CN110389297A - 一种新型测试板及测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种新型测试板及测试装置，新型测试板包括：叠设的两个以上测试板；沿着叠设方向相邻设置的一对测试板可拆卸式连接；至少两个以上测试板适用于不同类型PCB。本发明无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB，大大节约的企业的设备成本。

Description

一种新型测试板及测试装置

技术领域

本发明涉及测试板技术领域，尤指一种新型测试板及测试装置。

背景技术

随着科技的发展，通讯产品多种多样，导致通讯产品的核心部件-PCB的类型也是多种多样，但现有的一些测试板由于使用局限性较大，只能放置某种特定尺寸PCB，根本不适用目前日趋多尺寸的PCB产品，导致通讯产品的公司需要购置多类型的测试板以及与该测试板相适配的测试台以满足其产品日益多样化的测式需求。如申请人目前需要同时使用93000平台和Ultra-flex平台来实现两种类型的PCB的测试，且每一个探针台配置的是各自的多个测试板，而每一个测试板对应一种PCB；当每一台探针台需要测试不同类型的PCB时，都需要将之前的测试板从探针台上拆卸下来再安装适用待测试PCB的测试板，由于现有的测试板是通过两条分设于测试板相对两侧的导轨进行固定，因此，每次更换测试板都需要将导轨从探针台拆卸下来再安装，但两条平行导轨的平行度很难控制，很容易导致测试板安装出现偏移，测试板实际安装位置与设计安装位置出现偏差，这样探针的移动轨迹(基于设计安装位置的基准点)与PCB实际位置不匹配，导致测试容易失真、甚至失败，测试效率低且对测试板安装精准度要求高，导致更换测试板时需要消耗较长的时间进行定位，更换测试板的效率低。

发明内容

本发明的目的是提供一种新型测试板及测试装置，无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB，大大节约的企业的设备成本。

本发明提供的技术方案如下：

一种新型测试板，包括：

叠设的两个以上测试板；

沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板可拆卸式连接；

至少两个以上所述测试板适用于不同类型PCB。

本技术方案中，叠设的测试板相互间可拆卸式连接，使得本发明只需于测试台安装一次以实现精准安装，后期需要对不同类型PCB进行测试时，只需将与该PCB对应的测试板显露出来，移除不适用该PCB的测试板即可，无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB(只需通过改变编程即可实现一台测试台测试多种类型PCB)，无需企业因要测试多种PCB需购置多种测试台，大大节约的企业的设备成本，提高了测试台的使用频率。

进一步优选地，一个以上所述测试板为框架结构；所述框架结构的一个以上中空位置用于容设PCB的电子元器件；所述框架结构的一个以上框条设有与PCB的定位孔对应的第一连接孔；一连接件依次贯穿对应设置的所述定位孔和所述第一连接孔以实现PCB与所述测试板的连接。

本技术方案中，满足了PCB远离探针一侧的板面设有电子元器件的PCB，从而使得本发明同时也适用于PCB远离探针一侧的板面没有电子元器件的PCB；同时还节省了每一测试板的制作原材料，并降低了每一测试板的重量；使得本发明成本低且便于搬运、拆装，适用范围广，实用性强。更优的，连接件与定位孔和第一连接孔的配合，提高了PCB与测试板的连接紧固性和稳定性，避免测试过程中PCB出现位移现象，从而保证了测试的顺利进行以及测试结果的精准性和科学性(测试过程中出现偏移可能会导致测试点测试失败)。

进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板设于所述第二测试板的下方；所述第一测试板设有避空部，所述避空部为所述第二测试板的防呆标识。

本技术方案中，避空部的设置降低了本发明的制作难度和制作成本，更优的，避空部还可作为设置该测试板上方的测试板的防呆标识，从而降低了本发明更换测试板的难度，无需专业人员进行更换(如果没有防呆标识，需要专业人员根据待测的PCB类型来安装测试板)，节约人力成本的投入的同时，进一步缩短了测试板更换所耗时间。

进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板和所述第二测试板的接触处设有两组以上限位组件；所述限位组件包括相适配的限位孔和限位柱；所述限位孔设于所述第一测试板，所述限位柱设于所述第二测试板。

本技术方案中，限位孔和限位柱降低了相邻设置的两个测试板安装过程中的对位难度，只需将其对准并使得限位柱插入限位孔中便可实现该两个测试板的初步定位，进一步缩短了测试板安装所需时间。

