CN110441628A - 高速连接器性能测试方法、装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种高速连接器性能测试方法、装置及系统，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种高速连接器性能测试方法、装置及系统。
背景技术
随着大数据的日益普及，高速网络间传输带宽需求每年均有大幅度的提升，当前传输技术中进一步提升带宽的思路之一是在相同的时间窗口内增加信息量。PAM4(4PulseAmplitude Modulation，4级脉冲幅度调制)信号是下一代高速信号互连的一种传输技术。与传统的差分信号相比，要实现相同的信号传输能力，传输PAM4信号只需达到传统差分信号一半的传输速率即可。因此，PAM4传输技术应用越来越广泛，将是高速信号互连技术的一种必然的发展趋势。其中，高速连接器作为互连板卡信号的部分，其性能指标的好坏，直接影响PAM4信号的传输效果。因此，高速连接器为满足PAM4信号的传输要求，其传输链路上的损耗、串扰或阻抗等性能必须满足要求。
然而，由于PAM4高速信号传输的信号传输技术、信号参数、测试方法测试原理与传输的传统信号不同，PAM4信号传输在噪声、抖动等方面比差分信号更加敏感。因此，传统的高速连接器性能测试方法无法准确地测试传输PAM4信号的高速连接器的性能，尤其在传输速率高达25Gbps以上的高速连接器。同时，传统的高速连接器性能测试方法只能测试带同轴端面的高速连接器，无法对非同轴结构的高速连接器进行测试。
综上，传统的高速连接器性能测试方法在测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器时还存在上述缺陷，难以保证测试高速连接器性能测试结果的准确性和重复性。
发明内容
基于此，有必要针对传统的高速连接器性能测试方法在测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器时还存在的缺陷，难以保证测试高速连接器性能测试结果的准确性和重复性问题，提供一种高速连接器性能测试方法、装置及系统。
一种高速连接器性能测试方法，包括步骤：
分别获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数，以及第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数；
获取由第一测试夹具、高速连接器和测试夹具构成的传输链路的第三射频参数；
根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
上述高速连接器性能测试方法，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
在其中一个实施例中，在获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数的过程之后，还包括步骤：
对第四射频参数作反傅里叶变换，获得用于表征高速连接器性能的传输参数。
在其中一个实施例中，获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数的过程，包括步骤：
获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一入射射频参数和第一反射射频参数；
根据第一入射射频参数和第一反射射频参数，获得第一射频参数。
在其中一个实施例中，获取第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数的过程，包括步骤：
获取第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二入射射频参数和第二反射射频参数；
根据第二入射射频参数和第二反射射频参数，获得第二射频参数。
在其中一个实施例中，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数的过程，包括步骤：
根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数的差值，获得第四射频参数。
在其中一个实施例中，第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数均包括插入损耗、回波损耗和/或串扰。
在其中一个实施例中，传输参数包括特性阻抗、数据传输率、时延、时延差和/或抖动。
一种高速连接器性能测试装置，包括：
去嵌参数获取模块，用于分别获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数，以及第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数；
链路参数获取模块，用于获取由第一测试夹具、高速连接器和第二测试夹具构成的传输链路的第三射频参数；
参数计算模块，用于根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
上述高速连接器性能测试装置，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述任一实施例的高速连接器性能测试方法。
上述计算机设备，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现上述任一实施例的高速连接器性能测试方法。
