CN110609280A - 测量装置、参考反射器以及测量衰减的方法 - Google Patents

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Abstract

描述了一种用于测量通过被测器件(32)的不规则表面的衰减的测量装置(10)。测量装置(10)包括定位系统(14)、具有一组漫散射构件(26)的参考反射器(22)、以及三维成像系统(12)。测量装置(10)具有参考状态和测量状态，其中在不同状态下获取相应的图像。成像系统(12)被配置为比较在参考状态和测量状态下获取的图像以确定被测器件(32)的衰减。此外，描述了参考反射器(22)以及用于测量衰减的方法。

Description

测量装置、参考反射器以及测量衰减的方法
技术领域
本公开的实施例总体上涉及一种用于测量通过被测器件的不规则表面的衰减的测量装置。此外，本公开的实施例总体上涉及一种供在用于测量通过不规则表面的衰减的测量装置中使用的参考反射器。本公开的实施例总体上还涉及一种用于测量被测器件的不规则表面的衰减的方法。
背景技术
如今，雷达传感器用在车辆中以观察相应车辆的环境，例如通过雷达传感器观察到前方车辆的距离又或者到后方车辆的距离。如果观察到的距离变得太小，则可以警告车辆的驾驶员。通常，雷达传感器被安装在前汽车保险杠以及后汽车保险杠后面。由于汽车保险杠涂有金属涂漆，因此发生了由涂漆引起的不期望的雷达信号的衰减。
通常，发生的衰减很大程度上取决于涂漆颜色、其密度、其金属含量、其厚度、其混合物等。因此，由于必须单独检查每个单独的涂漆，所以难以控制或更确切地说预测在工业生产中所产生的汽车保险杠的衰减值。
由于汽车保险杠通常具有不规则表面，因此使衰减的测量进一步复杂化。
迄今为止，在工业生产中进行点状测量，其中研究了一些奇异点(singularpoint)。雷达传感器的完整视场(也称为雷达视场)在切实可行的时间内不能被这样的测量类型覆盖。因此，不可能取得对整个汽车保险杠的衰减的可靠概览。
对于科学应用或者更确切地说学术应用，可以使用远程放置在相应汽车保险杠后面的射频传感器模块，其中执行直接透射测量，例如考虑由矢量网络分析器获得的散射参数S21。然而，由于例如高公差和必须延伸到保险杠的内部主体中的射频电缆的若干事实，这些测量在工业生产中是不切实际的。
因此，需要如下一种可能性：以切实可行的且有成本效益的方式测量通过被测器件(诸如汽车保险杠)的不规则表面的衰减，从而可以将其应用于相应被测器件的工业生产中。
发明内容
本公开的实施例提供了一种用于测量通过被测器件的不规则表面的衰减的测量装置，包括：
-定位系统；
-具有一组漫散射构件的参考反射器；
-具有视场的三维成像系统，该三维成像系统被配置为使用雷达系统的频率
范围内的电磁信号；
-该测量装置具有参考状态和测量状态；
在参考状态下，定位系统被配置为在成像系统的视场中没有被测器件的情况下定位参考反射器；
在测量状态下，定位系统还被配置为在成像系统的视场中定位参考反射器和被测器件，被测器件位于成像系统和参考反射器之间；
在参考状态下，成像系统被配置为获取参考反射器的参考图像；
在测量状态下，成像系统被配置为在被测器件被布置在成像系统和参考反射器之间时获取参考反射器的测量图像；
成像系统还被配置为比较在参考状态和测量状态下所获取的图像，以确定被测器件的衰减。
因此，由于针对参考目标的反射成像被用于生成参考图像，因此通过该测量装置可以容易地并以有成本效益的方式测量具有不规则表面的被测器件(诸如汽车保险杠)的衰减。参考图像(即在参考状态下获取的图像)稍后被用于比较目的，以便确定具有不规则表面的被测器件的衰减。换句话说，通过测量在两个测量(即参考测量和被测器件的测量)中使用的参考反射器的漫散射构件的反射率的集体相对变化来获得被测器件的衰减。因此，被测器件本身(即其不规则形状)的反射被去除，因为该反射发生在错误的反射平面(即与参考反射器间隔开的反射平面)处。实际上，成像系统依赖于参考反射器的反射来确定被测器件的衰减。
