骤8，对相邻光谱波段下的灰度图像每一点(x,y)进行做差处理，求得多光谱图像灰度差I_D(x,y)＝I_n(x,y)-I_n-1(x,y)；

步骤9，通过预先标定的多光谱灰度差I_D与纵向高度Z_n关系曲线，计算还原样本表面形貌Z(x,y)；

步骤10，完成一个观测视场的样品表面形貌还原后，通过图像分析及载物台控制系统控制高精度三轴载物台进行水平方向X轴，Y轴运动，切换至下一个观测视场，重复步骤7至步骤9的操作。若完成全部观测视场的样品表面形貌还原，进行步骤11的操作；

步骤11，对所有观测视场下的微观三维表面形貌进行图像拼接，完成多光谱大视场微观三维形貌测量。

上述的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括多光谱大视场微观三维形貌测量装置使用中的自动聚焦过程的样品离焦方向的判断方法，具体来说：

(1)以样品聚焦时，图像清晰度值最大的光谱波段为中心波段；

(2)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较长波段，且中心波段的光谱图像清晰度值大于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量较小；

(3)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较长波段，且中心波段的光谱图像清晰度值小于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量较大；

(4)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较短波段，且中心波段的光谱图像清晰度值大于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量较小；

(5)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较短波段，且中心波段的光谱图像清晰度值小于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量较大；

(6)如果清晰度最大的两相邻光谱波段不包括中心波段，且两波段小于中心波段，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量很大；

(7)如果清晰度最大的两相邻光谱波段不包括中心波段，且两波段大于中心波段，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量很大。

上述多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括多光谱灰度差I_D(x,y)与纵向高度Z_n关系曲线标定方法，操作步骤如下：

步骤9.1，调节高精度三轴载物台，同时获取不同中心波长光谱波段的轴向光强与离焦量的轴向特性曲线I_λn，1≤n≤N；

步骤9.2，对不同中心波长光谱波段的轴向光强与离焦量的轴向特性曲线I_λn进行归一化处理；

步骤9.3，以波段λ₁，λ₂为例，实际操作不局限于λ₁，λ₂，将不同中心波长光谱波段λ1，λ2的灰度图像做差处理I_λ1-I_λ2，获得波段λ₁，λ₂的差动曲线I_D；

步骤9.4，对差动曲线I_D的线性区进行线性函数拟合，获取多光谱灰度差I_D与纵向高度Z_n关系的标定曲线。

上述多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括对光学成像系统照明光不均进行修正处理，其修正处理方式主要通过将上述获得的灰度差或差动曲线除以两波段灰度图像对应点灰度值之和实现。

上述多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括对抗样品反射率不均进行修正处理，其修正处理方式主要通过将上述步骤中获得的不同中心波长光谱波段灰度图像的灰度值乘以一个相对反射系数来实现。所述相对反射系数以表面反射率最大的物质为基础，设置为1，其他物质相对反射系数为物质最高反射率除以该物质反射率。通过该修正处理方式可以实现同一高度不同反射率物质的在同一波段下灰度图像的灰度值相等。

上述多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括对多光谱成像系统不同光谱波段图像灰度由于滤镜透过率随波段变化或者照明光强度随波段变化或者多光谱相机量子效应随波段变化而进行补偿处理，其补偿处理方式主要通过将上述步骤中获得的不同中心波长光谱波段灰度图像的灰度值乘以一个波段调整系数来实现。所述波段调整系数获取方式为：在具体给定空间均匀复色光源照明下，采用多光谱相机对一个对不同波段具有均匀反射率的表面平整样品获取N幅光谱图像，最大灰度图像灰度调整系数为1，其他N-1波段图像的灰度调整系数为最大灰度图像灰度均值除以该波段图像灰度均值。

本发明同现有的微观三维形貌测量技术相比，采用非接触式扫描，非单点扫描或逐层扫描，能实现一次自动聚焦后，在无载物台轴向运动的情况下，完成样本大视场微观三维形貌测量。该方法能实现高横向分辨率、高纵向测量精度、毫米量级纵向测量范围、英寸级大视场横向测量范围的微观三维测量。

附图说明

图1是多光谱大视场微观三维形貌测量装置结构示意图。

图中：1-复色光源、2-聚光镜、3-均匀准直光透镜组、4-半反半透分光镜、5-带纵向色散的物镜、6-高精度三轴载物台、7-带纵向色散的管镜、8-多光谱图像传感器、9-图像分析与载物台控制系统。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合说明书附图，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

