CN110749795A - 一种电容检测装置 - Google Patents

一种电容检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN110749795A
CN110749795A CN201911094790.3A CN201911094790A CN110749795A CN 110749795 A CN110749795 A CN 110749795A CN 201911094790 A CN201911094790 A CN 201911094790A CN 110749795 A CN110749795 A CN 110749795A
Authority
CN
China
Prior art keywords
base
connecting block
transparent cover
capacitance detection
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201911094790.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110749795B (zh
Inventor
童靚
张弘
张�杰
施鹏
彭乐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ningguo Sabai Core Component Industry Technology Research Institute Co Ltd
Original Assignee
Ningguo Sabai Core Component Industry Technology Research Institute Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ningguo Sabai Core Component Industry Technology Research Institute Co Ltd filed Critical Ningguo Sabai Core Component Industry Technology Research Institute Co Ltd
Priority to CN201911094790.3A priority Critical patent/CN110749795B/zh
Publication of CN110749795A publication Critical patent/CN110749795A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110749795B publication Critical patent/CN110749795B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本发明公开了电容检测技术领域的一种电容检测装置,包括基座,基座的表面左侧通过电机架螺接有伺服电机,伺服电机的右侧动力输出端通过轴套设有转轴,转轴的外壁右侧粘结有透明罩筒,基座的表面右侧螺接有定位块,定位块的左侧中央焊接有弧板,弧板的内腔左侧平行设有两组探针槽;本发明通过将左连接块和右连接块之间连接的插销锁打开,将显微镜从左连接块和右连接块转开之间的缝隙放进去,右连接块上设有挡块,有效防止插销锁的锁把在打开状态下下滑过长影响右连接块向上转动,通过万用表的两组电表笔测量电压值,通过显微镜仔细观察检测透明罩筒内部的电容,有效进行电容的外部检测及电压检测,操作简单方便。