上述计算机存储介质，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
另一高速连接器性能测试装置，包括第一测试夹具和第二测试夹具；
第一测试夹具包括用于连接高速连接器插头的第一连接部以及用于连接射频测量仪器的第一输出部；
第二测试夹具包括用于连接高速连接器插座的第二连接部以及用于连接射频测量仪器的第二输出部；
第一连接部包括一个或多个第一连接结构；其中，各第一连接结构用于与高速连接器插头的差分引脚一一对应连接；
第一输出部包括一个或多个多个第一输出接头；其中，各第一输出接头与第一连接结构一一对应连接；
第二连接部包括一个或多个多个第二连接结构；其中，各第二连接结构用于与高速连接器插座的差分引脚一一对应连接；
第二输出部包括一个或多个多个第二输出接头；其中，各第二输出接头与第二连接结构一一对应连接。
上述高速连接器性能测试装置，高速连接器插头在压入第一测试夹具后，高速连接器插头的各差分引脚、各第一连接结构和各第一输出接头构成多条差分信号传输链路，并可供射频测量仪器检测；同理，高速连接器插座在压入第二测试夹具后，高速连接器插座的各差分引脚、各第二连接结构和各第二输出接头构成多条差分信号传输链路，亦可供射频测量仪器检测。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试。同时，基于本实施例的高速连接器性能测试装置，配合上述任一实施例的高速连接器性能测试方法，可提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
在其中一个实施例中，还包括一条或多条第一差分信号线；其中，第一差分信号线与第一连接结构一一对应；
第一连接结构通过对应的第一差分信号线连接对应的第一输出接头；其中，各第一差分信号线相同，且均无锐角或转角。
在其中一个实施例中，还包括一条或多条第二差分信号线；其中，第二差分信号线与第二连接结构一一对应；
第二连接结构通过对应的第二差分信号线连接对应的第二输出接头；其中，各第二差分信号线相同，且均无锐角或转角。
在其中一个实施例中，第一连接结构包括引脚焊盘或插孔。
在其中一个实施例中，第二连接结构包括引脚焊盘或插孔。
在其中一个实施例中，第一输出接头和第二输出接头均包括射频同轴连接器。
一种高速连接器性能测试系统，包括射频测量仪器、第一测试夹具和第二测试夹具；
第一测试夹具包括用于连接高速连接器插头的第一连接部以及连接射频测量仪器的第一输出部；
第二测试夹具包括用于连接高速连接器插座的第二连接部以及连接射频测量仪器的第二输出部；
第一连接部包括一个或多个第一连接结构；其中，各第一连接结构用于与高速连接器插头的差分引脚一一对应连接；
第一输出部包括一个或多个多个第一输出接头；其中，各第一输出接头与第一连接结构一一对应连接；
第二连接部包括一个或多个多个第二连接结构；其中，各第二连接结构用于与高速连接器插座的差分引脚一一对应连接；
第二输出部包括一个或多个多个第二输出接头；其中，各第二输出接头与第二连接结构一一对应连接。
上述高速连接器性能测试系统，高速连接器插头在压入第一测试夹具后，高速连接器插头的各差分引脚、各第一连接结构和各第一输出接头构成多条差分信号传输链路，并可供射频测量仪器检测；同理，高速连接器插座在压入第二测试夹具后，高速连接器插座的各差分引脚、各第二连接结构和各第二输出接头构成多条差分信号传输链路，亦可供射频测量仪器检测。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试。同时，基于本实施例的高速连接器性能测试装置，配合上述任一实施例的高速连接器性能测试方法，可提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
在其中一个实施例中，射频测量仪器包括矢量网络分析仪或频谱分析仪。
附图说明
图1为一实施方式的高速连接器性能测试装置结构示意图；
图2为测试夹具使用示意图；
图3为一实施方式的高速连接器性能测试系统结构示意图；
图4为一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图；
图5为另一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图；
图6为再一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图；
图7为又一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图；
图8为另一实施方式的高速连接器性能测试装置模块结构图。
具体实施方式
为了更好地理解本发明的目的、技术方案以及技术效果，以下结合附图和实施例对本发明进行进一步的讲解说明。同时声明，以下所描述的实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明
本发明实施例提供一种高速连接器性能测试装置。
图1为一实施方式的高速连接器性能测试装置结构示意图，如图1所示，一实施方式的高速连接器性能测试装置包括第一测试夹具A和第二测试夹具B；
第一测试夹具A包括用于连接高速连接器插头的第一连接部100以及用于连接射频测量仪器的第一输出部101；
其中，第一测试夹具A为一定型测试板件，包括印制电路板或铜板等。作为一个较优的实施方式，如图1所示，第一测试夹具A选用半圆形印制电路板，以便于第一测试夹具A上第一连接部100和第一输出部101上各独立部分间的走线。
第二测试夹具B包括用于连接高速连接器插座的第二连接部102以及用于连接射频测量仪器的第二输出部103；
其中，第二测试夹具B为一定型测试板件，包括印制电路板或铜板等。作为一个较优的实施方式，如图1所示，第二测试夹具B选用半圆形印制电路板，以便于第二测试夹具B上第二连接部102和第二输出部103上各独立部分间的走线。
在其中一个实施例中，如图1所示，第二测试夹具B与第一测试夹具A呈对称结构，以便于控制测试过程中的变量。
第一连接部100包括一个或多个第一连接结构200；其中，各第一连接结构200用于与高速连接器插头的差分引脚一一对应连接；
其中，高速连接器插头和高速连接器插座均包括多路差分线路，高速连接器插头的差分线路与高速连接器插座的差分线路一一对应。同时，高速连接器插头作为公头，用于与作为母座的高速连接器插座配合机械插接，实现对应差分线路的电气连接。
其中，图2为测试夹具使用示意图，如图2所示，高速连接器插头的差分引脚为高速连接器插头的差分线路的引出部分，各差分引脚与差分线路一一对应。高速连接器插头的各差分引脚与第一连接结构200一一对应连接，使第一连接结构200连接到对应的差分线路中。在其中一个实施例中，第一连接结构200包括引脚焊盘或插孔。通过将高速连接器插头的差分引脚焊接至引脚焊盘，或将高速连接器插头的差分引脚压入插孔，实现高速连接器插头的各差分引脚与第一连接结构200一一对应连接。
第一输出部101包括一个或多个多个第一输出接头201；其中，各第一输出接头201与第一连接结构200一一对应连接；
其中，第一输出接头201与第一连接结构200一一对应连接，使得第一输出接头201连接至对应的高速连接器插头的差分线路中。同时，第一输出接头201还用于连接射频测量仪器，包括矢量网络分析仪或频谱分析仪等。在其中一个实施例中，第一输出接头201包括同轴连接器。作为一个较优的实施方式，第一输出接头201包括射频同轴连接器，以便于与矢量网络分析仪或频谱分析仪。以矢量网络分析仪为例，射频同轴连接器与第一连接结构200电气连接，并用于与矢量网络分析仪通过射频同轴连接器的物理连接实现电气连接。
第二连接部102包括一个或多个多个第二连接结构202；其中，各第二连接结构202用于与高速连接器插座的差分引脚一一对应连接；
其中，如图2所示，高速连接器插座的差分引脚为高速连接器插座的差分线路的引出部分，各差分引脚与差分线路一一对应。高速连接器插座的各差分引脚与第二连接结构202一一对应连接，使第二连接结构202连接到对应的差分线路中。在其中一个实施例中，第二连接结构202包括引脚焊盘或插孔。通过将高速连接器插头的差分引脚焊接至引脚焊盘，或将高速连接器插头的差分引脚压入插孔，实现高速连接器插头的各差分引脚与第二连接结构202一一对应连接。
第二输出部103包括一个或多个多个第二输出接头203；其中，各第二输出接头203与第二连接结构202一一对应连接。
其中，第二输出接头203与第二连接结构202一一对应连接，使得第二输出接头203连接至对应的高速连接器插头的差分线路中。同时，第二输出接头203还用于连接射频测量仪器，包括矢量网络分析仪或频谱分析仪等。在其中一个实施例中，第二输出接头203包括同轴连接器。作为一个较优的实施方式，第二输出接头203包括射频同轴连接器，以便于与矢量网络分析仪或频谱分析仪。以矢量网络分析仪为例，射频同轴连接器与第二连接结构202电气连接，并用于与矢量网络分析仪通过射频同轴连接器的物理连接实现电气连接。
在其中一个实施例中，如图1所示，还包括一条或多条第一差分信号线300；其中，第一差分信号线300与第一连接结构200一一对应；
第一连接结构200通过对应的第一差分信号线300连接对应的第一输出接头201；其中，各第一差分信号线300相同，且均无锐角或转角。
其中，各第一差分信号线300的长度和宽度均相同，保证各差分线路的一致性。
在其中一个实施例中，如图1所示，一实施方式的高速连接器性能测试装置还包括一条或多条第一差分信号线300；其中，第一差分信号线300与第一连接结构200一一对应；
第一连接结构200通过对应的第一差分信号线300连接对应的第一输出接头201；其中，各第一差分信号线300相同，且均无锐角或转角。
其中，各第一差分信号线300的长度和宽度均相同，保证各差分线路的一致性。作为一个较优的实施方式，通过第一差分信号线300的长度与高速连接器插头的差分引脚到插头端口的长度相同。
在其中一个实施例中，如图1所示，一实施方式的高速连接器性能测试装置还包括一条或多条第二差分信号线301；其中，第二差分信号线301与第二连接结构202一一对应；
第二连接结构202通过对应的第二差分信号线301连接对应的第二输出接头203；其中，各第二差分信号线相同，且均无锐角或转角。
其中，各第二差分信号线301的长度和宽度均相同，保证各差分线路的一致性。作为一个较优的实施方式，通过第二差分信号线301的长度与高速连接器插座的差分引脚到插座端口的长度相同。
作为一个较优的实施方式，通过第一差分信号线300、第一连接结构200、第一输出接头201、第二差分信号线301、第二连接结构202和第二输出接头203的尺寸、结构和选型设计，使高速连接器性能测试装置的时延大于等于高速连接器测试信号上升时间的四倍，高速连接器性能测试装置的的插入损耗与回波损耗相差10dB以上。
