CN110553730B - 光谱仪 - Google Patents

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Abstract

本申请提出一种光谱仪，属于测量仪器技术领域。其中，所述光谱仪包括：第一基板和第二基板；设置在第一基板之上的光源引入组件；设置在第一基板与第二基板之间的调温组件；设置在第一基板和第二基板之间的液晶调光组件，其中，调温组件用于调整所述液晶调光组件的温度，以调整透过液晶调光组件的光的光谱；设置在第一基板之上的分光光栅；设置在第二基板之上的反射区，用于将光源引入组件引入的入射光反射至分光光栅；多个传感器，用于接收分光光栅分光之后的入射光。由此，本申请提出的光谱仪整体以基板为基础，无需透镜和反射单元，不仅降低了生产成本，而且减小了光谱仪的体积和重量，提高了光谱仪的轻薄化和集成化程度。

Description

光谱仪
技术领域
本申请涉及测量仪器技术领域，尤其涉及一种光谱仪。
背景技术
光谱仪(Spectroscope)是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成，利用光谱仪可测量物体表面反射的光线。通过光谱仪对光信息的抓取、以照相底片显影，或电脑化自动显示数值仪器显示和分析，从而测知物品中含有何种元素。
相关技术中，便携光谱仪普遍采用传统光学镜头模式，由于光学透镜焦距的限制，透镜放置需要一定高度，从而导致光谱仪体积大、重量沉，难以做到轻薄和高集成化。
发明内容
本申请提出的光谱仪，用于解决相关技术中，采用传统光学镜头模式的便携光谱仪，由于光学透镜焦距的限制，透镜放置需要一定高度，从而导致光谱仪体积大、重量沉，难以做到轻薄和高集成化的问题。
本申请实施例提出的光谱仪，包括：第一基板和第二基板；设置在所述第一基板之上的光源引入组件；设置在所述第一基板与所述第二基板之间的调温组件；设置在所述第一基板和所述第二基板之间的液晶调光组件，其中，所述调温组件用于调整所述液晶调光组件的温度，以调整透过所述液晶调光组件的光的光谱；设置在所述第一基板之上的分光光栅；设置在所述第二基板之上的反射区，用于将所述光源引入组件引入的入射光反射至所述分光光栅；多个传感器，用于接收所述分光光栅分光之后的入射光，其中，每个传感器接收的入射光的波长不同。
可选地，在本申请实施例的一种可能的实现形式中，所述调温组件包括第一电极和第二电极，所述第一电极和第二电极之间的电压用于调整所述液晶调光组件的温度。
可选的，在本申请实施例的另一种可能的实现形式中，所述第一电极设置在所述第一基板之上，所述第二电极设置在所述第二基板之上，所述液晶调光组件设置在所述第一电极与所述第二电极之间。
可选的，在本申请实施例的再一种可能的实现形式中，所述第一电极与所述第二电极均设置在所述第一基板之上，或所述第一电极与所述第二电极均设置在所述第二基板之上。
可选的，在本申请实施例的又一种可能的实现形式中，所述调温组件包括发热电阻，所述发热电阻用于调整所述液晶调光组件的温度。
可选地，在本申请实施例的又一种可能的实现形式中，所述第一基板和所述第二基板之间包括：
第一区域，所述第一区域容纳所述光源引入组件、所述液晶调光组件、所述第一电极、所述第二电极和所述反射区；
第二区域，所述第二区域容纳所述多个传感器，其中，所述分光光栅至少部分设置在所述第二区域之中。
可选地，在本申请实施例的另一种可能的实现形式中，所述光谱仪，还包括：
设置在所述第一区域且设置在所述第一基板与所述第一电极之间的第一遮光层，其中，所述第一遮光层具有第一开口，所述光源引入组件通过所述第一开口引入所述入射光。
可选地，在本申请实施例的再一种可能的实现形式中，所述光谱仪，还包括：
设置在所述第一区域且设置在所述第二基板与所述第二电极之间的第二遮光层，其中，所述第二遮光层具有第二开口，所述反射区设置在所述第二开口之中。
可选地，在本申请实施例的又一种可能的实现形式中，所述光谱仪，还包括：
填充在所述第二区域之中的透光填充介质。
可选地，在本申请实施例的又一种可能的实现形式中，所述分光光栅包括反射式平面衍射光栅。