Description

一种电容检测装置
技术领域
本发明涉及电容检测技术领域,具体涉及一种电容检测装置。
背景技术
两个相互靠近的导体,中间夹一层不导电的绝缘介质,就构成了电容器。当电容器的两个极板之间加上电压时,电容器就会储存电荷。电容器的电容量在数值上等于一个导电极板上的电荷量与两个极板之间的电压之比。电容器是储存电量和电能(电势能)的元件。一个导体被另一个导体所包围,或者由一个导体发出的电场线全部终止在另一个导体的导体系,称为电容器。
电容器的断路器跳闸,而分路保险未断,应先对电容器放电三分钟后,再检查断路器电流互感器电力电缆及电容器外部等。若未发现异常,则可能是由于外部故障母线电压波动所致。经检查后,可以试投;否则,应进一步对保护全面的通电试验。通过以上的检查、试验,若仍找不出原因,则需按制度办事,对电容器逐渐进行试验。未查明原因之前,不得试投。
由于电容器的两极具有剩留残余电荷的特点,所以,首先应设法将其电荷放尽,否则容易发生触电事故。处理故障电容器时,首先应拉开电容器组的断路器及其上下隔离开关,如采用熔断器保护,则应先取下熔丝管。此时,电容器组虽已经过放电电阻自行放电,但仍会有部分残余电荷,因此,必须进行人工放电。为了减少事故的发生,应先对电容进行检测。基于此,本发明设计了一种电容检测装置,以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电容检测装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种电容检测装置,包括基座,所述基座的表面左侧通过电机架螺接有伺服电机,所述伺服电机的右侧动力输出端通过轴套设有转轴,所述转轴的外壁右侧粘结有透明罩筒,所述基座的表面右侧螺接有定位块,所述定位块的左侧中央焊接有弧板,所述弧板的内腔左侧平行设有两组探针槽,所述弧板的左侧与所述透明罩筒的右侧搭接,两组所述弧板的底部与所述透明罩筒的底部位于同一水平面,所述基座的右侧表面顶部通过卡槽卡接有万用表。
优选的,所述基座包括左基座和右基座,所述左基座的右侧铰接有左连接块,所述右基座的左侧铰接有有连接块,所述左连接块和右连接块的相对内侧搭接,所述左连接块和右连接块的表面之间螺接有插销锁,所述插销锁的锁扣位于所述左连接块的表面左侧,所述插销锁的锁把右侧设有挡块,所述挡块位于所述右连接块的表面右侧。
优选的,所述左基座和右基座的底部均贴合有防滑垫,且左基座和右基座的内侧之间设有显微镜。
优选的,所述转轴的右端位于所述透明罩筒的内腔左侧,所述转轴的右端焊接有海绵卡槽,所述海绵卡槽位于所述透明罩筒的内腔左侧。
优选的,所述转轴的外壁右侧通过卡扣卡接有摄像头,所述摄像头上通过信号发送器电性连接有显示屏,所述显示屏位于所述基座的左侧。
优选的,所述透明罩筒的右端套接有筒盖,所述筒盖的表面贯穿开设有环形槽,所述环形槽的内壁底部与所述探针槽的内腔位于同一水平面。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明通过将左连接块和右连接块之间连接的插销锁打开,将显微镜从左连接块和右连接块转开之间的缝隙放进去,右连接块上设有挡块,有效防止插销锁的锁把在打开状态下下滑过长影响右连接块向上转动,通过万用表的两组电表笔测量电压值,通过显微镜仔细观察检测透明罩筒内部的电容,有效进行电容的外部检测及电压检测,操作简单方便。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明结构俯视图。
图2为本发明基座结构示意图。
图3为本发明基座立体结构示意图。
图4为本发明筒盖结构示意图。
附图中,各标号所代表的部件列表如下:
基座1,伺服电机2,转轴3,透明罩筒4,定位块5,弧板6,探针槽7,万用表8,左基座11,右基座12,左连接块13,右连接块14,插销锁15,挡块16,筒盖41,环形槽42。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4,本发明提供一种技术方案:一种电容检测装置,包括基座1,基座1的表面左侧通过电机架螺接有伺服电机2,伺服电机2的右侧动力输出端通过轴套设有转轴3,转轴3的外壁右侧粘结有透明罩筒4,基座1的表面右侧螺接有定位块5,定位块5的左侧中央焊接有弧板6,弧板6的内腔左侧平行设有两组探针槽7,弧板6的左侧与透明罩筒4的右侧搭接,两组弧板6的底部与透明罩筒4的底部位于同一水平面,基座1的右侧表面顶部通过卡槽卡接有万用表8。
其中,基座1包括左基座11和右基座12,左基座11的右侧铰接有左连接块13,右基座12的左侧铰接有有连接块14,左连接块13和右连接块14的相对内侧搭接,左连接块3和右连接块14的表面之间螺接有插销锁15,插销锁15的锁扣位于左连接块13的表面左侧,插销锁15的锁把右侧设有挡块16,挡块16位于右连接块14的表面右侧。
左基座11和右基座12的底部均贴合有防滑垫,且左基座11和右基座12的内侧之间设有显微镜,利用显微镜进行细致检查。
转轴3的右端位于透明罩筒4的内腔左侧,转轴3的右端焊接有海绵卡槽,海绵卡槽位于透明罩筒4的内腔左侧,使得电容尾部被插在海绵卡槽中,电容在伺服电机2转动下呈三百六十度转动,便于观察。
转轴3的外壁右侧通过卡扣卡接有摄像头,摄像头上通过信号发送器电性连接有显示屏,显示屏位于基座1的左侧,通过摄像头将电容外部情况呈现在显示屏中观察保存,便于后续查档。
透明罩筒4的右端套接有筒盖41,筒盖41的表面贯穿开设有环形槽42,环形槽42的内壁底部与探针槽7的内腔位于同一水平面。
本实施例的一个具体应用为:通过将左连接块13和右连接块14之间连接的插销锁15打开,使得左连接块13和右连接块14能够分别铰接向上转动,将显微镜从左连接块13和右连接块14转开之间的缝隙放进去,然后再将左连接块13和右连接块14合上并关闭插销锁15,右连接块14上设有挡块16,有效防止插销锁15的锁把在打开状态下下滑过长影响右连接块14向上转动,调节显微镜的位置使得转轴3上的透明罩筒4位于显微镜载物台正上方,将电容的尾部插进转轴3端部的海绵卡槽或者直接放置在透明罩筒4的内腔,并使得电容的两组探针引脚上伸出到两组探针槽7中,通过万用表8的两组电表笔测量电压值,伺服电机2通过按钮开关电性连接市电,启动伺服电机2,使得透明罩筒4在转轴3的带动下转动,便于通过显微镜仔细观察检测透明罩筒4内部电容,有效进行电容的外部检测及电压检测,操作简单方便。
值得注意的是:整个装置通过按钮开关对其实现控制,由于按钮开关匹配的设备为常用设备,属于现有成熟技术,在此不再赘述其电性连接关系以及具体的电路结构。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然,根据本说明书的内容,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (6)