三维成像系统使用雷达系统(例如终极雷达系统)的频率范围内的电磁信号。所应用的频率范围对应于被测器件(例如汽车保险杠)所使用的雷达传感器之一。因此，电磁信号可以具有75和82GHz之间的频率，例如77GHz或79GHz的频率，使得电磁信号的波长基本上对应于4mm。因此，三维成像系统可以是高分辨的毫米波面板(mmWave面板)，以便通过被测器件(即放置在被测器件后面的参考反射器)进行成像。
通常，三维成像系统具有限定的辐射图案(即一个或多个辐射束)，使得电磁信号以限定的方式撞击在被测器件上。
由于测量装置依赖于参考反射器的反射，因此变得显然的是由三维成像系统发射的信号的至少一部分通过被测器件，特别是以平行或确切地说笔直的方式。因此，透射厚度(即被电磁信号穿过的被测器件的材料厚度)是恒定的。
在测量状态下，参考反射器可以位于被测器件(即汽车保险杠)内部。因此，参考反射器可以被嵌入在被测器件中。可替代地，参考反射器被(紧密地)定位在被测器件后面，特别是紧后面。实际上，参考反射器被定位成对应于被测器件所使用的至少一个雷达传感器的预期位置。
定位系统确保了参考反射器被定位在正确的位置。为此目的，定位系统可以在参考状态下和在测量状态下定位参考反射器，以便在两个测量(即参考测量和被测器件的测量)期间对于参考反射器确定参考反射器的相同位置。
一组漫散射构件可以对应于矩阵，使得独立散射构件位于矩阵状布置中。相邻散射构件之间的相应距离可以相等。因此，独立散射构件可以以均匀的方式分布在参考反射器的表面上。
漫散射构件确保了由三维成像系统辐射的电磁信号在所有方向上被散射。
根据一个方面，成像系统被配置为通过使用几何匹配来定位参考反射器及其散射构件。由于仅参考反射器位于三维成像系统的视场中，所以这可以由于在参考状态下获取的参考图像而被确保。因此，独立的散射构件的相应位置可以由成像系统定位。成像系统可以在独立的散射构件处定位和提取参考反射器的集体反射率(collectivereflectivity)。换句话说，在测量状态下，三维成像系统已经知道漫散射构件的位置或者至少预期独立的散射构件在某些位置处(由于参考反射器的相同定位和几何匹配)。因此，所获取的参考图像提供了关于独立的散射构件的位置的某个种类模板。通过在测量状态下使用该模板，使成像系统能够更容易地识别在测量状态下获取的图像中的散射构件。
例如，模板的3mm偏差范围内的位置(即到预期位置的左侧3mm和/或到预期位置的右侧的3mm)可以被考虑在内。因此，微小的偏差不损害测量结果。
另一方面提供了成像系统被配置为在将在参考状态和测量状态下获取的图像进行比较时，将在反射器的至少两个散射构件的位置处的图像强度进行比较。通过考虑所获取的两个图像的图像强度，使得衰减仅对应于两个图像的反射率强度的差异，可以容易地得到被测器件的衰减。由于在散射构件的位置处考虑了反射率强度或更确切地说图像强度，因此变得显然的是不考虑被测器件的不规则表面。事实上，不规则表面处的反射被分配到与参考反射器之一相比不同的反射平面。换句话说，被测器件本身(即其不规则表面)的反射被去除，使得这些信号对于确定被测器件的衰减不做贡献。
根据一个方面，成像系统还被配置为忽略源自不规则表面的反射。成像系统仅依赖于参考反射器的反射来确定被测器件的衰减。由于不规则表面被分配给不同的反射平面，因此这些反射没有贡献。实际上，由于成像系统涉及被分配给参考反射器的反射平面，因此忽略了不规则表面的干扰贡献。
此外，成像系统可以被配置为仅考虑以下散射构件，其有贡献于被测器件的不规则表面与被测器件的至少一个雷达传感器的预期视场之间的交叉。至少一个雷达传感器的预期视场(也称为雷达视场)对应于被测器件的不规则表面上的特定区域。由于该区域对于衰减确定是令人感兴趣的，所以仅考虑对该特定区域具有贡献的这些散射构件。不与雷达视场交叉的不规则表面的其他区域是不太令人感兴趣的，所以忽略了被分配给这些区域的散射构件。换句话说，如果一些散射构件位于被测器件的不规则表面上的被测器件的预期雷达视场的外部，则排除这些散射构件。因此，仅选择以下特定的散射构件，其与相对于被测器件的不规则表面的预期雷达视场相关。