可选地，在本申请实施例的另一种可能的实现形式中，所述液晶调光组件包括液晶盒、液晶微胶囊或液晶膜。
可选地，在本申请实施例的再一种可能的实现形式中，所述液晶调光组件由胆甾相液晶构成。
可选地，在本申请实施例的又一种可能的实现形式中，所述光谱仪，还包括：
与所述第一电极和所述第二电极相连的电压调整组件。
可选地，在本申请实施例的又一种可能的实现形式中，所述光源引入组件包括光纤或透镜。
可选地，在本申请实施例的另一种可能的实现形式中，所述多个传感器的数量与位置与所述入射光的入射角度、所述反射区的位置、所述分光光栅的位置及分光能力有关。
可选的，在本申请实施例的再一种可能的实现形式中，所述多个传感器设置在所述第一基板内表面、所述第二基板内表面或所述第二基板外表面的其中之一。
本申请实施例提供的光谱仪，包括第一基板和第二基板，设置在第一基板之上的光源引入组件，设置在第一基板与第二基板之间的调温组件，设置在第一基板和第二基板之间的液晶调光组件，其中，调温组件用于调整所述液晶调光组件的温度，以调整透过液晶调光组件的光谱，设置在第一基板之上的分光光栅，设置在第二基板之上的反射区，用于将光源引入组件引入的入射光反射至分光光栅，多个传感器，用于接收分光光栅分光之后的入射光，其中，每个传感器接收的入射光的波长不同。由此，光谱仪整体以基板为基础，无需透镜和反射单元，不仅降低了生产成本，而且减小了光谱仪的体积和重量，提高了光谱仪的轻薄化和集成化程度。
本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本申请实施例所提供的一种光谱仪的结构示意图；
图2为胆甾相液晶的反射波长与温度的关系曲线示意图；
图3为本申请实施例所提供的另一种光谱仪的结构示意图；
图4为本申请实施例所提供的再一种光谱仪的结构示意图；
图5为本申请实施例所提供的又一种光谱仪的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的要素。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。
本申请实施例针对相关技术中，采用传统光学镜头模式的便携光谱仪，由于光学透镜焦距的限制，透镜放置需要一定高度，从而导致光谱仪体积大、重量沉，难以做到轻薄和高集成化的问题，提出一种光谱仪。
本申请实施例提供的光谱仪，包括第一基板和第二基板，设置在第一基板之上的光源引入组件，设置在第一基板与第二基板之间的调温组件，设置在第一基板和第二基板之间的液晶调光组件，其中，调温组件用于调整所述液晶调光组件的温度，以调整透过液晶调光组件的光谱，设置在第一基板之上的分光光栅，设置在第二基板之上的反射区，用于将光源引入组件引入的入射光反射至分光光栅，多个传感器，用于接收分光光栅分光之后的入射光，其中，每个传感器接收的入射光的波长不同。由此，光谱仪整体以基板为基础，无需透镜和反射单元，不仅降低了生产成本，而且减小了光谱仪的体积和重量，提高了光谱仪的轻薄化和集成化程度。
下面参考附图对本申请提供的光谱仪进行详细描述。
图1为本申请实施例所提供的一种光谱仪的结构示意图。
如图1所示，该光谱仪，包括：
第一基板(2)和第二基板(3)；
设置在所述第一基板(2)之上的光源引入组件(4)；
设置在所述第一基板(2)与所述第二基板(3)之间的调温组件(5)；
设置在所述第一基板(2)和所述第二基板(3)之间的液晶调光组件(6)，其中，所述调温组件(5)用于调整所述液晶调光组件(6)的温度，以调整透过所述液晶调光组件(6)的光的光谱；
设置在所述第一基板(2)之上的分光光栅(7)；
设置在所述第二基板(3)之上的反射区(8)，用于将所述光源引入组件(4)引入的入射光(1)反射至所述分光光栅(7)；
多个传感器(9)，用于接收所述分光光栅(7)分光之后的入射光，其中，每个传感器(9)接收的入射光的波长不同。
其中，入射光(1)可以为宽谱光源，比如，可以为白光、红外波段等。实际使用时，本申请实施例的光谱仪可以识别和测量的入射光(1)的类型可以根据具体的产品需求设计，本申请实施例对此不做限定。