上述一实施方式的高速连接器性能测试装置，高速连接器插头在压入第一测试夹具A后，高速连接器插头的各差分引脚、各第一连接结构200和各第一输出接头201构成多条差分信号传输链路，并可供射频测量仪器检测；同理，高速连接器插座在压入第二测试夹具B后，高速连接器插座的各差分引脚、各第二连接结构202和各第二输出接头203构成多条差分信号传输链路，亦可供射频测量仪器检测。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试。同时，基于本实施例的高速连接器性能测试装置，配合上述任一实施例的高速连接器性能测试方法，可提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
本发明实施例还提供一种高速连接器性能测试系统。
图3为一实施方式的高速连接器性能测试系统结构示意图，如图3所示，包括射频测量仪器400、第一测试夹具A和第二测试夹具B；
第一测试夹具A包括用于连接高速连接器插头的第一连接部100以及连接射频测量仪器的第一输出部101；
第二测试夹具B包括用于连接高速连接器插座的第二连接部102以及连接射频测量仪器的第二输出部103；
第一连接部100包括一个或多个第一连接结构200；其中，各第一连接结构200用于与高速连接器插头的差分引脚一一对应连接；
第一输出部101包括一个或多个多个第一输出接头201；其中，各第一输出接头201与第一连接结构200一一对应连接；
第二连接部102包括一个或多个多个第二连接结构202；其中，各第二连接结构202用于与高速连接器插座的差分引脚一一对应连接；
第二输出部103包括一个或多个多个第二输出接头203；其中，各第二输出接头203与第二连接结构202一一对应连接。
在其中一个实施例中，射频测量仪器包括矢量网络分析仪或频谱分析仪。
上述一实施方式的高速连接器性能测试系统，高速连接器插头在压入第一测试夹具A后，高速连接器插头的各差分引脚、各第一连接结构200和各第一输出接头201构成多条差分信号传输链路，并可供射频测量仪器检测；同理，高速连接器插座在压入第二测试夹具B后，高速连接器插座的各差分引脚、各第二连接结构202和各第二输出接头203构成多条差分信号传输链路，亦可供射频测量仪器检测。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试。同时，基于本实施例的高速连接器性能测试装置，配合上述任一实施例的高速连接器性能测试方法，可提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
基于上述一实施方式的高速连接器性能测试系统，本发明实施例还提供一种高速连接器性能测试方法。
图4为一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图，如图4所示，一实施方式的高速连接器性能测试方法包括步骤S100至S102：
S100，分别获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数，以及第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数；
其中，通过射频测量仪器测量空载的第一测试夹具，获得第一射频参数。同理，通过射频测量仪器测量空载的第二测试夹具，获得第一射频参数。
在其中一个实施例中，图5为另一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图，如图5所示，步骤S100中获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数的过程，包括步骤S200和S201：
S200，获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一入射射频参数和第一反射射频参数；
S201，根据第一入射射频参数和第一反射射频参数，获得第一射频参数。
在其中一个实施例中，如图5所示，步骤S100中获取第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数的过程，包括步骤S300和S301：
S300，获取第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二入射射频参数和第二反射射频参数；
S301，根据第二入射射频参数和第二反射射频参数，获得第二射频参数。
S101，获取由第一测试夹具、高速连接器和第二测试夹具构成的传输链路的第三射频参数；
其中，将高速连接器插头压入第一测试夹具，将高速连接器插头压入第二测试夹具，并将高速连接器插头与高速连接器插座连接，构成传输链路。通过射频测量仪器测量该传输链路，获得第三射频参数。
在其中一个实施例中，第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数均包括插入损耗、回波损耗和/或串扰。
S102，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
其中，通过比较压入高速连接器前后，射频测量仪器测量到的第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
在其中一个实施例中，图6为再一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图，如图6所示，步骤S102中根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数的过程，包括步骤S400：
S400，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数的差值，获得第四射频参数。