此外，参考反射器可以被定位系统定位成使得散射构件面向成像系统。因此，由成像系统发射的电磁信号撞击在参考反射器的散射构件上(在测量状态下穿过被测器件之后)，使得电磁信号被散射构件反射。实际上，散射构件将电磁信号反射朝向成像系统。
成像系统通常被配置为接收经反射的电磁信号并适当地处理这些信号。
成像系统的视场可以与由被测器件的至少一个雷达传感器提供的雷达视场对准。由成像系统发射的电磁信号可以与预期雷达视场的雷达信号所进行的相同区域中穿过被测器件的不规则表面。因此，整个交叉表面(即与雷达视场交叉的不规则表面的表面区域)被三维成像系统辐射。另外，不规则表面上的相邻区域不被成像系统照射。
此外，定位系统可以是固定的定位系统和可移动的定位系统中的至少一个。固定的定位系统确保在两个测量期间至少参考反射器被保持在相同位置。使可移动的定位系统能够在相对于成像系统的不同位置处照射被测器件。然而，可移动的定位系统还确保参考反射器在参考测量以及被测器件的测量期间被保持在相同位置，这是因为定位系统被控制为采用相同的位置。
例如，定位系统包括机器人。可以适当地控制机器人，使得可以获得参考反射器以及被测器件的期望位置。
另一方面提供了定位系统，其包括至少一个夹持器，该夹持器被配置为定位参考反射器和被测器件中的至少一个。夹持器可以被用于容易地保持至少一个相应的部件，即参考反射器和/或被测器件。
实际上，夹持器能够将被测器件的不规则表面保持在期望位置，即在参考反射器前面。
例如，至少一个夹持器具有真空吸盘。夹持器可以容易地握持具有不规则表面的被测器件。此外，可以在没有任何磨损的情况下在不同位置处容易地夹持部件。
定位系统在用于测量衰减的区域中可以没有高反射部件。测量不受定位系统反射的干扰。
例如，由于夹持器在相应的测量期间位于靠近参考反射器和/或被测器件，所以至少夹持器没有高反射部件。
参考反射器可以包括基座，若干独立散射构件被附接到该基座，若干独立散射构件各自具有用于反射的弧形尖端，若干独立散射构件的尺寸与用于衰减测量的信号的波长相当，若干独立散射构件相对于基座来布置为使得发生可由成像系统分离的前反射和后反射。因此，独立散射构件的尖端与若干独立散射构件通过其相对的端部所附接到的基座之间的距离足够高，使得成像系统可以分离发生在基座处的反射和发生在若干独立散射构件的尖端处的反射。因此，由参考反射器提供两个反射平面。
基座包括电磁吸收器。电磁吸收器确保了减少背景反射(即背反射)。吸收器可以由电磁吸收层提供。该层可以被刷涂、喷涂和/或涂覆在基座上。
弧形尖端可以是椭圆形的或半球形的。
散射构件可以由具有与用于测量的信号的波长相对应的直径的条状物形成。因此，独立散射构件的形状基本上为具有某一直径的圆柱形。
此外，本公开的实施例提供了一种供在用于测量通过不规则表面的衰减的测量装置中使用的参考反射器，参考反射器包括基座和附接到基座的若干独立散射构件，若干独立散射构件各自具有用于反射的弧形尖端，若干独立散射构件的尺寸与用于衰减测量的信号的波长相当，若干独立散射构件相对于基座布置为使得发生可由成像系统分离的前反射和后反射。前反射可以通过若干独立散射构件的尖端而发生，而后反射被分配给基座处的反射。因此，若干独立散射构件足够长，使得成像系统可以区分两个反射平面。
基座可以包括电磁吸收器。电磁吸收器确保了减少背景反射(即背反射)。吸收器可以由电磁吸收层提供。该层可以通过刷涂、喷涂和/或涂覆来提供。
此外，本公开实施例提供了一种用于测量被测器件不规则表面的衰减的方法，具有如下步骤：
-将具有一组漫散射构件的参考反射器定位在三维成像系统前面，该三维成
像系统使用雷达系统的频率范围内的电磁信号；
-通过使用成像系统获取参考反射器的参考图像；
-将被测器件和参考反射器定位在成像系统前面，使得被测器件被布置在参
考反射器和成像系统之间；
-在被测器件被布置在成像系统和参考反射器之间时，通过使用成像系统来
获取参考反射器的测量图像；以及