进一步优选地，叠设于最下方的测试板为与测试台连接的底部测试板；所述底部测试板设有两个以上用于与测试台第二连接孔。

本技术方案中，通过第二连接孔实现本发明与测试台的固定与连接，实现方式简便且易于实现和操作。

进一步优选地，所述第二连接孔为长条孔；或，所述第二连接孔为长条孔，两个以上所述长条孔的延展方向平行；或，所述第二连接孔为长条孔，两个以上所述长条孔的延展方向平行，两个以上所述长条孔的延展方向呈角度设置，所述长条孔的总数量为三个以上；或，所述底部测试板设有便于人体握持的握持部。

本技术方案中，长条孔提高了测试台与本发明之间的安装误差和制造误差容忍度，进而降低了本发明和测试台的制作要求，提高了本发明和测试台的合格率，从而降低了成本。而通过多个延展方向不同的长条孔，大大限制了本发明于测试台的偏移量，从而提高了本发明与测试台的连接紧固性和牢靠性。

进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板设有两个以上第三连接孔，所述第二测试板对应每一所述第三连接孔的位置设有一第四连接孔；一连接件依次贯穿对应设置的所述第三连接孔和第四连接孔以实现所述第一测试板和所述第二测试板的连接。

本技术方案中，相邻设置的两个测试板通过相互配合的连接件、第三连接孔和第四连接孔实现可拆卸式连接，连接紧固、牢靠，且易于实现和操作。

进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板和所述第二测试板的接触处设有凹凸配合结构。

本技术方案中，凹凸配合的可拆卸方式便于测试板的更换，缩短测试板更换时间。

进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板和所述第二测试板磁吸式连接。

本技术方案中，磁吸式方式易于实现和操作。

本发明还提供了一种测试装置，包括：

上述任意一项所述的新型测试板；以及，

测试台；

所述测试台包括用于放置所述新型测试板的测试平台以及用于安装探针并带动所述探针测试放置于所述新型测试板的其中一测试板的PCB。

本技术方案中，只需于测试台精准安装一次本新型测试板，后期需要对不同类型PCB进行测试时，只需将与该PCB对应的测试板显露出来，移除不适用该PCB的测试板即可，无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB(只需通过改变编程即可实现一台测试台测试多种类型PCB)，无需企业因要测试多种PCB需购置多种测试台，大大节约的企业的设备成本，提高了测试台的使用频率。

本发明提供的一种新型测试板及测试装置，能够带来以下至少一种有益效果：

1、本发明中，只需于测试台精准安装一次本新型测试板，后期需要对不同类型PCB进行测试时，只需将与该PCB对应的测试板显露出来，移除不适用该PCB的测试板即可，无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB(只需通过改变编程即可实现一台测试台测试多种类型PCB)，无需企业因要测试多种PCB需购置多种测试台，大大节约的企业的设备成本，提高了测试台的使用频率。

2、本发明中，框架结构满足了PCB远离探针一侧的板面设有电子元器件的PCB，从而使得本发明同时也适用于PCB远离探针一侧的板面没有电子元器件的PCB；同时还节省了每一测试板的制作原材料，并降低了每一测试板的重量；使得本发明成本低且便于搬运、拆装，适用范围广，实用性强。更优的，连接件与定位孔和第一连接孔的配合，提高了PCB与测试板的连接紧固性和稳定性，避免测试过程中PCB出现位移现象，从而保证了测试的顺利进行以及测试结果的精准性和科学性(测试过程中出现偏移可能会导致测试点测试失败)。

3、本发明中，沿叠设方向设置的一对测试板的可拆卸式连接方式多种多样，具体可根据不同客户需求进行设置，满足不同测试需求和客户需求。

附图说明

下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对新型测试板及测试装置的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。

图1是本发明的新型测试板的一种实施例结构示意图；

图2是图1的主视图结构示意图；

图3是图2的前视图结构示意图；

图4是图2的左视图结构示意图；

图5是图2的仰视图结构示意图；

图6是本发明的新型测试板的相邻设置的一对测试板的一种连接方式结构示意图；

图7是本发明的新型测试板的相邻设置的一对测试板的另一种连接方式结构示意图。

附图标号说明：

1.第一测试板，11.中空位置，12.框条，121.第一连接孔，13.避空部，14.限位孔，151.长条孔，152.第三连接孔，153.第一磁吸件，154.凸起，16.握持部，2.第二测试板，21.限位柱，22.第四连接孔，23.第二磁吸件，24.凹槽，3.连接件。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

