CN110632655B - 非均质型断层的封闭性分析方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种非均质型断层的封闭性分析方法及装置，该方法包括：根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。本发明可以分析非均质型断层的封闭性，准确度高。
Description
技术领域
本申请涉及油气勘探技术领域，特别涉及一种非均质型断层的封闭性分析方法和装置。
背景技术
在复杂断块油气藏的研究中，断层封闭性直接影响着圈闭能否成藏和圈闭成藏的高度，所以，分析复杂断块圈闭能否成藏，首先要确定断层的封闭性。
断层在油气成藏中具有双重作用，既可作为油气垂向运移的输导通道，又可为油气聚集成藏提供遮挡条件。断层遮挡油气好与坏，主要取决于断层的封闭能力强弱。截止到目前，断层封闭性评价方法可分为定性和定量两大类：定性评价方法主要是ALLan图解法和Knipe图解法，Allan图解法和Knipe图解法常常用来快速地判断在断层上下盘地层并置情况，储层与非渗透性地层(具有高含量的泥岩，例如页岩和泥岩)并置可能形成断层侧向封闭油气；储层砂岩之间彼此并置可能形成渗漏窗，有利于油气穿断层而过.定量评价方法主要是泥岩涂抹潜力(Clay Smear Potential，CSP)、泥岩涂抹因子(Shale Smear Factor，SSF)、断层泥比率法(Shale Gouge Ratio，SGR)等。其中泥岩涂抹潜力CSP的大小随泥岩层厚度增大和具有高含量泥岩地层的数量增加而增大，而随着垂直断距增大而减小。泥岩涂抹因子SSF的大小与断距成正比而与地层内泥岩厚度和数量成反比断层泥比率SGR的值与已错断地层内泥岩层的累积厚度成正比，与断距大小成反比，该算法综合考虑了各种地质因素，是目前国内外断层侧向封闭性定量评价的主要方法。
然而，上述方法都是针对断层上下两盘地层厚度变化不大，纵向上断距无明显差异的一般断层。在断层的形成和发育过程中，存在由于一盘沉积速率发生明显差异从而形成同一套地层在断层两盘厚度差异很大的情况，这类断层称为非均质型断层，在非均质型断层中，下降盘和上升盘地层的厚度不一致，这就造成了采用现有方法得到的封闭性分析结果存在很大偏差，准确性不高。
发明内容
本发明实施例提出一种非均质型断层的封闭性分析方法，用以分析非均质型断层的封闭性，准确度高，该方法包括：
根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；
从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；
根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；
根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。
本发明实施例提出一种非均质型断层的封闭性分析装置，用以分析非均质型断层的封闭性，准确度高，该装置包括：
模型建立模块，用于根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；
断层两盘数据获得模块，用于从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；
封闭因子确定模块，用于根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；
分析模块，用于根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。
本发明实施例还提出了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述非均质型断层的封闭性分析方法。
本发明实施例还提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行上述非均质型断层的封闭性分析方法的计算机程序。
在本发明实施例中，根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。在上述过程中，通过建立的非均质型断层地质模型，获得了多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，即考虑了断层的每一盘的泥岩层厚度，因此，获得的多个地层中非均质型断层的封闭因子准确，最后分析获得的每一地层中非均质型断层的封闭性的结果的准确度高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
图1为本发明实施例中非均质型断层的封闭性分析方法的流程图；
图2为本发明实施例中第一采样点和第二采样点对应的权重的计算示意图；
图3为现有技术中计算断层的封闭因子的示意图；
图4为本发明实施例中非均质型断层的示意图；
图5为本发明实施例提出的非均质型断层的封闭性分析方法的详细流程；
图6为本发明实施例中非均质型断层地质模型的示意图；
图7为本发明实施例中封闭因子图版的示意图；
图8为本发明实施例中非均质型断层断层的断块圈闭边界的示意图；
图9为本发明实施例中非均质型断层的封闭性分析装置的示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本发明实施例做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。
在本说明书的描述中，所使用的“包含”、“包括”、“具有”、“含有”等，均为开放性的用语，即意指包含但不限于。参考术语“一个实施例”、“一个具体实施例”、“一些实施例”、“例如”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。各实施例中涉及的步骤顺序用于示意性说明本申请的实施，其中的步骤顺序不作限定，可根据需要作适当调整。
图1为本发明实施例中非均质型断层的封闭性分析方法的流程图，如图1所示，该方法包括：
步骤101，根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；