其中，第一基板(2)和第二基板(3)的材质可以是可透光的材料。优选的，在本申请实施例中，第一基板(2)和第二基板(3)的材质可以是玻璃，且第一基板(2)和第二基板(3)可以平行放置，两者之间的距离可以为毫米级，比如可以为1毫米，从而使得光谱仪的整体体积和厚度大大减小。
需要说明的是，若本申请实施例的光谱仪用于对物体的成分等进行测量，则入射光(1)可以是待测物体发射光的取样。
在本申请实施例中，光源引入组件(4)可以将入射光(1)耦入第一基板(2)，并提供一定的初始角度，以使入射光(1)可以依次通过第一基板(2)、调温组件(5)、液晶调光组件(6)，到达第二基板(3)之上的反射区(8)，并使得反射区(8)可以将射入其上的入射光反射至分光光栅(7)，从而实现分光光栅(7)对入射光(1)进行分光。
可以理解的是，入射光(1)、光源引入组件(4)、反射区(8)、分光光栅(7)形成一个准直光路，完成光角度的筛选和分光，从而无需透镜组件，仅在距离极近的第一基板(2)和第二基板(3)之间即可实现入射光(1)的准直，减小了光谱仪的体积。
需要说明的是，反射区(8)可以由具有良好的光线反射效果的材料组成，比如，反射区(8)的材质可以为金属。
可选的，光源引入组件(4)可以是光纤，也可以是透镜，以对入射光(1)起到收束作用，提高入射光(1)在光谱仪中的传播质量。
在本申请实施例中，可以通过液晶调光组件(6)对入射光(1)的波长进行筛选，以实现不同的检测需求。具体的，由于液晶调光组件(6)对温度敏感，且液晶调光组件(6)的温度不同时，其对不同波长的光线的透过率也不同，因此，可以通过调温组件(5)对液晶调光组件(6)的温度进行调整，以对透过液晶调光组件(6)的光线的波长进行调整，从而实现了对入射光(1)的波长的筛选。
可选的，可以通过电场或电极对液晶调光组件(6)进行加热，以使液晶调光组件(6)的温度发生变化。即在本申请实施例一种可能的实现形式中，上述调温组件(5)，可以包括：
第一电极(51)和第二电极(52)，所述第一电极(51)和第二电极(52)之间的电压用于调整所述液晶调光组件(6)的温度。
可选的，在采用第一电极(51)和第二电极(52)组成调温组件(5)时，第一电极(51)可以设置在第一基板(2)之上，第二电极(52)设置在第二基板(3)之上，液晶调光组件设置在第一电极(51)与第二电极(52)之间，如图1所示。
可选的，在采用第一电极(51)与第二电极(52)组成调温组件(5)时，还可以通过IPS模式(In-Plane Switching，面内转换型)排布电极，即将第一电极(51)与第二电极(52)设置在同一基板之上。即在本申请实施例一种可能的实现形式中，第一电极(51)与第二电极(52)均设置在第一基板(2)之上，或第一电极(51)与第二电极(52)均设置在第二基板(3)之上。
可选的，还可以通过加热电阻对液晶调光组件(6)进行加热。即在本申请实施例一种可能的实现形式中吗，上述调温组件(5)，可以包括：
发热电阻，所述发热电阻用于调整所述液晶调光组件(6)的温度。
需要说明的是，在采用发热电阻组成调温组件(5)时，发热电阻可以设置在第一基板(2)或第二基板(3)之上；相应的，在发热电阻设置在第一基板(2)时，液晶调光组件(6)设置在发热电阻与第二基板(3)之间；在发热电阻设置在第二基板(3)之上时，液晶调光组件(6)设置在发热电阻与第一基板(2)之间。
需要说明的是，液晶是介于液态与固态物质之间的物质，它既有液体的流动性、表面张力，又有固态晶体的光学各向异性、双折射性特征。热色液晶因温度变化而改变颜色，目前已广泛用于宇航、电子工程、医学检验及各式各样的工艺品。
可选的，本申请实施例的液晶调光组件(6)可以由胆甾相液晶构成，由于胆甾相液晶特殊的反射作用，通过控制其螺距便可控制其反射的颜色，如此便可实现反射式胆甾相液晶的反射波长控制。具体方法包括加热或降温法、光化学法、电场控制法。如图2所示，为胆甾相液晶的反射波长与温度的关系曲线示意图。在本申请实施例中可以通过电场控制法调整液晶调光组件(6)的温度，即通过第一电极(51)与第二电极(52)之间的电压对液晶调光组件(6)进行加热，以调控液晶调光组件(6)的透过光谱。
