CN110415639B - Led阵列驱动电路、驱动芯片及led显示屏 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及LED阵列驱动电路、驱动芯片、LED显示屏及短路点定位方法，其中，驱动电路用于辅助检测LED阵列中的短路点位置，包括LED阵列、行驱动阵列、列驱动模块、检测通道选通单元以及电源；行驱动阵列包括若干行通道，列驱动模块包括若干列驱动通道，扫描驱动LED阵列；检测通道选通单元包括若干检测通道，一个检测通道与一个列驱动通道电连接；检测短路点位置时，关闭所有行通道，开启短路点所连接的两个列驱动通道中的一个，关闭另一个，关闭与开启的列驱动通道连接的检测通道，开启与关闭的列驱动通道连接的检测通道，以形成经过短路点的通路。极大的便利了短路点位置的确定，降低了维修难度，提高了维护效率。
Description
技术领域
本发明涉及LED显示领域，特别是涉及一种LED阵列驱动电路、驱动芯片及LED显示屏。
背景技术
LED具有低能耗、高亮度、色彩艳丽、高稳定性、高刷新速率、环保等特点，广泛应用于户外显示、监控中心、广告/媒体展示、舞台等场景。随着技术的进步以及市场需求的变化，LED显示屏正在朝着小点间距、高分辨率的方向发展，LED灯珠越来越小，导致灯珠的引脚之间的距离越来越小。再加上焊锡的影响，灯珠的引脚之间很容易出现短路或漏电问题。同时，灯珠内部集成了越来越多的LED芯片，LED芯片之间的位置也越来越近，也容易发生短路或漏电的问题。并且，还有LED芯片被击穿之后产生的短路问题。
目前，LED显示屏一般采用扫描驱动的方式。当列与列之间出现短路或漏电问题时，问题所在列的LED灯珠就不受列驱动控制，在行驱动下，一行中问题所在列的位置，会被相邻列的驱动信号点亮，产生毛毛虫现象。因为与行驱动管无关，问题所在的两列LED灯珠同时点亮，且亮度效果基本相同，无法识别出坏点位置，给维修带来了极大困扰。
发明内容
基于此，有必要针对现有LED显示屏采用扫描驱动，无法定位毛毛虫现象中的坏点位置的问题，提出一种LED阵列驱动电路、驱动芯片、LED显示屏及短路点定位方法。
本发明一实施例提供了一种LED阵列驱动电路，用于辅助检测LED阵列中的短路点位置，包括LED阵列、行驱动阵列、列驱动模块、检测通道选通单元以及电源，所述LED阵列包括若干阵列排布的LED灯珠，所述行驱动阵列、LED灯珠、列驱动模块串联连接，并与所述电源连接；
所述行驱动阵列包括若干行通道，一个所述行通道与所述LED阵列的一行中的至少一个所述LED灯珠的第一端电连接；所述列驱动模块包括若干列驱动通道，一个所述列驱动通道与所述LED阵列的一列的所述LED灯珠的第二端电连接；当一个所述LED灯珠的第一端连接的行通道、第二端连接的列驱动通道均被选通开启时，所述LED灯珠发光；
所述检测通道选通单元包括若干检测通道，一个所述检测通道与一个所述列驱动通道电连接；所述检测通道选通单元、列驱动模块分别连接所述电源和低电平；
检测短路点位置时，关闭所有行通道，开启短路点所连接的两个列驱动通道中的一个，关闭另一个，关闭与开启的列驱动通道连接的检测通道，开启与关闭的列驱动通道连接的检测通道，以形成经过短路点的通路。
在一些实施例中，所述检测通道选通单元为单刀多掷类型的开关。
在一些实施例中，所述行驱动阵列、检测通道选通单元与所述电源连接，所述列驱动模块连接低电平；或者，
所述行驱动阵列、检测通道选通单元连接低电平，所述列驱动模块与所述电源连接。
在一些实施例中，还包括检测同步控制单元，与所述行驱动阵列、列驱动模块以及检测通道选通单元连接，检测短路点位置时，所述检测同步控制单元控制所述行驱动阵列的行通道关闭，按照预设顺序，依次开启所述列驱动模块的一个列驱动通道、与下一个列驱动通道连接的检测通道，关闭其他列驱动通道和/或其他检测通道。
本发明一实施例，还提供了一种LED显示屏，包括前述的LED阵列驱动电路。