步骤102，从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；
步骤103，根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；
步骤104，根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。
在本发明实施例中，根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。在上述过程中，通过建立的非均质型断层地质模型，获得了多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，即考虑了断层的每一盘的泥岩层厚度，因此，获得的多个地层中非均质型断层的封闭因子准确，最后分析获得的每一地层中非均质型断层的封闭性的结果的准确度高。
具体实施时，在步骤101中，所述地层特征数据包括断层性质、断层倾角、断距等数据，所述断层特征数据包括地层倾角、厚度变化、深度、地层分层、砂泥比率等数据，所述测井数据包括：声波曲线、泥质含量曲线、密度曲线和伽马曲线中的其中一种或任意组合。然后根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型，非均质型断层地质模型中的断距和泥岩层厚度值在上升盘和下降盘中是不同的。在步骤102中，从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，其中，每一地层中两盘的泥岩层厚度值是不同的，之后进入步骤103中，即确定每一地层中非均质型断层的封闭因子，这时得到的非均质型断层的封闭因子考虑了每一盘中不同的泥岩层厚度值，计算结果更准确，因此，在步骤104中，根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性的分析结果也更准确。
在一实施例中，在根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型之前，还包括：
根据目标区域的叠后地震数据，获得目标区域的地层特征数据和断层特征数据。
在上述实施例中，上述过程可采用地震解释软件来进行。
具体实施时，从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值的方法有多种，下面给出其中一个实施例。
在一实施例中，从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，包括：
从非均质型断层地质模型中识别出每一地层的多个样本点，其中，每一样本点包括位于该地层的非均质型断层上升盘的第一采样点，和位于该地层的非均质型断层下降盘的第二采样点；
确定每一地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值。
在上述实施例中，每一地层非均质型断层中都有多个样本点，每个样本点包括第一采样点和第二采样点，由于非均质断层中上升盘和下降盘的泥岩层厚度不同，因此，要分别获得每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值，用于后续计算。
具体实施时，根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子的方法有多种，下面给出其中一个实施例。
在一实施例中，根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子，包括：
根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子，包括：
对每一地层，根据该地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值，确定该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值；
对每一地层，根据非均质型断层地质模型，获得该地层的泥质含量，以及该地层中非均质型断层的每一样本点的断距；
对每一地层，根据该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值和断距，该地层的泥质含量，计算该地层中非均质型断层的封闭因子。
在一实施例中，对每一地层，采用如下公式，根据该地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值，确定该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值：
Z(k)＝WA·A(k)+WB·B(k) (1)
WA+WB＝1 (2)
其中，Z(k)为该地层中非均质型断层的第k个样本点的泥岩层厚度值；
A(k)为第k个样本点的第一采样点的泥岩层厚度值；
B(k)为第k个样本点的第二采样点的泥岩层厚度值；
WA和WB分别为第一采样点和第二采样点对应的权重。
在上述实施例中，需要计算第一采样点和第二采样点对应的权重，图2为本发明实施例中第一采样点和第二采样点对应的权重的计算示意图，如图2所示，在一地层中，假设上升盘中有一个采样点B(k)，则可获得B(k)到该层断面的距离j，在下降盘中有一个采样点A(k)，则可获得A(k)到该层断面的距离i，利用两盘中两口井反距离加权原理，第一采样点和第二采样点对应的权重可采用下面的公式计算：
WA＝i/(i+j) (3)
WB＝j/(i+j) (4)
采用公式(3)和(4)计算的第一采样点和第二采样点对应的权重更接近实际情况，最后得到的第k个样本点的泥岩层厚度值的准确度更高。
图3为现有技术中计算断层的封闭因子的示意图，如图3所示，对于含有多个地层厚度的断层且同一地层的上升盘和下降盘的厚度相同的情况，采用如下公式，根据多个地层的泥岩层厚度值和断距，泥质含量，计算断层的封闭因子：
其中，SGR为断层的封闭因子；
Vsh为地层的泥质含量；
T为断层的断距；
ΔZ(i)为第i个地层的泥岩层厚度值；
n为该断层中地层的层数。
