CN110348127B - 一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质。其中，方法包括：获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件；在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；根据对匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。本发明实施例可以防止笔误操作，提高测试用例的生成效率，可以在测试用例的配置界面中展示配置内容，增强可读性。

Description

一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本发明实施例涉及数字集成电路验证领域，尤其涉及一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
在数字集成电路开发过程中，经常需要利用测试平台进行验证。按照事先配置好的测试用例规定的业务，在测试平台上进行测试，获得精确的测试数据，然后对测试数据进行分析，得到数字集成电路的验证结果。
现有技术一般是采用文本编写的方式配置测试用例。配置一条测试用例需要手动编写文本文件。如图1a所示，在文本文件中，写入测试环境中需要配置的3个寄存器的名字：“buf_cfg_cfg”、“rate_ctrl_cfg”以及“rate_ctrl_wm_dev2g5_cfg”；写入需要配置的寄存器“buf_cfg_cfg”的域的名字“aging_ena”，以及与域“aging_ena”匹配的测试值“1”；写入需要配置的寄存器“rate_ctrl_cfg”的域的名字“frm_gap_comp”，以及与域“frm_gap_comp”匹配的测试值“2”；写入需要配置的寄存器“rate_ctrl_wm_dev2g5_cfg”的域的名字“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”，以及与域“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”匹配的测试值“3”。
现有技术的缺陷有如下几点：由于手动编写文本文件，容易发生笔误导致测试用例配置错误，测试用例的生成效率低。例如，发生笔误导致配置的寄存器的名字与测试环境中需要配置的寄存器的名字不完全匹配。同时，手动编写的测试用例的可读性不强。
发明内容
本发明提供一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质，以实现提高测试用例的生成效率，增强测试用例的可读性和可移植性。
第一方面，本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，包括：
获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；
在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；
响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；
根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
第二方面，本发明实施例还提供了一种测试用例的生成装置，包括：
文件获取模块，用于获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；
输入框显示模块，用于在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；
备选提示模块，用于响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；
测试用例生成模块，用于根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序所述处理器执行所述程序时实现如本发明实施例所述的测试用例的生成方法。
第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如本发明实施例所述的测试用例的生成方法。
本发明实施例的技术方案，通过在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框，然后响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示，并根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例，可以响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示，从而可以防止笔误操作，提高测试用例的生成效率，可以在测试用例的配置界面中展示配置内容，增强可读性。
附图说明
图1a为现有技术的一种采用文本编写的方式配置的测试用例的示意图；
图1b为本发明实施例一提供的一种测试用例的生成方法的流程图；
图2为本发明实施例二提供的一种测试用例的生成方法的流程图；
图3为本发明实施例三提供的一种测试用例的生成方法的流程图；
图4a为本发明实施例四提供的一种测试用例的生成方法的流程图；
图4b为本发明实施例四提供的一种电路模块的寄存器文件的配置界面的示意图；
图4c为本发明实施例四提供的一种寄存器文件的示意图；
图4d为本发明实施例四提供的一种测试用例的配置界面的示意图；
图4e为本发明实施例四提供的一种测试用例的示意图；
图5为本发明实施例五提供的一种测试用例的生成方法的流程图；
图6为本发明实施例六提供的一种测试用例的生成装置的结构示意图；
图7为本发明实施例七提供的一种计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。
另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
实施例一
图1b为本发明实施例一提供的一种测试用例的生成方法的流程图。本实施例可适用于生成测试用例的情况，该方法可以由本发明实施例提供的测试用例的生成装置来执行，该装置可采用软件和/或硬件的方式实现，并一般可集成在安装于计算机设备中。
如图1b所示，本实施例的方法具体包括：
步骤101、获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域。
其中，预先配置与各电路模块匹配的至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域，生成与各电路模块匹配的寄存器文件。域是寄存器中的基本单元。一个域包含一个值。
在一个具体实例中，寄存器文件中包括：至少一个可配置的寄存器。根据寄存器文件，可以获取与电路模块匹配的全部可配置的寄存器。
在另一个具体实例中，寄存器文件中包括：至少一个可配置的寄存器，和寄存器中的域。根据寄存器文件，可以获取与电路模块匹配的全部可配置的寄存器，以及各寄存器中的域。
步骤102、在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框。
可选的，配置界面为excel界面。
可选的，配置输入框为选项输入框，选项输入框用于根据对选项输入框的选择，和/或在选项输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。
在一个具体实例中，在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器的配置输入框，以及与选择配置的寄存器匹配的测试值输入框。用于配置寄存器的选项输入框用于根据在选项输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。备选输入内容为可配置寄存器。用户直接在与选择配置的寄存器匹配的测试值输入框中输入数值。
在另一个具体实例中，在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和寄存器中的域的选项输入框，以及与选择配置的寄存器中的域匹配的测试值输入框。用于配置寄存器的选项输入框用于根据在选项输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。备选输入内容为可配置寄存器。用于配置寄存器中的域的选项输入框用于根据在选项输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。备选输入内容为寄存器中的域。用户直接在与选择配置的寄存器中的域匹配的测试值输入框中输入数值。
步骤103、响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示。
在一个具体实例中，响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，作为输入备选在配置界面中进行提示，可以包括：响应于在寄存器配置输入框的选择，将寄存器文件中的全部寄存器在与寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器。
在另一个具体实例中，响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，作为输入备选在配置界面中进行提示，可以包括：响应于在寄存器配置输入框中的输入内容，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器进行匹配；将匹配结果在与寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器。
在另一个具体实例中，响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的寄存器中的域作为输入备选在所述配置界面中进行提示，可以包括：响应于在域配置输入框中的输入内容，获取与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容；如果配置内容为目标寄存器，则实时将输入内容与寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域进行匹配；将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与所述域配置输入框匹配的寄存器中的域。如果配置内容为空，则实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域进行匹配；将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与域配置输入框匹配的寄存器中的域；响应于在域配置输入框中配置的目标域，获取寄存器文件中与目标域对应的寄存器填充于与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中。
步骤104、根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
可选的，根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合。其中，选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域，用于构成测试配置项目的配置参数；对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，用于构成与测试配置项目的配置参数对应的参数值。
然后根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证。具体的，判断配置项目集合中是否包括针对同一配置参数配置至少两个不同参数值的至少两个测试配置项目；判断配置项目集合中是否包括未配置有参数值的测试配置项目；以及判断配置项目集合中是否包括配置参数的参数值与测试用例配置模板中包括的标准配置参数的标准配置范围不匹配的测试配置项目。
如果测试配置项目集合通过合法性验证，则根据测试配置项目集合，生成与电路模块匹配的测试用例。可选的，根据设定文本文件模板，以及测试配置项目集合，自动生成与电路模块匹配的测试用例的文本文件。
如果测试配置项目集合没有通过合法性验证，则将与测试配置项目集合匹配的配置错误提示信息，在配置界面中进行提示。
本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，通过在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框，然后响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示，并根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例，可以响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示，从而可以防止笔误操作，提高测试用例的生成效率，可以在测试用例的配置界面中展示配置内容，方便阅读，增强了可读性。
实施例二
图2为本发明实施例二提供的一种测试用例的生成方法的流程图。本实施例可以与上述一个或者多个实施例中各个可选方案结合，在本实施例中，配置输入框为选项输入框，选项输入框用于根据对选项输入框的选择，和/或在选项输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。
以及，响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，作为输入备选在配置界面中进行提示，可以包括：响应于在寄存器配置输入框中的输入内容，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器进行匹配；将匹配结果在与寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器。
如图2所示，本实施例的方法具体包括：
步骤201、获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器。
步骤202、在测试用例的配置界面中显示寄存器配置输入框，以及与选择配置的寄存器匹配的测试值输入框。
其中，寄存器配置输入框为选项输入框，用于根据在寄存器配置输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。
用户可以直接在与选择配置的寄存器匹配的测试值输入框中输入数值。
步骤203、响应于在寄存器配置输入框中的输入内容，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器进行匹配。
可选的，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器的名字进行匹配，获取名字包含输入内容的寄存器作为匹配结果。例如，实时将输入内容“buf”与寄存器文件中的全部寄存器的名字进行匹配，获取名字包含“buf”的寄存器作为匹配结果。
步骤204、将匹配结果在与寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器。
其中，将匹配结果中的寄存器的名字显示在与寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中。用户可以在下拉菜单中选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器。
步骤205、根据对选择配置的寄存器匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
其中，根据对选择配置的寄存器匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合。其中，选择配置的寄存器，用于构成测试配置项目的配置参数；对选择配置的寄存器匹配的测试值输入框中所输入的测试值，用于构成与测试配置项目的配置参数对应的参数值。然后根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证。
如果测试配置项目集合通过合法性验证，则根据测试配置项目集合，生成与电路模块匹配的测试用例。可选的，根据设定文本文件模板，以及测试配置项目集合，自动生成与电路模块匹配的测试用例的文本文件。
如果测试配置项目集合没有通过合法性验证，则将与测试配置项目集合匹配的配置错误提示信息，在配置界面中进行提示。
本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，通过响应于在寄存器配置输入框中的输入内容，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器进行匹配，然后将匹配结果在与寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器，可以响应于在寄存器配置输入框中的输入内容，输出用于选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器的下拉菜单，可以防止误写操作，解决了手动编写文本文件，容易发生笔误导致配置的寄存器的名字与测试环境中需要配置的寄存器的名字不完全匹配的问题。
实施例三
图3为本发明实施例三提供的一种测试用例的生成方法的流程图。本实施例可以与上述一个或者多个实施例中各个可选方案结合，在本实施例中，响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示，可以包括：响应于在域配置输入框中的输入内容，获取与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容；如果配置内容为目标寄存器，则实时将输入内容与寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域进行匹配；将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与域配置输入框匹配的寄存器中的域。
以及，在获取与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容之后，可以还包括：如果配置内容为空，则实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域进行匹配；将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与域配置输入框匹配的寄存器中的域；响应于在域配置输入框中配置的目标域，获取寄存器文件中与目标域对应的寄存器填充于与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中。
如图3所示，本实施例的方法具体包括：
步骤301、获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和寄存器中的域。
步骤302、在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和寄存器中的域匹配的测试值输入框。
步骤303、响应于在域配置输入框中的输入内容，获取与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容：如果配置内容为目标寄存器，则执行步骤304；如果配置内容为空，则执行步骤306。
其中，在检测到用户在域配置输入框中输入内容时，获取与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容。域配置输入框与寄存器配置输入框关联，域配置输入框中配置的域为关联的寄存器配置输入框中配置的寄存器的一个域。
因此，如果配置内容为目标寄存器，则将寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域作为域配置输入框的输入备选在配置界面中进行提示。如果配置内容为空，则寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域作为域配置输入框的输入备选在配置界面中进行提示。
步骤304、实时将输入内容与寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域进行匹配。
可选的，实时将输入内容与寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域的名字进行匹配，获取名字包含输入内容的域作为匹配结果。例如，实时将输入内容“aging”与寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域的名字进行匹配，获取名字包含“aging”的寄存器作为匹配结果。
步骤305、将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与域配置输入框匹配的寄存器中的域。
其中，将匹配结果中的域的名字显示在与域配置输入框匹配的下拉菜单中。用户可以在下拉菜单中选择与域配置输入框匹配的域。
步骤306、实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域进行匹配。
可选的，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域进行匹配，获取名字包含输入内容的域作为匹配结果。
步骤307、将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与域配置输入框匹配的寄存器中的域。
步骤308、响应于在域配置输入框中配置的目标域，获取寄存器文件中与目标域对应的寄存器填充于与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中。
其中，域配置输入框中配置的域为关联的寄存器配置输入框中配置的寄存器的一个域。在域配置输入框中配置的目标域属于关联的寄存器配置输入框中配置的寄存器。因此，可以将寄存器文件中与目标域对应的寄存器填充于与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中，确定为关联的寄存器配置输入框中配置的寄存器。
步骤309、根据对选择配置的寄存器，和寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
可选的，根据对选择配置的寄存器，和寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合。其中，选择配置的寄存器，和寄存器中的域，用于构成测试配置项目的配置参数；对选择配置的寄存器，和寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，用于构成与测试配置项目的配置参数对应的参数值。然后根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证。
如果测试配置项目集合通过合法性验证，则根据测试配置项目集合，生成与电路模块匹配的测试用例。可选的，根据设定文本文件模板，以及测试配置项目集合，自动生成与电路模块匹配的测试用例的文本文件。
如果测试配置项目集合没有通过合法性验证，则将与测试配置项目集合匹配的配置错误提示信息，在配置界面中进行提示。
本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，通过响应于在域配置输入框中的输入内容，获取与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容；在配置内容为目标寄存器时，实时将输入内容与寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域的匹配结果，在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示；在配置内容为空时，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域的匹配结果，在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，并响应于在域配置输入框中配置的目标域，获取与目标域对应的寄存器填充于与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中，可以根据在域配置输入框中的输入内容，以及与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容，输出用于选择与域配置输入框匹配的域的下拉菜单，可以防止误写操作，解决了手动编写文本文件，容易发生笔误导致配置的寄存器中的域与测试环境中需要配置的寄存器中的域的名字不完全匹配，配置的寄存器的名字与测试环境中需要配置的寄存器的名字不完全匹配的问题。
实施例四
图4a为本发明实施例四提供的一种测试用例的生成方法的流程图。本实施例可以与上述一个或者多个实施例中各个可选方案结合，在本实施例中，寄存器文件可以还包括：与至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息。
在响应于对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例之前，可以还包括：将寄存器文件中与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息，在配置界面中进行提示，以指导对测试值输入框的输入。
如图4a所示，本实施例的方法具体包括：
步骤401、获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域。
步骤402、在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框。
步骤403、将寄存器文件中与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息，在配置界面中进行提示，以指导对测试值输入框的输入。
在一个具体实例中，将寄存器文件中与选择配置的寄存器，和寄存器中的域匹配的配置提示信息，在配置界面中进行提示，以指导对测试值输入框的输入。配置提示信息包括：寄存器的深度，寄存器中的域的位宽。
在另一个具体实例中，可选的，将寄存器文件中与选择配置的寄存器匹配的配置提示信息，在配置界面中进行提示，以指导对测试值输入框的输入。配置提示信息包括：寄存器的功能信息。功能信息用于描述寄存器实现的功能。
步骤404、响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示。
步骤405、根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
图4b为本发明实施例四提供的一种电路模块的寄存器文件的配置界面的示意图。配置需要配置的电路模块“dsm”的寄存器文件位置为“5886\vrf\common\tools\pat_gen_no_table\lib\dsm.xlsx”。
图4c为本发明实施例四提供的一种寄存器文件的示意图。如图4c所示，寄存器文件的第一列为与电路模块对应的全部可配置寄存器的名字。寄存器文件的第二列为寄存器的功能信息。
图4d为本发明实施例四提供的一种测试用例的配置界面的示意图。如图4d所示，电路模块“dsm”的测试用例包括3个测试配置项目。
第一个测试配置项目中，配置的寄存器的名字为“buf_cfg_cfg”，配置的域的名字为“aging_ena”，与域“aging_ena”匹配的测试值为“1”。第一个测试配置项目的配置提示信息包括：寄存器“buf_cfg_cfg”的深度“REG DEPTH：2”，寄存器中的域“aging_ena”的位宽“FILED WIDTH：32”。
第二个测试配置项目中，配置的寄存器的名字为“rate_ctrl_cfg”，配置的域的名字为“frm_gap_comp”，与域“frm_gap_comp”匹配的测试值为“2”。第二个测试配置项目的配置提示信息包括：寄存器“rate_ctrl_cfg”的深度“REG DEPTH：56”，寄存器中的域“frm_gap_comp”的位宽“FILED WIDTH：8”。
第三个测试配置项目中，配置的寄存器的名字为“rate_ctrl_wm_dev2g5_cfg”，配置的域的名字为“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”，与域“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”匹配的测试值为“3”。第二个测试配置项目的配置提示信息包括：寄存器“rate_ctrl_wm_dev2g5_cfg”的深度“REG DEPTH：12”，寄存器中的域“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”的位宽“FILED WIDTH：8”。
图4e为本发明实施例四提供的一种测试用例的示意图。如图4e所示，测试用例的文本文件中配置了3个测试配置项目。第一个测试配置项目中，配置的寄存器的名字为“buf_cfg_cfg”，配置的域的名字为“aging_ena”，与域“aging_ena”匹配的测试值为“1”。第二个测试配置项目中，配置的寄存器的名字为“rate_ctrl_cfg”，配置的域的名字为“frm_gap_comp”，与域“frm_gap_comp”匹配的测试值为“2”。第三个测试配置项目中，配置的寄存器的名字为“rate_ctrl_wm_dev2g5_cfg”，配置的域的名字为“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”，与域“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”匹配的测试值为“3”。
本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，通过将寄存器文件中与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息，在配置界面中进行提示，以指导对测试值输入框的输入，可以根据选择配置的寄存器和寄存器中的域的相关信息给出提示信息，指导对测试值输入框的输入，避免所输入的测试值超出标准配置范围。
实施例五
图5为本发明实施例五提供的一种测试用例的生成方法的流程图。本实施例可以与上述一个或者多个实施例中各个可选方案结合，在本实施例中，根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例，可以包括：根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合；其中，选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域，用于构成测试配置项目的配置参数；对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，用于构成与测试配置项目的配置参数对应的参数值；根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证；如果测试配置项目集合通过合法性验证，则根据测试配置项目集合，生成与电路模块匹配的测试用例。
如图5所示，本实施例的方法具体包括：
步骤501、获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域。
步骤502、在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框。
步骤503、响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示。
步骤504、根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合。
其中，选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域，用于构成测试配置项目的配置参数。对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，用于构成与测试配置项目的配置参数对应的参数值。
如图4d所示，配置的寄存器的名字“buf_cfg_cfg”，以及配置的域的名字“aging_ena”，构成第一个测试配置项目的配置参数。与域“aging_ena”匹配的测试值“1”构成与第一个测试配置项目的配置参数对应的参数值。
可选的，根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合，可以包括：如果预先输入的随机模式为第一模式，则获取与当前处理的测试值输入框对应的唯一测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值；如果预先输入的随机模式为第二模式，则获取与当前处理的测试值输入框对应的多个测试值，并在多个测试值中随机选取目标测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值。
随机模式是根据与当前处理的测试值输入框对应的唯一测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值的模式。
预先根据各寄存器的测试值属性，输入与寄存器匹配的测试值输入框的随机模式。如果寄存器需要设置一个确定的测试值，则输入的随机模式为第一模式。例如，寄存器中的测试值为灯的开关状态，寄存器中的测试值为“开”或者“关”中的一个。如果寄存器不需要设置一个确定的测试值，仅需在一定的数值范围内随机选取一个测试值即可，则输入的随机模式为第二模式。
预先根据各域的测试值属性，输入与域匹配的测试值输入框的随机模式。如果域需要设置一个确定的测试值，则输入的随机模式为第一模式。如果域不需要设置一个确定的测试值，仅需在一定的数值范围内随机选取一个测试值即可，则输入的随机模式为第二模式。
在一个具体实例中，预先输入的随机模式为第一模式。测试值输入框中所输入的测试值是唯一测试值。获取与当前处理的测试值输入框对应的唯一测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值。例如，预先输入的随机模式为第一模式。测试值输入框中所输入的测试值是唯一测试值“1”。获取与当前处理的测试值输入框对应的唯一测试值“1”作为与测试配置项目的配置参数对应的参数值。
在另一个具体实例中，预先输入的随机模式为第二模式。测试值输入框中所输入的测试值是多个测试值。获取当前处理的测试值输入框中的多个测试值，并在多个测试值中随机选取一个目标测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值。例如，预先输入的随机模式为第二模式。测试值输入框中所输入的测试值是多个测试值：2，4，6，8。随机从多个测试值中选取一个目标测试值“2”，作为与测试配置项目的配置参数对应的参数值。
在另一个具体实例中，预先输入的随机模式为第二模式。测试值输入框中所输入的测试值是一个数值区间。获取当前处理的测试值输入框中的数值区间所对应的多个测试值，并在多个测试值中随机选取一个目标测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值。例如，预先输入的随机模式为第二模式。测试值输入框中所输入的测试值是[2,8]。获取当前处理的测试值输入框中的数值区间所对应的多个测试值：2，3，4，5，6，7，8，并在多个测试值中随机选取一个目标测试值“7”，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值。
步骤505、根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证：如果测试配置项目集合通过合法性验证，则执行步骤506；如果测试配置项目集合没有通过合法性验证，则执行步骤507。
可选的，根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证，可以包括下述至少一项：判断配置项目集合中是否包括针对同一配置参数配置至少两个不同参数值的至少两个测试配置项目；判断配置项目集合中是否包括未配置有参数值的测试配置项目；以及判断配置项目集合中是否包括配置参数的参数值与测试用例配置模板中包括的标准配置参数的标准配置范围不匹配的测试配置项目。
判断配置项目集合中是否包括针对同一配置参数配置至少两个不同参数值的至少两个测试配置项目。例如，判断配置项目集合中是否包括针对同一寄存器配置至少两个不同参数值的至少两个测试配置项目，是否包括针对同一寄存器中的域配置至少两个不同参数值的至少两个测试配置项目。
预先设置测试用例配置模板。测试用例配置模板中包括标准配置参数的标准配置范围。标准配置范围是标准配置参数的参数值的数值范围。
步骤506、根据测试配置项目集合，生成与电路模块匹配的测试用例。
可选的，根据设定文本文件模板，以及测试配置项目集合，自动生成与电路模块匹配的测试用例的文本文件。
步骤507、将与测试配置项目集合匹配的配置错误提示信息，在配置界面中进行提示。
其中，将与测试配置项目集合匹配的配置错误提示信息，在配置界面中进行提示，以使用户对测试配置项目集合中的配置参数或者参数值进行修改。
本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，通过根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合，然后根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证，如果测试配置项目集合通过合法性验证，则根据测试配置项目集合，生成与电路模块匹配的测试用例，可以在生成与电路模块匹配的测试用例时，检查所配置的信息是否有缺漏与错误。
实施例六
图6为本发明实施例六提供的一种测试用例的生成装置的结构示意图，如图6所示，所述装置包括：文件获取模块601、输入框显示模块602、备选提示模块603以及测试用例生成模块604。
