CN110426324B - 一种聚烯烃绝缘子表面憎水性迁移的测定方法 - Google Patents
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Abstract
一种聚烯烃绝缘子表面憎水性迁移的测试方法,包括以下步骤:样品预处理、污液配制、样品污染、污秽度校核、憎水迁移性表征。用无水乙醇清洗一定面积的聚烯烃绝缘子样品表面,再用去离子水冲洗,污液配制以粉末状氯化钠为盐成份,粉末状硅藻土或高岭土为灰成份,乙醇、甲醇或丙醇或其混合物为分散剂;污液用洁净的软毛刷涂刷或喷涂法,直接染污样品表面;通过比较污染前后样品的重量差,计算单位面积污秽重量来校核污秽度;迁移后96h,测量样品静态水接触角和喷雾法确定憎水性等级。本发明也适用于瓷、玻璃、硅橡胶和环氧等各种绝缘子的憎水性迁移测试,具有步骤简单、操作简化、污染样品干燥时间短等优点。
Description
技术领域
本发明是一种聚烯烃绝缘子表面憎水性迁移的测定方法,属于绝缘子材料检测领域。
背景技术
憎水性迁移是指绝缘子表面的憎水性透过附着于伞套上的污层,使污层表面具有憎水性的现象。在严重污染区域,绝缘子污闪问题一直是电力系统安全运行的一大威胁,而憎水性迁移特性可使绝缘子具有较好的耐污闪性能。另外,随着运行时间增长,绝缘子逐渐老化以及污秽的不断沉积会使绝缘子表面憎水性下降甚至丧失,导致其耐污水平下降。因此,憎水性迁移作为绝缘子状态评价和老化程度判断的关键参数,有着重要的研究意义。
相关标准GB/T19519-2014和DL/T376-2010对硅橡胶绝缘子的憎水性迁移提供了测试方法,主要包括以下步骤:(1)用无水乙醇、去离子水清洗样品表面,晾干;(2)用软毛刷在样品表面涂刷干燥硅藻土,用洗耳球吹扫,使其表面附着的硅藻土薄而均匀;(3)以水为溶剂配制一定盐度(如采用氯化钠)和灰度(如采用硅藻土)的污液,采用涂刷、喷污、浸泡等方式涂污表面,然后样品干燥;(4)校核样品表面污秽度(包括盐密和灰密),以确定所沉积污秽量是否与设定量相符合,按照标准GB/T4585-2004交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验规定,将沉积物从与被试绝缘子相同的并按相同方法污染的一单独的绝缘子(或它的一部分)上取下,并仔细地收集起来然后将沉积物溶解在已知量的水,测试污层电导率,计算盐密度来表征被试绝缘子表面污秽度,污秽度需符合规定偏差±15%之内;(5)确认污秽度后,污染样品放置96小时,测试静态水接触角和喷雾法确定憎水性等级。进一步,发明专利申请CN108760579A公布了一种基于不同盐成分的硅橡胶憎水性迁移特性判别方法,一些特征步骤包括:所述污液配制,分别配制盐成分为氯化钠、CaCl2和(NH4)2SO4的污液,灰成分为硅藻土;用干燥海绵团或软毛刷在复合绝缘子表面轻轻均匀涂敷一层干燥的硅藻土,再吹掉多余的硅藻土,使绝缘子表面附着很薄的一层亲水性物质为保证污染的准确性;浸污完成、干燥后,用一片浸污良好的试品,按照标准GB/T22707-2008直流系统用高压绝缘子的人工污秽试验规定测试盐密和灰密,确定所沉积污秽度是否与设定量相符,污秽度的误差容许值为±15%等。另外,标准GB/T22707和GB/T4585对绝缘子污层干燥都提出了要求:绝缘子周围的相对湿度保持不高于70%,时间需达到6-8h,污层自然干燥可以满足。
实际应用发现,现有憎水性迁移测试技术存在一定局限,如:(1)适用性不广:该技术对瓷、玻璃及硅橡胶绝缘子材料憎水性迁移的测试可行,在对聚烯烃绝缘子的憎水性迁移测试时,发现水污液在聚烯烃表面形成液滴,不能均匀铺展,无法形成均匀连续的污染层,因而无法完成测试。(2)污秽度校核不直接、操作繁琐:为校核测样品的污秽度,一般需另外准备一块样品,同样条件下表面实施污染,而后仔细收集沉积的污秽物,将全部溶解污秽物于水中,测试电导率,根据盐度与体积电导率关系来确认样品的污秽度,操作步骤多、误差大。(3)聚烯烃绝缘子样品污染后,水挥发慢,干燥时间较长,一般需要6-8h。
