CN110752872B - 一种sfp光模块调试方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种串行吉比特介质无关接口(SGMII)调试方法及系统，所述方法包括步骤：MCU内置比较器连接测试时钟及内部时钟；MCU将测试时钟与内部时钟进行同步，时钟同步后对SFP光模块进行调试；调试结束时，修改所述比较器引脚状态。本发明通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。
Description
技术领域
本发明涉及SFP光模块调试领域，特别涉及一种SFP光模块调试方法及系统。
背景技术
SFP(Small Form factor Pluggable Module，小型可插拔模块)光模块是专为100BASE-FX应用的、且建立在支持SGMII(Serial Gigabit Media IndependentInterface，串行吉比特介质无关接口)接口的PHY器件。
现有技术在对SFP光模块进行生产调试时，测试板、金手指、测试电阻及SFP光模块依次连接；由测试板提供一个触发时钟至示波器，同时测试板通过金手指PIN7脚发送测试时钟，并通过测试电阻将测试时钟与SFP光模块中PHY芯片的XTAL1脚发出的内部时钟同步，然后示波器开始测试SFP光模块的眼图参数，并对参数进行调试；生产调试完成后需拆除PIN7脚的测试电阻出货。
但是，如果电阻未拆除，出货到客户某些交换机使用会出现无法传输的严重隐患。
因而现有技术还有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种SFP光模块调试方法及系统，通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。
为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：
一种SFP光模块调试方法，包括步骤：
MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；
MCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步；
时钟同步后对SFP光模块进行调试；
调试结束时，修改所述比较器引脚状态。
所述MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟的步骤具体包括：
测试板从金手指接入，并向MCU内置比较器发送测试时钟；
所述比较器同时接收SFP光模块中的PHY芯片发出的内部时钟。
所述时钟同步后开始对SFP光模块进行调试的步骤具体包括：
测试时钟和内部时钟同步后，检测得到眼图；
并获取消光比，将消光比的值调整至预设参数范围，生成新的眼图；
判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求。
所述判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求的步骤具体包括：
若所述新的眼图的形状不满足预设要求，则继续调整消光比，直至满足预设要求；
若所述新的眼图满足预设要求，则结束调试。
所述调试结束时，修改所述比较器引脚状态的步骤具体包括：
调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。
一种SFP光模块调试系统，包括：
测试模块，用于发送测试时钟；
接口模块，用于接收测试时钟，并进行传递；
SFP光模块，用于将测试时钟和内部时钟进行同步，并在调试结束后对接口模块及自身的引脚状态进行修改；
所述测试模块与接口模块连接，所述SFP光模块与接口模块连接。
所述测试模块包括测试板，所述测试板与接口模块连接，并通过测试板发送测试时钟。
所述接口模块包括金手指，所述金手指将测试板接入，并传递测试板发出的测试时钟至主控模块。
所述SFP光模块包括MCU和PHY芯片，所述MCU中设置有内置比较器，所述内置比较器与金手指及PHY芯片连接，并接收金手指传来的测试时钟及PHY芯片传来的内部时钟；接收测试时钟和内部时钟后，所述MCU将测试时钟和内部时钟进行同步，然后通过示波器检测SFP光模块的眼图，再从所述示波器中获取消光比，并调节消光比的值至预设参数范围，直至眼图满足预设要求，则结束调试。
在调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。
相较于现有技术，本发明提供的SFP光模块调试方法及系统，所述方法包括步骤：MCU内置比较器连接测试时钟及内部时钟；MCU将测试时钟与内部时钟进行同步，时钟同步后对SFP光模块进行调试；调试结束时，修改所述比较器引脚状态。本发明通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。
附图说明
图1为本发明提供的SFP光模块调试方法的流程图；
图2为本发明提供的SFP光模块调试方法的步骤S100的流程图；
图3为本发明提供的SFP光模块调试方法的步骤S300的流程图；
图4为本发明提供的SFP光模块调试方法的步骤S330的流程图；