其中，文件获取模块601，用于获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；输入框显示模块602，用于在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；备选提示模块603，用于响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；测试用例生成模块604，用于根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
本发明实施例提供了一种测试用例的生成装置，通过在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框，然后响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示，并根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例，可以响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示，从而可以防止笔误操作，提高测试用例的生成效率，可以在测试用例的配置界面中展示配置内容，增强可读性。
在上述各实施例的基础上，配置输入框可以为选项输入框，选项输入框用于根据对选项输入框的选择，和/或在选项输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。
在上述各实施例的基础上，备选提示模块603可以包括：第一匹配单元，用于响应于在寄存器配置输入框中的输入内容，实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器进行匹配；第一提示单元，用于将匹配结果在与寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与寄存器配置输入框匹配的寄存器。
在上述各实施例的基础上，备选提示模块603可以包括：配置内容获取单元，用于响应于在域配置输入框中的输入内容，获取与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容；第二匹配单元，用于如果配置内容为目标寄存器，则实时将输入内容与寄存器文件中与目标寄存器对应的全部域进行匹配；第二提示单元，用于将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与域配置输入框匹配的寄存器中的域。
在上述各实施例的基础上，备选提示模块603可以包括：第三匹配单元，用于如果配置内容为空，则实时将输入内容与寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域进行匹配；第三提示单元，用于将匹配结果在与域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在下拉菜单选择与域配置输入框匹配的寄存器中的域；寄存器填充单元，用于响应于在域配置输入框中配置的目标域，获取寄存器文件中与目标域对应的寄存器填充于与域配置输入框关联的寄存器配置输入框中。
在上述各实施例的基础上，寄存器文件可以还包括：与至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息；测试用例的生成装置可以还包括：信息提示模块，用于将寄存器文件中与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息，在配置界面中进行提示，以指导对测试值输入框的输入。
在上述各实施例的基础上，测试用例生成模块604可以包括：集合构造单元，用于根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合；其中，选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域，用于构成测试配置项目的配置参数；对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，用于构成与测试配置项目的配置参数对应的参数值；集合验证单元，用于根据电路模块的测试用例配置模板，对测试配置项目集合进行合法性验证；测试用例生成单元，用于如果测试配置项目集合通过合法性验证，则根据测试配置项目集合，生成与电路模块匹配的测试用例。
在上述各实施例的基础上，集合验证单元可以包括：第一判断子单元，用于判断配置项目集合中是否包括针对同一配置参数配置至少两个不同参数值的至少两个测试配置项目；第二判断子单元，用于判断配置项目集合中是否包括未配置有参数值的测试配置项目；以及第三判断子单元，用于判断配置项目集合中是否包括配置参数的参数值与测试用例配置模板中包括的标准配置参数的标准配置范围不匹配的测试配置项目。
在上述各实施例的基础上，集合构造单元可以包括：第一构造子单元，用于如果预先输入的随机模式为第一模式，则获取与当前处理的测试值输入框对应的唯一测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值；第二构造子单元，用于如果预先输入的随机模式为第二模式，则获取与当前处理的测试值输入框对应的多个测试值，并在多个测试值中随机选取目标测试值，构造与测试配置项目的配置参数对应的参数值。
上述测试用例的生成装置可执行本发明任意实施例所提供的测试用例的生成方法，具备执行测试用例的生成方法相应的功能模块和有益效果。
实施例七
图7为本发明实施例七提供的一种计算机设备的结构示意图。图7示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性计算机设备12的框图。图7显示的计算机设备12仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图7所示，计算机设备12以通用计算设备的形式表现。计算机设备12的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器16，存储器28，连接不同系统组件(包括存储器28和处理器16)的总线18。
总线18表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线，微通道体系结构(MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。
计算机设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被计算机设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。
存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(RAM)30和/或高速缓存存储器32。计算机设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图7未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图7中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM，DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。
具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如存储器28中，这样的程序模块42包括——但不限于——操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。