1.一种电容检测装置,包括基座(1),其特征在于:所述基座(1)的表面左侧通过电机架螺接有伺服电机(2),所述伺服电机(2)的右侧动力输出端通过轴套设有转轴(3),所述转轴(3)的外壁右侧粘结有透明罩筒(4),所述基座(1)的表面右侧螺接有定位块(5),所述定位块(5)的左侧中央焊接有弧板(6),所述弧板(6)的内腔左侧平行设有两组探针槽(7),所述弧板(6)的左侧与所述透明罩筒(4)的右侧搭接,两组所述弧板(6)的底部与所述透明罩筒(4)的底部位于同一水平面,所述基座(1)的右侧表面顶部通过卡槽卡接有万用表(8)。
2.根据权利要求1所述的一种电容检测装置,其特征在于:所述基座(1)包括左基座(11)和右基座(12),所述左基座(11)的右侧铰接有左连接块(13),所述右基座(12)的左侧铰接有右连接块(14),所述左连接块(13)和右连接块(14)的相对内侧搭接,所述左连接块(3)和右连接块(14)的表面之间螺接有插销锁(15),所述插销锁(15)的锁扣位于所述左连接块(13)的表面左侧,所述插销锁(15)的锁把右侧设有挡块(16),所述挡块(16)位于所述右连接块(14)的表面右侧。
3.根据权利要求2所述的一种电容检测装置,其特征在于:所述左基座(11)和右基座(12)的底部均贴合有防滑垫,且左基座(11)和右基座(12)的内侧之间设有显微镜。
4.根据权利要求1所述的一种电容检测装置,其特征在于:所述转轴(3)的右端位于所述透明罩筒(4)的内腔左侧,所述转轴(3)的右端焊接有海绵卡槽,所述海绵卡槽位于所述透明罩筒(4)的内腔左侧。
5.根据权利要求4所述的一种电容检测装置,其特征在于:所述转轴(3)的外壁右侧通过卡扣卡接有摄像头,所述摄像头上通过信号发送器电性连接有显示屏,所述显示屏位于所述基座(1)的左侧。
6.根据权利要求4所述的一种电容检测装置,其特征在于:所述所述透明罩筒(4)的右端套接有筒盖(41),所述筒盖(41)的表面贯穿开设有环形槽(42),所述环形槽(42)的内壁底部与所述探针槽(7)的内腔位于同一水平面。
CN201911094790.3A 2019-11-11 2019-11-11 一种电容检测装置 Active CN110749795B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911094790.3A CN110749795B (zh) 2019-11-11 2019-11-11 一种电容检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911094790.3A CN110749795B (zh) 2019-11-11 2019-11-11 一种电容检测装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110749795A true CN110749795A (zh) 2020-02-04
CN110749795B CN110749795B (zh) 2022-04-05