通过设置具有多个检测通道的检测通道选通单元，每个检测通道分别于列驱动通道连接，检测通道选通单元和列驱动模块分别连接电源和低电平，在检测短路点时，关闭所有行通道，控制短路点所在两列的列驱动通道、与该两列驱动通道连接的检测通道的开启和关闭，以形成通过短路点的通路，而LED阵列中没有其他通路；然后利用热成像分析，即可找到短路点位置。本实施例提供的LED阵列驱动电路，极大的便利了短路点位置的确定，降低了维修难度，提高了维护效率。
本发明一实施例，还提供了一种短路点定位方法，用于检测前述实施例中的LED阵列驱动电路中的短路点位置，包括：
关闭所有行通道，开启第一目标列驱动通道，开启与第二目标列驱动通道连接的第一目标检测通道，关闭其他列驱动通道和/或其他检测通道；
获取LED阵列的红外图像；
分析获取的红外图像，确定短路点位置。
本实施例提供的短路点定位方法，可以准确确定短路点位置，降低了维修难度，提高了维护效率。
本发明另一实施例，还提供了另一种短路点定位方法，用于检测前述实施例中的LED阵列驱动电路中的短路点位置，包括：
关闭所有行通道，按照预设顺序，每个周期内，开启一个列驱动通道，开启与下一个列驱动通道连接的检测通道，关闭其他列驱动通道或者其他检测通道；
周期性地获取LED阵列的红外图像；
分析获取的红外图像，确定是否有短路点以及短路点位置。
本实施例提供的短路点定位方法，可以自动进行短路点位置的检测，不需要人工参与，效率更高。
本发明一实施例还提供了一种驱动芯片，包括恒流驱动模块、短路检测模块，其中，
所述恒流驱动模块包括若干恒流输出通道，所述短路检测模块包括相互连接的基准电平单元和检测通道选通单元，所述检测通道选通单元包括若干检测通道，每个所述检测通道与一个所述恒流输出通道连接；
正常工作时，所述恒流驱动模块根据显示数据，选通并控制所述恒流输出通道输出对应的恒流驱动信号；
当检测短路点位置时，开启第一目标恒流输出通道，开启与第二目标恒流输出通道连接的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道。
在一些实施例中，所述基准电平单元为高电平，所述检测通道选通单元包括若干上拉电路，每个上拉电路作为一个检测通道，包括开关管、二极管和上拉电阻，所述开关管与所述二极管并联，一端连接所述上拉电阻，另一端连接所述基准电平单元，所述二极管的阴极与所述基准电平单元连接。
在一些实施例中，还包括检测同步控制单元，与所述检测通道选通单元、恒流驱动模块连接；检测短路点位置时，按照预设顺序，依次开启所述恒流驱动模块的一个恒流输出通道、与下一个恒流输出通道连接的、所述检测通道选通单元的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道。
本实施例提供的驱动芯片，可以有助于LED阵列中短路点位置的确定，降低了维修难度，提高了维护效率。
附图说明
图1为本发明一实施例的LED阵列驱动电路的结构示意图；
图2为本发明一实施例中细化行驱动阵列后的LED阵列驱动电路的结构示意图；
图3为本发明另一实施例的LED阵列驱动电路的结构示意图；
图4为本发明另一实施例中细化行驱动阵列后的LED阵列驱动电路的结构示意图；
图5为本发明一实施例的具有不同电源输出的LED阵列驱动电路的结构示意图；
图6为本发明一实施例中检测通道选通单元的示意图；
图7为本发明又一实施例的LED阵列驱动电路的结构示意图；
图8为本发明一实施例的驱动芯片的结构示意图；
图9为本发明另一实施例的驱动芯片的结构示意图；
图10为本发明又一实施例的驱动芯片的结构示意图。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。
如图1所示，本发明一实施例提供了一种LED阵列驱动电路，用于辅助检测短路点位置，包括LED阵列50、行驱动阵列10、列驱动模块20、检测通道选通单元40以及电源30，LED阵列50包括若干阵列排布的LED灯珠，行驱动阵列10、LED灯珠、列驱动模块20串联连接，并与电源30连接；