图4为本发明实施例中非均质型断层的示意图，如图4所示，每一地层中，上升盘和下降盘的泥岩层厚度值是不同的，结合公式(1)-(5)，可得到每一层非均质型断层的封闭因子。
在一实施例中，对每一地层，采用如下公式，根据该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值和断距，该地层的泥质含量，计算该地层中非均质型断层的封闭因子：
其中，SGRT为该地层中非均质型断层的封闭因子；
Vsh为该地层的泥质含量；
Tk为该地层中非均质型断层的第k个样本点的断距；
Z(k)为该地层中非均质型断层的第k个样本点的泥岩层厚度值；
n为该地层中非均质型断层的样本点数。
通过上述计算，可得到每一层地层中非均质型断层的封闭因子，从而评价每一层非均质型断层的封闭性。
具体实施时，根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析非均质型断层的封闭性的方法有多种，下面给出其中一个实施例。
在一实施例中，根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析非均质型断层的封闭性，包括：
根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，生成封闭因子图版，所述封闭因子图版用于表示地层深度与非均质型断层的封闭因子的值的关系；
根据所述封闭因子图版，分析非均质型断层的封闭性。
在上述实施例中，首先获得每个地层的地层深度，在已经获得每个地层的非均质型断层的封闭因子的值的情况下，即可建立地层深度与非均质型断层的封闭因子的值的关系的封闭因子图版，所述封闭因子图版可明显看出，特定封闭因子值对应的地层深度的变化范围。
在一实施例中，根据所述封闭因子图版，分析非均质型断层的封闭性，包括：
确定非均质型断层的封闭因子阈值；
对所述封闭因子图版中的每一地层，若该地层中非均质型断层的封闭因子的值大于所述封闭因子阈值，则该地层中非均质型断层封闭；否则，该地层不封闭。
在上述实施例中，首先根据断块油藏资料，确定非均质型断层的封闭因子阈值，然后查找封闭因子图版，若该地层中非均质型断层的封闭因子的值大于所述封闭因子阈值，则该地层中非均质型断层封闭，即在非均质型断层中，获得封闭的地层深度范围。
在一实施例中，非均质型断层的封闭性分析方法还包括根据每一地层中非均质型断层的封闭性，确定每一地层中非均质型断层断层的断块圈闭边界。
基于上述实施例，本发明提出如下一个实施例来说明非均质型断层的封闭性分析方法的详细流程，图5为本发明实施例提出的非均质型断层的封闭性分析方法的详细流程图，如图5所示，在一实施例中，非均质型断层的封闭性分析方法的详细流程包括：
步骤501，根据目标区域的叠后地震数据，获得目标区域的地层特征数据和断层特征数据；
步骤502，根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；
步骤503，从非均质型断层地质模型中识别出每一地层的多个样本点，其中，每一样本点包括位于该地层的非均质型断层上升盘的第一采样点，和位于该地层的非均质型断层下降盘的第二采样点；
步骤504，确定每一地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值；
步骤505，对每一地层，根据该地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值，确定该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值；
步骤506，对每一地层，根据非均质型断层地质模型，获得该地层的泥质含量，以及该地层中非均质型断层的每一样本点的断距；
步骤507，对每一地层，根据该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值和断距，该地层的泥质含量，计算该地层中非均质型断层的封闭因子；
步骤508，根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，生成封闭因子图版，所述封闭因子图版用于表示地层深度与非均质型断层的封闭因子的值的关系；
步骤509，确定非均质型断层的封闭因子阈值；
步骤510，对所述封闭因子图版中的每一地层，若该地层中非均质型断层的封闭因子的值大于所述封闭因子阈值，则该地层中非均质型断层封闭；否则，该地层不封闭；
步骤511，根据每一地层中非均质型断层的封闭性，确定每一地层中非均质型断层断层的断块圈闭边界。
当然，可以理解的是，上述非均质型断层的封闭性分析方法的详细流程还可以有其他变化例，相关变化例均应落入本发明的保护范围。
下面给出一具体实施例，来说明本发明实施例提出的方法的具体应用。
以苏丹1/2/4地区为例，首先将目标区域的叠后地震数据，加载进在Geoeast软件，获得目标区域的地层特征数据和断层特征数据，包括2套地层，一组和二组，地层厚度在100-200m之间。根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型，图6为本发明实施例中非均质型断层地质模型的示意图，断层均为东西走向，倾角30度，断距600-1000m，延伸距离45km。
从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，采用公式(6)确定多个地层中非均质型断层的封闭因子。
根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，生成封闭因子图版，图7为本发明实施例中封闭因子图版的示意图，如图7所示。