图5为本发明提供的SFP光模块调试方法的步骤S400的流程图；
图6为本发明提供的SFP光模块调试系统的结构框图；
图7为本发明提供的SFP光模块调试系统的具体结构图。
具体实施方式
鉴于现有技术中的问题，本发明中提供一种SFP光模块调试方法及系统，通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。
本发明的具体实施方式是为了便于对本发明的技术构思、所解决的技术问题、构成技术方案的技术特征和带来的技术效果做更为详细的说明。需要说明的是，对于这些实施方式的解释说明并不构成对本发明的保护范围的限定。此外，下文所述的实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间不构成冲突就可以相互组合。
由于现有技术中对SFP光模块的调试通过金手指连接一个测试电阻接入测试时钟，再与SFP光模块的PHY芯片连接，以使测试时钟和内部时钟同步，在调试完成后需要拆除所述测试电阻，若由于疏忽忘记拆除则会造成连接某些客户的交换机时无法传输信号的问题，因此亟需一种技术方案能够解决上述问题。
综上所述，请参阅图1，本发明提供的一种SFP光模块调试方法，包括步骤：
S100、MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；
请一并参阅图2，所述S100的步骤具体包括：
S101、测试板从金手指接入，并向MCU内置比较器发送测试时钟；
S102、所述比较器同时接收SFP光模块中的PHY芯片发出的内部时钟。
具体实施时，本实施例中，所述SFP光模块中包括MCU和PHY芯片，所述测试板从金手指接入，所述MCU分别与金手指和PHY芯片连接。测试板发出测试时钟，从金手指传至MCU，MCU同时接收PHY芯片发出的内部时钟。
S200、MCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步。
具体的，本实施例中，所述测试时钟和内部时钟均通过MCU内置的比较器进行接入，MCU将所述测试时钟和内部时钟进行连接实现同步，输出至示波器。
S300、时钟同步后开始对SFP光模块进行调试。
本实施例中，测试时钟和内部时钟同步完成后才能够开始调试，调试时通过示波器获取SFP光模块的眼图，并根据眼图进行参数调整。
请参阅图3，具体的，所述S300的步骤之后还包括：
S310、测试时钟和内部时钟同步后，检测得到眼图；
S320、并获取消光比，对消光比的值进行调整至预设参数范围，生成新的眼图；
S330、判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求。
具体实施时，所述测试时钟和内部时钟同步后，通过示波器检测整个SFP光模块的眼图，从示波器中读取消光比，并将消光比的参数调整至预设参数范围，观察参数调整后的新的眼图，进而判断所述新的眼图的形状是否符合预设要求(实际产品要求)。特别的，所述预设参数范围可根据实际情况进行选择。
请参阅图4，所述S330的步骤具体包括：
S331、若所述新的眼图的形状不满足预设要求，则继续调整消光比，直至满足预设要求；
S332、若所述新的眼图满足预设要求，则结束调试。
具体的，当所述新的眼图的形状不满足预设要求时，则需要再次对消光比的值进行调整，所述调整范围也应在预设参数范围内；再次调整消光比值后，再观察生成的眼图形状是否符合要求，若还是不符合则继续调整消光比的值，直至眼图的形状满足预设要求，然后结束调试。若所述眼图形状在经过多次调整消光比值后，还不能满足预设要求，则证明为次品，需要重新返回生产工序进行加工。
S400、调试结束时，修改所述比较器引脚状态。
请参阅图5，所述S400的步骤具体包括：
S401、调试结束时，MCU将所述比较器的与接收测试信号及内部的引脚以及金手指的PIN7脚设置为高阻态的输入端。
具体实施时，本实施例中，调试结束时，MCU会将其比较器与金手指连接的引脚设置为高阻态，且为输入端；同时也将连接的金手指的第七脚设置为高阻态并仅为输入端，即只能用与输入，不能用于输出，使得出货后连接客户的交换机时，不会出现信号无法传输的问题；而且将金手指的第七脚设置为高阻态的输入端，所述金手指的第七脚不被占用，可以通过单片机进行速率设置。
请参阅图6，基于上述的SFP光模块调试方法，本发明还提供一种SFP光模块调试系统，所述系统包括：
测试模块100，用于发送测试时钟；接口模块200，用于接收测试时钟，并进行传递；SFP光模块300，用于将测试时钟和内部时钟进行同步，并在调试结束后对接口模块200及自身的引脚状态进行修改；所述测试模块100与接口模块200连接，所述主控模块300与接口模块200以及PHY芯片302连接。
具体实施时，本实施例中，测试模块100与接口模块200连接以发送测试时钟；SFP光模块300接收测试时钟，并将测试时钟和内部时钟进行同步。时钟同步后，开始对SFP光模块进行调试。在调试结束后，SFP光模块300对其自身及金手指201之间互连的引脚状态进行修改，以避免出货后出现与客户的某些交换机连接时无法传输信号的情况。