行驱动阵列10包括若干行通道，一个行通道与LED阵列50一行中的至少一个LED灯珠的第一端电连接；列驱动模块20包括若干列驱动通道，一个列驱动通道与LED阵列50一列的LED灯珠的第二端电连接；当一个LED灯珠的第一端连接的行通道、第二端连接的列驱动通道均被选通开启时，LED灯珠发光；
检测通道选通单元40包括若干检测通道，一个检测通道与一个列驱动通道电连接；检测通道选通单元40、列驱动模块20分别连接电源30和低电平；
检测短路点位置时，关闭所有行通道，开启短路点所连接的两个列驱动通道中的一个，关闭另一个，关闭与开启的列驱动通道连接的检测通道，开启与关闭的列驱动通道连接的检测通道，以形成经过短路点的通路。
LED阵列50中，每一列的LED灯珠的第二端均与一个列驱动通道连接，每一行的所有LED灯珠或者部分LED灯珠的第一端均与一个行通道连接。行驱动阵列10和列驱动模块20，扫描驱动LED阵列。当一个LED灯珠连通的行通道和列驱动通道均开启时，该LED灯珠才能发光工作。
LED阵列50中，可以仅包括一种颜色的LED灯珠，也可以包括2种、3种，甚至更多颜色的LED灯珠。当进行全彩显示时，LED阵列50中，包括有红色LED灯珠(R)、绿色LED灯珠(G)、蓝色LED灯珠(B)。如图1所示，每三个相邻的红色LED灯珠(R)、绿色LED灯珠(G)、蓝色LED灯珠(B)，可以组成一个像素点51。可以理解的是，每行像素点51中，不同颜色的LED灯珠的第一端可以连接不同的行通道，也可以连通同一个行通道。
检测通道选通单元40提供的若干检测通道，分别与一个列驱动通道连接。检测通道选通单元40、列驱动模块20分别连接电源30和低电平。低电平，可以是接地端，也可以是比电源30低的电平。在图1示出的实施例中，检测通道选通单元40连接电源30，列驱动模块20连接低电平。图1中，低电平为接地端。
LED阵列正常工作时，检测通道选通单元40不工作，检测通道关闭。当两列LED灯珠之间出现短路点时，比如相邻的LED灯珠引脚之间短路，LED阵列就会出现毛毛虫现象。为了便于维修，就需要定位短路点的具体位置。短路点连接的两列驱动通道，可以由人工通过观察毛毛虫的位置进行确定；也可以依次对相邻两列驱动通道建立连通电路，通过判断是否有电流的方式进行确定。检测短路点时，关闭所有行通道；然后，控制两列驱动通道、以及与该两列驱动通道相连接的两个检测通道的开启、关闭，形成通过短路点的检测通路。
示例的，如图2所示，假定短路点Rc位于j+1列和j+2列之间、i行R和i行G之间。根据短路引起的毛毛虫现象等外部表征，可以确定短路点连接的是j+1列和j+2列，但不能定位具体位于哪两行之间，这就需要进行短路点位置的检测。检测时，关闭所有行通道，不让LED灯珠导通工作。开启j+1列驱动通道，关闭j+2列驱动通道；同时，关闭与j+1列驱动通道连接的k+1检测通道，开启与j+2列驱动通道连接的k+2检测通道。因为检测通道选通单元40连接电源30，列驱动模块20的一端接地，由此，可以形成电源30、k+2检测通道、短路点Rc、j+1列行驱动通道、接地的检测通路(如图2中箭头示出的线路走向)。而LED阵列50中，没有形成其他的通路，就不会产生热量；只有检测通路能够连通、工作，产生热量。然后获取LED阵列50的红外图像，通过热成像分析，识别出发热线路，发热线路的端点位置，即为短路点位置所在。
图2的示例中，LED灯珠R、LED灯珠G、LED灯珠B是相互分立的、单独封装的灯珠。在一些实施例中，若干LED灯珠可以封装在一起的。当两个列驱动通道之间存在2个或更多短路点时，发热线路会有多个地方连接左右两列，这些地方即为短路点位置。