Family

ID=69282823

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911094790.3A Active CN110749795B (zh) 2019-11-11 2019-11-11 一种电容检测装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110749795B (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101581742A (zh) * 2008-05-15 2009-11-18 中茂电子(深圳)有限公司 一种具有接触阻抗检测装置的检测机台
DE102011100984B3 (de) * 2011-05-10 2012-05-31 X-Fab Semiconductor Foundries Ag Verfahren zur Markierung von Halbleiter-Chips und Vorrichtung zur Markierung
CN103367208A (zh) * 2013-07-02 2013-10-23 华中科技大学 一种用于高密度芯片的倒装键合平台
CN104714056A (zh) * 2013-12-13 2015-06-17 旺矽科技股份有限公司 电性检测机台
CN105021970A (zh) * 2015-07-30 2015-11-04 厦门乾照光电股份有限公司 一种发光二极管失效分析解剖装置和解剖方法
CN105652174A (zh) * 2015-12-30 2016-06-08 中国人民解放军国防科学技术大学 用于射线辐照实验的探针台系统及实验方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101581742A (zh) * 2008-05-15 2009-11-18 中茂电子(深圳)有限公司 一种具有接触阻抗检测装置的检测机台
DE102011100984B3 (de) * 2011-05-10 2012-05-31 X-Fab Semiconductor Foundries Ag Verfahren zur Markierung von Halbleiter-Chips und Vorrichtung zur Markierung
CN103367208A (zh) * 2013-07-02 2013-10-23 华中科技大学 一种用于高密度芯片的倒装键合平台
CN104714056A (zh) * 2013-12-13 2015-06-17 旺矽科技股份有限公司 电性检测机台
CN105021970A (zh) * 2015-07-30 2015-11-04 厦门乾照光电股份有限公司 一种发光二极管失效分析解剖装置和解剖方法
CN105652174A (zh) * 2015-12-30 2016-06-08 中国人民解放军国防科学技术大学 用于射线辐照实验的探针台系统及实验方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110749795B (zh) 2022-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108427068A (zh) 一种开关柜局部放电检测设备及方法
JPS61243375A (ja) 電力ケ−ブルの絶縁体劣化診断法
CN110749795B (zh) 一种电容检测装置
CN207946485U (zh) 接触网作业车交流配电柜快速检测装置
CN201247301Y (zh) 便携式电流互感器同名端测量装置
CN207752074U (zh) 一种电动汽车直流高压母线残余电能测量装置
CN216748020U (zh) 一种可测容值锂电池芯短路检测装置
CN203216999U (zh) 容性设备介质损耗带电测量取样装置
CN202522537U (zh) 绝缘工具沿面缺陷现场检测装置
CN206710567U (zh) 便携式多功能锂电池组检测箱
CN105226766B (zh) 一种低噪声偏置器
CN213240380U (zh) 耐压测试电路、线路板及耐压仪
CN206040566U (zh) 辅助接地装置
CN107741551A (zh) 110kV电流互感器极性测试装置
CN107783029A (zh) 一种电子烟pcba的测试系统及测试方法
CN208962895U (zh) 多功能充放电连接装置
CN207601193U (zh) 一种自互核相显示装置
CN208588771U (zh) 一种剩余电压测试仪
CN207516486U (zh) 一种用于减少二次电缆线芯核对时间的装置
CN111090060A (zh) 一种铝电解电容器极壳检测电路及检测装置
CN206671529U (zh) 直流绝缘监测装置在线校验仪
CN213633609U (zh) 一种绝缘电阻测试仪
CN213398781U (zh) 打印机安全测试复核鉴定装置
CN214041518U (zh) 一种电机测试装置用电压检测设备
CN110187149A (zh) 一种实时检测、实时数据传输通讯的牛角铝电解电容充电老化夹具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant