CN110504933A - 一种高线性可变增益放大器 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种可变增益放大器,所述增益放大器包括输入PMOS差分晶体管MP1和MP2,负载电流源IL1、IL2和IR,负载晶体管MP3、MP4、MP5和MP6,共源共栅晶体管MN1、MN2、MN3和MN4。本发明采用负载跨导降低技术,使得输出阻抗显著增加,基于单级运放结构能够获得高增益的特性。本发明结合时间增益补偿技术,能够实现高线性的可变增益放大器。本发明相对于传统的可变增益放大器而言,电压增益范围更大,结构简单,功耗较低。

Description

一种高线性可变增益放大器
技术领域
本发明属于集成电路设计与制造技术领域,涉及一种单级线性高线性可变增益放大器电路。
背景技术
在无线通信接收机系统中,可变增益放大器的主要功能是放大微弱信号,以保持适当的信号功率水平,从而降低接收电路的动态范围。由于接收电路的采集信号大部分是指数衰减的,因此可变增益放大器需要具有线性增益特性。一般可变增益放大器的增益通常由电路参数的比率控制,例如一般开环结构由输入和负载晶体管的跨导比率控制,通过控制电流来调整电压增益,遵循近似的指数增益函数。一般结构的可变增益放大器一级可实现的增益范围在30dB左右。为了获取40dB以上的电压增益则需要级联多级结构,这会显著增加芯片功耗和面积。
发明内容
针对现有技术存在的以上问题,本发明提供了一种具有简单电路结构的可变增益放大器。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
一种可变增益放大器,包括输入PMOS差分晶体管MP1和MP2,负载电流源IL1、IL2和IR,负载晶体管MP3、MP4、MP5和MP6,共源共栅晶体管MN1、MN2、MN3和MN4,其中:
所述负载电流源IL1的一端接电源VCC,另一端接输入PMOS差分晶体管MP1的源极,同时接输入PMOS差分晶体管MP2的源极;
所述输入PMOS差分晶体管MP1的栅极接输入信号Vip,漏极接共源共栅晶体管MN1的源极,同时接共源共栅晶体管MN3的漏极;
所述输入PMOS差分晶体管MP2的栅极接输入信号Vin,漏极接共源共栅晶体管MN2的源极,同时接共源共栅晶体管MN4的漏极;
所述共源共栅晶体管MN3的源极接地,栅极同共源共栅晶体管MN4的栅极相连,同时与共源共栅晶体管MN1的漏极、负载晶体管MP3的栅极和漏极、负载晶体管MP4的漏极和MP5的栅极相连;
所述共源共栅晶体管MN4的源极接地,漏极同共源共栅晶体管MN2的源极相连;
所述共源共栅晶体管MN1的栅极与共源共栅晶体管MN2的栅极相连,同时接偏置电压Vb;
所述共源共栅晶体管MN2的漏极接输出Vout,同时与负载晶体管MP6的栅极和漏极、负载晶体管MP5的漏极和MP4的栅极相连;
所述负载晶体管MP3的源极同负载晶体管MP6的源极相连,同时与负载电流源IR的一端相连;
所述负载电流源IR的另一端接电源VCC;
所述负载晶体管MP4的源极同负载晶体管MP5的源极相连,同时与负载电流源IL2的一端相连;
所述负载电流源IL2的另一端接电源VCC。
相比于现有技术,本发明具有如下优点:
1、本发明采用负载跨导降低技术,使得输出阻抗显著增加,基于单级运放结构能够获得高增益的特性。
2、本发明结合时间增益补偿技术,能够实现高线性的可变增益放大器,线性增益范围约为40dB。
3、本发明相对于传统的可变增益放大器而言,电压增益范围更大,结构简单,功耗较低。
附图说明
图1为高线性可变增益放大器电路原理框图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的技术方案作进一步的说明,但并不局限于此,凡是对本发明技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围,均应涵盖在本发明的保护范围中。
本发明提供了一种高线性可变增益放大器,如图1所示,所述可变增益放大器包括输入PMOS差分晶体管MP1和MP2,负载电流源IL1、IL2和IR,负载晶体管MP3、MP4、MP5和MP6,共源共栅晶体管MN1、MN2、MN3和MN4,其中:
所述负载电流源IL1的一端接电源VCC,另一端接输入PMOS差分晶体管MP1的源极,同时接输入PMOS差分晶体管MP2的源极;
所述输入PMOS差分晶体管MP1的栅极接输入信号Vip,漏极接共源共栅晶体管MN1的源极,同时接共源共栅晶体管MN3的漏极;
所述输入PMOS差分晶体管MP2的栅极接输入信号Vin,漏极接共源共栅晶体管MN2的源极,同时接共源共栅晶体管MN4的漏极;
所述共源共栅晶体管MN3的源极接地,栅极同共源共栅晶体管MN4的栅极相连,同时与共源共栅晶体管MN1的漏极、负载晶体管MP3的栅极和漏极、负载晶体管MP4的漏极和MP5的栅极相连;
所述共源共栅晶体管MN4的源极接地,漏极同共源共栅晶体管MN2的源极相连;
所述共源共栅晶体管MN1的栅极与共源共栅晶体管MN2的栅极相连,同时接偏置电压Vb;
所述共源共栅晶体管MN2的漏极接输出Vout,同时与负载晶体管MP6的栅极和漏极、负载晶体管MP5的漏极和MP4的栅极相连;
所述负载晶体管MP3的源极同负载晶体管MP6的源极相连,同时与负载电流源IR的一端相连;
所述负载电流源IR的另一端接电源VCC;
所述负载晶体管MP4的源极同负载晶体管MP5的源极相连,同时与负载电流源IL2的一端相连;
所述负载电流源IL2的另一端接电源VCC。
本发明中,所述负载电流源IR为固定电流值的电流源,一般由带隙基准电流源产生,任何形式的变种都属于本发明的保护范畴。
本发明中,所述负载电流源IL1和IL2均为可变电流值的电流源,一般由带负反馈的压控电流源结构组成,任何形式的变种都属于本发明的保护范畴。
本发明中,所述高线性可变增益放大器采用单级结构,核心电路由输入差分对晶体管、共源共栅晶体管、低跨导负载、可变尾电流源等组成。负载电流源IL2随着放大器增益的增加而增加。二极管连接形式的负载电流源IR为恒定电流源。该高线性可变增益放大器的增益可表示为:
需要说明的是,负载电流源IL1=IL2,gmp1为输入管的跨导,gmp3为晶体管MP3的跨导,gmp4为晶体管MP4的跨导。Win为输入管的栅宽,Wout为输出晶体管的栅宽。输入晶体管和输出晶体管的栅长相等。负载晶体管MP3、MP4、MP5和MP6的宽长比相等,由上式可得到的增益由可变电流源IL(IL=IL1=IL2)控制,增益变化范围较大,AV/IL的曲线中间区域以dB为衡量单位时近似线性。结合时间增益补偿技术,能够实现高线性的可变增益放大器。时间增益补偿技术是较为成熟的非线性校准技术,不属于本发明的阐述内容。
本发明的高线性可变增益放大器可应用于超声成像系统中,在该应用中对于接收电路的动态范围要求较高,直接决定了成像系统的分辨率。在超声回波信号传输时会产生衰减,因此需要实时控制电压增益,以便补偿超声回波信号随时间变化所产生的衰减,而且该电压增益补偿应随着时间以对数的形式增加,符合本发明的高线性可变增益放大器的技术特征。