本实施例中，通过设置具有多个检测通道的检测通道选通单元，每个检测通道分别于列驱动通道连接，检测通道选通单元和列驱动模块分别连接电源和低电平，在检测短路点时，关闭所有行通道，控制短路点所在两列的列驱动通道、与该两列驱动通道连接的检测通道的开启和关闭，以形成通过短路点的通路，而LED阵列中没有其他通路；然后利用热成像分析，即可找到短路点位置。本实施例提供的LED阵列驱动电路，极大的便利了短路点位置的确定，降低了维修难度，提高了维护效率。
如图1所示，行驱动阵列10、检测通道选通单元40与电源30连接，列驱动模块20连接低电平。如图3所示，也可以是，行驱动阵列10、检测通道选通单元40连接低电平，列驱动模块20与电源30连接。
如图2、图4所示，行驱动阵列10，可以包括有行驱动控制单元11和行管阵列12，行驱动控制单元11用于产生行控制信号，行管阵列12包括若干MOS管，每个MOS管构成一个行通道，MOS管的栅极与行驱动控制单元电连接，MOS管的源极连接电源30或低电平，MOS管的漏极作为行通道的输出端，与LED灯珠的第一端连接；MOS管根据接收的航空之信号，控制导通和截止状态的切换，实现行通道的开启与关闭。在图2中，行驱动阵列10与电源30连接，MOS管的源极连接电源30。此时，LED灯珠的第一端为正极，第二端为负极。在图4中，行驱动阵列与低电平连接，MOS管的源极连接低电平，具体的，源极接地。此时，LED灯珠的第一端为负极，第二端为正极。
电源30，可以仅提供单一电平的电源输出，也可以提供多个、不同电平的电源输出。在图2、图4示出的实施例中，电源30仅提供了一个电源输出VCC。电源30，针对不同颜色LED灯珠，提供不同的电源输出，比如每一种颜色的LED灯珠采用不同的电源输出，也可以有两种颜色的LED灯珠采用相同的电源输出。在图5示出的实施例中，针对红色LED灯珠R，提供了一种电源输出Vcc-1，而针对绿色LED灯珠G和蓝色LED灯珠B，提供了一种电源输出Vcc-2。如此，电源输出可以更符合不同颜色LED灯珠的电压要求，降低电能的损耗。可以理解的是，针对检测通道选通单元40，可以提供一种不同的电源输出Vcc-0，也可以采用与其他相同的电源输出。
列驱动模块20，可以是恒流驱动模块，也可以是恒压驱动模块。优选的，列驱动模块20是恒流驱动模块。在正常工作时，列驱动模块20根据显示数据，可以在每个恒流通道上生成对应的恒流驱动信号。
检测通道选通单元40，需要包括多个检测通道，并能控制检测通道的选通。多个检测通道之间，既可以各自独立控制，比如有多个输入，每个检测通道有自己的开关连接输入；也可以联动控制，比如仅有一个输入，采用单刀多掷的方式，每次只能选通一个检测通道。前者适用于同时检测多个短路点，后者适用于单次检测一个短路点。
基于降低成本和降低控制难度，以及提高检测精度的考虑，优选的，检测通道选通单元40为单刀多掷类型的开关。示例的，检测通道选通单元40可以具体采用CD4051芯片，如图6所示，可以实现1路输入，8个通道选择输出。可以理解的是，检测通道选通单元40，也可以选用其他开关器件，只要能够实现单端多通道的开关选择即可。
在前面的描述中，在检测短路点位置时，可以由人工事先判断、确定短路点所连接的两个列驱动通道。在一些实施例中，也可以不事先确定短路点连接的两个列驱动通道。LED阵列驱动电路中，如图7所示，还可以包括检测同步控制单元60，与行驱动阵列10、列驱动模块20以及检测通道选通单元40连接，检测短路点位置时，检测同步控制单元60控制行驱动阵列10的行通道关闭，按照预设顺序，依次开启列驱动模块20的一个列驱动通道、与下一个列驱动通道连接的检测通道，关闭其他列驱动通道和/或其他检测通道。
通过设置检测同步控制单元60，按照预设顺序，依次进行，每个周期内，控制一个列驱动通道、与下一个列驱动通道连接的检测通道的开启，并获取每个周期内的LED阵列的红外图像，通过热成像分析，识别是否有发热线路以及发热线路所在位置。如果两个列驱动通道之间没有短路点，则该周期内，LED阵列中没有通路，不会产生热量，红外图像中就不会发现发热线路。然后进入下一个周期，开启下一个列驱动、下下一个列驱动通道连接的检测通道，如此向前推进。只有到两个列驱动通道之间存在短路点时，才会在LED阵列中形成通路，产生热量，才能发现发热线路，进而识别出短路点位置。一般而言，发热线路的端点即为短路点位置。当有多个短路点时，连接发热线路的两列的位置，即为短路点位置。
利用检测同步控制单元60，自动的、依次对列驱动通道以及相邻列驱动通道连接的检测通道进行开启，构建检测线路，可以实现对短路点的自动检测，而无需人工判断短路点所连接的列驱动通道，效果更高。
本发明另一实施例，提供了一种短路点定位方法，用于检测图1-图6所示的LED阵列驱动电路中的短路点位置，包括步骤：
S110：关闭所有行通道，开启第一目标列驱动通道，开启与第二目标列驱动通道连接的第一目标检测通道，关闭其他列驱动通道和/或其他检测通道；
S120：获取LED阵列的红外图像；
S130：分析获取的红外图像，确定短路点位置。
S110中，关闭所有行通道，开启第一目标列驱动通道，开启与第二目标列驱动通道连接的检测通道，关闭其他列驱动通道和/或其他检测通道，以形成通过短路点的通路，产生热量，以用于后续步骤的红外图像中确定出短路点位置。
第一目标列驱动通道和第二目标列驱动通道，可以由人工根据LED阵列正常工作时的效果进行判断、确定，比如根据短路点引起的毛毛虫现象进行判断。
完成步骤S110之后，即可利用红外成像设备，获取LED阵列的红外图像。然后，对获取的红外图像进行分析。因为关闭了其他列驱动通道和/或其他检测通道，其他区域不会产生热量。因此，对红外图像进行分析、识别，可以得到发热线路——及通过短路点的通路。一般而言，发热线路的端点即为短路点位置。当有多个短路点时，连接发热线路的两列的位置，即为短路点位置。
本实施例提供的短路点定位方法，关闭所有行通道，控制短路点所在两列的列驱动通道、与该两列驱动通道连接的检测通道的开启和关闭，以形成通过短路点的通路，而LED阵列中没有其他通路；然后利用热成像分析，即可找到短路点位置，可以准确确定短路点位置，降低了维修难度，提高了维护效率。
本发明一实施例，还提供了另一种短路点定位方法，用于检测图7所示的LED阵列驱动电路中的短路点位置，包括步骤：
S210，关闭所有行通道，按照预设顺序，每个周期内，开启一个列驱动通道，开启与下一个列驱动通道连接的检测通道，关闭其他列驱动通道或者其他检测通道；
S220，周期性地获取LED阵列的红外图像；
S230，分析获取的红外图像，确定是否有短路点以及短路点位置。
与之前的短路点定位方法相比，本实施例中的方法，不需要事先确定短路点连接的两个列驱动通道——第一目标列驱动通道和第二目标列驱动通道。此时，如图7所示，LED阵列驱动电路设置有检测同步控制单元60，与行驱动阵列10、列驱动模块20以及检测通道选通单元40连接。检测同步控制单元60按照预设顺序，依次进行，每个周期内，控制一个列驱动通道、与下一个列驱动通道连接的检测通道的开启；在每个周期内，获取LED阵列的红外图像，然后通过热成像分析，识别是否有发热线路以及短路点位置。
本实施例提供的短路点定位方法，可以自动进行短路点位置的检测，不需要人工参与，效率更高。
本发明一实施例，还提供了一种LED显示屏，包括前述实施例中的LED阵列驱动电路。可以极大的便利了短路点位置的确定，降低了维修难度，提高了维护效率。
本发明一实施例，还提供了一种驱动芯片，如图8、图9所示，包括恒流驱动模块100、短路检测模块200，其中，恒流驱动模块100包括若干恒流输出通道，短路检测模块200包括相互连接的基准电平单元220和检测通道选通单元210，检测通道选通单元210包括若干检测通道，每个检测通道与一个恒流输出通道连接；正常工作时，恒流驱动模块100根据显示数据，选通并控制恒流输出通道输出对应的恒流驱动信号；当检测短路点位置时，开启第一目标恒流输出通道，开启与第二目标恒流输出通道连接的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道。
基准电平单元220，可以输出高电平，也可以输出低电平。当基准电平单元220输出高电平时，恒流输出通道连接低电平。反之，基准电平单元220输出低电平时，恒流输出通道连接高电平。
当检测短路点位置时，开启第一目标恒流输出通道，开启与第二目标恒流输出通道连接的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道。如果第一目标恒流输出通道和第二目标恒流输出通道在LED阵列中的连线之间存在短路点，那么就可以形成通过短路点的通路，而LED阵列中其他位置没有形成通路。如此，即可拍摄LED阵列的红外图像，从中分析出短路点的位置。
本实施例提供的驱动芯片，可以有助于LED阵列中短路点位置的确定，降低了维修难度，提高了维护效率。
如图8所示，基准电平单元220为高电平，检测通道选通单元210中的检测通道各自单独控制。具体的，每个检测通道，具体为
检测通道选通单元210，需要包括多个检测通道，并能控制检测通道的选通。多个检测通道之间，既可以各自独立控制，比如每个检测通道有自己的开关连接输入，如图8所示；也可以联动控制，比如仅有一个输入，采用单刀多掷的方式，每次只能选通一个检测通道。前者适用于同时检测多个短路点，后者适用于单次检测一个短路点。
如图8所示，检测通道选通单元210可以视为若干个带有开关的上拉电路，每个上拉电路视为一个检测通道，包括开关管、二极管和上拉电阻，开关管与二极管并联，一端连接上拉电阻，另一端连接高电平——基准电平单元220，二极管的阴极与基准电平单元220连接。此时，检测通道之间单独控制，可以由多个检测通道被同时开启，适用于同时检测多个短路点。
基于降低成本和降低控制难度，以及提高检测精度的考虑，优选的，检测通道选通单元210为单刀多掷类型的开关。
如图8及图9所示，恒流驱动模块100，可以具体包括接口单元110、缓冲器120、恒流电源产生单元130、计数器140、比较器单元150以及驱动端口160；恒流电流产生单元130，用于产生恒流电流；驱动端口160包括有若干恒流输出通道；
接口单元110，用于接收外部输入的时钟信号、控制数据；缓冲器用于缓冲控制数据；计数器140用于根据时钟信号，输出基准比较信号；比较器单元150用于根据控制数据以及基准比较信号，控制控制驱动端口160中的恒流输出通道的开启与关闭，控制开启的恒流输出通道输出对应的恒流驱动信号。
进一步的，如图10所示，驱动芯片还包括有检测同步控制单元300，与检测通道选通单元210、驱动端口连接；检测短路点位置时，按照预设顺序，依次开启驱动端口160的一个恒流输出通道、与下一个恒流输出通道连接的、检测通道选通单元210的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道。
如此，不需要事先确定第一目标恒流输出通道和第二目标恒流输出通道，检测同步控制300，按照预设顺序，依次开启驱动端口160的一个恒流输出通道、与下一个恒流输出通道连接的、检测通道选通单元210的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道。在每个周期内，获取LED阵列的红外图像，然后通过热成像分析，识别是否有发热线路以及短路点位置。如此，可以自动进行短路点位置的检测，不需要人工参与，效率更高。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种LED阵列驱动电路，用于辅助检测LED阵列中的短路点位置，其特征在于，包括LED阵列、行驱动阵列、列驱动模块、检测通道选通单元以及电源，所述LED阵列包括若干阵列排布的LED灯珠，所述行驱动阵列、LED灯珠、列驱动模块串联连接，并与所述电源连接；
