CN110398847A - 显示装置亮度的检测装置及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种显示装置亮度的检测装置及检测方法，该检测方法包括以下步骤：将多个校正单元板呈矩阵排列布置于载具上，每一该校正单元板上均设置有光感测器，且每一该校正单元板均连接至该控制模组；将该载具与该显示面板贴近，且该显示面板的出光面与该多个校正单元的光感测器的入光面相对；将该显示面板的灰阶数据设置为第一灰阶设定值，并开启该背光模组；通过该控制模组读取每一该校正单元板感测到的亮度数据；以及分析每一该校正单元板对应的亮度数据，并判断每一该亮度数据是否存在缺陷。借以解决现有技术中的显示装置的亮度检测方法复杂且对于部分缺陷无法检出的问题。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示装置亮度的检测装置及检测方法。
背景技术
在LCD显示器领域，面板亮度的均匀性常是客户关切的重点。微发光二极管(Micro-LED)由于可以将发光二极管(LED)的长度缩小至原来的1％，例如缩小至100微米(μm)或100微米以下，所以采用微发光二极管(Micro-LED)阵列作为液晶显示装置(LiquidCrystal Display)的背光模组，为LCD提供背光源，可以使得LCD具有更高的对比度和更低的功耗。但由于制造工艺等限制，Micro-LED阵列在发光时可能会存在发光亮度不均匀的问题，严重时可能会影响显示装置的显示效果。所以在背光模组设计考量上，无论是LED灯条或是微LED阵列，均需要一种快速、微观的方式找出不均匀的部分加以改善。
目前面板亮度的均匀性检测方式大多为，使用暗房及BM5A或同等设备来进行。但是，特别是当显示面板尺寸变大，一旦出现灯条偏光设计的缺陷或是微LED阵列的延迟问题，目前采用的巨观的5点或9点均匀性量测方式是无法发现的，进而会影响影像品质，造成客户使用不佳。
发明内容
因此，本发明的目的之一在于提供一种显示装置亮度的检测装置及检测方法，以解决现有技术中的显示装置的亮度检测方法复杂且对于部分缺陷无法检出的问题。
为达上述目的，本发明提供一种显示装置亮度的检测方法，该显示装置包括显示面板以及为该显示面板提供背光源的背光模组，该检测方法包括以下步骤：将多个校正单元板呈矩阵排列布置于载具上，每一该校正单元板上均设置有光感测器，且每一该校正单元板均连接至该控制模组；将该载具与该显示面板贴近，且该显示面板的出光面与该多个校正单元的光感测器的入光面相对；将该显示面板的灰阶数据设置为第一灰阶设定值，并开启该背光模组；通过该控制模组读取每一该校正单元板感测到的亮度数据；以及分析每一该校正单元板对应的亮度数据，并判断每一该亮度数据是否存在缺陷。
较佳的，该载具与该显示面板的尺寸相同，每一该校正单元板在使用前均与该显示面板执行黑白校正操作。
较佳的，该背光模组包括多个背光单元，该多个背光单元与该多个校正单元板分别一一对应。
较佳的，开启该背光模组前，将该多个背光单元的亮度值设置为同一亮度设定值。
较佳的，该检测方法还包括以下步骤：每一该校正单元板均以控制线连接至该控制模组，若其中一该校正单元板感测的该亮度数据有缺陷，则对该校正单元板对应的背光模组或该显示面板执行亮度调节程序。
较佳的，该光感测器为光感应薄膜晶体管、电荷耦合元件或者互补金属氧化物半导体元件。
为达到上述目的，本发明另提供一种显示装置亮度的检测装置，该显示装置包括显示面板以及为该显示面板提供背光源的背光模组，该检测装置包括：检测单元，包括载具以及呈矩阵排列布置于该载具上的多个校正单元板，其中每一该校正单元板上均设置有光感测器，且每一该校正单元板在使用前均与该显示面板执行黑白校正操作；控制模组，每一该校正单元板均连接至该控制模组；以及处理器模组，该控制模组与该处理器模组相连接；其中，将该载具与该显示面板贴近，将该显示面板的灰阶数据设置为第一灰阶设定值，并开启该背光模组，该处理器模组执行计算机指令，通过该控制模组读取各校正单元板感测到的亮度数据，分析每一该校正单元板对应的亮度数据，并判断每一该亮度数据是否存在缺陷。
较佳的，该载具与该显示面板的尺寸相同，该背光模组包括多个背光单元，该多个背光单元与该多个校正单元板分别一一对应，开启该背光模组前，将该多个背光单元的亮度值设置为同一亮度设定值。
较佳的，每一该校正单元板均以控制线连接至该控制模组，若其中一该校正单元板感测对应的亮度数据有缺陷，则对该校正单元板对应的背光模组或该显示面板执行亮度调节程序。