发明内容
本发明目的是为解决上述现有技术存在的不足,提供一种聚烯烃绝缘子表面憎水性迁移的测试方法,该方法也适用于瓷、玻璃、硅橡胶、环氧等各型绝缘子材料憎水性迁移测试,操作简便。
本发明采用的技术方案是:一种聚烯烃绝缘子表面憎水性迁移的测试方法,包括以下步骤:样品预处理、污液配制、样品污染、污秽度校核、憎水迁移性表征。
所述样品预处理:准备一定面积的聚烯烃绝缘子样品,用无水乙醇清洗样品表面,再用去离子水冲洗,晾干后置于防尘容器内备用,称重,精确至0.0001g。
所述污液配制:以氯化钠为盐成份,以硅藻土或高岭土为灰成份,乙醇、甲醇或丙醇或其混合物为分散剂。使用时按所测试预定的盐密和灰密比例,定量称取氯化钠和硅藻土或高岭土,加入到分散剂中,配成污秽重量含量为8-30%的污液,污液使用时,间隙搅拌,以防沉淀。
进一步,所述硅藻土或高岭土为500-1250目;所述氯化钠为粉末型,使用前,用高速粉碎机(20000-30000转/分钟粉碎2-3分钟)将块状氯化钠晶体粉碎成粉末,粉末平均粒径为10-40μm。
进一步,根据室温环境高低,选择乙醇、甲醇和丙醇的一种或两种及以上混合物作为分散剂,一般室温较高时选用乙醇和丙醇的一种或两者混合物,延长操作时间;室温较低时选用甲醇或甲醇与乙醇的混合物,有利于缩短污染样品的干燥时间。
所述样品污染:用洁净软毛刷涂刷或喷涂法,将污液均匀涂敷在样品表面上,自然干燥1-2h,用软纸清除样品四周多余的污秽。
所述污秽度校核:通过称量比较污染前后样品的重量差,计算单位面积污秽重量来校核污秽度。称量污染样品,精确至0.0001g,再干燥0.5h,再称量,如称量两次的污秽净重差别在2%之内,视为干燥完毕;否者需再干燥0.5h后称量,确认前后两次称量的污秽净重差在2%之内,再除以样品面积直接得出污秽度,确认污秽度偏差是否在预定值的±15%之内。
所述憎水迁移性表征:确认污秽度后,污染样品放置96h,测试静态水接触角和喷雾法确定憎水性等级。
本发明与传统技术相比较,具有如下有益效果:
(1)适用性广:本发明以乙醇、甲醇等小分子醇类作为分散剂,配制的污液在聚烯烃、瓷、玻璃、硅橡胶和环氧等绝缘子表面都很容易均匀铺展成连续污染层,因此本发明不但可用于聚烯烃绝缘子憎水性迁移测试,也适用于瓷、玻璃、硅橡胶和环氧等各型绝缘子的憎水性迁移测试。(2)步骤简化:本发明不需要在样品表面预先均匀涂覆一层薄的硅藻土来吸附污液,而是直接涂覆污液即可完成,省去一个操作步骤。(3)直接校核污秽度、操作简单、误差较小:本发明通过称量法来直接确认被测样品表面污秽重量,再除以面积直接得出污秽度;而传统测试技术通过测试沉积污秽物的电导率来计算污秽度,将沉积物从与被试绝缘子相同的并按相同方法染污的一单独的绝缘子(或它的一部分)上取下,并仔细地收集起来,而后尽量将污秽物溶解于定量水中,测试电导率,操作较为繁琐;与已知的数据表对比得出污秽度,还需要尽量避免污秽度评定对试验带来实际影响的误差。(4)样品制备时间短:本发明中样品污染后,作为分散剂的小分子醇类挥发比水快得多,因此污染样品对干燥时间需求大幅度缩短,从既有标准测试技术所需的干燥时间6-8h缩短至1-2h。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明的技术方案和技术效果做进一步说明。
实施例1
测试聚烯烃绝缘子的憎水性迁移性能
所述样品预处理:准备尺寸为120mm×50mm×6mm的聚烯烃样品,用无水乙醇清洗样品表面,再用去离子水冲洗,晾干后置于防尘容器内,在试验室环境下保存24h,称重,精确至0.0001g。
