CN110389173A - 表面检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明的表面检测方法，首先建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型，并且在撷取被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像之后，透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式达到表面检测目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程，以相对更为积极、可靠的手段，避免问题产品连续性产出，以及监控生产线设备的妥善率。

Description

表面检测方法
技术领域
本发明有关一种检测技术，特别是指一种可以缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程需求的表面检测方法。
背景技术
在现今的加工制造领域中，对于产品表面质量检测极为重要，除可藉以检测产品的加工完成度，藉以维护产品的加工质量外，更可藉由产品表面所产生的瑕疵，进一步发现相关的加工设备是否发生异常或耗损。
传统对于产品的表面检测方法多采目视检测方式，一般情况下，质检人员在以目测方式检查产品上、下表面的表面状态之后，即需做出相关的检测判断，其检测结果往往因人而异，且偶有因为落检而无法实时反映产品加工质量的全貌。
随着科技的演进，数位影像辨视能力越来越进步，相关的自动表面检测系统孕育而生，已知透过光学仪器(如红外线扫描仪)扫描的方式，检测产品表面瑕疵；由于光学扫描以点构成线再构成面的方式达到检验目的，必须耗费较长的时间，相对拉长随机采样的间隔，相对较不符合现今自动化连续加工制程需求。
发明内容
有鉴于此，本发明即在提供一种可以缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程需求的表面检测方法。
本发明的表面检测方法，基本上包括下列步骤：(a)建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；(b)设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值，以及利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值；(c)提供一被测物；(d)撷取该被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像，利用至少一超音波成像设备撷取该被测物的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机撷取该被测物的被测物光学影像；(e)比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对，以及透过软体依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对；(f)输出比对结果。
据以，本发明的表面检测方法，可透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式完达到表面检测的目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程。
依据上述技术特征，该至少一超音波图像模型或该至少一光学影像模型可以透过软体建置而成；该超音波图像模型及该光学影像模型相对应于该被测物。
依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像之后，完成该至少一超音波图像模型。
依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像之后，完成该至少一光学影像模型。
依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像，透过软体修饰完成该至少一超音波图像模型。
依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像，透过软体修饰完成该至少一光学影像模型。
该表面检测方法，在比对被测物超音波图像及被测物光学影像时，进一步将该至少一超音波图像模型与被测物光学影像重叠的方式，以及将该至少一光学影像模型与被测物超音波图像重叠的方式，进行交叉比对。
该被测物可为一停滞于一加工生产在线的产品或半成品。
该被测物为一于一加工生产在线移动的产品或半成品。
该被测物为一自一加工生产在线移出的产品或半成品。
该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置。
该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一控制装置。
该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置及至少一控制装置。
本发明所揭露的表面检测方法，主要透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式完达到表面检测目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程，以相对更为积极、可靠的手段，避免问题产品连续性产出，以及监控生产线设备的妥善率。
附图说明
图1为本发明的基本流程图。
图2为本发明可能实施的被测物超音波图像撷取方式及被测物光学影像撷取方式示意图。
图3为本发明当中被测物超音波图像与超音波图像模型的比对状态示意图。
图号说明：
S1 (a)步骤
S2 (b)步骤
S3 (c)步骤
S4 (d)步骤
S5 (e)步骤
S6 (f)步骤
A1 超音波图像模型
A2 被测物超音波图像
10 被测物
20 生产线
30 超音波成像设备
40 数位相机
50 软体
60 传输介面
71 显示装置
72 控制装置。
具体实施方式
本发明主要提供一种可以缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程需求的表面检测方法，请同时配合参照图1及图2所示，本发明的表面检测方法，基本上至少包括下列步骤。
(a)步骤S1建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；原则上，该至少一超音波图像模型或该至少一光学影像模型可以透过软体建置而成；该超音波图像模型及该光学影像模型相对应于该被测物。
(b)步骤S2设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值；利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值。
(c)步骤S3提供一被测物10；于实施时，该被测物可以为一停滞于一加工生产在线的产品或半成品；该被测物10亦可以如图所示，为一于一加工生产线20上移动的产品或半成品；当然，该被测物可以为一自一加工生产在线移出的产品或半成品。
(d)步骤S4撷取该被测物10的被测物超音波图像及被测物光学影像；可如图所示，利用至少一超音波成像设备30撷取该被测物10的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机40撷取该被测物10的被测物光学影像。
(e)步骤S5比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体50依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对；以及，透过软体50依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对。
(f)步骤S6输出比对结果；可透过至少一传输介面60将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面60所连接的装置；于实施时，可透过该至少一传输介面60连接至少一显示装置71，或者透过该至少一传输介面60连接至少一控制装置72；当然，亦可如图所示，透过该至少一传输介面60连接至少一显示装置71及至少一控制装置72，除可利用显示装置71实时呈现比对结果之外，更可利用控制装置72依照比对结果，实时对检测有瑕疵的被测物10加以处置(例如移出生产线或加以剃除)。
本发明的表面检测方法，在比对被测物超音波图像时，可如图3所示，透过软体将该至少一超音波图像模型A1(图中以实线表示)与被测物超音波图像A2(图中以虚线表示)重叠的方式，比对出该至少一超音波图像模型A1与被测物超音波图像A2的差异；同样的，在比对被测物光学影像像时，亦可透过软体将该至少一光学影像模型与被测物光学影像重叠的方式，比对该至少一出光学影像模型与被测物光学影像的差异；当然，亦进一步将该至少一超音波图像模型与被测物光学影像重叠的方式，以及将该至少一光学影像模型与被测物超音波图像重叠的方式，进行交叉比对。
据以，本发明的表面检测方法，可透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式完达到表面检测的目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，进而能够有效缩短随机采样间隔，甚至可逐一对产品或半成品进行检测。尤适合应用于板材冲压加工或无人工厂等自动化连续加工制程，以相对更为积极、可靠的手段，避免问题产品连续性产出，以及监控生产线设备的妥善率。
再者，本发明的表面检测方法，于实施时，可在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像之后，完成该至少一超音波图像模型；以及，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像之后，完成该至少一光学影像模型。
本发明的表面检测方法，亦可在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像，透过软体修饰完成该至少一超音波图像模型；以及，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像，透过软体修饰完成该至少一光学影像模型。
值得一提的是，本发明表面检测方法，在完成比对被测物超音波图像及被测物光学影像之后，可进一步以建立资料库的方式，纪录所有比对结果，并且将比对所得的缺陷特征加以命名，有助于进一步建立有效的缺陷判断法则。
具体而言，本发明所揭露的表面检测方法，主要透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式完达到表面检测目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程，以相对更为积极、可靠的手段，避免问题产品连续性产出，以及监控生产线设备的妥善率。