在本申请实施例中，液晶调光组件(6)可以制作成液晶盒、液晶微胶囊或液晶膜等形式。实际使用时，可以根据具体的产品需求，选用合适的液晶调光组件(6)的制作形式。
需要说明的是，光谱仪的分辨率是指能否分辨两条谱线的能力，它不仅取决于仪器的色散率，而且与谱线的强度分布轮廓和它们的相对位置有关。可选的，在本申请实施例中，分光光栅(7)可以为反射式平面衍射光栅，对整个光学系统的分辨率起主要决定作用。反射式平面衍射光栅的色散方程为：
d(sinφ+ sinφ′)＝kλ (1)
其中，d为光栅常数；φ为入射角；φ′为光栅的衍射角；λ为光波长；k是衍射级次，可取k＝0，±1，±2，…。按照瑞利准则，当两条强度轮廓相同的谱线最大值和最小值重叠时，它们可以被分辨，这时光栅的理论分辨率R可表示为R＝λΔλ＝kN (2)
其中，λ为光波长；Δλ是分辨的最小波长间隔；k是衍射级次；N是光栅的总刻划线数，等于光栅常数d与光栅刻划面长度的乘积。从公式(2)可知，光栅总刻划线数越多，衍射级次越高，理论分辨率越大，分辨的最小波长间隔越小。但为了有足够的能量供检测，同时又将各波长的光谱区分开，通常采用+1级或-1级衍射。这时可通过增加光栅常数和光栅刻划面来提高系统分辨率，但是公式(1)表明，在相同的入射角下，光栅常数越大，衍射角越大，这又会增大光谱仪接收面及系统体积，不利于光谱仪的微小型化。因此，在微小型光谱仪的结构设计中，光栅常数的选择非常重要。
在本申请实施例中，分光光栅(7)对入射光(1)进行分光之后，传感器(9)接收分光之后的入射光，以对分光后的各光束进行检测，其中，每个传感器(9)接收的入射光的波长不同，即分光后的各光束具有不同的波长，并分别由不同的传感器接收。
可以理解的是，多个传感器的数量与位置与入射光的入射角度、反射区的位置、分光光栅的位置及分光能力有关。具体的，由于各传感器分别用于接收分光光栅(7)分光之后的各光束，因此，可以根据分光光栅(7)的性能，确定分光之后的光束的数量，并将分光光栅(7)分光之后的光束的数量确定为传感器(9)的数量；多个传感器(9)的位置可以根据入射光(1)在光谱仪中的传播路径确定，以使多个传感器(9)可以准确接收分光之后的各光束，而入射光(1)在光谱仪中的传播路径与入射光(1)的入射角度、反射区(8)的位置、分光光栅(7)的位置有关，从而可以根据入射光(1)的入射角度、反射区(8)的位置、分光光栅(7)的位置确定多个传感器(9)的位置。
在申请实施例中，多个传感器(9)可以设置在第一基板(2)内表面、第二基板(3)内表面或第二基板(3)外表面的其中之一。具体的，在盒内检测时，可以将多个传感器(9)设置在第一基板(2)内表面或第二基板(3)内表面；在盒外检测时，可以将多个传感器(9)设置在第二基板(3)外表面。
本申请实施例提供的光谱仪，包括第一基板和第二基板，设置在第一基板之上的光源引入组件，设置在第一基板与第二基板之间的调温组件，设置在第一基板和第二基板之间的液晶调光组件，其中，调温组件用于调整所述液晶调光组件的温度，以调整透过液晶调光组件的光谱，设置在第一基板之上的分光光栅，设置在第二基板之上的反射区，用于将光源引入组件引入的入射光反射至分光光栅，多个传感器，用于接收分光光栅分光之后的入射光，其中，每个传感器接收的入射光的波长不同。由此，光谱仪整体以基板为基础，无需透镜和反射单元，不仅降低了生产成本，而且减小了光谱仪的体积和重量，提高了光谱仪的轻薄化和集成化程度。
在本申请一种可能的实现形式中，还可以在第一基板与第一电极之间，以及在第二基板与第二电极之间设置遮光层，以避免入射光被光源引入组件引入第一基板之后，入射光透过第一基板与第二基板，从而导致入射光衰减，影响入射光的传播质量及光谱仪的测量准确度。
下面结合图3，对本申请实施例提供的光谱仪进行进一步说明。
图3为本申请实施例所提供的再一种光谱仪的结构示意图。
如图3所示，在图1所示实施例的基础上，该光谱仪，还可以包括：
第一区域，所述第一区域容纳所述光源引入组件(4)、所述液晶调光组件(6)、所述第一电极(51)、所述第二电极(52)和所述反射区(8)；
第二区域，所述第二区域容纳所述传感器(9)，其中，所述分光光栅(7)至少部分设置在所述第二区域之中；
