CN110702329A - 一种微型射频绝缘子用气密封测试工装 - Google Patents

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Abstract

一种微型射频绝缘子用气密封测试工装，包括两个壳体，设置于一个壳体上的螺纹孔的端部、设置于另一个壳体上并用于和螺纹孔连接的端部的其中一个上设有阶梯孔，阶梯孔具有大孔、在两个壳体旋紧时用于限位射频绝缘子的小孔，大孔的内壁及限位于小孔内的射频绝缘子的外壳体的外壁共同形成一个供O型圈放入的环形槽，O型圈在两个壳体旋紧时在轴向和径向上均产生压缩量以实现两个壳体与外壳体之间的密封，保证测试过程中检测气体不会泄露；壳体内设有通气孔，通气孔用于和阶梯孔连通的端部在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域，使检测气体不受测试工装影响直接接触封接区域，提高了检测效率及准确性。

Description

一种微型射频绝缘子用气密封测试工装
技术领域
本发明属于高频连接器技术领域，具体涉及一种微型射频绝缘子用气密封测试工装。
背景技术
为满足高频密封连接器的电气及机械性能，通常采用玻璃烧结工艺制作的射频绝缘子作为高频连接器的一部分，既保证了高频连接器的气密封性能，又满足了高频连接器的高频性能。射频绝缘子包括同轴设置的的外壳体、内导体和绝缘子，外壳体和内导体采用耐高温的合金材料，绝缘子采用介电常数稳定的玻璃管，制造时将玻璃管和内导体、外壳体通过石墨模具固定用以保证产品尺寸、结构及性能，再将组装好的射频绝缘子通过高温封接而成；所述射频绝缘子用于毫米波频段，截止频率较高，其气密封性能可实现漏率不超过1×10-9Pa·m3/s。由于射频绝缘子的内导体直径在0.23mm以下，该微小型特征会给射频绝缘子的漏率测试带来了如下的困难：漏率测试采用氦质谱检漏仪，需要先将微型射频绝缘子直接放置在相应的测试胶垫上，原因之一在于微型射频绝缘子重量较轻，无法保证与测试胶垫的密封性，原因之二在于测试过程中仪器抽真空时，微型射频绝缘子容易吸入仪器，引发设备故障，因而无法对微型射频绝缘子的气密封性能进行测试。
发明内容
针对上述技术问题，本发明的目的在于提出一种微型射频绝缘子用气密封测试工装。
本发明的目的是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种微型射频绝缘子用气密封测试工装，包括螺纹连接并为同轴设置的两个壳体，一个壳体具有螺纹孔、另一个壳体具有用于和螺纹孔连接的端部，螺纹孔的端部和另一个壳体的端部的其中一个上设有阶梯孔，阶梯孔从外向内依次为大孔、在两个壳体旋紧时用于限位射频绝缘子的小孔，大孔的内壁及限位于小孔内的射频绝缘子的外壳体的外壁共同形成一个供O型圈放入并在两个壳体旋紧时使O型圈受壳体挤压在其轴向和径向上均产生压缩量以实现两个壳体与射频绝缘子的外壳体之间的密封的环形槽；两个壳体内均设有通气孔，通气孔用于和阶梯孔连通的端部在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域但不完全罩盖外壳体。
进一步的，两个壳体的外表面均设有便于旋紧及分离两个壳体的施力部，施力部包括但不限于滚花结构。
进一步的，限位于小孔内的射频绝缘子与小孔为间隙配合。
进一步的，环形槽的深度、宽度均小于O型圈的线径。
进一步的，通气孔用于和阶梯孔相连通的端部设有在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域但不完全罩盖外壳体的倒角。
进一步的，通气孔为截面呈阶梯状的台阶孔，其小径端用于和阶梯孔连通。
进一步的，其中一个壳体内的通气孔的大径端用于和气源连通，另一个壳体内的通气孔的大径端用于和氦质谱检漏仪的接口连通且二者之间夹设有胶垫。
进一步的，另一个壳体内的通气孔的大径端与胶垫之间涂抹有润滑脂。
进一步的，通气孔的小径端设有在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域但不完全罩盖外壳体的倒角。
本发明一种微型射频绝缘子用气密封测试工装具有如下优点：
1、工装与氦质谱检漏仪配合实现了对微型射频绝缘子的气密封性能的测试，保证了微型射频绝缘子的可测试性；
2、工装通过环形槽内设置O型圈实现当两个壳体锁紧时在轴向和径向上均产生压缩量以实现两个壳体与射频绝缘子的外壳体之间的密封，保证测试过程中检测气体不会泄露；