Claims (13)

1.一种表面检测方法，其特征在于，至少包括下列步骤：
(a)建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；
(b)设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值，以及利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值；
(c)提供一被测物；
(d)撷取该被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像，利用至少一超音波成像设备撷取该被测物的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机撷取该被测物的被测物光学影像；
(e)比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对，以及透过软体依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对；
(f)输出比对结果。
2.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该至少一超音波图像模型或该至少一光学影像模型透过软体建置而成；该超音波图像模型及该光学影像模型相对应于该被测物。
3.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像之后，完成该至少一超音波图像模型。
4.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像之后，完成该至少一光学影像模型。
5.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像，透过软体修饰完成该至少一超音波图像模型。
6.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像，透过软体修饰完成该至少一光学影像模型。
7.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在比对被测物超音波图像及被测物光学影像时，将该至少一超音波图像模型与被测物光学影像重叠的方式，以及将该至少一光学影像模型与被测物超音波图像重叠的方式，进行交叉比对。
8.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该被测物为一停滞于一加工生产在线的产品或半成品。
9.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该被测物为一于一加工生产在线移动的产品或半成品。
10.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该被测物为一自一加工生产在线移出的产品或半成品。
11.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置。
12.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一控制装置。
13.如权利要求1至7其中任一所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置及至少一控制装置。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000230926A (ja) * 1999-02-10 2000-08-22 Kawasaki Steel Corp 欠陥検査方法及び装置
CN101858890A (zh) * 2010-05-14 2010-10-13 东南大学 小尺寸材料浅层缺陷检测系统
CN102590218A (zh) * 2012-01-16 2012-07-18 安徽中科智能高技术有限责任公司 基于机器视觉的金属零件光洁表面微缺陷检测装置及方法
CN102928435A (zh) * 2012-10-15 2013-02-13 南京航空航天大学 基于图像和超声信息融合的飞机蒙皮损伤识别方法及装置
CN102980894A (zh) * 2012-11-13 2013-03-20 上海交通大学 钢结构特种焊接无损检测系统及方法
CN105092705A (zh) * 2015-08-28 2015-11-25 哈尔滨工业大学（威海） 一种钢轨缺陷的多模态信号检测方法及装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000230926A (ja) * 1999-02-10 2000-08-22 Kawasaki Steel Corp 欠陥検査方法及び装置
CN101858890A (zh) * 2010-05-14 2010-10-13 东南大学 小尺寸材料浅层缺陷检测系统
CN102590218A (zh) * 2012-01-16 2012-07-18 安徽中科智能高技术有限责任公司 基于机器视觉的金属零件光洁表面微缺陷检测装置及方法
CN102928435A (zh) * 2012-10-15 2013-02-13 南京航空航天大学 基于图像和超声信息融合的飞机蒙皮损伤识别方法及装置
CN102980894A (zh) * 2012-11-13 2013-03-20 上海交通大学 钢结构特种焊接无损检测系统及方法
CN105092705A (zh) * 2015-08-28 2015-11-25 哈尔滨工业大学（威海） 一种钢轨缺陷的多模态信号检测方法及装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
孙明健: "基于多模态信号的金属材料缺陷无损检测方法", 《物理学报》 *
马占生: "《钢轨探伤》", 31 August 2014, 西南交通大学出版社 *

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