Claims (5)

1.一种可变增益放大器,其特征在于所述增益放大器包括输入PMOS差分晶体管MP1和MP2,负载电流源IL1、IL2和IR,负载晶体管MP3、MP4、MP5和MP6,共源共栅晶体管MN1、MN2、MN3和MN4,其中:
所述负载电流源IL1的一端接电源VCC,另一端接输入PMOS差分晶体管MP1的源极,同时接输入PMOS差分晶体管MP2的源极;
所述输入PMOS差分晶体管MP1的栅极接输入信号Vip,漏极接共源共栅晶体管MN1的源极,同时接共源共栅晶体管MN3的漏极;
所述输入PMOS差分晶体管MP2的栅极接输入信号Vin,漏极接共源共栅晶体管MN2的源极,同时接共源共栅晶体管MN4的漏极;
所述共源共栅晶体管MN3的源极接地,栅极同共源共栅晶体管MN4的栅极相连,同时与共源共栅晶体管MN1的漏极、负载晶体管MP3的栅极和漏极、负载晶体管MP4的漏极和MP5的栅极相连;
所述共源共栅晶体管MN4的源极接地,漏极同共源共栅晶体管MN2的源极相连;
所述共源共栅晶体管MN1的栅极与共源共栅晶体管MN2的栅极相连,同时接偏置电压Vb;
所述共源共栅晶体管MN2的漏极接输出Vout,同时与负载晶体管MP6的栅极和漏极、负载晶体管MP5的漏极和MP4的栅极相连;
所述负载晶体管MP3的源极同负载晶体管MP6的源极相连,同时与负载电流源IR的一端相连;
所述负载电流源IR的另一端接电源VCC;
所述负载晶体管MP4的源极同负载晶体管MP5的源极相连,同时与负载电流源IL2的一端相连;
所述负载电流源IL2的另一端接电源VCC。
2.根据权利要求1所述的可变增益放大器,其特征在于所述负载电流源IR为固定电流值的电流源。
3.根据权利要求1所述的可变增益放大器,其特征在于所述负载电流源IL1和IL2均为可变电流值的电流源。
4.根据权利要求1所述的可变增益放大器,其特征在于所述负载晶体管MP3、MP4、MP5和MP6的宽长比相等。
5.根据权利要求1所述的可变增益放大器,其特征在于所述增益放大器的增益表示为:
式中,gmp1为输入管的跨导,gmp3为负载晶体管MP3的跨导,gmp4为负载晶体管MP4的跨导,Win为输入管的栅宽,Wout为输出晶体管的栅宽,IL=IL1=IL2
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