下面结合附图1对本发明具体实施方法作进一步详细描述。

具体实施例一：

本具体实施例为装置实施例。

本具体实施例的多光谱大视场微观三维形貌测量装置，结构示意图如说明书附图1所示，该装置包括复色光照明模块、纵向色散增强型光学成像模块、图像分析与载物台控制模块。

所述复色光照明模块按照光路传播方向依次设置有：复色光源1、聚光镜2、均匀准直光透镜组3、半反半透分光镜4、带纵向色散的物镜5。

所述纵向色散增强型光学成像模块按照光路传播方向依次设置有：高精度三轴载物台6、带纵向色散的物镜5、半反半透分光镜4、带纵向色散的管镜7、多光谱图像传感器8。

所述图像分析与载物台控制模块按照信号传递方向依次设置有：多光谱图像传感器8、图像分析与载物台控制系统9、高精度三轴载物台6。

所述复色光照明模块与纵向色散增强型光学成像模块共用半反半透分光镜4、带纵向色散的物镜5。

所述纵向色散增强型光学成像模块与所述图像分析与载物台控制模块共用所述高精度三轴载物台6和多光谱图像传感器8；

所述纵向色散增强型光学成像模块，包括至少一个带纵向色散的物镜5，或者包括至少一个带纵向色散的管镜7，或是其他的有益组合。

所述纵向色散增强型光学成像模块对于不同波段光信号具有不同的焦距或者像距，即在同一物距下，不同波段物体清晰成像轴向位置不同，可以根据多光谱图像传感器清晰成像波段反推物体表面高度。

所述纵向色散增强型光学成像模块需消除横向色散。

所述高精度三轴载物台6能实现高精度纵向Z轴运动和水平方向X轴，Y轴运动。

所述多光谱图像传感器8可零时差同时采集N(N≥2)幅不同中心波长光谱波段的样品灰度图像I_n(x,y)，0≤x≤X，0≤y≤Y，1≤n≤N，其中X为光谱灰度图像总行数，Y为光谱灰度图像总列数。

具体实施例二：

本实施例为在具体实施例一所述的装置上实现的方法实施例。

本实施例的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，包括以下步骤：

步骤1，将待测样本放置于高精度三轴载物台6上；

步骤2，调节所述高精度三轴载物台6，使得多光谱成像传感器8某个成像光谱波段对样品清晰成像；

步骤3，通过所述多光谱图像传感器8获取N(N≥2)幅不同中心波长光谱波段下的样品光谱灰度图像I_n(x,y)，0≤x≤X，0≤y≤Y，，1≤n≤N，其中X为光谱灰度图像总行数，Y为光谱灰度图像总列数；

步骤4，计算每幅光谱灰度图像的清晰度值F_n，所述清晰度值F_n可根据Laplacian函数，Brenner函数，Tenengrad函数等图像清晰度评价函数进行计算；

步骤5，对清晰度最大的两相邻光谱波段下的光谱灰度图像清晰度值F_n进行做差处理，获取离焦差动信号F_D＝F_n-1-F_n；

步骤6，通过预先刻度的离焦差动信号F_D与离焦量关系曲线，获取离焦量值及离焦方向信号，调节高精度三轴载物台6至光学成像系统聚焦面，完成自动聚焦；

步骤7，重复步骤3所述操作；

步骤8，对相邻光谱波段下的灰度图像每一点(x,y)进行做差处理，求得多光谱图像灰度差I_D(x,y)＝I_n(x,y)-I_n-1(x,y)；

步骤9，通过预先标定的多光谱灰度差I_D与纵向高度Z_n关系曲线，计算还原样本表面形貌Z(x,y)；

步骤10，完成一个观测视场的样品表面形貌还原后，通过图像分析及载物台控制系统9控制高精度三轴载物台6进行水平方向X轴，Y轴运动，切换至下一个观测视场，重复步骤7至步骤9的操作。若完成全部观测视场的样品表面形貌还原，进行步骤11的操作；

步骤11，对所有观测视场下的微观三维表面形貌进行图像拼接，完成多光谱大视场微观三维形貌测量。

本实施例的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括自动聚焦过程中样品离焦方向的判断方法实施例，具体来说：

(1)以样品聚焦时，图像清晰度值最大的光谱波段为中心波段；

(2)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较长波段，且中心波段的光谱图像清晰度值大于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量较小；

(3)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较长波段，且中心波段的光谱图像清晰度值小于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量较大；

(4)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较短波段，且中心波段的光谱图像清晰度值大于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量较小；

(5)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较短波段，且中心波段的光谱图像清晰度值小于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量较大；

(6)如果清晰度最大的两相邻光谱波段不包括中心波段，且两波段小于中心波段，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量很大；

