CN110418130A - 一种断电测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及激光电视技术领域，公开了一种断电测试装置，用于对测试样品进行测试，包括可编程AC电源，还包括：电压转换模块和遥控模块，所述电压转换模块与所述可编程AC电源连接，将所述可编程AC电源输出的交流电源转换为低压直流电源，所述低压直流电源驱动所述遥控模块对测试样品进行遥控，通过硬件电路实现AC断电自动化测试，提高了测试效率，节约了人力成本。

Description

一种断电测试装置
技术领域
本发明涉及激光电视技术领域，尤其涉及一种断电测试装置。
背景技术
目前激光电视在研发阶段需要对样机进行一些电性能方面的可靠性测试以确保设计的稳定性，其中，AC断电测试是一项整机可靠性方面比较重要的测试项，其测试条件是输入电压为AC220V，开机工作5min，AC掉电2min，循环测试300次。
现有的测试方法为，采用可编程电源，经过软件设置后可输出满足测试条件的电压，其中220V持续5min，0V持续2min，为一个循环，共循环300次，这种方法存在的问题是，激光电视在插上电源线后，并不能直接开机进入系统，需要人为的用遥控器开机，激光电视才能进入系统，因此不够智能化。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种断电测试装置，通过硬件电路实现AC断电自动化测试，提高了测试效率，节约了人力成本。
为实现上述目的，本发明提供的一种断电测试装置，用于对测试样品进行测试，包括可编程AC电源，还包括：电压转换模块和遥控模块，所述电压转换模块与所述可编程AC电源连接，将所述可编程AC电源输出的交流电源转换为低压直流电源，所述低压直流电源驱动所述遥控模块对测试样品进行遥控。
可选地，所述遥控模块包括开关电路和遥控器，所述开关电路控制低压直流电源对所述遥控器进行循环控制。
可选地，所述开关电路包括：光耦PC1，所述光耦PC1包括输入端A和输入端B，所遥控器包括开机按键K1,其中，所述光耦的输入端A连接所述低压直流电源，所述光耦的输出端B连接所述开机按键K1的两端。
可选地，所述遥控器包括电阻R10、按键K2和单片机MCU，所述单片机MCU包括PA0端和PA1端，所述开机按键K1的一端与电阻R10的一端连接，所述开机按键K1的另一端与单片机MCU的PA0端连接，所述按键K2的一端与电阻R10的一端连接，所述按键K2的另一端与单片机MCU的PA1端连接。
可选地，所述遥控器进一步包括电阻R11，所述单片机MCU的PA1端还与电阻R11的一端连接，所述电阻R10的另一端与电阻R11的另一端一起连接至电源端VCC。
可选地，所述开关电路包括：电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、三极管Q1、三极管Q2和MOS管Q3，其中，电阻R4的一端连接所述低压直流电源，电阻R4的另一端连接三极管Q1的基极，三极管Q1的发射极与三极管Q2的发射极一起接地，三极管Q1的集电极与三极管Q2的基极及电阻R2的一端连接，电阻R2的另一端与电阻R3的一端及MOS管Q3的漏极一起连接至电源端VCC，电阻R3的另一端与三极管Q2的集电极及MOS管Q3的栅极连接，MOS管Q3的源极与电阻R1的一端一起接地，电阻R1的另一端与开机按键K1的一端及单片机MCU的PA0端连接，开机按键K1的另一端与按键K2的一端及电阻R10的一端连接，按键K2的另一端与单片机MCU的PA1端及电阻R11的一端连接，所述电阻R10的另一端与电阻R11的另一端一起连接至电源端VCC。
可选地，所述遥控器进一步包括发射模块，所述单片机MCU还与发射模块连接。
可选地，所述三极管Q1和三极管Q2皆为NPN型三极管，所述MOS管Q3为P沟道MOS管。
可选地，所述电压转换模块为直流电源或适配器。
本发明提出的一种断电测试装置，用于对测试样品进行测试，包括可编程AC电源，还包括：电压转换模块和遥控模块，所述电压转换模块与所述可编程AC电源连接，将所述可编程AC电源输出的交流电源转换为低压直流电源，所述低压直流电源驱动所述遥控模块对测试样品进行遥控，通过硬件电路实现AC断电自动化测试，提高了测试效率，节约了人力成本。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种断电测试装置的功能结构示意图；
图2为本发明实施例一提供的遥控模块的功能结构示意图；