然后根据钻井资料，确定非均质型断层的封闭因子阈值，在已有的钻井资料中，有已钻断块圈闭7个。其中，4个断块圈闭目的层含有油层，表明控制目的层成藏的断层封闭性好，即非均质型断层的封闭性好。需要说明的是，该判断是基于对油气成藏条件的研究，因为目的层产油，其断层封闭性必然好，因此封闭性可以是目的层产油的一个充分条件。有3个为失利圈闭，目的层是水层，断层封闭性不好，即非均质型断层的封闭性不好。再计算上述4个断块圈闭目的层段的封闭因子的值，发现含油目的层的封闭因子的值都在32％以上；而失利目的层的封闭因子的值32％以下，即可以确定本实施例中非均质型断层的封闭因子阈值为32％。对所述封闭因子图版中的每一地层，若该地层中非均质型断层的封闭因子的值大于所述封闭因子阈值，则该地层中非均质型断层封闭；否则，该地层不封闭。由图7可知，在地层深度为1806m-1857m的地层的层段和2019m-2080m的地层的层段中，非均质型断层的封闭因子的值小于32％，为不封闭的，其余地层的层段中，非均质型断层的封闭因子的值均大于32％，为封闭的。
最后可根据每一地层中非均质型断层的封闭性，确定每一地层中非均质型断层断层的断块圈闭边界。地层深度在1806m-1857m的范围内断层不封闭，存在油气渗透，所以1806m即为非均质型断层可以封闭的最大深度，如果钻井钻到1806m以外的深度范围，即存在极大风险，因此，可确定1806m为非均质型断层断层的断块圈闭边界，图8为本发明实施例中非均质型断层断层的断块圈闭边界的示意图，根据所述非均质型断层断层的断块圈闭边界，继而得到断块圈闭的有效面积图，避免了风险，为勘探部署和钻井提供可靠的指导。
在本发明实施例提出的方法中，根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。在上述过程中，通过建立的非均质型断层地质模型，获得了多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，即考虑了断层的每一盘的泥岩层厚度，因此，获得的多个地层中非均质型断层的封闭因子准确，最后分析获得的每一地层中非均质型断层的封闭性的结果的准确度高。
基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种非均质型断层的封闭性分析装置，如下面的实施例所述。由于这些解决问题的原理与非均质型断层的封闭性分析方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不在赘述。
图9为本发明实施例中非均质型断层的封闭性分析装置的示意图，如图9所示，该装置包括：
模型建立模块901，用于根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；
断层两盘数据获得模块902，用于从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；
封闭因子确定模块903，用于根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；
分析模块904，用于根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。
在一实施例中，非均质型断层的封闭性分析装置，还包括数据获取模块905，用于：
根据目标区域的叠后地震数据，获得目标区域的地层特征数据和断层特征数据。
在一实施例中，非均质型断层的封闭性分析装置，还包括断块圈闭边界确定模块906，用于：
根据每一地层中非均质型断层的封闭性，确定每一地层中非均质型断层断层的断块圈闭边界。
在一实施例中，断层两盘数据获得模块902具体用于：
从非均质型断层地质模型中识别出每一地层的多个样本点，其中，每一样本点包括位于该地层的非均质型断层上升盘的第一采样点，和位于该地层的非均质型断层下降盘的第二采样点；
确定每一地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值。
在一实施例中，封闭因子确定模块903具体用于：
对每一地层，根据该地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值，确定该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值；
对每一地层，根据非均质型断层地质模型，获得该地层的泥质含量，以及该地层中非均质型断层的每一样本点的断距；
对每一地层，根据该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值和断距，该地层的泥质含量，计算该地层中非均质型断层的封闭因子。
在一实施例中，分析模块904具体用于：
根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，生成封闭因子图版，所述封闭因子图版用于表示地层深度与非均质型断层的封闭因子的值的关系；
根据所述封闭因子图版，分析非均质型断层的封闭性。
在一实施例中，分析模块904具体用于：
确定非均质型断层的封闭因子阈值；
对所述封闭因子图版中的每一地层，若该地层中非均质型断层的封闭因子的值大于所述封闭因子阈值，则该地层中非均质型断层封闭；否则，该地层不封闭。
在本发明实施例提出的装置中，根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。在上述过程中，通过建立的非均质型断层地质模型，获得了多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，即考虑了断层的每一盘的泥岩层厚度，因此，获得的多个地层中非均质型断层的封闭因子准确，最后分析获得的每一地层中非均质型断层的封闭性的结果的准确度高。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种非均质型断层的封闭性分析方法，其特征在于，包括：
根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；
从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；
根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；
根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性；