3、工装内的通气孔用于和阶梯孔连通的端部在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域，保证射频绝缘子气密性考核时检测气体不受测试工装影响直接接触外壳体与玻璃绝缘子的封接区域，提高了检测效率及准确性。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例,并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1是本发明一种微型射频绝缘子用气密封测试工装实施例的示意图。
图2是图1中Ⅰ处的放大示意图。
图3是本实施例的测试对象微型射频绝缘子的示意图。
图4是采用本实施例对微型射频绝缘子的气密封性能进行测试的示意图。
图5是图4中Ⅱ处的放大示意图。
图6是图4中通气孔、阶梯孔和射频绝缘子的装配关系示意图。
具体实施方式
以下结合附图及较佳实施例，对本发明的技术方案作进一步的详细说明。
本发明一种微型射频绝缘子用气密封测试工装包括螺纹连接并为同轴设置的两个壳体，其中一个壳体具有螺纹孔、另一个壳体具有用于和螺纹孔连接的端部，所述螺纹孔的端部和另一个壳体的端部的其中一个上设有与相应壳体同轴的阶梯孔，阶梯孔从外向内依次为大孔、在两个壳体旋紧时用于限位微型射频绝缘子的小孔，大孔的内壁及限位于小孔内的射频绝缘子的外壳体的外壁共同形成一个供O型圈放入并在两个壳体旋紧时使O型圈受壳体挤压在其轴向和径向上均产生压缩量以实现两个壳体与射频绝缘子的外壳体之间的密封的环形槽。两个壳体内均设有通气孔，通气孔用于和阶梯孔相连通的端部在两个壳体锁紧时应能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域但不完全罩盖外壳体。
请参阅图1及图2，为本发明的一个实施例。本实施例中工装包括同轴设置的上壳体10和下壳体20，为便于两个壳体的旋紧和分离，本实施例在上壳体和下壳体的外表面均设置滚花结构，当然在其他实施例中也可以采用其他类型的结构作为施力部，比如沿壳体径向延伸的扳手。上壳体10具有螺纹孔，下壳体20具有用于和螺纹孔螺纹连接的小径端201，该小径端设有与下壳体同轴的阶梯孔202，阶梯孔从外向内依次为大孔2021、小孔2022。请参阅图3至图6，采用工装对微型射频绝缘子的气密封性能进行测试时，微型射频绝缘子30限位在小孔2022内且射频绝缘子的外壳体的外径D4小于小孔的内径D5使二者为间隙配合，以保证射频绝缘子测试的重复性；同时射频绝缘子的外壳体301的外壁与大孔2021的内壁共同形成一个环形槽，O型圈40放置在该环形槽内，此时环形槽的深度h1、宽度h2均小于O型圈的线径，在上壳体和下壳体旋紧时O型圈受上壳体的挤压在其轴向和径向上均产生合适的压缩量，进而保证上壳体、下壳体和射频绝缘子的外壳体之间的密封性，使检测的惰性气体仅能从气密性不合格的微型射频绝缘子的玻璃封接区域通过。当然在本发明的其他实施例中可以将上壳体、下壳体的位置进行互换，并在位于上壳体上的螺纹孔端部设置阶梯孔，下壳体自上而上旋入螺纹孔内挤压环形槽内的O型圈进行密封。
本实施例中上壳体10内设有第一通气孔101，下壳体20内设有第二通气孔203，第一通气孔、第二通气孔均为与相应壳体同轴并且截面呈阶梯状的台阶孔，在两个壳体锁紧时两个台阶孔用于和阶梯孔202相连通的端部均设有倒角50，借助倒角使第一通气孔小径端的内径D1、第二通气孔小径端的内径D2均略大于射频绝缘子的外壳体的内径D3，从而使该端部完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体301与玻璃绝缘子302的封接区域但不完全罩盖外壳体301，保证射频绝缘子气密性考核时，由第一通气孔进入的检测氦气不受测试工装影响直接接触外壳体与玻璃绝缘子的封接区域。
使用时，将待检测的射频绝缘子放入下壳体小径端的小孔内、将O型圈放入环形槽内后旋紧上壳体和下壳体，旋紧到位后射频绝缘子的外壳体301限位在小孔内、内导体303的两端分别插入第一通气孔、第二通气孔内；再将第一通气孔101的大径端与气源连通，将下壳体20的大径端与氦质谱检漏仪60的接口相连接并在二者之间设置胶垫70，通过氦质谱检漏仪进行抽真空，为更好地保证工装与测试仪器之间的气密性，可以在下壳体的大径端与胶垫之间涂抹适量的润滑脂。抽真空完成后，打开气源，氦气由第一通气孔101进入测试工装，如果产生泄露，氦气会进入第二通气孔203，由于第二通气孔203和氦质谱检漏仪的接口连通，则氦质谱检漏仪60将会检测到氦气，此时正在检测的射频绝缘子为不合格产品；反之，如果未产生泄露，则氦质谱检漏仪将不会检测到氦气，此时正在检测的射频绝缘子为合格产品。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明做任何形式上的限制，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (9)