为使图面简洁，各图中的只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。

在本文中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明的一个实施例中，如图1-7所示，一种新型测试板，包括：叠设的两个以上测试板；沿着叠设方向相邻设置的一对测试板可拆卸式连接；至少两个以上测试板适用于不同类型PCB。在实际应用中，在安装本发明的新型测试板时，只需精准安装一次本发明设于最下方(即最靠近测试台一侧的测试板，或者最远离探针一侧的测试板)的测试板即可，当需要更换待测PCB时，则只需将与该类型PCB对应的测试板显露出来，即将该测试板安装上去或者将覆盖在该测试板的其他测试板整体从该测试板拆除即可，本发明的新型测试板可集不同测试台的测试板，这样本发明的新型测试板可适用于任一测试台并完成多种类型PCB的测试，打破了现有一种测试台每次测试一种PCB需要重新对测试板进行拆卸、安装、精准定位的固有步骤，以及一种测试台只能测试一种或特定几种PCB的僵局，缩短并节约了更换测试板的流程和时间，同时，实现了一种测试台可测试其他测试台才能测试的PCB，本发明的新型测试板不再仅适用一种测试台，而是适用于所有种类的测试台，适用范围和适用范围也大大提高。值得说明的是，本发明的测试板的数量为两个或两个以上。且每一测试板适用于一种PCB或一类PCB(即PCB靠近测试板一侧的电子元器件的布置相同：没有布置电子元器件或者电子元器件的布局相同)。

在本发明的另一实施例中，如图1和2所示，在上述任一实施例的基础上，一个以上测试板为框架结构；框架结构的一个以上中空位置11用于容设PCB的电子元器件；框架结构的一个以上框条12设有与PCB的定位孔对应的第一连接孔121；一连接件3依次贯穿对应设置的定位孔和第一连接孔121以实现PCB与测试板的连接。在实际应用中，当PCB靠近测试板一侧的板面没有设置电子元器件时，则测试板可为板状结构，但也应属于本发明的保护范围；不管PCB靠近测试板一侧的板面有没有设置电子元器件均适用于测试板为框架结构。框架结构的中空位置11可仅用于容设电子元器件；框架结构除了用于容设电子元器件时，也可仅作为降低测试板重量的镂空布置。当一测试板仅适用于一种PCB时，则对应设置的定位孔和第一连接孔121的数量优选为两个以上，当对应设置的定位孔和第一连接孔121的数量优选为三个以上，则三个以上的定位孔中的一个以上定位孔位于其他两个以上定位孔的连线的外侧，以提高PCB与测试板连接的牢固性和稳定性，降低PCB于测试板在测试过程中发生位移现象。当然，两个以上测试板中的一个以上测试板为板状结构，一个以上为框架结构亦可。不同测试板的第一连接孔121的数量、位置可相同或不同。且不同测试板的尺寸也可相同或不同。每一测试板或不同测试板的各个中空位置11的尺寸可相同或不同；每一测试板或不同测试板的各个框条12的尺寸可相同或不同。

在本发明的另一实施例中，如图1和2所示，在上述任一实施例的基础上，沿着叠设方向相邻设置的一对测试板包括第一测试板1和第二测试板2；第一测试板1设于第二测试板2的下方；第一测试板1设有避空部13，避空部13为第二测试板2的防呆标识。在实际应用中，避空部13的数量可为一个以上，对应的防呆标识为一个或一个以上均可，以实现能够快速辨识测试板安装准确即可。避空部13可位于第一测试板1的中空位置11或者位于第一测试板1的外侧均可。优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对测试板包括第一测试板1和第二测试板2；第一测试板1和第二测试板2的接触处设有两组以上限位组件；限位组件包括相适配的限位孔14和限位柱21；限位孔14设于第一测试板1，限位柱21设于第二测试板2。值得说明的是，叠设方向可为由上而下，也可为由下而上，因此，限位孔14和限位柱21只需分别设置于相邻设置的两个测试板即可。当然，为了避免产生干涉问题，避空部13和限位组件的设置低于PCB的板面或者在PCB投影的范围外均可。优选地，叠设于最下方的测试板为与测试台连接的底部测试板；底部测试板设有两个以上用于与测试台第二连接孔。在实际应用中，第二连接孔可为圆孔或者长条孔151中的一种或一种以上。优选地，第二连接孔为长条孔151，两个以上长条孔151的延展方向平行。优选地，两个以上长条孔151的延展方向平行，两个以上长条孔151的延展方向呈角度设置，长条孔151的总数量为三个以上。优选地，底部测试板设有便于人体握持的握持部16。值得说明的是，底部测试板可之间安装于测试台，也可通过安装板间接安装于测试台，则此时底部测试板通过连接件3和第二连接孔与安装板连接，而安装板与测试台连接。