设置在所述第一区域且设置在所述第一基板(2)与所述第一电极(51)之间的第一遮光层(10)，其中，所述第一遮光层(10)具有第一开口(11)，所述光源引入组件(4)通过所述第一开口(11)引入所述入射光(1)；
设置在所述第一区域且设置在所述第二基板(3)与所述第二电极(52)之间的第二遮光层(12)，其中，所述第二遮光层(12)具有第二开口，所述反射区(8)设置在所述第二开口之中。
在本申请实施例中，可以将第一基板(2)与第二基板(3)之间的区域，划分为第一区域与第二区域，其中，光源引入组件(4)、液晶调光组件(6)、第一电极(51)、第二电极(52)和反射区(8)所在的区域为第一区域，传感器(9)所在的区域为第二区域，并在第一区域的第一基板(2)与第一电极(51)之间设置第一遮光层(10)，以及在第一区域的第二基板(3)与第二电极(52)之间设置第二遮光层(12)，以使光源引入组件(4)通过第一开口(11)引入第一基板(2)的入射光(1)，无法透过第一基板(2)重新反射出去，同时无法透过第二基板(3)，从而降低了入射光(1)在传播过程中的衰减，进一步提高了入射光的传播质量及光谱仪的测量准确度。
在本申请实施例中，可以将分光光栅(7)至少部分设置在第二区域之中，以使分光光栅(7)可以接收到反射区(8)反射的入射光(1)。实际使用时，分光光栅(7)可以采用纳米压印，曝光等工艺直接加工在第一基板中，也可以单独制作贴合到第一基板表面，本申请实施例对此不做限定。
进一步的，为保证入射光(1)经分光光栅(7)分光之后，传播至传感器的传播质量，还可以在第二区域中填充透光填充介质。即在本申请实施例一种可能的实现形式中，参见图4，在图3所示实施例的基础上，上述光谱仪，还可以包括：
填充在所述第二区域之中的透光填充介质(13)。
作为一种可能的实现方式，由于分光光栅(7)在将入射光(1)分光为多个光束之后，还需要传输一定距离到达传感器(9)，因此，可以在分光之后的各光束进行传播的第二区域内填充透光填充介质(13)，以保证分光之后的各光束的传播质量，以进一步提高光谱仪的测量准确度。
进一步的，在通过第一电极(51)与第二电极(52)之间的电压对液晶调光组件(6)进行加热，以调控液晶调光组件(6)的透过光谱时，可以通过改变第一电极(51)与第二电极(52)之间的电压，达到调整液晶调光组件(6)的温度的目的。即在本申请实施例一种可能的实现形式中，参加图5，在图4所示实施例的基础上，上述光谱仪，还可以包括：
与所述第一电极(51)和所述第二电极(52)相连的电压调整组件(14)。
作为一种可能的实现方式，可以在第一电极(51)与第二电极(52)之间连接电压调整组件(14)，以根据实际的测量需求，通过电压调整组件(14)对第一电极(51)与第二电极(52)之间的电压进行调整，从而可以根据实际测量需求对液晶调光组件(6)的温度进行调整，以对透过液晶调光组件(6)的入射光(1)的波长进行调控，即使得透过液晶调光组件(6)的入射光(1)的波长符合实际测量需求。
本申请实施例提供的光谱仪，包括第一基板和第二基板，设置在第一基板之上的光源引入组件，设置在第一基板之上的第一电极和设置在第二基板之上的第二电极，设置在第一电极和第二电极之间的液晶调光组件，设置在第一基板与第一电极之间的第一遮光层，设置在第二基板与第二电极之间第二遮光层，其中，第一电极和第二电极之间的电压用于调整透过液晶调光组件的光谱，设置在第一基板之上的分光光栅，设置在第二基板之上的反射区，用于将光源引入组件引入的入射光反射至分光光栅，与第一电极和第二电极相连的电压调整组件，填充在第二区域之中的透光填充介质，多个传感器，用于接收分光光栅分光之后的入射光，其中，每个传感器接收的入射光的波长不同。由此，光谱仪整体以基板为基础，无需透镜和反射单元，不仅降低了生产成本，减小了光谱仪的体积和重量，提高了光谱仪的轻薄化和集成化程度，而且进一步提高了入射光在光谱仪内的传播质量和光谱仪的测量精度。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里申请的发明后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未发明的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (15)