所述行驱动阵列包括若干行通道，一个所述行通道与所述LED阵列的一行中的至少一个所述LED灯珠的第一端电连接；所述列驱动模块包括若干列驱动通道，一个所述列驱动通道与所述LED阵列的一列的所述LED灯珠的第二端电连接；当一个所述LED灯珠的第一端连接的行通道、第二端连接的列驱动通道均被选通开启时，所述LED灯珠发光；
所述检测通道选通单元包括若干检测通道，一个所述检测通道与一个所述列驱动通道电连接；所述检测通道选通单元、列驱动模块分别连接所述电源和低电平；
检测短路点位置时，关闭所有行通道，开启短路点所连接的两个列驱动通道中的一个，关闭另一个，关闭与开启的列驱动通道连接的检测通道，开启与关闭的列驱动通道连接的检测通道，以形成经过已开启的列驱动通道、短路点、已开启的检测通道、所述电源以及低电平的通路。
2.根据权利要求1所述的LED阵列驱动电路，其特征在于，所述检测通道选通单元为单刀多掷类型的开关。
3.根据权利要求1所述的LED阵列驱动电路，其特征在于，所述行驱动阵列、检测通道选通单元与所述电源连接，所述列驱动模块连接低电平；或者，
所述行驱动阵列、检测通道选通单元连接低电平，所述列驱动模块与所述电源连接。
4.根据权利要求1至3任一项所述的LED阵列驱动电路，其特征在于，还包括检测同步控制单元，与所述行驱动阵列、列驱动模块以及检测通道选通单元连接，检测短路点位置时，所述检测同步控制单元控制所述行驱动阵列的行通道关闭，按照预设顺序，依次开启所述列驱动模块的一个列驱动通道、与下一个列驱动通道连接的检测通道，关闭其他列驱动通道和/或其他检测通道。
5.一种LED显示屏，包括权利要求1至4任一项所述的LED阵列驱动电路。
6.一种短路点定位方法，用于检测权利要求1至3任一项所述的LED阵列驱动电路中的短路点位置，包括：
关闭所有行通道，开启第一目标列驱动通道，开启与第二目标列驱动通道连接的第一目标检测通道，关闭其他列驱动通道和/或其他检测通道；
获取LED阵列的红外图像；
分析获取的红外图像，识别出发热线路，将发热线路中的连接两列的地方，确定为短路点位置。
7.一种短路点定位方法，用于检测权利要求4所述的LED阵列驱动电路中的短路点位置，包括：
关闭所有行通道，按照预设顺序，每个周期内，开启一个列驱动通道，开启与下一个列驱动通道连接的检测通道，关闭其他列驱动通道或者其他检测通道；
周期性地获取LED阵列的红外图像；
分析获取的红外图像，识别出发热线路，将发热线路中的连接两列的地方，确定为短路点位置。
8.一种驱动芯片，其特征在于，包括恒流驱动模块、短路检测模块，其中，
所述恒流驱动模块包括若干恒流输出通道，所述短路检测模块包括相互连接的基准电平单元和检测通道选通单元，所述检测通道选通单元包括若干检测通道，每个所述检测通道与一个所述恒流输出通道连接；
正常工作时，所述恒流驱动模块根据显示数据，选通并控制所述恒流输出通道输出对应的恒流驱动信号；
当检测短路点位置时，开启第一目标恒流输出通道，开启与第二目标恒流输出通道连接的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道，形成通过第一目标恒流输出通道、短路点、与第二目标恒流输出通道连接的检测通道的通路；
所述驱动芯片用以驱动权利要求1-4任一所述的LED阵列驱动电路。
9.根据权利要求8所述的驱动芯片，其特征在于，所述基准电平单元为高电平，所述检测通道选通单元包括若干上拉电路，每个上拉电路作为一个检测通道，包括开关管、二极管和上拉电阻，所述开关管与所述二极管并联，一端连接所述上拉电阻，另一端连接所述基准电平单元，所述二极管的阴极与所述基准电平单元连接。
10.根据权利要求8所述的驱动芯片，其特征在于，还包括检测同步控制单元，与所述检测通道选通单元、恒流驱动模块连接；检测短路点位置时，按照预设顺序，依次开启所述恒流驱动模块的一个恒流输出通道、与下一个恒流输出通道连接的、所述检测通道选通单元的检测通道，关闭其他恒流输出通道和/或其他检测通道。
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