在本发明的另一实施例中，如图1-5所示，在上述任一实施例的基础上，沿着叠设方向相邻设置的一对测试板包括第一测试板1和第二测试板2；第一测试板1设有两个以上第三连接孔152，第二测试板2对应每一第三连接孔152的位置设有一第四连接孔22；一连接件3依次贯穿对应设置的第三连接孔152和第四连接孔22以实现第一测试板1和第二测试板2的连接。在实际应用中，第三连接孔152的数量优选为三个以上，并分设于测试板的边角处，避免与PCB产生干涉问题，当然，第三连接孔152也可为沉孔，这样第三连接孔152也可设置于PCB的下方。优选地，限位组件周设于第三连接孔152的外侧，优选地，每一第三连接孔152对应设有一对限位组件。通过连接件3、第三连接孔152和第四连接孔22实现相邻设置的一对测试板的可拆卸式连接。本发明的连接件3可为柱状体或者螺栓、螺丝均可。

当然，沿叠设方向相邻设置的一对测试板也可通过沿叠设方向延展的凹凸配合结构实现可拆卸式连接，凹凸配合结构包括凸起154和凹槽24，当凸起154设置于相邻设置的一对测试板的其中一个测试板上时，则凹槽24设置于相邻设置的一对测试板的另一个测试板上。

沿叠设方向相邻设置的一对测试板还可通过磁吸方式连接，即相邻设置的一对测试板的接触处设有磁性相反的两个磁吸件，即第一磁吸件153和第二磁吸件23，其中，第一磁吸件153设置于于相邻设置的一对测试板的其中一个测试板上时，则第二磁吸件23设置于相邻设置的一对测试板的另一个测试板上，两个磁吸件可均为磁铁；也可为一个为磁铁，另一个为铁，当测试板本身具有磁吸作用时，则只需在其中一个测试板设置磁铁即可。当PCB测试过程中不能与磁吸件接触时，可于磁吸件的外侧喷涂绝缘层或者包裹一层绝缘层亦可。

在本发明的一个实施例中，如图1-7所示，一种测试装置，包括：上述任意一项的新型测试板；以及，测试台；测试台包括用于放置新型测试板的测试平台以及用于安装探针并带动探针测试放置于新型测试板的其中一测试板的PCB。

应当说明的是，上述实施例的测试板可为塑料板、金属板或合金板均可，具体根据实际需要进行设置，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种新型测试板，其特征在于，包括：

叠设的两个以上测试板；

沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板可拆卸式连接；

至少两个以上所述测试板适用于不同类型PCB。

2.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：

一个以上所述测试板为框架结构；

所述框架结构的一个以上中空位置用于容设PCB的电子元器件；

所述框架结构的一个以上框条设有与PCB的定位孔对应的第一连接孔；一连接件依次贯穿对应设置的所述定位孔和所述第一连接孔以实现PCB与所述测试板的连接。

3.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：

沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；

所述第一测试板设于所述第二测试板的下方；

所述第一测试板设有避空部，所述避空部为所述第二测试板的防呆标识。

4.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：

沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；

所述第一测试板和所述第二测试板的接触处设有两组以上限位组件；

所述限位组件包括相适配的限位孔和限位柱；

所述限位孔设于所述第一测试板，所述限位柱设于所述第二测试板。

5.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：

叠设于最下方的测试板为与测试台连接的底部测试板；

所述底部测试板设有两个以上用于与测试台第二连接孔。

6.根据权利要求5所述的新型测试板，其特征在于：

所述第二连接孔为长条孔；或，

所述第二连接孔为长条孔，两个以上所述长条孔的延展方向平行；或，

所述第二连接孔为长条孔，两个以上所述长条孔的延展方向平行，两个以上所述长条孔的延展方向呈角度设置，所述长条孔的总数量为三个以上；或，

所述底部测试板设有便于人体握持的握持部。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的新型测试板，其特征在于：

沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；

所述第一测试板设有两个以上第三连接孔，所述第二测试板对应每一所述第三连接孔的位置设有一第四连接孔；

一连接件依次贯穿对应设置的所述第三连接孔和第四连接孔以实现所述第一测试板和所述第二测试板的连接。

8.根据权利要求1-6任意一项所述的新型测试板，其特征在于：

沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；

所述第一测试板和所述第二测试板的接触处设有凹凸配合结构。

9.根据权利要求1-6任意一项所述的新型测试板，其特征在于：

沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；

所述第一测试板和所述第二测试板磁吸式连接。

10.一种测试装置，其特征在于，包括：

上述1-9任意一项权利要求所述的新型测试板；以及，

测试台；

所述测试台包括用于放置所述新型测试板的测试平台以及用于安装探针并带动所述探针测试放置于所述新型测试板的其中一测试板的PCB。