-比较所获取的图像以确定被测器件的衰减。
关于测量装置的上述特性和优点也适用于以类似的方式的上述方法。
实际上，在获取参考图像之后，成像系统定位并提取散射构件处的集体反射率。以类似的方式，在获取测量图像之后，成像系统定位并提取散射构件处的集体反射率。因此，可以比较相应的集体反射率。
当比较两个图像时，可以在参考散射构件处的集体反射率(特别是差异)时容易地确定该衰减。
根据一个方面，在比较所获取的图像时，比较参考反射器的至少两个散射构件的位置处的图像强度。通过比较被分配给参考反射器的位置处的反射信号的图像强度来确定被测器件的衰减。因此，考虑被分配给参考反射器的参考平面。换句话说，被测器件的不规则表面的反射被去除，因为它被分配给了不同的反射平面。
根据另一方面，忽略源自不规则表面的反射。因此，出于测量目的仅考虑从参考反射器的散射构件(特别是被分配给雷达视场的散射构件)发生的反射。事实上，源自不规则表面的反射被分配到与参考反射器之一相比不同的反射平面。
此外，仅考虑散射构件，其有贡献于被测器件的不规则表面和被测器件的至少一个雷达传感器的预期视场之间的交叉。因此，关于衰减来测量被测器件的不规则表面的某一区域，因为该区域将被被测器件的至少一个雷达传感器的预期雷达视场照射。实际上，关于被测器件的透射率，不规则表面的仅这个区域是令人感兴趣的。
由于考虑的是针对相应的散射构件来确定衰减值，因此可以通过对衰减值求平均来确定被测器件的衰减。
通常，可以单独地形成参考反射器。因此，可以由定位系统保持参考反射器。
因此，参考反射器可以是静止的。换句话说，被测器件(例如汽车保险杠)经由定位系统而相对于(静止的)参考反射器来定位。
可替代地，参考反射器可以被集成在定位系统(例如夹持器)中。因此，参考反射器的相对位置可以由定位系统(特别是其夹持器)限定。
附图说明
当结合附图时，所要求保护的主题的前述方面和许多伴随的优点将变得更容易理解，如通过参考以下详细描述一样变得更好理解，在附图中：
-图1示出了根据本公开的参考状态下的测量装置；
-图2示出了测量状态下的图1的测量装置；
-图3以没有定位系统的另一透视图示出了图2的测量装置；
-图4示出了图3的细节；
-图5示出了根据本公开的参考反射器的透视图；
-图6示出了图5的参考反射器的俯视图；
-图7示出了图5和图6的参考反射器的侧视图；以及
-图8示出了说明根据本公开的用于测量衰减的方法的流程图。
具体实施方式
以下结合附图阐述的详细描述旨在作为所公开主题的各种实施例的描述，而不旨在表示仅有的实施例，在附图中相同的附图标记表示相同的元件。本公开中描述的每个实施例仅作为示例或说明提供，并且不应该被解释为比其他实施例更优选或更有利。本文所提供的说明性示例并不旨在是穷举性的或者将所要求保护的主题限制为所公开的精确形式。
在图1中，以参考状态示出了用于测量通过被测器件的不规则表面的衰减的测量装置10。
测量装置10包括三维成像系统12，其具有用于发射和/或接收电磁信号的若干天线，如稍后将描述的。
三维成像系统12使用雷达系统(诸如终极雷达系统)的频率范围内的电磁信号。因此，电磁信号可以具有75和82GHz之间的频率，特别是77GHz和79GHz，使得电磁信号的波长对应于4mm。因此，三维成像系统12也称为mmWave成像系统。
测量装置10还包括定位系统14，定位系统14具有机器人16和至少一个夹持器18，夹持器18用于夹持部件并将相应的部件保持在期望的位置。至少一个夹持器18可以位于机器人16的机械臂的端部处。
在所示的实施例中，夹持器18具有真空吸盘20，使得相应的部件通过所施加的真空而被夹持器18保持。
在图1中，测量装置10以其参考状态示出，在该状态中，测量装置10用于获取被至少一个夹持器18保持在参考位置的参考反射器22的参考图像。
参考反射器22在图5至图7中更详细地示出。参考反射器22包括由板提供的基座24，漫散射构件26从其沿基本垂直方向延伸。