较佳的，该处理器模组还包括存储器，该存储器用以存储该亮度调节程序。
与现有技术相比，本发明的显示装置亮度的检测装置及检测方法，将多个校正单元板矩阵排列于载具上，再将载具与待测显示面板相对贴近，利用处理器模组执行计算机指令，通过控制模组读取各校正单元板的亮度数据，能够快速发现显示面板或是背光模组的设计缺陷，尤其可以实时检视灯条偏光设计缺陷或是Micro-LED阵列的延迟问题及参数改变造成的效果等，以便对应做出调整，从而提高显示面板的出光亮度的均一性，进而提升显示装置的显示效果。关于本发明的优点与精神可以藉由以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解。
附图说明
图1所示为根据本发明的显示装置亮度的检测装置的示意图；
图2所示为校正单元板的示意图；
图3所示为根据本发明的显示装置亮度的检测方法的流程示意图。
具体实施方式
请参见图1和图2，本发明提供一种显示装置亮度的检测装置，显示装置包括待测显示面板以及为显示面板提供背光源的背光模组。显示装置亮度的检测装置包括检测单元、控制模组以及处理器模组。其中，检测单元包括载具1以及呈矩阵排列布置于载具1上的多个校正单元板2，其中每一校正单元板2上均设置有光感测器21，且载具1与显示面板的尺寸相同，另外，各校正单元板2在使用前均与显示面板执行黑白校正操作。各校正单元板2均以控制线22连接至控制模组3，控制模组3与处理器模组4相连接。其中，将载具1与显示面板贴近，且显示面板的出光面与该多个校正单元板2上的多个光感测器21的入光面相对，将显示面板的灰阶数据设置为第一灰阶设定值，并开启背光模组，处理器模组4执行计算机指令，通过控制模组3读取各校正单元板2感测到的亮度数据，分析各校正单元板对应的亮度数据，并判断各亮度数据是否存在缺陷。而且，若一校正单元板感测的亮度数据有缺陷，则对该校正单元板对应的背光模组或该显示面板执行亮度调节程序。
其中本实施方式，背光模组包括多个背光单元，多个背光单元与该多个校正单元板分别一一对应。而且每个背光单元中例如设置有多个呈阵列排布的Micro-LED，背光模组中的多个Micro-LED可以形成Micro-LED阵列，从而可以为显示面板提供背光源。例如，显示面板为液晶显示面板。开启该背光模组前，将该多个背光单元的亮度值设置为同一亮度设定值，这样显示面板的对应每一校正单元板的区域接收到的背光源的亮度相同。当背光模组或是显示面板存在缺陷时，例如的灯条偏光设计上的缺陷或是Micro-LED阵列的延迟问题等，即可从校正单元板感测到亮度数据中体现。
另外，需要说明的是，图1中示出了载具1上设置有多个校正单元板2，但本发明并不以图1中载具1上的校正单元板2的具体数量为限制，使用者可根据实际情况选择校正单元板的数量。
此外，处理器模组4还包括存储器，该存储器用以存储上述亮度调节程序。处理器模组例如为计算机装置，处理器为CPU。存储器可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。处理器模组可以调用存储在存储器中的计算机指令以及亮度调节程序。
另外，上述光感测器例如为光感应薄膜晶体管、电荷耦合元件或者互补金属氧化物半导体元件。以光感测器为光感应薄膜晶体管为例，光感应薄膜晶体管用于产生与显示面板的亮度数据相对应的感测信号；此种情况下，还包括数据处理模组，数据处理模组的输入端连接该控制模组并对该感测信号进行滤波放大及模数转换处理，数据处理模块的输出端连接该处理器模组并输出处理后的感测信号；该数据处理模组包括放大滤波模组及模数转换模组，放大滤波模组用以将感测信号进行信号放大和滤波降噪处理；数模转换模组用以将处理后的模拟信号转换为数字信号即为亮度数据。但本发明并不以此为限，具体可根据选择的光感测器种类来设定。
而且，请参见图3，图3所示为根据本发明的显示装置亮度的检测方法的流程示意图，本发明还提供一种显示装置亮度的检测方法，该检测方法采用上述检测装置执行，且该检测方法包括以下步骤：
步骤S1：将多个校正单元板呈矩阵排列布置于载具上，每一校正单元板上均设置有光感测器，且各校正单元板均连接至控制模组；其中较佳地，该载具与显示面板的尺寸相同，且各校正单元板均以控制线连接至控制模组,另外各校正单元板在使用前均与该显示面板执行黑白校正操作；
步骤S2：将该载具与该显示面板贴近；