其中，从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，包括：从非均质型断层地质模型中识别出每一地层的多个样本点，其中，每一样本点包括位于该地层的非均质型断层上升盘的第一采样点，和位于该地层的非均质型断层下降盘的第二采样点；确定每一地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值；
其中，根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子，包括：对每一地层，根据该地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值，确定该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值；对每一地层，根据非均质型断层地质模型，获得该地层的泥质含量，以及该地层中非均质型断层的每一样本点的断距；对每一地层，采用如下公式，根据该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值和断距，该地层的泥质含量，计算该地层中非均质型断层的封闭因子：
其中，
Z(k)＝WA·A(k)+WB·B(k)
WA＝i/(i+j)
WB＝j/(i+j)
其中，SGRT为该地层中非均质型断层的封闭因子；Vsh为该地层的泥质含量；Tk为该地层中非均质型断层的第k个样本点的断距；Z(k)为该地层中非均质型断层的第k个样本点的泥岩层厚度值；n为该地层中非均质型断层的样本点数；A(k)为第k个样本点的第一采样点的泥岩层厚度值；B(k)为第k个样本点的第二采样点的泥岩层厚度值；WA和WB分别为第一采样点和第二采样点对应的权重；j为第一采样点到该地层断面的距离；i为第二采样点到该地层断面的距离。
2.如权利要求1所述的非均质型断层的封闭性分析方法，其特征在于，在根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型之前，还包括：
根据目标区域的叠后地震数据，获得目标区域的地层特征数据和断层特征数据。
3.如权利要求1所述的非均质型断层的封闭性分析方法，其特征在于，根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析非均质型断层的封闭性，包括：
根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，生成封闭因子图版，所述封闭因子图版用于表示地层深度与非均质型断层的封闭因子的值的关系；
根据所述封闭因子图版，分析非均质型断层的封闭性。
4.如权利要求3所述的非均质型断层的封闭性分析方法，其特征在于，根据所述封闭因子图版，分析非均质型断层的封闭性，包括：
确定非均质型断层的封闭因子阈值；
对所述封闭因子图版中的每一地层，若该地层中非均质型断层的封闭因子的值大于所述封闭因子阈值，则该地层中非均质型断层封闭；否则，该地层不封闭。
5.如权利要求1所述的非均质型断层的封闭性分析方法，其特征在于，还包括：
根据每一地层中非均质型断层的封闭性，确定每一地层中非均质型断层的断块圈闭边界。
6.一种非均质型断层的封闭性分析装置，其特征在于，包括：
模型建立模块，用于根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；
断层两盘数据获得模块，用于从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；
封闭因子确定模块，用于根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；
分析模块，用于根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性；
其中，所述断层两盘数据获得模块还用于从非均质型断层地质模型中识别出每一地层的多个样本点，其中，每一样本点包括位于该地层的非均质型断层上升盘的第一采样点，和位于该地层的非均质型断层下降盘的第二采样点；确定每一地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值；
所述封闭因子确定模块还用于对每一地层，根据该地层的每一样本点的第一采样点和第二采样点的泥岩层厚度值，确定该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值；对每一地层，根据非均质型断层地质模型，获得该地层的泥质含量，以及该地层中非均质型断层的每一样本点的断距；对每一地层，采用如下公式，根据该地层中非均质型断层的每一样本点的泥岩层厚度值和断距，该地层的泥质含量，计算该地层中非均质型断层的封闭因子：
其中，
Z(k)＝WA·A(k)+WB·B(k)
WA＝i/(i+j)
WB＝j/(i+j)
其中，SGRT为该地层中非均质型断层的封闭因子；Vsh为该地层的泥质含量；Tk为该地层中非均质型断层的第k个样本点的断距；Z(k)为该地层中非均质型断层的第k个样本点的泥岩层厚度值；n为该地层中非均质型断层的样本点数；A(k)为第k个样本点的第一采样点的泥岩层厚度值；B(k)为第k个样本点的第二采样点的泥岩层厚度值；WA和WB分别为第一采样点和第二采样点对应的权重；j为第一采样点到该地层断面的距离；i为第二采样点到该地层断面的距离。
7.如权利要求6所述的非均质型断层的封闭性分析装置，其特征在于，还包括数据获取模块，用于：
根据目标区域的叠后地震数据，获得目标区域的地层特征数据和断层特征数据。
8.如权利要求6所述的非均质型断层的封闭性分析装置，其特征在于，还包括断块圈闭边界确定模块，用于：
根据每一地层中非均质型断层的封闭性，确定每一地层中非均质型断层断层的断块圈闭边界。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5任一项所述方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有执行权利要求1至5任一项所述方法的计算机程序。
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