漫散射构件26以矩阵形式布置在基座24上，其中散射构件26各自具有弧形尖端28(例如半球形或椭圆形尖端)，使得撞击在散射构件26上的电磁信号以漫射方式散射。
若干独立散射构件26的尺寸基本上与成像系统12发射的信号的波长相当。特别地，散射构件26被成形为圆柱形，其中它们的直径对应于由成像系统12发射的电磁信号的波长，即约4mm。
此外，若干独立散射构件26具有以下长度，其确保了由参考反射器22提供两个不同反射平面(其可以被成像系统12区分开)。所提供的反射平面对应于尖端28处的反射，也称为前反射，以及底座24处的反射，也称为后反射。因此，当电磁信号撞击在参考反射器22上时发生前反射和后反射。
实际上，散射构件26对应于条状物。
如图6所示，独立散射构件26以基本相同的距离彼此间隔开，使得获得散射构件26的均匀分布。
在图1中，适当地示出了成像系统12的视场30，其经由某一区域照射参考反射器22，如稍后将参考图2描述的。
为了测量被测器件的衰减，在第一步骤S1中，经由定位系统14将参考反射器22定位在成像系统12的前面；请参考图8。
参考反射器22被定位成使得散射构件26面向成像系统12，以便由成像系统12发射的电磁信号撞击在散射构件26上，散射构件26以漫射方式散射该信号。
在第二步骤S2中，成像系统12获取参考反射器22的反射的参考图像。特别地，由成像系统12评估被分配给散射构件26的不同位置处的图像强度。因此，定位和提取独立散射构件26处的总体反射率，使得获得关于单独的散射构件26的位置的模板。
在图2所示的下一步骤S3中，被测器件32由定位系统14保持，其中被测器件32位于成像系统12和参考反射器22之间。
然后，成像系统12照射被测器件32以及位于被测器件32后面的参考反射器22(步骤S4)。因此，由成像系统12发射的电磁信号通过被测器件32并且撞击在位于被测器件32后面的参考反射器22上。当电磁信号通过(穿过)被测器件32时，电磁信号被被测器件32衰减。再次，成像系统12定位和提取独立散射构件26处的总体反射率，使得在被测器件32被设置在成像系统12和参考反射器22之间时获取参考反射器22的测量图像。
在成像系统12已经获取了参考图像(S2)以及测量图像(S4)之后，成像系统12比较所获取的图像以便确定被测器件32的衰减(步骤S5)。
因此，成像系统12依赖于关于参考反射器22的几何匹配，这可以被完成，因为成像系统12已经预先获取参考图像，从而不同的散射构件26也是如此。
定位系统14通常确保了参考反射器22针对参考测量和被测器件32的测量两者而被定位在相同位置。
因此，针对参考反射器22的相对反射成像被用于确定被测器件32的衰减。
换句话说，几何匹配由成像系统12完成，以便将参考反射器22(特别是其散射构件26)定位在与参考状态相比的测量状态下。
因此，在测量状态下的三维成像系统12由于几何匹配所以已经知道漫散射构件26的位置，或者至少预期个别散射构件26在某些位置处。
如已经讨论的，被测器件32可以是汽车保险杠，其包括具有预期雷达视场34的雷达传感器，如图2所示。
成像系统12的视场30对应于预期的雷达视场34，如将通过考虑图3和图4而变得显而易见。换句话说，成像系统12的视场30与雷达视场34对准。
因此，可以针对在实际应用中与被测器件32的至少一个雷达传感器相互作用的特定区域来确定被测器件32的不规则表面的衰减。由于成像系统12的视场30覆盖被测器件32的不规则表面处的相同区域，因此针对雷达视场34与被测器件32的不规则表面的交叉来测量衰减。
成像系统12还被配置为仅考虑散射构件26，其有贡献于被测器件32的不规则表面和被测器件32的至少一个雷达传感器的雷达视场34(或者更确切地说在不规则表面上覆盖相同区域的成像系统12的视场30)之间的交叉。因此，散射构件26的贡献仅被用于确定可以对实际操作中的信号衰减具有影响的被测器件32的衰减。
如以上已经讨论的，成像系统12依赖在参考反射器22上发生的反射来确定被测器件32的衰减。
参考反射器22本身的散射构件26足够长，使得出现两个不同的反射平面，即分配给漫散射构件26的尖端28的反射平面和分配给基座24的反射平面。