污液配制:以氯化钠为盐成份,以硅藻土为灰成份,分析纯乙醇和甲醇为分散剂。其中硅藻土选择500目;氯化钠晶体用高速粉碎机在25000转/分钟下粉碎2分钟。设定盐密和灰密的比例为1∶10,按比例定量称取氯化钠和硅藻土,加入到甲醇和乙醇中(重量比1∶1)中,配成污秽重量含量为15%的污液,污液使用时,间隙搅拌,以防沉淀。
所述样品污染:预定总污秽度为0.6mg/cm2,用洁净的软毛刷将污液均匀涂敷在样品表面上,自然干燥1h,用软纸清除样品四周多余的污秽。
所述样品污秽度校核:称量已干燥的污染样品,精确至0.0001g,再干燥0.5h,两次称量误差在2%之内,视为干燥完毕;污秽重量除以面积,计算得到污秽度为0.65mg/cm2,为预定污秽度值的108.3%,误差在±10%之内,进行下一步试验。
所述憎水迁移性表征:将样品置于干燥器中,憎水性迁移后96h,测静态水接触角,每次测五个点,测得样品的静态水接触角90.8±3.2°。另外喷雾法确定憎水性等级HC2。
对比测试:按照GB/T19519-2014和DL/T376-2010对聚烯烃绝缘子进行憎水性迁移测试,由于无法在聚烯烃绝缘子表面涂覆均匀污秽层,无法开展测试工作。
实施例2
本发明用于测试其他绝缘子的憎水性迁移性能,以硅橡胶绝缘子为例。
样品预处理:准备尺寸为120mm×50mm×6mm的硅橡胶样品,用无水乙醇清洗样品表面,再用去离子水冲洗,晾干后置于防尘容器内,在试验室环境下保存24h,称重,精确至0.0001g。
污液配制:以氯化钠为盐成份,以硅藻土为灰成份,分析纯乙醇为分散剂。其中硅藻土选择800目;氯化钠晶体用高速粉碎机在27000转/分钟下粉碎2分钟。设定盐密和灰密的比例为1∶5,按比例定量称取氯化钠和硅藻土,加入到乙醇中,配成污秽重量含量为10%的污液,污液使用时,间隙搅拌,以防沉淀。
所述样品污染:预定总污秽度为0.6mg/cm2,将污液喷涂在样品表面上,自然干燥1.5h,用软纸清除样品四周多余的污秽。
所述样品污秽度校核:称量已干燥的污染样品,精确至0.0001g,再干燥时间0.5h,两次称量误差在2%之内,视为干燥完毕;污秽重量除以面积,计算得到污秽度为0.563mg/cm2,是预定污秽度值的93.8%,误差在±10%之内,进行下一步试验。
所述憎水迁移性表征:将样品置于干燥器中,憎水性迁移后96h,测静态水接触角,每次测五个点,测得样品静态水接触角129.2±8.5°。另外喷雾法确定憎水性等级HC3。
对比测试:按照DL/T376-2010对硅橡胶绝缘子的憎水性迁移测试,测得样品静态水接触角130.3±9.2°,喷雾法确定憎水性等级HC3。本发明测试结果与既有标准方法测得的数据十分吻合,本发明的优点:样品制备过程省去预涂敷一层硅藻土的步骤;污秽度校核直接,不需要另制备一个平行样品;污染样品干燥时间缩短为既有标准测试的1/4。
Claims (2)
1.一种聚烯烃绝缘子表面憎水性迁移的测试方法,用无水乙醇清洗一定面积的聚烯烃绝缘子样品表面,再用去离子水冲洗,晾干后置于防尘容器内备用,其特征是以粉末状氯化钠为盐成份,以粉末状硅藻土或高岭土为灰成份,乙醇、甲醇或丙醇或其混合物为分散剂,按所测试预定的盐密和灰密比例,定量称取氯化钠和硅藻土或高岭土,加入到分散剂中,配成污秽重量含量为8-30%的污液,用洁净软毛刷涂刷或喷涂法,将污液均匀涂敷在样品表面上,自然干燥1-2h,称量比较污染前后样品的重量差,计算单位面积污秽重量来校核污秽度,确认污秽度后,污染样品放置96h,测试静态水接触角和喷雾法确定憎水性等级。
2.如权利要求1所述的一种聚烯烃绝缘子表面憎水性迁移的测试方法,其特征是所述硅藻土和高岭土粉末为500-1250目;所述氯化钠粉末平均粒径为10-40μm。
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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