其中，求取第一射频参数与第二射频参数之和，通过第三射频参数减去与第二射频参数之和，获得第四射频参数。基于此，去除第一测试夹具和第二测试夹具的嵌入射频参数，得到可用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
在其中一个实施例中，图7为又一实施方式的高速连接器性能测试方法流程图，如图7所示，步骤S102中在获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数的过程之后，还包括步骤S500：
S500，对第四射频参数作反傅里叶变换，获得用于表征高速连接器性能的传输参数。
在其中一个实施例中，传输参数包括特性阻抗、数据传输率、时延、时延差和/或抖动。
上述任一实施例的高速连接器性能测试方法，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
本发明实施例还提供另一种高速连接器性能测试装置。
图8为另一实施方式的高速连接器性能测试装置模块结构图，如图8所示，另一实施方式的高速连接器性能测试装置包括模块1000至1002：
去嵌参数获取模块1000，用于分别获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数，以及第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数；
在其中一个实施例中，去嵌参数获取模块1000包括模块2000和2001：
第一子参数获取模块2000，获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一入射射频参数和第一反射射频参数；
第一子参数计算模块2001，根据第一入射射频参数和第一反射射频参数，获得第一射频参数。
在其中一个实施例中，去嵌参数获取模块1000包括模块3000和3001：
第二子参数获取模块3000，获取第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二入射射频参数和第二反射射频参数；
第二子参数计算模块3001，根据第二入射射频参数和第二反射射频参数，获得第二射频参数。
链路参数获取模块1001，用于获取由第一测试夹具、高速连接器和第二测试夹具构成的传输链路的第三射频参数；
参数计算模块1002，用于根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
在其中一个实施例中，另一实施方式的高速连接器性能测试装置还包括参数变换模块4000：
参数变换模块4000，用于对第四射频参数作反傅里叶变换，获得用于表征高速连接器性能的传输参数。
上述另一实施方式的高速连接器性能测试装置，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
基于如上的示例，在一个实施例中还提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行程序时实现如上述各实施例中的任意一种高速连接器性能测试方法。
上述计算机设备，通过处理器上运行的计算机程序，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的程序可存储于一非易失性的计算机可读取存储介质中，如本发明实施例中，该程序可存储于计算机系统的存储介质中，并被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现包括如上述各高速连接器性能测试方法的实施例的流程。其中，的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)等。
据此，在一个实施例中还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现如上述各实施例中的任意一种高速连接器性能测试方法。
上述计算机存储介质，通过其存储的计算机程序，基于第一测试夹具可连接高速连接器插头，第二测试夹具可连接高速连接器插座，可使第一测试夹具、第二测试夹具和高速连接器构成传输链路，以获取传输链路的第三射频参数。同时，获取独立的第一测试夹具的第一射频参数，独立的第二测试夹具的第二射频参数，根据第一射频参数、第二射频参数和第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。基于此，实现对非同轴结构的高速连接器的测试的同时，提高测试用于传输PAM4高速信号的高速连接器的性能测试结果的稳定性。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (18)
1.一种高速连接器性能测试装置，其特征在于，包括第一测试夹具和第二测试夹具；
所述第一测试夹具包括用于连接高速连接器插头的第一连接部以及用于连接射频测量仪器的第一输出部；
所述第二测试夹具包括用于连接高速连接器插座的第二连接部以及用于连接射频测量仪器的第二输出部；
所述第一连接部包括一个或多个第一连接结构；其中，各所述第一连接结构用于与所述高速连接器插头的差分引脚一一对应连接；
所述第一输出部包括一个或多个多个第一输出接头；其中，各所述第一输出接头与所述第一连接结构一一对应连接；
所述第二连接部包括一个或多个多个第二连接结构；其中，各所述第二连接结构用于与所述高速连接器插座的差分引脚一一对应连接；
所述第二输出部包括一个或多个多个第二输出接头；其中，各所述第二输出接头与所述第二连接结构一一对应连接。