1.一种微型射频绝缘子用气密封测试工装，包括螺纹连接并为同轴设置的两个壳体，一个壳体具有螺纹孔、另一个壳体具有用于和螺纹孔连接的端部，其特征在于：螺纹孔的端部和另一个壳体的端部的其中一个上设有阶梯孔，阶梯孔从外向内依次为大孔、在两个壳体旋紧时用于限位射频绝缘子的小孔，大孔的内壁及限位于小孔内的射频绝缘子的外壳体的外壁共同形成一个供O型圈放入并在两个壳体旋紧时使O型圈受壳体挤压在其轴向和径向上均产生压缩量以实现两个壳体与射频绝缘子的外壳体之间的密封的环形槽；两个壳体内均设有通气孔，通气孔用于和阶梯孔连通的端部在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域但不完全罩盖外壳体。
2.根据权利要求1所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：两个壳体的外表面均设有便于旋紧及分离两个壳体的施力部，施力部包括但不限于滚花结构。
3.根据权利要求1所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：限位于小孔内的射频绝缘子与小孔为间隙配合。
4.根据权利要求1所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：环形槽的深度、宽度均小于O型圈的线径。
5.根据权利要求1所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：通气孔用于和阶梯孔相连通的端部设有在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域但不完全罩盖外壳体的倒角。
6.根据权利要求1所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：通气孔为截面呈阶梯状的台阶孔，其小径端用于和阶梯孔连通。
7.根据权利要求6所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：其中一个壳体内的通气孔的大径端用于和气源连通，另一个壳体内的通气孔的大径端用于和氦质谱检漏仪的接口连通且二者之间夹设有胶垫。
8.根据权利要求7所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：另一个壳体内的通气孔的大径端与胶垫之间涂抹有润滑脂。
9.根据权利要求6至8中任一项所述的微型射频绝缘子用气密封测试工装，其特征在于：通气孔的小径端设有在两个壳体旋紧时能完全罩盖限位于小孔内的射频绝缘子上外壳体与玻璃绝缘子的封接区域但不完全罩盖外壳体的倒角。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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