1.一种光谱仪，其特征在于，包括：
第一基板和第二基板；
设置在所述第一基板之上的光源引入组件；
设置在所述第一基板与所述第二基板之间的调温组件；
设置在所述第一基板和所述第二基板之间的液晶调光组件，其中，所述调温组件用于调整所述液晶调光组件的温度，以调整透过所述液晶调光组件的光的光谱；
设置在所述第一基板之上的分光光栅；
设置在所述第二基板之上的反射区，用于将所述光源引入组件引入的入射光反射至所述分光光栅；
多个传感器，用于接收所述分光光栅分光之后的入射光，其中，每个传感器接收的入射光的波长不同；
所述调温组件包括第一电极和第二电极；
其中，所述第一基板和所述第二基板之间包括：
第一区域，所述第一区域容纳所述光源引入组件、所述液晶调光组件、所述第一电极、所述第二电极和所述反射区；
第二区域，所述第二区域容纳所述多个传感器，其中，所述分光光栅至少部分设置在所述第二区域之中。
2.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述第一电极和第二电极之间的电压用于调整所述液晶调光组件的温度。
3.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述第一电极设置在所述第一基板之上，所述第二电极设置在所述第二基板之上，所述液晶调光组件设置在所述第一电极与所述第二电极之间。
4.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极均设置在所述第一基板之上，或所述第一电极与所述第二电极均设置在所述第二基板之上。
5.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述调温组件包括发热电阻，所述发热电阻用于调整所述液晶调光组件的温度。
6.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，还包括：
设置在所述第一区域且设置在所述第一基板与所述第一电极之间的第一遮光层，其中，所述第一遮光层具有第一开口，所述光源引入组件通过所述第一开口引入所述入射光。
7.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，还包括：
设置在所述第一区域且设置在所述第二基板与所述第二电极之间的第二遮光层，其中，所述第二遮光层具有第二开口，所述反射区设置在所述第二开口之中。
8.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，还包括：
填充在所述第二区域之中的透光填充介质。
9.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述分光光栅包括反射式平面衍射光栅。
10.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述液晶调光组件包括液晶盒、液晶微胶囊或液晶膜。
11.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述液晶调光组件由胆甾相液晶构成。
12.如权利要求2所述的光谱仪，其特征在于，还包括：
与所述第一电极和所述第二电极相连的电压调整组件。
13.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述光源引入组件包括光纤或透镜。
14.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述多个传感器的数量与位置与所述入射光的入射角度、所述反射区的位置、所述分光光栅的位置及分光能力有关。
15.如权利要求1所述的光谱仪，其特征在于，所述多个传感器设置在所述第一基板内表面、所述第二基板内表面或所述第二基板外表面的其中之一。
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