图3为本发明实施例一提供的一种开关电路的电路图；
图4为本发明实施例二提供的一种开关电路的电路图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例一
如图1所示，在本实施例中，一种断电测试装置，用于对测试样品进行测试，包括可编程AC电源，还包括：电压转换模块和遥控模块，所述电压转换模块与所述可编程AC电源连接，将所述可编程AC电源输出的交流电源转换为低压直流电源，所述低压直流电源驱动所述遥控模块对测试样品进行遥控。
在本实施例中，通过硬件电路实现AC断电自动化测试，提高了测试效率，节约了人力成本。
在本实施例中，所述低压直流电源为12V或5V。
在本实施例中，可编程AC电源向电压转换模块提供交流电压(如220V)，电压转换模块将该交流电压转成一个幅值较小的直流电压(如12V，5V)，该直流电压作为一个驱动信号传输到遥控模块，遥控模块根据接收的电压开断(on/off)时间和循环次数，从而对测试样品(激光电视)进行遥控。
在本实施例中，所述电压转换模块(AC to DC)可采用直流电源(AC source)或适配器(Adaptor)。
在本实施例中，所述遥控模块包括开关电路和遥控器，所述开关电路控制低压直流电源对所述遥控器进行循环控制，通过开关电路自动对遥控器进行控制，不需要人为操作遥控器，提高了测试效率。
在本实施例中，遥控器内部主要由单片机MCU，发射模块，按键组成，由于遥控器按键较多，因此只是列举按键K1，K2，K1是开机按键。所述单片机MUC包括PA0端和PA1端当按下K1后单片机MCU的PA0口检测到高电平，K2按键(包括其他按键)为低电平，最终单片机MCU识别到的是一个开机的命令，因此向遥控器内的发射模块发送开机命令，激光电视正常开机，进入系统。
在本实施例中，所述开关电路包括：光耦PC1，所述光耦PC1包括输入端A和输入端B，所遥控器包括开机按键K1,其中，所述光耦的输入端A连接所述低压直流电源，所述光耦的输出端B连接所述开机按键K1的两端。
在本实施例中，所述遥控器包括电阻R10、按键K2和单片机MCU，所述单片机MCU包括PA0端和PA1端，所述开机按键K1的一端与电阻R10的一端连接，所述开机按键K1的另一端与单片机MCU的PA0端连接，所述按键K2的一端与电阻R10的一端连接，所述按键K2的另一端与单片机MCU的PA1端连接。
在本实施例中，所述遥控器进一步包括电阻R11，所述单片机MCU的PA1端还与电阻R11的一端连接，所述电阻R10的另一端与电阻R11的另一端一起连接至电源端VCC。
在本实施例中，当电压转换模块输出12V或5V的直流电压时(持续时间5min)，光耦PC1的A端发光，此时B端导通，因此单片机MCU的PA0口检测到的是高电平，K2按键(包括其他按键)为低电平，最终单片机MCU识别到的是一个开机的命令，因此向遥控器内的发射模块发送开机命令，激光电视正常开机，进入系统。
当电压转换模块不输出电压时(持续时间2min)，光耦PC1的A端不会发光，此时B端不会导通，因此单片机MCU的PA0口检测到的是低电平，K2按键(包括其他按键)为低电平，单片机MCU没有识别到开机的命令，因此不会向遥控器内的发射模块发送开机命令，机器处于power off状态。
因此遥控模块根据接收的电压开断(on/off)时间和循环次数，从而对测试样品(激光电视)进行遥控，实现AC断电自动化测试。
在本实施例中，所述遥控器进一步包括发射模块，所述单片机MCU还与发射模块连接。
在本实施例中，所述三极管Q1和三极管Q2皆为NPN型三极管，所述MOS管Q3为P沟道MOS管。
在本实施例中，所述电压转换模块为直流电源或适配器。
实施例二
如图4所示，在本实施例中，所述开关电路包括：电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、三极管Q1、三极管Q2和MOS管Q3，其中，电阻R4的一端连接所述低压直流电源，电阻R4的另一端连接三极管Q1的基极，三极管Q1的发射极与三极管Q2的发射极一起接地，三极管Q1的集电极与三极管Q2的基极及电阻R2的一端连接，电阻R2的另一端与电阻R3的一端及MOS管Q3的漏极一起连接至电源端VCC，电阻R3的另一端与三极管Q2的集电极及MOS管Q3的栅极连接，MOS管Q3的源极与电阻R1的一端一起接地，电阻R1的另一端与开机按键K1的一端及单片机MCU的PA0端连接，开机按键K1的另一端与按键K2的一端及电阻R10的一端连接，按键K2的另一端与单片机MCU的PA1端及电阻R11的一端连接，所述电阻R10的另一端与电阻R11的另一端一起连接至电源端VCC。
在本实施例中，当电压转换模块输出一个高电平时(12V/5V)，Q1导通，Q2闭合，MOS管Vgs两端电压到达其门限压值后，Q3导通，电源端VCC直接向遥控器内部的MCU的PA0口提供一个高电平，单片机MCU识别到的是一个开机的命令，因此向遥控器内的发射模块发送开机命令，激光电视正常开机，进入系统。
当电压转换模块输出一个低电平时(0V)时，Q1闭合，Q2导通，MOS管Vgs两端电压达不到其门限压值，Q3不再导通，VCC也不为后面的单片机MCU提供开机命令，因此遥控器内的发射模块不会发送开机命令，激光电视也不会开机。
在本实施例中，所述三极管Q1和三极管Q2皆为NPN型三极管，所述MOS管Q3为P沟道MOS管。
在本实施例中，所述单片机MCU还与发射模块连接。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种断电测试装置，用于对测试样品进行测试，包括可编程AC电源，其特征在于，还包括：电压转换模块和遥控模块，所述电压转换模块与所述可编程AC电源连接，将所述可编程AC电源输出的交流电源转换为低压直流电源，所述低压直流电源驱动所述遥控模块对测试样品进行遥控。
2.根据权利要求1所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述遥控模块包括开关电路和遥控器，所述开关电路控制低压直流电源对所述遥控器进行循环控制。
3.根据权利要求2所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述开关电路包括：光耦PC1，所述光耦PC1包括输入端A和输入端B，所遥控器包括开机按键K1,其中，所述光耦的输入端A连接所述低压直流电源，所述光耦的输出端B连接所述开机按键K1的两端。
4.根据权利要求3所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述遥控器包括电阻R10、按键K2和单片机MCU，所述单片机MCU包括PA0端和PA1端，所述开机按键K1的一端与电阻R10的一端连接，所述开机按键K1的另一端与单片机MCU的PA0端连接，所述按键K2的一端与电阻R10的一端连接，所述按键K2的另一端与单片机MCU的PA1端连接。
5.根据权利要求3所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述遥控器进一步包括电阻R11，所述单片机MCU的PA1端还与电阻R11的一端连接，所述电阻R10的另一端与电阻R11的另一端一起连接至电源端VCC。
6.根据权利要求5所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述开关电路包括：电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、三极管Q1、三极管Q2和MOS管Q3，其中，电阻R4的一端连接所述低压直流电源，电阻R4的另一端连接三极管Q1的基极，三极管Q1的发射极与三极管Q2的发射极一起接地，三极管Q1的集电极与三极管Q2的基极及电阻R2的一端连接，电阻R2的另一端与电阻R3的一端及MOS管Q3的漏极一起连接至电源端VCC，电阻R3的另一端与三极管Q2的集电极及MOS管Q3的栅极连接，MOS管Q3的源极与电阻R1的一端一起接地，电阻R1的另一端与开机按键K1的一端及单片机MCU的PA0端连接，开机按键K1的另一端与按键K2的一端及电阻R10的一端连接，按键K2的另一端与单片机MCU的PA1端及电阻R11的一端连接，所述电阻R10的另一端与电阻R11的另一端一起连接至电源端VCC。
7.根据权利要求4所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述遥控器进一步包括发射模块，所述单片机MCU还与发射模块连接。
8.根据权利要求6所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述三极管Q1和三极管Q2皆为NPN型三极管，所述MOS管Q3为P沟道MOS管。
9.根据权利要求1所述的一种断电测试装置，其特征在于，所述电压转换模块为直流电源或适配器。
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