计算机设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该计算机设备12交互的设备通信，和/或与使得该计算机设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且，计算机设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器20通过总线18与计算机设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图7中未示出，可以结合计算机设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
处理器16通过运行存储在存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，实现本发明实施例所提供的测试用例的生成方法：获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
实施例八
本发明实施例八提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时，实现本发明实施例所提供的测试用例的生成方法：获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。
可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括——但不限于——电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括——但不限于——无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种测试用例的生成方法，其特征在于，包括：
获取需要配置测试用例的电路模块，以及与所述电路模块匹配的寄存器文件，所述寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；
在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；
响应于对所述配置输入框的操作，将所述寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在所述配置界面中进行提示；
根据对所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与所述电路模块匹配的测试用例。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：
所述配置输入框为选项输入框，所述选项输入框用于根据对所述选项输入框的选择，和/或在所述选项输入框中输入的内容，提供备选输入内容供用户选择输入。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，响应于对所述配置输入框的操作，将所述寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，作为输入备选在所述配置界面中进行提示，包括：
响应于在寄存器配置输入框中的输入内容，实时将所述输入内容与所述寄存器文件中的全部寄存器进行匹配；
将匹配结果在与所述寄存器配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在所述下拉菜单选择与所述寄存器配置输入框匹配的寄存器。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，响应于对所述配置输入框的操作，将所述寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的寄存器中的域作为输入备选在所述配置界面中进行提示，包括：
响应于在域配置输入框中的输入内容，获取与所述域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容；
如果所述配置内容为目标寄存器，则实时将所述输入内容与所述寄存器文件中与所述目标寄存器对应的全部域进行匹配；
将匹配结果在与所述域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在所述下拉菜单选择与所述域配置输入框匹配的寄存器中的域。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在获取与所述域配置输入框关联的寄存器配置输入框中的配置内容之后，还包括：
如果所述配置内容为空，则实时将所述输入内容与所述寄存器文件中的全部寄存器对应的全部域进行匹配；
将匹配结果在与所述域配置输入框匹配的下拉菜单中进行提示，供用户在所述下拉菜单选择与所述域配置输入框匹配的寄存器中的域；
响应于在所述域配置输入框中配置的目标域，获取所述寄存器文件中与所述目标域对应的寄存器填充于与所述域配置输入框关联的寄存器配置输入框中。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述寄存器文件还包括：与至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息；
在响应于对所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中输入的测试值，生成与所述电路模块匹配的测试用例之前，还包括：
将所述寄存器文件中与所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的配置提示信息，在所述配置界面中进行提示，以指导对所述测试值输入框的输入。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据对所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，生成与所述电路模块匹配的测试用例，包括：
根据对所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，构造测试配置项目集合；
其中，所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域，用于构成测试配置项目的配置参数；所述对所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框中所输入的测试值，用于构成与所述测试配置项目的配置参数对应的参数值；
根据所述电路模块的测试用例配置模板，对所述测试配置项目集合进行合法性验证；
如果所述测试配置项目集合通过所述合法性验证，则根据所述测试配置项目集合，生成与所述电路模块匹配的测试用例。
8.一种测试用例的生成装置，其特征在于，包括：
文件获取模块，用于获取需要配置测试用例的电路模块，以及与所述电路模块匹配的寄存器文件，所述寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；
输入框显示模块，用于在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；
备选提示模块，用于响应于对所述配置输入框的操作，将所述寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在所述配置界面中进行提示；
测试用例生成模块，用于根据对所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与所述电路模块匹配的测试用例。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一所述的测试用例的生成方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的测试用例的生成方法。
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