请参阅图7，具体的，所述测试模块100包括测试板101，所述接口模块200包括金手指201，所述SFP光模块300包括MCU301和PHY芯片。所述测试板101、金手指201、MCU301及PHY芯片302依次连接。
所述测试板101与金手指201连接，所述测试板101通过金手指201将测试时钟发送至MCU301内置的比较器中，同时所述比较器还接收PHY芯片302发送的内部时钟XTAL1。MCU301接收到测试时钟和内部时钟后，将两个时钟进行同步，然后通过示波器检测整个SFP光模块的眼图参数。观察示波器上的眼图形状，并从示波器上获取消光比，再将消光比的值调节到预设参考范围。在调节消光比后，所述眼图将发生变化，生成新的眼图，再次观察眼图形状，若所述眼图形状满足预设要求，则结束调试；若所述眼图形状不满足预设要求，则继续再预设参考范围内调整消光比，直至眼图形状满足预设要求为止。
在调试结束时，调试结束时，MCU301会将其比较器与金手指201连接的引脚设置为高阻态的输入端，同时也将连接的金手指201的第七脚设置为高阻态的输入端，使得出货后连接客户的交换机时，不会出现信号无法传输的问题；而且将金手指201的第七脚设置为高阻态的输入端，所述金手指201的第七脚不被占用，可以通过单片机进行速率设置。
特别的，所述金手指201为20PIN的SFP双向端口，其通过第七脚(PIN7)与MCU301连接。所述MCU301可以是各种类型的微控制器，只需要具有内置比较器，且能够实现本发明的功能即可。所述测试板101根据需要测试的PHY芯片302中的SFP模块进行选择。
综上所述，本发明提供的SFP光模块调试方法及系统中，所述方法包括步骤：MCU内置比较器连接测试时钟及内部时钟；MCU将测试时钟与内部时钟进行同步，时钟同步后对SFP光模块进行调试；调试结束时，修改所述比较器引脚状态。本发明通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试，并在调试结束时将修改比较器引脚状态，避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。
可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种SFP光模块调试方法，其特征在于，包括步骤：
MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；
MCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步；
时钟同步后对SFP光模块进行调试；
所述时钟同步后开始SFP光模块进行调试的步骤具体包括：
测试时钟和内部时钟同步后，检测得到眼图；
获取消光比，将消光比的值调整至预设参数范围，生成新的眼图；
判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求；
调试结束时，修改所述比较器引脚状态。
2.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟的步骤具体包括：
测试板从金手指接入，并向MCU内置比较器发送测试时钟；
所述比较器同时接收SFP光模块中的PHY芯片发出的内部时钟。
3.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求的步骤具体包括：
若所述新的眼图的形状不满足预设要求，则继续调整消光比，直至满足预设要求；
若所述新的眼图满足预设要求，则结束调试。
4.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述调试结束时，修改所述比较器引脚状态的步骤具体包括：
调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。
5.一种SFP光模块调试系统，其特征在于，包括：
测试模块，用于发送测试时钟；
接口模块，用于接收测试时钟，并进行传递；
SFP光模块，用于将测试时钟和内部时钟进行同步，并在调试结束后对接口模块及自身的引脚状态进行修改；
所述测试模块与接口模块连接，所述SFP光模块与接口模块连接；
所述SFP光模块包括MCU和PHY芯片，所述MCU中设置有内置比较器，所述内置比较器与金手指及PHY芯片连接，并接收金手指传来的测试时钟及PHY芯片传来的内部时钟；接收测试时钟和内部时钟后，所述MCU将测试时钟和内部时钟进行同步，然后通过示波器检测SFP光模块的眼图，从所述示波器中获取消光比，并调节消光比的值至预设参数范围，直至眼图满足预设要求，则结束调试。
6.根据权利要求5所述的SFP光模块调试系统，其特征在于，所述测试模块包括测试板，所述测试板与接口模块连接，并通过测试板发送测试时钟。
7.根据权利要求6所述的SFP光模块调试系统，其特征在于，所述接口模块包括金手指，所述金手指将测试板接入，并传递测试板发出的测试时钟至主控模块。
8.根据权利要求5所述的SFP光模块调试系统，其特征在于，在调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。
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