基座24可以被电磁吸收器36覆盖，使得减少背景反射，即在基座24处的背反射。电磁吸收器36可以由可以通过喷涂、涂覆和/或涂漆建立的层来提供。
因此，成像系统12基本上仅接收在散射构件26的尖端28处发生的反射。
成像系统12也被配置为忽略来自不规则表面的反射，因为这些反射也被分配给相对于参考反射器22的反射平面(特别是尖端28的反射平面)的不同反射平面。
为了改进测量，定位系统14在用于测量被测器件32的衰减的区域中没有高反射部件。
这已经可以通过提供没有任何高反射部件的夹持器18来确保，因为夹持器18被分配给测量区域，在该测量区域中参考反射器22和/或被测器件32在相应的测量期间被夹持器18保持。
通常，定位系统14可以是固定的定位系统，使得参考反射器22的位置总是相同的。
可替代地，定位系统14可以是可移动的定位系统，其中定位系统14被适当地控制，使得可以确保参考反射器22被定位在用于测量的相同位置或者更确切地说移动到用于测量的相同位置。
可移动的定位系统14通常确保测量装置10可以容易地测试不同尺寸的被测器件32。
通常，使成像系统12能够仅考虑某个反射平面来确定衰减。所使用的反射平面被分配给漫散射构件26的尖端28。
实际上，太近的反射(即被测器件32的不规则表面的那些反射)不被考虑用于确定被测器件32的衰减。以类似的方式，成像系统12忽略参考反射器22的基座24处的反射。这些反射已经被电磁吸收器36抑制。
因此，每个漫散射构件26将相应的电磁信号散射朝向成像系统12，其进而可以忽略某些散射构件26，特别是它们的反射信号，使得仅考虑对应于雷达视场34与被测器件32的不规则表面的交叉的那些反射。
使用参考反射器22确保了可以容易地并且以有成本效益的方式完成具有不规则表面的被测器件32的衰减。
因此，可以在工业场所完成相应的测量，使得可以更容易地校准车辆的雷达系统。

Claims (15)

1.一种用于测量通过被测器件(32)的不规则表面的衰减的测量装置(10)，包括：
-定位系统(14)；
-具有一组漫散射构件(26)的参考反射器(22)；
-具有视场(30)的三维成像系统(12)，所述三维成像系统(12)被配置为使用雷达系统的频率范围内的电磁信号；
所述测量装置(10)具有参考状态和测量状态；
在所述参考状态下，所述定位系统(14)被配置为在所述成像系统(12)的视场(30)中没有所述被测器件(32)的情况下定位所述参考反射器(22)；
在所述测量状态下，所述定位系统(14)还被配置为在所述成像系统(12)的视场(30)中定位所述参考反射器(22)和所述被测器件(32)，所述被测器件位于所述成像系统(12)和所述参考反射器(22)之间；
在所述参考状态下，所述成像系统(12)被配置为获取所述参考反射器(22)的参考图像；
在所述测量状态下，所述成像系统(12)被配置为在所述被测器件(32)被布置在所述成像系统(12)和所述参考反射器(22)之间时获取所述参考反射器(22)的测量图像；
所述成像系统(12)还被配置为比较在所述参考状态和所述测量状态下所获取的图像，以确定所述被测器件(32)的衰减。
2.根据权利要求1所述的测量装置(10)，其中，所述成像系统(12)被配置为：
-通过使用几何匹配来定位所述参考反射器(22)及其散射构件(26)，和/或
-在比较在所述参考状态和所述测量状态下所获取的图像时，比较所述参考反射器(22)的至少两个散射构件(26)的位置处的图像强度，和/或
-忽略源自所述不规则表面的反射。
3.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述成像系统(12)被配置为仅考虑以下散射构件(26)，其有贡献于所述被测器件(32)的不规则表面与所述被测器件(32)的至少一个雷达传感器的预期视场(34)之间的交叉。
4.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述参考反射器(22)被所述定位系统(14)定位成使得所述散射构件(26)面向成像系统(12)。