2.根据权利要求1所述的高速连接器性能测试装置，其特征在于，还包括一条或多条第一差分信号线；其中，所述第一差分信号线与所述第一连接结构一一对应；
所述第一连接结构通过对应的所述第一差分信号线连接对应的所述第一输出接头；其中，各所述第一差分信号线相同，且均无锐角或转角。
3.根据权利要求1所述的高速连接器性能测试装置，其特征在于，还包括一条或多条第二差分信号线；其中，所述第二差分信号线与所述第二连接结构一一对应；
所述第二连接结构通过对应的所述第二差分信号线连接对应的所述第二输出接头；其中，各所述第二差分信号线相同，且均无锐角或转角。
4.根据权利要求1至3所述的高速连接器性能测试装置，其特征在于，所述第一连接结构包括引脚焊盘或插孔。
5.根据权利要求1至3所述的高速连接器性能测试装置，其特征在于，所述第二连接结构包括引脚焊盘或插孔。
6.根据权利要求1至3所述的高速连接器性能测试装置，其特征在于，所述第一输出接头和所述第二输出接头均包括射频同轴连接器。
7.一种高速连接器性能测试方法，应用于如权利要求1至6任意一项所述的高速连接器性能测试装置，其特征在于，包括步骤：
分别获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数，以及第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数；
获取由所述第一测试夹具、所述高速连接器和所述第二测试夹具构成的传输链路的第三射频参数；
根据所述第一射频参数、所述第二射频参数和所述第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
8.根据权利要求7所述的高速连接器性能测试方法，其特征在于，在所述获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数的过程之后，还包括步骤：
对所述第四射频参数作反傅里叶变换，获得用于表征高速连接器性能的传输参数。
9.根据权利要求7所述的高速连接器性能测试方法，其特征在于，所述获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数的过程，包括步骤：
获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一入射射频参数和第一反射射频参数；
根据所述第一入射射频参数和所述第一反射射频参数，获得所述第一射频参数。
10.根据权利要求7所述的高速连接器性能测试方法，其特征在于，所述获取第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数的过程，包括步骤：
获取第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二入射射频参数和第二反射射频参数；
根据所述第二入射射频参数和所述第二反射射频参数，获得所述第二射频参数。
11.根据权利要求7所述的高速连接器性能测试方法，其特征在于，所述根据所述第一射频参数、所述第二射频参数和所述第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数的过程，包括步骤：
根据所述第一射频参数、所述第二射频参数和所述第三射频参数的差值，获得所述第四射频参数。
12.根据权利要求7至11任意一项所述的高速连接器性能测试方法，其特征在于，所述第一射频参数、所述第二射频参数和所述第三射频参数均包括插入损耗、回波损耗和/或串扰。
13.根据权利要求8所述的高速连接器性能测试方法，其特征在于，所述传输参数包括特性阻抗、数据传输率、时延、时延差和/或抖动。
14.一种高速连接器性能测试装置，其特征在于，包括：
去嵌参数获取模块，用于分别获取第一测试夹具在未连接高速连接器插头时的第一射频参数，以及第二测试夹具在未连接高速连接器插座时的第二射频参数；
链路参数获取模块，用于获取由所述第一测试夹具、所述高速连接器和所述第二测试夹具构成的传输链路的第三射频参数；
参数计算模块，用于根据所述第一射频参数、所述第二射频参数和所述第三射频参数，获得用于表征高速连接器性能的第四射频参数。
15.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求7至13任意一项所述的高速连接器性能测试方法。
16.一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求7至13任意一项所述的高速连接器性能测试方法。
17.一种高速连接器性能测试系统，其特征在于，包括射频测量仪器、第一测试夹具和第二测试夹具；
所述第一测试夹具包括用于连接高速连接器插头的第一连接部以及连接射频测量仪器的第一输出部；
所述第二测试夹具包括用于连接高速连接器插座的第二连接部以及连接射频测量仪器的第二输出部；
所述第一连接部包括一个或多个第一连接结构；其中，各所述第一连接结构用于与所述高速连接器插头的差分引脚一一对应连接；
所述第一输出部包括一个或多个多个第一输出接头；其中，各所述第一输出接头与所述第一连接结构一一对应连接；
所述第二连接部包括一个或多个多个第二连接结构；其中，各所述第二连接结构用于与所述高速连接器插座的差分引脚一一对应连接；
所述第二输出部包括一个或多个多个第二输出接头；其中，各所述第二输出接头与所述第二连接结构一一对应连接。
18.根据权利要求17所述的高速连接器性能测试系统，其特征在于，所述射频测量仪器包括矢量网络分析仪或频谱分析仪。
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