(7)如果清晰度最大的两相邻光谱波段不包括中心波段，且两波段大于中心波段，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量很大。

本实施例的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括多光谱灰度差I_D(x,y)与纵向高度Z_n关系曲线标定方法，包括以下步骤：

步骤9.1，调节高精度三轴载物台6，同时获取不同中心波长光谱波段的轴向光强与离焦量的轴向特性曲线I_λn，1≤n≤N；

步骤9.2，对不同中心波长光谱波段的轴向光强与离焦量的轴向特性曲线I_λn进行归一化处理；

步骤9.3，以波段λ₁，λ₂为例，实际操作不局限于λ₁，λ₂，将不同中心波长光谱波段λ1，λ2的灰度图像做差处理I_λ1-I_λ2，获得波段λ₁，λ₂的差动曲线I_D；

步骤9.4，对差动曲线I_D的线性区进行线性函数拟合，获取多光谱灰度差I_D与纵向高度Z_n关系的标定曲线。

本实施例的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括对光学成像系统照明光不均进行修正处理，其修正处理方式主要通过将上述获得的灰度差或差动曲线除以两波段灰度图像对应点灰度值之和实现。

本实施例的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括对抗样品反射率不均进行修正处理，其修正处理方式主要通过将上述步骤中获得的不同中心波长光谱波段灰度图像的灰度值乘以一个相对反射系数来实现。所述相对反射系数以表面反射率最大的物质为基础，设置为1，其他物质相对反射系数为物质最高反射率除以该物质反射率。通过该修正处理方式可以实现同一高度不同反射率物质的在同一波段下灰度图像的灰度值相等。

本实施例的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，还包括对多光谱成像系统不同光谱波段图像灰度由于滤镜透过率随波段变化或者照明光强度随波段变化或者多光谱相机量子效应随波段变化而进行补偿处理，其补偿处理方式主要通过将上述步骤中获得的不同中心波长光谱波段灰度图像的灰度值乘以一个波段调整系数来实现。所述波段调整系数获取方式为：在具体给定空间均匀复色光源照明下，采用多光谱相机对一个对不同波段具有均匀反射率的表面平整样品获取N幅光谱图像，最大灰度图像灰度调整系数为1，其他N-1波段图像的灰度调整系数为最大灰度图像灰度均值除以该波段图像灰度均值。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种多光谱大视场微观三维形貌测量装置，其特征在于：包括复色光照明模块、纵向色散增强型光学成像模块、图像分析与载物台控制模块，

所述复色光照明模块按照光路传播方向依次设置有：复色光源(1)、聚光镜(2)、均匀准直光透镜组(3)、半反半透分光镜(4)、带纵向色散的物镜(5)；

所述纵向色散增强型光学成像模块按照光路传播方向依次设置有：高精度三轴载物台(6)、带纵向色散的物镜(5)、半反半透分光镜(4)、带纵向色散的管镜(7)、多光谱图像传感器(8)；

所述图像分析与载物台控制模块按照信号传递方向依次设置有：多光谱图像传感器(8)、图像分析与载物台控制系统(9)、高精度三轴载物台(6)；

所述复色光照明模块与纵向色散增强型光学成像模块共用所述半反半透分光镜(4)和带纵向色散的物镜(5)；

所述纵向色散增强型光学成像模块与所述图像分析与载物台控制模块共用所述高精度三轴载物台(6)和多光谱图像传感器(8)；

所述高精度三轴载物台(6)能实现高精度纵向Z轴运动和水平方向X轴，Y轴运动。

2.根据权利要求1所述的多光谱大视场微观三维形貌测量装置，其特征在于：所述纵向色散增强型光学成像模块，包括至少一个带纵向色散的物镜(5)，或者包括至少一个带纵向色散的管镜(7)。

3.根据权利要求1所述的多光谱大视场微观三维形貌测量装置，其特征在于：所述纵向色散增强型光学成像模块需消除横向色散。

4.根据权利要求1所述的多光谱大视场微观三维形貌测量装置，其特征在于：所述多光谱图像传感器(8)可零时差同时采集N幅不同中心波长光谱波段的样品灰度图像I_n(x,y)，其中，N≥2，0≤x≤X，0≤y≤Y，1≤n≤N，X为光谱灰度图像总行数，Y为光谱灰度图像总列数。

5.一种多光谱大视场微观三维形貌测量方法，其特征在于：使用权利要求1至4中任一项所述的多光谱大视场微观三维形貌测量装置，包括以下操作步骤：

步骤1，将待测样本放置于高精度三轴载物台(6)上；

步骤2，调节所述高精度三轴载物台(6)，使得多光谱成像传感器(8)在某个成像光谱波段对样品清晰成像；

步骤3，通过所述多光谱图像传感器(8)获取N幅不同中心波长光谱波段下的样品光谱灰度图像I_n(x,y)，其中，N≥2，0≤x≤X，0≤y≤Y，，1≤n≤N，X为光谱灰度图像总行数，Y为光谱灰度图像总列数；

步骤4，计算每幅光谱灰度图像的清晰度值F_n，所述清晰度值F_n可根据Laplacian函数，Brenner函数，Tenengrad函数中任一项图像清晰度评价函数进行计算；

步骤5，对清晰度最大的两相邻光谱波段下的光谱灰度图像清晰度值F_n进行做差处理，获取离焦差动信号F_D＝F_n-1-F_n；

步骤6，通过预先刻度的离焦差动信号F_D与离焦量关系曲线，获取离焦量值及离焦方向信号，调节高精度三轴载物台(6)至光学成像系统聚焦面，完成自动聚焦；

步骤7，重复步骤3操作；

步骤8，对相邻光谱波段下的灰度图像每一点进行做差处理，求得多光谱图像灰度差I_D(x,y)＝I_n(x,y)-I_n-1(x,y)；

步骤9，通过预先标定的多光谱灰度差I_D与纵向高度Z_n关系曲线，计算还原样本表面形貌Z(x,y)；

步骤10，完成一个观测视场的样品表面形貌还原后，通过图像分析及载物台控制系统(9)控制高精度三轴载物台(6)进行水平方向X轴，Y轴运动，切换至下一个观测视场，重复步骤7至步骤9的操作；若完成全部观测视场的样品表面形貌还原，进行步骤11的操作；

步骤11，对所有观测视场下的微观三维表面形貌进行图像拼接，完成多光谱大视场微观三维形貌测量。

6.根据权利要求5所述的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，其特征在于：还包括在多光谱大视场微观三维形貌测量装置使用中自动聚焦过程的样品离焦方向的判断方法，具体判断过程如下：

(1)以样品聚焦时，图像清晰度值最大的光谱波段为中心波段；

(2)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较长波段，且中心波段的光谱图像清晰度值大于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量较小；

(3)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较长波段，且中心波段的光谱图像清晰度值小于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量较大；

(4)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较短波段，且中心波段的光谱图像清晰度值大于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量较小；

(5)如果清晰度最大的两相邻光谱波段其一为中心波段，且中心波段为较短波段，且中心波段的光谱图像清晰度值小于另一波段光谱图像清晰度值，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量较大；

(6)如果清晰度最大的两相邻光谱波段不包括中心波段，且两波段小于中心波段，则该点处在光学成像系统的正离焦面，且离焦量很大；

(7)如果清晰度最大的两相邻光谱波段不包括中心波段，且两波段大于中心波段，则该点处在光学成像系统的负离焦面，且离焦量很大。

7.根据权利要求5所述的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，其特征在于：还包括多光谱灰度差I_D(x,y)与纵向高度Z_n关系曲线标定方法，操作步骤如下：

步骤9.1，调节高精度三轴载物台(6)，同时获取不同中心波长光谱波段的轴向光强与离焦量的轴向特性曲线I_λn，1≤n≤N；

步骤9.2，对不同中心波长光谱波段的轴向光强与离焦量的轴向特性曲线I_λn进行归一化处理；

步骤9.3，将不同中心波长光谱波段λ₁，λ₂的灰度图像做差处理I_λ1-I_λ2，获得波段λ₁，λ₂的差动曲线I_D；

步骤9.4，对差动曲线I_D的线性区进行线性函数拟合，获取多光谱灰度差I_D与纵向高度Z_n关系的标定曲线。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，其特征在于：还包括对光学成像系统照明光不均进行修正处理，其修正处理方式通过将上述获得的灰度差或差动曲线除以两波段灰度图像对应点灰度值之和实现。

9.根据权利要求5至7中任一项所述的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，其特征在于：还包括对抗样品反射率不均进行修正处理，其修正处理方式通过将上述获得的不同中心波长光谱波段灰度图像的灰度值乘以一个相对反射系数来实现。

10.根据权利要求5至7中任一项所述的多光谱大视场微观三维形貌测量方法，其特征在于：还包括对多光谱成像系统不同光谱波段图像灰度由于滤镜透过率随波段变化或者照明光强度随波段变化或者多光谱相机量子效应随波段变化而进行补偿处理，其补偿处理方式通过将上述获得的不同中心波长光谱波段灰度图像的灰度值乘以一个波段调整系数来实现。

Images