步骤S3：将该显示面板的灰阶数据设置为第一灰阶设定值，并开启该背光模组；
步骤S4：通过该控制模组读取各校正单元板感测到的亮度数据，在背光模组发光时，多个校正单元板能获取各自对应的显示面板的区域的出光亮度值；以及
步骤S5：分析各校正单元板对应的亮度数据，并判断各亮度数据是否存在缺陷。
而且，若一校正单元板感测的亮度数据有缺陷，则对校正单元板对应的背光模组或显示面板执行亮度调节程序。
综上所述，本发明将多个校正单元板矩阵排列于载具上，再将载具与待测显示面板相对贴近，利用处理器模组执行计算机指令，通过控制模组读取各校正单元板的亮度数据，能够快速发现显示面板或是背光模组的设计缺陷，尤其可以实时检视灯条偏光设计缺陷或是Micro-LED阵列的延迟问题及参数改变造成的效果等，以便对应做出调整，从而提高显示面板的出光亮度的均一性，进而提升显示装置的显示效果。
藉由以上较佳具体实施例的详述，是希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施例来对本发明的保护范围加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的权利要求的保护范围内。因此，本发明所申请的权利要求的保护范围应该根据上述的说明作最宽广的解释，以致使其涵盖所有可能的改变以及具相等性的安排。
Claims (10)
1.一种显示装置亮度的检测方法，该显示装置包括显示面板以及为该显示面板提供背光源的背光模组，其特征在于，该检测方法包括以下步骤：
将多个校正单元板呈矩阵排列布置于载具上，每一该校正单元板上均设置有光感测器，且每一该校正单元板均连接至该控制模组；
将该载具与该显示面板贴近，且该显示面板的出光面与该多个校正单元的光感测器的入光面相对；
将该显示面板的灰阶数据设置为第一灰阶设定值，并开启该背光模组；
通过该控制模组读取每一该校正单元板感测到的亮度数据；以及
分析每一该校正单元板对应的亮度数据，并判断每一该亮度数据是否存在缺陷。
2.如权利要求1所述的显示装置亮度的检测方法，其特征在于，该载具与该显示面板的尺寸相同，每一该校正单元板在使用前均与该显示面板执行黑白校正操作。
3.如权利要求1所述的显示装置亮度的检测方法，其特征在于，该背光模组包括多个背光单元，该多个背光单元与该多个校正单元板分别一一对应。
4.如权利要求3所述的显示装置亮度的检测方法，其特征在于，开启该背光模组前，将该多个背光单元的亮度值设置为同一亮度设定值。
5.如权利要求1所述的显示装置亮度的检测方法，其特征在于，该检测方法还包括以下步骤：每一该校正单元板均以控制线连接至该控制模组，若其中一该校正单元板感测的该亮度数据有缺陷，则对该校正单元板对应的背光模组或该显示面板执行亮度调节程序。
6.如权利要求1所述的显示装置亮度的检测方法，其特征在于，该光感测器为光感应薄膜晶体管、电荷耦合元件或者互补金属氧化物半导体元件。
7.一种显示装置亮度的检测装置，该显示装置包括显示面板以及为该显示面板提供背光源的背光模组，其特征在于，该检测装置包括：
检测单元，包括载具以及呈矩阵排列布置于该载具上的多个校正单元板，其中每一该校正单元板上均设置有光感测器，且每一该校正单元板在使用前均与该显示面板执行黑白校正操作；
控制模组，每一该校正单元板均连接至该控制模组；以及
处理器模组，该控制模组与该处理器模组相连接；
其中，将该载具与该显示面板贴近，将该显示面板的灰阶数据设置为第一灰阶设定值，并开启该背光模组，该处理器模组执行计算机指令，通过该控制模组读取各校正单元板感测到的亮度数据，分析每一该校正单元板对应的亮度数据，并判断每一该亮度数据是否存在缺陷。
8.如权利要求7所述的显示装置亮度的检测装置，其特征在于，该载具与该显示面板的尺寸相同，该背光模组包括多个背光单元，该多个背光单元与该多个校正单元板分别一一对应，开启该背光模组前，将该多个背光单元的亮度值设置为同一亮度设定值。
9.如权利要求7所述的显示装置亮度的检测装置，其特征在于，每一该校正单元板均以控制线连接至该控制模组，若其中一该校正单元板感测对应的亮度数据有缺陷，则对该校正单元板对应的背光模组或该显示面板执行亮度调节程序。
10.如权利要求9所述的显示装置亮度的检测装置，其特征在于，该处理器模组还包括存储器，该存储器用以存储该亮度调节程序。
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