5.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述成像系统(12)的视场(30)与由所述被测器件(32)的至少一个雷达传感器提供的雷达视场(34)对准。
6.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述定位系统(14)是固定的定位系统和可移动的定位系统中的至少一个。
7.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述定位系统(14)包括机器人(16)。
8.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述定位系统(14)包括至少一个夹持器(18)，其被配置为定位所述参考反射器(22)和所述被测器件(32)中的至少一个，特别是其中，所述至少一个夹持器(18)具有真空吸盘(20)。
9.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述定位系统(14)在用于测量衰减的区域中没有高反射部件。
10.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述参考反射器(22)包括基座(24)，多个独立散射构件(26)被附接到所述基座(24)，所述多个独立散射构件(26)各自具有用于反射的弧形尖端(28)，所述多个独立散射构件的尺寸与用于衰减测量的信号的波长相当，所述多个独立散射构件相对于所述基座(24)被布置成使得发生能由所述成像系统(14)分离的前反射和后反射。
11.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置(10)，其中，所述散射构件(26)由具有与所述用于衰减测量的信号的波长相对应的直径的条状物形成。
12.一种供在用于测量通过不规则表面的衰减的测量装置中使用的参考反射器(22)，所述参考反射器(22)包括基座(24)和附接到所述基座(24)的多个独立散射构件(26)，所述多个独立散射构件(26)各自具有用于反射的弧形尖端(28)，所述多个独立散射构件(26)的尺寸与用于衰减测量的信号的波长相当，所述多个独立散射构件(26)相对于所述基座(24)被布置成使得发生能由成像系统(14)分离的前反射和后反射，特别是其中，所述基座(24)包括电磁吸收器(36)。
13.一种用于测量被测器件(32)的不规则表面的衰减的方法，具有以下步骤：
-将具有一组漫散射构件(26)的参考反射器(22)定位在三维成像系统(12)的前面，所述三维成像系统(12)使用雷达系统的频率范围内的电磁信号；
-通过使用所述成像系统(12)来获取所述参考反射器(22)的参考图像；
-将所述被测器件(32)和所述参考反射器(22)定位在所述成像系统(12)的前面，使得所述被测器件(32)被布置在所述参考反射器(22)和所述成像系统(12)之间；
-在所述被测器件(32)被布置在所述成像系统(12)和所述参考反射器(22)
之间时，通过使用所述成像系统(12)来获取所述参考反射器(22)的测量图像；以及
-比较所获取的图像以确定所述被测器件(32)的衰减。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，在比较所获取的图像的同时，比较所述参考反射器(22)的至少两个散射构件(26)的位置处的图像强度，和/或其中，忽略源自所述不规则表面的反射。
15.根据权利要求13或14所述的方法，其中，仅考虑以下散射构件(26)，其有贡献于所述被测器件(32)的不规则表面和所述被测器件(32)的至少一个雷达传感器的预期视场(34)之间的交叉。
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